6A001 Następujące systemy, urządzenia i części akustyczne: a. następujące okrętowe systemy akustyczne, urządzenia lub specjalnie do nich zaprojektowane części składowe: 1. następujące systemy aktywne (nadajniki lub nadajniki-odbiorniki), urządzenia i specjalnie do nich zaprojektowane części składowe: 6A001 a. 1.

Uwaga: Pozycja 6A001.a.1 nie obejmuje kontrolą następujących urządzeń: a. sond do pomiaru głębokości pracujących w pionie pod aparaturą, niemających możliwości przeszukiwania w zakresie szerszym niż ± 20°, których działanie jest ograniczone do pomiaru głębokości wody, odległości do zanurzonych lub zagrzebanych obiektów lub do wykrywania ławic ryb; b. następujących pław lub staw akustycznych: 1. akustycznych pław lub staw ostrzegawczych; 2. sonarów impulsowych specjalnie zaprojektowanych do przemieszczenia się lub powrotu do położenia podwodnego. a. następujące urządzenia do akustycznego badania dna morskiego: 1. urządzenia dla statków nawodnych zaprojektowane do sporządzania map topograficznych dna morskiego i spełniające wszystkie poniższe kryteria: a. przeznaczenie do dokonywania pomiarów pod kątem większym niż 20° w stosunku do pionu; b. przeznaczenie do pomiarów topografii dna morskiego położonego na głębokościach większych niż 600 m; c. ‘rozdzielczość sondowania’ mniejsza niż 2; oraz d. ‘zwiększenie’ dokładności określania głębokości poprzez kompensację w odniesieniu do wszystkich poniższych: 1. ruch czujnika akustycznego; 2. rozchodzenie się fali w wodzie w kierunku od czujnika do dna morskiego i z powrotem; 3. prędkość dźwięku przy czujniku; Uwagi techniczne 1. ‘Rozdzielczość sondowania’ oznacza szerokość pola omiatania (w stopniach) podzieloną przez liczbę sondowań na jedno omiecenie. 2. ‘Zwiększenie’ obejmuje zdolność kompensowania z wykorzystaniem środków zewnętrznych. 2. podwodne urządzenia zaprojektowane do sporządzania map topograficznych dna morskiego i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: Uwaga techniczna: Wartość ciśnienia czujnika akustycznego określa wartość głębokości urządzeń wymienionych w pozycji 6A001.a.1.a.2. a. spełniające wszystkie z poniższych kryteriów: 1. zaprojektowany lub zmodyfikowany do pracy na głębokościach przekraczających 300 m; oraz 2. ‘wskaźnik sondowania’ większy niż 3 800; lub Uwaga techniczna: ‘Wskaźnik sondowania’ jest iloczynem maksymalnej prędkości (w m/s), z jaką może pracować czujnik i maksymalnej liczby sondowań na jedno omiecenie, przy założeniu 100 % pokrycia. b. urządzenia zaprojektowane do sporządzania map topograficznych, niewymienione w pozycji 6A001.a.1.a.2.a., spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. zaprojektowany lub zmodyfikowany do pracy na głębokościach przekraczających 100 m; 2. przeznaczenie do dokonywania pomiarów pod kątem większym niż 20 ° w stosunku do pionu; 3. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: a. częstotliwość robocza poniżej 350 kHz; lub b. zaprojektowane do dokonywania pomiarów topografii dna morskiego w zasięgu przekraczającym 200 m przy pomocy czujnika akustycznego; oraz 4. ‘zwiększenie’ dokładności określania głębokości poprzez kompensację w odniesieniu do wszystkich poniższych: a. ruch czujnika akustycznego; b. rozchodzenie się fali w wodzie w kierunku od czujnika do dna morskiego i z powrotem; oraz c. prędkość dźwięku przy czujniku; 3. boczny sonar skanujący (SSS) lub sonar z syntezą apertury (SAS) zaprojektowany do obrazowania dna morskiego i spełniające wszystkie poniższe kryteria: a. zaprojektowany lub zmodyfikowany do pracy na głębokościach przekraczających 500 m; b. ‘wskaźnik pokrycia obszaru’ większy niż 570 m2/s podczas pracy przy maksymalnym zasięgu, z jakim może pracować, z ‘rozdzielczością wzdłużną’ mniejszą niż 15 cm; oraz c. ‘rozdzielczość poprzeczna’ mniejsza niż 15 cm; Uwagi techniczne: 1. ‘Wskaźnik pokrycia powierzchni’ (w m 2 /s) stanowi dwukrotność iloczynu zakresu sonaru (w m) oraz maksymalnej prędkości (w m/s), z jaką może pracować czujnik przy tym zakresie. 2. ‘Rozdzielczość wzdłużna’ (w cm) – wyłącznie w odniesieniu do SSS, jest iloczynem azymutowej (poziomej) szerokości wiązki (w stopniach), zakresu sonaru (w m) i liczby 0,873. 3. ‘Rozdzielczość poprzeczna’ (w cm) jest ilorazem liczby 75 i szerokości pasma sygnału (w kHz). b. Systemy lub matryce nadawcze lub odbiorcze, zaprojektowane do wykrywania lub lokalizacji obiektów, spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. częstotliwość nośna poniżej 10 kHz; 2. poziom ciśnienia akustycznego powyżej 224 dB (poziom odniesienia 1 μΡa na 1 m) w odniesieniu do urządzeń z częstotliwością roboczą w paśmie od 10 kHz do 24 kHz włącznie; 3. poziom ciśnienia akustycznego powyżej 235 dB (poziom odniesienia 1 μΡa na 1 m) w odniesieniu do urządzeń z częstotliwością roboczą w paśmie od 24 kHz do 30 kHz; 4. kształtujące wiązki o kącie rozproszenia poniżej 1° względem dowolnej osi i posiadające częstotliwość roboczą poniżej 100 kHz; 5. umożliwiające jednoznaczny pomiar odległości do obiektów w zakresie powyżej 5 120 m; lub 6. skonstruowane w ten sposób, że w normalnych warunkach pracy są wytrzymałe na ciśnienia na głębokości większej niż 1 000 m i są zaopatrzone w przetworniki spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. z dynamiczną kompensacją ciśnienia; lub b. w których elementem przetwarzającym nie jest cyrkonian/tytanian ołowiu; c. reflektory akustyczne, łącznie z przetwornikami, wyposażone w elementy piezoelektryczne, magnetostrykcyjne, elektrostrykcyjne, elektrodynamiczne lub hydrauliczne, działające indywidualnie