Because of the short wavelength of X-rays (less than 1 nanometer), this phenomenon can be exploited for measuring atomic-scale events at material surfaces.
Röntgenikiirguse lühikese lainepikkuse tõttu (alla 1 nanomeetri), saab seda fenomeni kasutada, et teha aatomi suurusjärgus mõõtmisi näiteks materjalide pindade uurimisel.