磁気力顕微鏡（じきりょくけんびきょう、MagneticForceMicroscopy;MFM）とは、磁気双極子相互作用を利用する走査型プローブ顕微鏡の一種であり、表面の微小磁区を測定する事ができる顕微鏡である。
磁力显微镜（Magneticforcemicroscope.MFM）是一种原子力显微镜，通过磁性探针扫描磁性样品，检测探针和磁性样品表面的相互作用以重构样品表面的磁性结构。