lub w odpowiedniej kombinacji zespołowej i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: Uwaga 1: Poziom kontroli reflektorów akustycznych, łącznie z przetwornikami, specjalnie zaprojektowanych do innych urządzeń, wynika z poziomu kontroli tych innych urządzeń. Uwaga 2: Pozycja 6A001.a.1.c nie obejmuje kontrolą elektronicznych źródeł kierujących dźwięk tylko w pionie ani źródeł mechanicznych (np. pistolety powietrzne lub parowe) lub chemicznych (np. materiały wybuchowe). Uwaga 3: Elementy piezoelektryczne wymienione w pozycji 6A001.a.1.c. obejmują elementy wykonane z pojedynczych kryształów piezoelektrycznych niobianu ołowiu i magnezu/tytanianu ołowiu (Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3, or PMN-PT) wytworzonych z roztworu stałego lub pojedynczych kryształów piezoelektrycznych niobianu ołowiu i indu/niobianu ołowiu i magnezu/tytanianu ołowiu (Pb(In1/2Nb1/2)O3–Pb(Mg1/3Nb2/3)O3–PbTiO3, or PIN-PMN-PT) wytworzonych z roztworu stałego. 1. ‘gęstość mocy akustycznej’ w impulsie powyżej 0,01 mW/mm2/Hz dla urządzeń pracujących w paśmie częstotliwości poniżej 10 kHz; 2. ‘gęstość mocy akustycznej’ ciągłej powyżej 0,001 mW/mm2/Hz dla urządzeń pracujących w paśmie częstotliwości poniżej 10 kHz; lub Uwaga techniczna: ‘Gęstość mocy akustycznej’ oblicza się, dzieląc wyjściową moc akustyczną przez iloczyn pola powierzchni wypromieniowanej wiązki i częstotliwości roboczej. 3. tłumienie pasma bocznego częstotliwości powyżej 22 dB; d. systemy akustyczne i urządzenia do określania położenia statków nawodnych lub pojazdów podwodnych spełniające wszystkie poniższe kryteria oraz elementy zaprojektowane specjalnie do nich: 1. zasięg wykrywania powyżej 1 000 m; oraz 2. wyznaczanie położenia z dokładnością poniżej 10 m (wartość średnia kwadratowa) w przypadku pomiaru w zasięgu do 1 000 m; Uwaga: Pozycja 6A001.a.1.d obejmuje: a. urządzenia, w których zastosowano koherentne „przetwarzanie sygnałów” pomiędzy dwiema lub większą liczbą boi kierunkowych a hydrofonem na statku nawodnym lub w pojeździe podwodnym; b. urządzenia mające możliwość automatycznego korygowania błędów prędkości rozchodzenia się dźwięku w celu obliczenia położenia obiektu. e. aktywne pojedyncze sonary, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane w celu wykrywania, ustalania położenia i automatycznej klasyfikacji pływaków lub nurków, spełniające wszystkie poniższe kryteria oraz specjalnie do nich zaprojektowane nadawcze i odbiorcze akustyczne zestawy matrycowe: 1. zasięg wykrywania powyżej 530 m; 2. wyznaczanie położenia z dokładnością poniżej 15 m (wartość średnia kwadratowa) w przypadku pomiaru w zasięgu do 530 m; oraz 3. szerokość pasma przekazywanego impulsu powyżej 3 kHz; N.B.: Systemy wykrywania nurków specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do zastosowań wojskowych – zob. wykaz uzbrojenia. Uwaga: W przypadku pozycji 6A001.a.1.e, jeśli określono wiele zasięgów wykrywania w zależności od środowiska, zastosowanie ma największy zasięg. 2. następujące pasywne urządzenia i systemy oraz specjalnie do nich zaprojektowane elementy: a. hydrofony spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: Uwaga: Poziom kontroli hydrofonów specjalnie zaprojektowanych do innych urządzeń wynika z poziomu kontroli tych innych urządzeń. Uwaga techniczna: Hydrofony składają się z co najmniej jednego elementu czujnikowego wytwarzającego pojedynczy akustyczny kanał wyjścia. Te, które zawierają kilka elementów mogą być określane jako grupa hydrofonów. 1. wyposażone w ciągłe, elastyczne zespoły czujnikowe; 2. złożone z dyskretnych elementów czujnikowych o średnicy lub długości poniżej 20 mm znajdujących się od siebie w odległości mniejszej niż 20 mm; 3. wyposażone w jeden z następujących elementów czujnikowych: a. światłowody; b. ‘piezoelektryczne powłoki polimerowe’ inne niż polifluorek winylidenu (PVDF) i jego kopolimery {P(VDF-TrFE) i P(VDF-TFE)}; c. ‘elastyczne kompozyty piezoelektryczne’; d. Pojedyncze kryształy piezoelektryczne niobianu ołowiu i magnezu/tytanianu ołowiu (tj. Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3, lub PMN-PT) wytworzone z roztworu stałego; lub e. Pojedyncze kryształy piezoelektryczne niobianu ołowiu i indu/niobianu ołowiu i magnezu/tytanianu ołowiu (tj. Pb(In1/2Nb1/2)O3–Pb(Mg1/3Nb2/3)O3–PbTiO3, lub PIN-PMN-PT) wytworzone z roztworu stałego; 4. ‘czułość hydrofonów’ lepsza niż -180 dB na każdej głębokości bez kompensacji przyspieszeniowej; 5. zaprojektowane do pracy na głębokościach większych niż 35 m z kompensacją przyspieszeniową; lub 6. zaprojektowane do działania na głębokościach większych niż 1 000 m; Uwagi techniczne: 1. Elementy czujnikowe typu ‘piezoelektryczne powłoki polimerowe’ składają się ze spolaryzowanej powłoki polimerowej, rozpiętej i przymocowanej do ramy lub szpuli (trzpienia). 2. Elementy czujnikowe typu ‘elastyczne kompozyty piezoelektryczne’ składają się z piezoelektrycznych cząstek lub włókien ceramicznych połączonych z elektrycznie izolującym, akustycznie przejrzystym tworzywem gumowym, polimerowym lub epoksydowym, przy czym tworzywo to jest integralną częścią elementów czujnikowych. 3. ‘Czułość hydrofonu’ definiuje się jako dwadzieścia logarytmów przy podstawie 10 ze stosunku napięcia skutecznego po sprowadzeniu do napięcia skutecznego 1 V, po umieszczeniu czujnika hydrofonowego, bez przedwzmacniacza, w polu akustycznych fal płaskich o ciśnieniu skutecznym 1 μΡa. Na przykład hydrofon o czułości -160 dB (poziom odniesienia 1 V na μΡa) daje w takim polu napięcie wyjściowe 10 –8 V, natomiast hydrofon o czułości -180 dB daje w takim samym polu napięcie wyjściowe tylko 10 –9 V. Zatem hydrofon o czułości -160 dB jest lepszy od hydrofonu o czułości -180 dB. b. holowane zestawy matrycowe hydrofonów akustycznych spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: Uwaga techniczna: Zespoły hydrofonów składają się z kilku hydrofonów zapewniających szereg akustycznych kanałów wyjścia. 