自動光学検査

自動光学検査（）とは、プリント基板(PCB)や液晶ディスプレイの製造における自動外観検査。デバイスをカメラで自律スキャンし、重大欠陥（たとえば部品欠落）や品質欠陥（たとえばのサイズ、形状や部品の歪み）を検査するものである。
非接触/非破壊のテスト方式であるため、多くのPCB製造工程で一般的に使用され、ベアボード(裸基板)検査、半田ペースト検査(Solder Paste Inspection ; SPI)、リフロー前後(pre-reflow and post-reflow AOI)などに導入されている。
表面実装(SMT)検査.
表面実装されたプリント基板のAOIにおいては、以下のような欠陥を検査できる:
ベアボード(Bare PCB)検査.
欠陥報告のトリガーは、検査アルゴリズム(モデル検査)もしくは、CADベースで設定が可能である。
この検査方式は手動外観検査よりも遥かに信頼性・再現性に優れると言われている。
多くの場合、より微細(狭ピッチ)な回路基板の設計にはAOIやICTの需要を押し上げている。
関連技術.
以下はAOIに関連する検査技術で、エレクトロニクス製造業界における電子回路基板の検査によく用いられる手法である。: