dosterminais de um transistor deve sempre ser feita com auxilio do folheto deespecificacoes tecnicas do componente.Teste de transistoresExistem instrumentos sofisticados destinados especificamenteao teste das condicoes de operacao de um transistor. No entanto, o uso de ummultimetro tambem permite detectar possiveis defeitos no componente. Comono teste de diodos com o uso de um multimetro, o teste de transistores pode naofornecer um resultado definitivo, e o uso do multimetro serve apenas paradetectar os defeitos mais comuns nos transistores e diodos. Nocaso do diodo, sao os seguintes os defeitos de deteccao imediata com o uso deum multimetro: Juncao pn em curto. Juncao pn em aberto. Comodescrito em fasciculos anteriores, o teste de qualquer juncao pn com o uso de um multimetro e feito emduas etapas:Etapa 1: Realiza-se inicialmente aidentificacao da polaridade real das pontas de prova do multimetro.Etapa 2: Apos a identificacao de polaridade, realiza-se o teste do diodo, queconsiste em detectar a existencia de baixa e alta resistencias ao seintercambiarem os dois contatos entre as pontas de prova e os terminais dajuncao pn. Conforme ilustrado na Fig.8, a estrutura de um transistor consisteem uma juncao pn entre a base e ocoletor e de uma segunda juncao pn entrea base e o emissor.Portanto, para a deteccao de defeitos, o transistorpode ser considerado como composto de dois diodos conectados nas formasilustradas na Fig.9.A deteccao de defeitos no transistor consiste emverificar a existencia de curto ou de circuito aberto entre os pares determinais BC, BE e CE. TESTE COM O USO DO MULTIMETROO procedimento de teste das juncoes base-coletor ebase-emissor e descrito a seguir tomando como exemplo o caso de um transistor npn. DETECCAO DE DESCONTINUIDADES NAS JUNCOES Com opotencial positivo da ponta de prova aplicado a base do transistor e opotencial negativo aplicado ao coletor ou ao emissor, como ilustrado na Fig.10, as juncoes correspondentesficam polarizadas diretamente. Na ausencia de defeitos, o instrumento devera indicar baixaresistencia das juncoes BC e BE. Se houver uma juncao em aberto, o instrumentofornecera a indicacao de uma resistencia altissima quando essa juncao estiversendo testada.DETECCAO DE CURTOS NAS JUNCOES Paraeste teste as pontas de prova devem ser conectadas conforme mostrado na Fig.11. Com aponta de prova negativa conectada a base, a segunda ponta de prova polarizainversamente a juncao BC ou BE. Na ausencia de defeitos, omultimetro devera fornecer a indicacao de altas resistencias nas juncoes. Sehouver uma juncao em curto o instrumento indicara uma baixa resistencia naquelajuncao.DETECCAO DE CURTO-CIRCUITO ENTRE COLETOR E EMISSOR Paracompletar os testes deve-se ainda verificar a condicao eletrica entre osterminais do coletor e do emissor. Com oterminal da base em aberto, o circuito equivalente entre os terminais B e Ccorresponde a dois diodos em serie conectados inversamente. Dessa forma omultimetro devera fornecer uma indicacao de altissima resistencia para as duaspossibilidades de conexao das pontas de prova mostradas na Fig.12.Para o caso de um transistor pnpos testes podem ser conduzidos seguindo o procedimento descrito anteriormente,exceto que as pontas de prova devem ser invertidas com relacao as configuracoesilustradas nas Figs.10 a 12.Todos os testes devem ser realizados com o seletor do multimetroposicionado na escala R10 ou R100 e com