1. odległość pomiędzy grupami hydrofonów wynosi poniżej 12,5 m; lub ‘umożliwia modyfikację’ tak, żeby odległość pomiędzy grupami hydrofonów była mniejsza niż 12,5 m; 2. zaprojektowane lub ‘umożliwiające modyfikację’ do działania na głębokościach większych niż 35 m; Uwaga techniczna: Wspomniana w pozycji 6A001.a.2.b.1 i 2 ‘możliwość modyfikowania’ oznacza, że są zaopatrzone w elementy umożliwiające zmianę przewodów lub połączeń w celu zmiany odległości pomiędzy grupami hydrofonów lub granicznych głębokości roboczych. Do elementów takich zalicza się: zapasowe przewody w ilości przewyższającej o 10 % liczbę przewodów używanych, bloki umożliwiające zmianę odległości pomiędzy grupami hydrofonów lub wewnętrzne regulowane urządzenia limitujące głębokość lub urządzenia sterujące umożliwiające sterowanie więcej niż jedną grupą hydrofonów. 3. czujniki kursowe objęte kontrolą według pozycji 6A001.a.2.d; 4. sieci węży ze wzmocnieniem podłużnym; 5. wyposażenie w układ zespołowy o średnicy mniejszej niż 40 mm; 6. nieużywane; 7. wyposażenie w hydrofony o właściwościach określonych w pozycji 6A001.a.2.a; lub 8. wykorzystujące akcelerometr czujniki hydroakustyczne określone w pozycji 6A001.a.2.g.; c. urządzenia przetwarzające, specjalnie zaprojektowane do holowanych zestawów (matryc) hydrofonów akustycznych posiadające „możliwość programowania przez użytkownika” oraz możliwość przetwarzania i korelacji w funkcji czasu lub częstotliwości, łącznie z analizą spektralną, filtrowaniem cyfrowym i kształtowaniem wiązki za pomocą szybkiej transformaty Fouriera lub innych transformat lub procesów; d. czujniki kursowe spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. dokładność powyżej ± 0,5°; oraz 2. zaprojektowane do pracy na głębokościach większych niż 35 m lub wyposażone w regulowane lub możliwe do demontażu czujniki głębokości z przeznaczeniem do pracy na głębokościach większych niż 35 m; e. holowane zestawy matrycowe hydrofonów akustycznych z dennymi lub międzywręgowymi układami kablowymi spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. wykorzystujące hydrofony z pozycji 6A001.a.2.a; 2. zawierające moduły multipleksowe sygnałów grup hydrofonów, spełniające wszystkie poniższe kryteria: a. zaprojektowane do pracy na głębokościach większych niż 35 m lub wyposażone w regulowane lub możliwe do demontażu czujniki głębokości z przeznaczeniem do pracy na głębokościach większych niż 35 m; oraz b. mogące pracować wymiennie z modułami holowanych zestawów hydrofonów akustycznych; lub 3. wyposażone w wykorzystujące akcelerometr czujniki hydroakustyczne określone w pozycji 6A001.a.2.g.; f. urządzenia przetwarzające, specjalnie zaprojektowane do kablowych układów dennych lub międzywręgowych, posiadające „możliwość programowania przez użytkownika” oraz umożliwiające przetwarzanie i korelację w dziedzinie czasu lub częstotliwości, w tym analizę widmową, filtrowanie cyfrowe oraz cyfrowe kształtowanie wiązki za pomocą szybkiej transformaty Fouriera lub innych transformat lub procesów; g. wykorzystujące akcelerometr czujniki hydroakustyczne spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. składające się z trzech akcelerometrów rozmieszczonych wzdłuż trzech różnych osi; 2. posiadające ogólną ‘wrażliwość na przyspieszenie’ powyżej 48 dB (odniesienie 1 000 mV rms/g); 3. zaprojektowane do działania na głębokościach większych niż 35 m; oraz 4. częstotliwość robocza poniżej 20 kHz. Uwaga: Pozycja 6A001.a.2.g. nie obejmuje kontrolą czujników prędkości cząsteczek ani geofonów. Uwagi techniczne: 1. Wykorzystujące akcelerometr czujniki hydroakustyczne określane są również jako czujniki wektorowe. 2. ‘Wrażliwość na przyspieszenie’ definiuje się jako dwadzieścia logarytmów przy podstawie 10 ze stosunku napięcia skutecznego po sprowadzeniu do napięcia skutecznego 1 V, po umieszczeniu czujnika hydroakustycznego, bez przedwzmacniacza, w polu akustycznych fal płaskich o przyspieszeniu 1 g (i.e., 9,81 m/s 2 ). Uwaga: Pozycja 6A001.a.2 obejmuje kontrolą również urządzenia odbiorcze powiązane lub niepowiązane w warunkach normalnego użytkowania z odrębnymi urządzeniami aktywnymi oraz i specjalnie do nich zaprojektowane podzespoły. b. Następujące urządzenia sonarowe posługujące się logami korelacyjnymi i dopplerowskimi przeznaczone do pomiaru prędkości poziomej obiektu, na którym się znajdują, względem dna morza: 1. urządzenia sonarowe posługujące się logami korelacyjnymi i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. przeznaczenie do pracy w przypadku odległości obiektu od dna przekraczającej 500 m; lub b. dokładność pomiaru prędkości większa niż 1 %; 2. urządzenia sonarowe posługujące się logami dopplerowskimi umożliwiające określenie prędkości z dokładnością lepszą niż 1 %; Uwaga 1: Pozycja 6A001.b nie obejmuje kontrolą sond do pomiaru głębokości, które ograniczone są do którejkolwiek z poniższych funkcji: a. pomiar głębokości wody; b. pomiar odległości do zanurzonych lub zagrzebanych obiektów; lub c. wykrywanie ławic ryb. Uwaga 2: Pozycja 6A001.b nie obejmuje kontrolą urządzeń specjalnie zaprojektowanych do zainstalowania na statkach nawodnych. c. nieużywane.

6A002 Następujące czujniki optyczne lub sprzęt i ich części składowe: N.B.: ZOB. TAKŻE POZYCJA 6A102. a. następujące detektory optyczne: 1. następujące detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej”: Uwaga: Do celów pozycji 6A002.a.1 detektory półprzewodnikowe obejmują „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”. a. detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. a. reakcja szczytowa zakresie długości fal z przedziału powyżej 10 nm, ale nie więcej niż 300 nm; oraz 2. w zakresie fal o długości powyżej 400 nm reakcja słabsza niż 0,1 % reakcji szczytowej; b. detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 900 nm, ale nie więcej niż 1 200 nm; oraz 2. „stała czasowa” reakcji 95 ns lub poniżej; c. detektory półprzewodnikowe „klasy kosmicznej” posiadające reakcję szczytową w zakresie długości fal powyżej 1 200 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm; d. „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”„klasy kosmicznej” mające więcej niż 2 048 elementów na zespół i reakcję szczytową w paśmie fal o długości powyżej 300 nm, ale nieprzekraczającej 900 nm; 2. następujące lampowe wzmacniacze obrazu i specjalnie do nich zaprojektowane elementy: Uwaga: Pozycja 6A002.a.2 nie obejmuje kontrolą nieobrazowych lamp fotopowielaczowych wyposażonych w znajdujący się w próżni czujnik elektronowy ograniczony wyłącznie do jakiegokolwiek z poniższych: a. pojedyncza anoda metalowa; lub b. anody metalowe o odległości między środkami otworków większej niż 500 μm. Uwaga techniczna: ‘Powielanie ładunków’ oznacza formę wzmacniania obrazów elektronicznych i zdefiniowane jest jako wytwarzanie nośników ładunków w wyniku procesu jonizacji strumieniem. Czujniki ‘powielania ładunków’ mogą mieć postać lampowego wzmacniacza obrazu, detektora półprzewodnikowego lub „matrycy detektorowej płaszczyzny ogniskowej”. a. lampowe wzmacniacze obrazu spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 400 nm, ale nie więcej niż 1 050 nm; 2. wzmacnianie obrazów elektronicznych z wykorzystaniem którychkolwiek z poniższych: a. elektrody mikrokanalikowej z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) 12 μm lub mniejszych; lub b. czujników elektronowych o rozmiarach pojedynczego niełączonego piksela 500 μm lub mniej specjalnie zaprojektowanych lub zmodyfikowanych, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ w sposób inny niż za pomocą elektrody mikrokanalikowej; oraz 3. dowolnej z poniższych fotokatod: a. fotokatody alkaliczne wielopierwiastkowe (np. S-20 i S-25) o czułości świetlnej przekraczającej 350 μΑ/lm; b. fotokatody GaAs lub GaInAs; lub c. inne fotokatody półprzewodnikowe oparte na „związkach III/V” o maksymalnej „czułości promieniowania” powyżej 10 mA/W; b. lampowe wzmacniacze obrazu spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 050 nm, ale nie więcej niż 1 800 nm; 2. wzmacnianie obrazów elektronicznych z wykorzystaniem którychkolwiek z poniższych: a. elektrody mikrokanalikowej z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) 12 μm lub mniejszych; lub b. czujników elektronowych o rozmiarach pojedynczego niełączonego piksela 500 μm lub mniej specjalnie zaprojektowanych lub zmodyfikowanych, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ w sposób inny niż za pomocą elektrody mikrokanalikowej; oraz 3. fotokatody półprzewodnikowe (np. GaAs lub GaInAs) oparte na „związkach III/V” oraz fotokatody o elektronach przeniesionych, o maksymalnej „czułości promieniowania” powyżej 15 mA/W; c. następujące specjalnie opracowane elementy: 1. elektrody mikrokanalikowe do wzmacniania obrazów z otworkami w odstępach (odległość pomiędzy środkami otworków) nie większych niż 12 μm; 2. czujników elektronowych o rozmiarach pojedynczego niełączonego piksela 500 μm lub mniej specjalnie zaprojektowanych lub zmodyfikowanych, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ w sposób inny niż za pomocą elektrody mikrokanalikowej; 3. fotokatody półprzewodnikowe (np. GaAs lub GaInAs) oparte na „związkach III/V” oraz fotokatody o elektronach przeniesionych; Uwaga: Pozycja 6A002.a.2.c.3 nie obejmuje kontrolą fotokatod półprzewodnikowych związkowych zaprojektowanych tak, by osiągały maksymalnie którąkolwiek z poniższych „czułości promieniowania”: a. 10 mA/W lub mniej przy reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 400 nm, ale nie więcej niż 1 050 nm; lub b. 15 mA/W lub mniej przy reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 050 nm, ale nie więcej niż 1 800 nm; 3. następujące, inne niż „klasy kosmicznej”„matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”: N.B.: ‘Mikrobolometryczne’„matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”, inne niż „klasy kosmicznej” są wymienione jedynie w pozycji 6A002.a.3.f. Uwaga techniczna: „Matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” to liniowe lub dwuwymiarowe wieloelementowe zespoły detektorów. Uwaga 1: Pozycja 6A002.a.3 obejmuje kontrolą zespoły fotoprzewodzące i fotowoltaiczne. Uwaga 2: Pozycja 6A002.a.3. nie obejmuje kontrolą: a. wieloelementowych (nie więcej niż 16 elementów) komórek fotoelektrycznych w obudowie, zawierających siarczek lub selenek ołowiu; b. detektorów piroelektrycznych, w których zastosowano którekolwiek z poniższych: 1. siarczan triglicyny i jego odmiany; 2. tytanian ołowiu-lantanu-cyrkonu i odmiany; 3. tantalan litu; 4. polifluorek winylidenu i jego odmiany; lub 5. niobian strontu-baru i jego odmiany; c. „matryc detektorowych płaszczyzny ogniskowej” specjalnie zaprojektowanych lub zmodyfikowanych tak, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ oraz ograniczonych projektowo tak, by ich maksymalna „czułość promieniowania” wynosiła 10 mA/W lub mniej przy długości fal powyżej 760 nm, spełniających wszystkie poniższe kryteria: 1. wyposażonych w mechanizm ograniczenia reakcji, zaprojektowany w sposób nieprzewidujący jego usuwania ani modyfikowania; oraz 2. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: a. mechanizm ograniczenia reakcji jest zintegrowany z elementem detekcyjnym lub połączony z nim; lub b. „matryca detektorowa płaszczyzny ogniskowej” działa wyłącznie wtedy, gdy zainstalowany jest mechanizm ograniczenia reakcji. Uwaga techniczna: Mechanizm ograniczenia reakcji, w jaki wyposażony jest element detekcyjny, jest zaprojektowany tak, by w przypadku jego usunięcia lub modyfikacji detektor przestawał działać. Uwaga techniczna: ‘Powielanie ładunków’ oznacza formę wzmacniania obrazów elektronicznych i zdefiniowane jest jako wytwarzanie nośników ładunków w wyniku procesu jonizacji strumieniem. Czujniki ‘powielania ładunków’ mogą mieć postać lampowego wzmacniacza obrazu, detektora półprzewodnikowego lub „matrycy detektorowej płaszczyzny ogniskowej”. a. inne niż „klasy kosmicznej”„matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 900 nm, ale nieprzekraczającej 1 050 nm; oraz 2. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: a. „stała czasowa” reakcji poniżej 0,5 ns; lub b. specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane, by uzyskać ‘powielanie ładunków’, i mające maksymalną „czułość promieniowania” powyżej 10 mA/W; b. inne niż „klasy kosmicznej”„matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 050 nm, ale nie więcej niż 1 200 nm; oraz 2. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: a. „stała czasowa” reakcji 95 ns lub poniżej; lub b. specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane, by uzyskać ‘powielanie ładunków’, i mające maksymalną „czułość promieniowania” powyżej 10 mA/W; c. inne niż „klasy kosmicznej” nieliniowe (2 wymiarowe) „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” posiadające reakcję szczytową poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 200 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm; N.B.: ‘Mikrobolometryczne’„matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej”, inne niż „klasy kosmicznej”, wykonane na bazie krzemu lub innych materiałów są wymienione jedynie w pozycji 6A002.a.3.f. d. inne niż „klasy kosmicznej” liniowe (1 wymiarowe) „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. pojedyncze elementy o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 1 200 nm, ale nie więcej niż 3 000 nm; oraz 2. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: a. stosunek wymiaru ‘kierunku przeszukiwania’ elementu detekcyjnego do wymiaru ‘poprzecznego kierunku przeszukiwania’ elementu detekcyjnego poniżej 3,8; lub b. przetwarzanie sygnałów w elementach detekcyjnych; Uwaga: Pozycja 6A002.a.3.d nie obejmuje kontrolą „matryc detektorowych płaszczyzny ogniskowej” (nieprzekraczających 32 elementów), w których elementy detekcyjne są wykonane wyłącznie z germanu. Uwaga techniczna: Do celów pozycji 6A002.a.3.d ‘poprzeczny kierunek przeszukiwania’ jest określany jako oś równoległa do liniowego układu elementów detekcyjnych, a ‘kierunek przeszukiwania’ jest określany jako oś prostopadła do liniowego układu elementów detekcyjnych. e. inne niż „klasy kosmicznej” liniowe (1 wymiarowe) „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” posiadające reakcję szczytową poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 3 000 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm; f. inne niż „klasy kosmicznej” nieliniowe (2 wymiarowe) „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” w zakresie promieniowania podczerwonego oparte na materiale ‘mikrobolometrycznym’ posiadające niefiltrowaną reakcję poszczególnych elementów w zakresie długości fal z przedziału powyżej 8 000 nm, ale nieprzekraczającej 14 000 nm; Uwaga techniczna: Do celów 6A002.a.3.f ‘mikrobolometr’ jest określany jako obrazowy detektor termalny, który, w wyniku zmiany temperatury w detektorze spowodowanej przez absorpcję promieniowania podczerwonego, generuje nadające się do wykorzystania sygnały. g. inne niż „klasy kosmicznej”„matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. oddzielne elementy detekcyjne o reakcji szczytowej w zakresie długości fal z przedziału powyżej 400 nm, ale nieprzekraczającej 900 nm; 2. specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane, by uzyskać ‘powielanie ładunków’ i mające maksymalną „czułość promieniowania” powyżej 10 mA/W przy długości fal powyżej 760 nm; oraz 3. mające powyżej 32 elementów; b. „monospektralne czujniki obrazowe” i „wielospektralne czujniki obrazowe” przeznaczone do zdalnego wykrywania obiektów i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. chwilowe pole widzenia (IFOV) poniżej 200 μrad (mikroradianów); lub 2. przeznaczenie do działania w zakresie fal o długości powyżej 400 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm oraz mające wszystkie następujące własności: a. dostarczanie wyjściowych danych obrazowych w postaci cyfrowej; oraz b. spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. są „klasy kosmicznej”; lub 2. przeznaczenie do zastosowań lotniczych i zaopatrzenie w czujniki inne niż krzemowe oraz posiadające IFOV poniżej 2,5 miliradianów; Uwaga: Pozycja 6A002.b.1 nie obejmuje kontrolą „monospektralnych czujników obrazowych” o reakcji szczytowej w paśmie fal o długości powyżej 300 nm, ale nieprzekraczającej 900 nm i obejmujących wyłącznie którykolwiek z poniższych detektorów innych niż „klasy kosmicznej” lub „matryc detektorowych płaszczyzny ogniskowej” innych niż „klasy kosmicznej”: 1. matryce CCD, niezaprojektowane ani niezmodyfikowane do osiągnięcia ‘powielania ładunków’; lub 2. matryce CMOS, niezaprojektowane ani niezmodyfikowane do osiągnięcia ‘powielania ładunków’. c. urządzenia do ‘bezpośredniego widzenia’ wyposażone w którekolwiek z poniższych: 1. lampowe wzmacniacze obrazu wyszczególnione w pozycji 6A002.a.2.a lub 6A002.a.2.b; 2. „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” wyszczególnione w pozycji 6A002.a.3; lub 3. detektory półprzewodnikowe wyszczególnione w pozycji 6A002.a.1; 6A002 c.

Uwaga techniczna: Termin ‘bezpośrednie widzenie’ odnosi się do urządzeń tworzących obrazy przedstawiające widzialny dla człowieka obraz bez jego przetwarzania na sygnał elektroniczny przekazywany na ekran telewizyjny, niemogących zarejestrować ani utrwalić obrazu na drodze fotograficznej, elektronicznej ani żadnej innej. Uwaga: Pozycja 6A002.c nie obejmuje kontrolą poniższych urządzeń, jeżeli są wyposażone w fotokatody inne niż z GaAs lub GaInAs: a. przemysłowych lub cywilnych systemów alarmowych, systemów kontroli ruchu drogowego lub przemysłowego ani systemów zliczających; b. urządzeń medycznych; c. urządzeń przemysłowych stosowanych do kontroli, sortowania lub analizy właściwości materiałów; d. wykrywaczy płomieni do pieców przemysłowych; e. urządzeń specjalnie zaprojektowanych do celów laboratoryjnych. d. następujące specjalne elementy pomocnicze do czujników optycznych: 1. chłodnice kriogeniczne „klasy kosmicznej”; 2. następujące chłodnice kriogeniczne inne niż „klasy kosmicznej”, posiadające źródło chłodzenia o temperaturze poniżej 218 K (-55 °C): a. pracujące w obiegu zamkniętym i charakteryzujące się średnim czasem do awarii (MTTF) lub średnim czasem międzyawaryjnym (MTBF) powyżej 2 500 godzin; b. samoregulujące się minichłodnice Joula-Thomsona (JT) z otworkami o średnicy (na zewnątrz) poniżej 8 mm; 3. czujnikowe włókna optyczne o specjalnym składzie lub konstrukcji lub zmodyfikowane techniką powlekania, w celu nadania im właściwości umożliwiających reagowanie na fale akustyczne, promieniowanie termiczne, siły bezwładności, promieniowanie elektromagnetyczne lub jądrowe; Uwaga: Pozycja 6A002.d.3 nie obejmuje kontrolą czujnikowych włókien optycznych w obudowie specjalnie zaprojektowanych do stosowania jako czujniki w odwiertach. e. nieużywane.

6A003 Następujące kamery filmowe, systemy lub urządzenia oraz elementy do nich: N.B.: ZOB. TAKŻE POZYCJA 6A203. N.B.: Kamery telewizyjne i aparaty fotograficzne na błony światłoczułe specjalnie opracowane lub zmodyfikowane do zastosowań podwodnych – zob. także pozycje 8A002.d.1 i 8A002.e. a. następujące kamery rejestrujące i specjalnie do nich zaprojektowane elementy: Uwaga: Kamery rejestrujące, określone w poz.6A003.a.3 do 6A003.a.5, o budowie modułowej powinny być oceniane wg ich maksymalnych możliwości przy wykorzystaniu „zespołów wtykanych” zgodnie ze specyfikacją producenta kamery. 1. bardzo szybkie kamery filmowe rejestrujące na błonie dowolnego formatu od 8 mm do 16 mm włącznie, w których błona jest podczas rejestracji przesuwana w sposób ciągły, umożliwiające rejestrowanie obrazów z szybkościami powyżej 13 150 klatek na sekundę; Uwaga: Pozycja 6A003.a.1 nie obejmuje kontrolą filmowych kamer rejestrujących przeznaczonych do użytku cywilnego. 2. bardzo szybkie kamery z napędem mechanicznym, bez przesuwu filmu, umożliwiające rejestrację z szybkościami powyżej 1 000 000 klatek na sekundę na całej szerokości błony 35 mm, lub z szybkościami proporcjonalnie większymi na błonach o mniejszych formatach lub z szybkościami proporcjonalnie mniejszymi na błonach o formatach większych; 3. mechaniczne lub elektryczne kamery smugowe o szybkości zapisu powyżej 10 mm/μs; 4. elektroniczne kamery obrazowe o szybkości powyżej 1 000 000 klatek na sekundę; 5. kamery elektroniczne spełniające wszystkie poniższe kryteria: a. szybkość działania migawki elektronicznej (bramkowania) poniżej 1 mikrosekundy na pełną klatkę; oraz b. czas odczytu umożliwiający szybkość powyżej 125 pełnych klatek na sekundę; 6. „zespoły wtykane” spełniające wszystkie poniższe kryteria: a. specjalnie zaprojektowane do kamer rejestrujących, które mają strukturę modułową i które zostały wyszczególnione w pozycji 6A003.a; oraz b. umożliwiające tym kamerom realizowanie właściwości wymienionych w pozycjach 6A003.a.3, 6A003.a.4 lub 6A003.a.5, zgodnie z danymi technicznymi producenta; b. następujące kamery obrazowe: Uwaga: Pozycja 6A003.b nie obejmuje kontrolą kamer telewizyjnych ani wideokamer przeznaczonych specjalnie dla stacji telewizyjnych. 1. wideokamery z czujnikami półprzewodnikowymi posiadające reakcję szczytową w przedziale długości fal powyżej 10 nm, ale nie więcej niż 30 000 nm, oraz spełniające wszystkie poniższe kryteria: a. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. powyżej 4 × 106„aktywnych pikseli” na półprzewodnikową siatkę dla kamer monochromatycznych (czarno-białych); 2. powyżej 4 × 106„aktywnych pikseli” na półprzewodnikową siatkę dla kamer kolorowych z trzema siatkami półprzewodnikowymi; lub 3. powyżej 12 × 106„aktywnych pikseli” na półprzewodnikową siatkę dla kamer kolorowych z jedną siatką półprzewodnikową; oraz b. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. zwierciadła optyczne wyszczególnione w pozycji 6A004.a; 2. urządzenia do sterowania optyką wyszczególnione w pozycji 6A004.d; lub 3. zdolność do nanoszenia wytwarzanych wewnętrznie ‘ścieżek danych o kamerze’; Uwaga techniczna: 1. Na użytek niniejszego punktu wideokamery cyfrowe powinny być oceniane na podstawie maksymalnej liczby „aktywnych pikseli” wykorzystywanych do rejestrowania obrazów ruchomych. 2. Na użytek niniejszego punktu ‘ścieżki danych o kamerze’ stanowią informacje niezbędne do określenia orientacji widzenia kamery względem ziemi. Należą do nich: 1) kąt poziomy osi widzenia kamery względem kierunku pola magnetycznego ziemi; oraz 2) kąt pionowy pomiędzy osią widzenia kamery a horyzontem ziemi. 2. kamery skaningowe i systemy kamer skaningowych spełniające wszystkie poniższe kryteria: a. reakcja szczytowa w zakresie długości fal z przedziału powyżej 10 nm, ale nieprzekraczającej 30 000 nm; b. liniowe siatki detekcyjne posiadające powyżej 8 192 elementów na siatkę; oraz c. mechaniczne przeszukiwanie w jednym kierunku; Uwaga: Pozycja 6A003.b.2 nie obejmuje kontrolą kamer skaningowych ani systemów kamer skaningowych specjalnie zaprojektowanych do któregokolwiek z poniższych: a. fotokopiarki przemysłowe lub cywilne; b. skanery specjalnie zaprojektowane do skanowania w zastosowaniach cywilnych, stacjonarnych, z małych odległości (np. powielanie obrazów lub druku zawartych w dokumentach, dziełach sztuki lub fotografiach); lub c. sprzęt medyczny. 3. kamery obrazowe wyposażone we wzmacniacze obrazów wyszczególnione w pozycji 6A002.a.2.a lub 6A002.a.2.b; 4. kamery obrazowe zawierające „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” wyposażone w którekolwiek z poniższych: a. „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” wymienione w pozycjach 6A002.a.3.a do 6A002.a.3.e; b. „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” wyszczególnione w pozycji 6A002.a.3.f; lub c. „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” wyszczególnione w pozycji 6A002.a.3.g; Uwaga 1: Kamery obrazowe wyszczególnione w pozycji 6A003.b.4 zawierają „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” połączone z odpowiednią elektroniką „przetwarzania sygnałów”, poza układem odczytującym, w celu umożliwienia przynajmniej wyjścia sygnału analogowego lub cyfrowego po podłączeniu zasilania. Uwaga 2: Pozycja 6A003.b.4.a nie obejmuje kontrolą kamer obrazowych wykorzystujących liniowe „matryce detektorowe płaszczyzny ogniskowej” o 12 elementach lub mniejszej ich liczbie, nierealizujących w elementach funkcji opóźnienia czasowego ani integracji i przeznaczonych do któregokolwiek z poniższych: a. przemysłowe lub cywilne alarmy włamaniowe, kontrola ruchu na drogach lub w przemyśle lub systemy zliczające; b. urządzenia przemysłowe stosowane do nadzoru lub monitorowania wypływu ciepła w budynkach, urządzeniach lub procesach przemysłowych; c. urządzenia przemysłowe stosowane do nadzoru, sortowania lub analizy właściwości materiałów; d. urządzenia specjalnie zaprojektowane do zastosowań laboratoryjnych; lub e. sprzęt medyczny. Uwaga 3: Pozycja 6A003.b.4.b nie obejmuje kontrolą kamer obrazowych spełniających którekolwiek z poniższych kryteriów: a. szybkość analizy obrazów równa lub wyższa niż 9 Hz; b. spełniające wszystkie z poniższych kryteriów: 1. poziome lub pionowe minimalne ‘chwilowe pole widzenia (IFOV)’ wynoszące przynajmniej 10 mrad/piksel (miliradianów/piksel); 2. wyposażone w stałą soczewkę ogniskującą, która została zaprojektowana w sposób uniemożliwiający jej usunięcie; 3. brak wizjera ‘bezpośredniego widzenia’, oraz 4. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: a. brak możliwości uzyskania widzialnego obrazu wykrytego pola widzenia; lub b. zaprojektowanie kamery dla jednego rodzaju zastosowania, bez możliwości modyfikowania jej funkcji przez użytkownika; lub c. kamery specjalne zaprojektowane do instalacji w cywilnych pasażerskich pojazdach lądowych o ciężarze mniejszym niż 3 tony (ciężar brutto pojazdu) i spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. działające wyłącznie wtedy, gdy kamera jest zainstalowana w którymkolwiek z poniższych: a. cywilne pasażerskie pojazdy lądowe, do których była przeznaczona; lub b. specjalnie zaprojektowane, autoryzowane urządzenie do testów konserwacyjnych; oraz 2. posiada aktywny mechanizm, który powoduje zaprzestanie działania kamery, gdy jest ona zdjęta z pojazdu, do którego została przeznaczona. Uwagi techniczne: 1. ‘Chwilowe pole widzenia (IFOV)’ określone w pozycji 6.A003.b.4 uwaga 3.b jest mniejszą z wartości ‘poziomego IFOV’ lub ‘pionowego IFOV’. ‘Poziome IFOV’ = poziome pole widzenia (FOV)/liczba poziomych elementów detekcyjnych ‘Pionowe IFOV’ = pionowe pole widzenia (FOV)/liczba pionowych elementów detekcyjnych 2. Termin ‘widzenie bezpośrednie’ określony w pozycji 6A003.b.4. Uwaga 3.b odnosi się do kamery obrazowej działającej w zakresie fal podczerwonych, która wytwarza obraz widzialny dla człowieka będącego obserwatorem, wykorzystując mikrowyświetlacz bliski oku wyposażony w dowolny mechanizm zabezpieczenia przed światłem. Uwaga 4: Pozycja 6A003.b.4.c nie obejmuje kontrolą kamer obrazowych spełniających którekolwiek z poniższych kryteriów: a. spełniające wszystkie z poniższych kryteriów: 1. specjalnie zaprojektowanych do zainstalowania jako zintegrowany element systemów i urządzeń wewnętrznych i korzystających z zasilania z zewnętrznej sieci energetycznej, które zostały zaprojektowane w sposób ograniczający ich zastosowanie do jednego z poniższych: a. monitorowanie procesów przemysłowych, kontrola jakości lub analiza właściwości materiałów; b. sprzęt laboratoryjny zaprojektowany specjalnie do badań naukowych; c. urządzeń medycznych; d. sprzęt służący do wykrywania nadużyć finansowych; oraz 2. działające wyłącznie wtedy, gdy kamera jest zainstalowana w którymkolwiek z poniższych: a. w układach lub sprzęcie, do których są przeznaczone; lub b. specjalnie zaprojektowanych i dopuszczonych do obrotu systemach obsługowych; oraz 3. wyposażonych w aktywny mechanizm, który powoduje, że kamera nie działa, gdy zostaje usunięta z systemu, systemów lub urządzeń, do których jest przeznaczona; b. specjalnie zaprojektowanych do instalacji w cywilnych pasażerskich pojazdach lądowych o ciężarze mniejszym niż 3 tony (ciężar brutto pojazdu) lub promach, które przewożą osoby i pojazdy i mają długość całkowitą (LOA) 65 m lub większą, oraz spełniających wszystkie poniższe kryteria: 1. działające wyłącznie wtedy, gdy kamera jest zainstalowana w którymkolwiek z poniższych: a. w cywilnym pasażerskim pojeździe lądowym lub promie, które przewożą osoby i pojazdy, do jakich są przeznaczone; lub b. w specjalnie zaprojektowanym urządzeniu do testów konserwacyjnych; oraz 2. wyposażonych w aktywny mechanizm, który powoduje, że kamera nie działa, gdy zostaje usunięta z pojazdu, do którego jest przeznaczona; c. zaprojektowanych tak, by ich maksymalna „czułość promieniowania” wynosiła 10 mA/W lub mniej przy długości fal powyżej 760 nm, spełniających wszystkie poniższe kryteria: 1. wyposażonych w mechanizm ograniczenia reakcji, zaprojektowany w sposób nieprzewidujący jego usuwania ani modyfikowania; 2. wyposażonych w aktywny mechanizm, który powoduje, że kamera nie działa, gdy zostaje usunięty mechanizm ograniczenia odpowiedzi; oraz 3. niezaprojektowanych ani zmodyfikowanych specjalnie do stosowania pod wodą; lub d. spełniające wszystkie z poniższych kryteriów: 1. niewyposażonych w ‘widzenie bezpośrednie’ ani elektroniczny wyświetlacz obrazu; 2. niewyposażonych w urządzenie umożliwiające uzyskanie widzialnego obrazu wykrytego pola widzenia; 3. „matryca detektorowa płaszczyzny ogniskowej” działa wyłącznie wtedy, gdy zainstalowany jest w kamerze, do której jest przeznaczony; oraz 4. „matryca detektorowa płaszczyzny ogniskowej” wyposażona jest w aktywny mechanizm, który na stałe uniemożliwia działanie tego zespołu, jeżeli zostanie on usunięty z kamery, do której jest przeznaczony; 5. kamery obrazowe wyposażone w detektory półprzewodnikowe wyszczególnione w pozycji 6A002.a.1.

6A004 Następujące urządzenia optyczne i elementy: a. następujące zwierciadła optyczne (reflektory): N.B.: Zwierciadła optyczne specjalnie zaprojektowane do urządzeń litograficznych – zob. pozycja 3B001. 1. „zwierciadła odkształcalne” o powierzchni ciągłej lub wieloelementowej oraz specjalnie do nich zaprojektowane elementy, mające możliwość dynamicznej zmiany położenia części powierzchni zwierciadła z szybkością powyżej 100 Hz; 2. lekkie zwierciadła monolityczne o przeciętnej „gęstości zastępczej” poniżej 30 kg/m2 i masie całkowitej powyżej 10 kg; 3. lekkie konstrukcje zwierciadlane z materiałów „kompozytowych” lub spienionych o przeciętnej „gęstości zastępczej” poniżej 30 kg/m2 i masie całkowitej powyżej 2 kg; 4. zwierciadła do kierowania wiązką, mające średnicę lub długość osi głównej powyżej 100 mm, zachowujące płaskość rzędu λ/2 lub lepszą (λ jest równe 633 nm) i sterowane wiązką o szerokości pasma powyżej 100 Hz; b. elementy optyczne z selenku cynku (ZnSe) lub siarczku cynku (ZnS) z możliwością transmisji w zakresie długości fal powyżej 3 000 nm, ale nie większej niż 25 000 nm i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. objętość powyżej 100 cm3; lub 2. średnicę lub długość osi głównej powyżej 80 mm oraz grubość (głębokość) powyżej 20 mm; c. następujące elementy „klasy kosmicznej” do systemów optycznych: 1. o „gęstości zastępczej” elementów obniżonej o 20 % w porównaniu z masywnym wyrobem o takiej samej aperturze i grubości; 2. podłoża surowe, podłoża powlekane powierzchniowo (z powłoką jednowarstwową lub wielowarstwową, metaliczną lub dielektryczną, przewodzącą, półprzewodzącą lub izolującą) lub pokryte błoną ochronną; 3. segmenty lub zespoły zwierciadeł przeznaczone do montażu z nich w przestrzeni kosmicznej systemów optycznych, mające sumaryczną aperturę równoważną lub większą niż pojedynczy element optyczny o średnicy 1 metra; 4. elementy wykonane z materiałów „kompozytowych” o współczynniku liniowej rozszerzalności termicznej w kierunku dowolnej współrzędnej równym lub mniejszym niż 5 × 10–6; d. następujące urządzenia do sterowania elementami optycznymi: 1. urządzenia specjalnie zaprojektowane do utrzymywania kształtu lub orientacji powierzchni elementów „klasy kosmicznej” objętych kontrolą według pozycji 6A004.c.1 lub 6A004.c.3; 2. urządzenia posiadające pasmo sterowania, śledzenia, stabilizacji lub strojenia rezonatora o szerokości równej lub większej niż 100 Hz oraz dokładność 10 μrad (mikroradianów) lub lepszą; 3. zawieszenia kardanowe spełniające wszystkie poniższe kryteria: a. maksymalny kąt wychylenia powyżej 5°; b. szerokość pasma równą lub większą niż 100 Hz; c. możliwość ustawiania kątowego z dokładnością równą lub lepszą niż 200 μrad (mikroradianów); oraz d. spełniający którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. średnicę lub długość osi głównej powyżej 0,15 m, ale nie większą niż 1 m i możliwość zmiany położenia kątowego z przyspieszeniami powyżej 2 rad (radianów)/s2; lub 2. średnicę lub długość osi głównej powyżej 1 m i możliwość zmiany położenia kątowego z przyspieszeniami powyżej 0,5 rad (radianów)/s2; 4. urządzenia specjalnie zaprojektowane do utrzymywania w odpowiednim położeniu systemów układów fazowanych lub systemów fazowanych zwierciadeł segmentowych o średnicy segmentów lub długości osi głównej równej lub większej od 1 m; e. ‘asferyczne elementy optyczne’ spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. największy wymiar apertury optycznej jest większy niż 400 mm; 2. nierówność powierzchni jest mniejsza niż 1 nm (średnia wartość kwadratowa) dla długości próbkowania równej lub większej niż 1 mm; oraz 3. wartość absolutna współczynnika liniowej rozszerzalności termicznej przy 25 °C jest mniejsza niż 3 × 10–6/K. Uwagi techniczne: 1. ‘Asferycznym elementem optycznym’ jest taki element, stosowany w systemach optycznych, którego powierzchnia lub powierzchnie czynne są zaprojektowane jako odbiegające od kształtu idealnej kuli. 2. Od producentów nie jest wymagany pomiar nierówności, o którym mowa w 6A004.e.2, jeżeli element optyczny nie został zaprojektowany lub wykonany z zamiarem dotrzymania lub przekroczenia parametru kontrolnego. Uwaga: Pozycja 6A004.e. nie obejmuje kontrolą ‘asferycznych elementów optycznych’ spełniających którekolwiek z poniższych kryteriów: a. największy wymiar apertury optycznej mniejszy niż 1 m i stosunek długości ogniskowej do apertury równy lub większy niż 4,5:1; b. największy wymiar apertury optycznej równy lub większy niż 1 m i stosunek długości ogniskowej do apertury równy lub większy niż 7:1; c. zaprojektowany jako element Fresnela, oko muchy, pasek, pryzmat lub element dyfrakcyjny; d. wykonany ze szkła borokrzemowego mającego współczynnik rozszerzalności liniowej większy niż 2,5x10–6/K przy 25 °C; lub e. będący elementem optyki rentgenowskiej, mającym właściwości zwierciadła wewnętrznego (np. zwierciadła typu rurowego). N.B.: Jeżeli chodzi o ‘asferyczne elementy optyczne’ specjalnie zaprojektowane dla urządzeń litograficznych, zob. 3B001.

6A005 Następujące „lasery”, ich elementy i urządzenia optyczne do nich, inne niż wymienione w pozycjach 0B001.g.5 lub 0B001.h.6: N.B.: ZOB. TAKŻE POZYCJA 6A205. Uwaga 1: Do „laserów” impulsowych zalicza się lasery z falą ciągłą (CW), z nakładanymi na nią impulsami. Uwaga 2: „Lasery” ekscymerowe, półprzewodnikowe, chemiczne, CO, CO2 i neodymowo-szklane o ‘niepowtarzających się impulsach’ wymienione są wyłącznie w pozycji 6A005.d. Uwaga techniczna: ‘O niepowtarzających się impulsach’ dotyczy „laserów” wytwarzających jeden impuls wyjściowy lub „laserów”, w których odcinek czasowy między impulsami wynosi powyżej jednej minuty. Uwaga 3: Pozycja 6A005 obejmuje „lasery” włóknowe. Uwaga 4: Poziom kontroli „laserów” wykorzystujących przetworzenie częstotliwości (tzn. zmianę długości fali) w inny sposób niż przez „pompowanie” jednego lasera innym „laserem” określony jest przez zastosowanie parametrów kontroli zarówno do wyjścia „lasera” źródłowego, jak i do wyjścia optycznego o przekształconej częstotliwości. Uwaga 5: Pozycja 6A005 nie obejmuje kontrolą następujących „laserów”: a. rubinowy o energii wyjściowej poniżej 20 J; b. azotowy; c. kryptonowy. Uwaga techniczna: W pozycji 6A005 ‘sprawność całkowitą’ definiuje się jako stosunek mocy wyjściowej „lasera” (lub „średniej mocy wyjściowej”) do całkowitej mocy wejściowej wymaganej do funkcjonowania „lasera”, w tym zasilania/kondycjonowania mocy oraz kondycjonowania termicznego/wymiennika ciepła. a. „nieprzestrajalne”„lasery” z falą ciągłą spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. długość fali wyjściowej poniżej 150 nm i moc wyjściowa powyżej 1 W; 2. długość fali wyjściowej równa lub większa niż 150 nm, ale nie większa niż 510 nm i moc wyjściowa powyżej 30 W; Uwaga: Pozycja 6A005.a.2 nie obejmuje kontrolą „laserów” argonowych o mocy wyjściowej równej lub mniejszej niż 50 W. 3. długość fali wyjściowej powyżej 510 nm, ale nie większa niż 540 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i moc wyjściowa przekraczająca 50 W; lub b. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i moc wyjściowa przekraczająca 150 W; 4. długość fali wyjściowej większa niż 540 nm, ale nie większa niż 800 nm i moc wyjściowa powyżej 30 W; 5. długość fali wyjściowej powyżej 800 nm, ale nie większa niż 975 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i moc wyjściowa przekraczająca 50 W; lub b. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i moc wyjściowa przekraczająca 80 W; 6. długość fali wyjściowej powyżej 975 nm, ale nie większa niż 1 150 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i moc wyjściowa przekraczająca 200 W; lub b. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. ‘sprawność całkowita’ powyżej 18 % i moc wyjściowa powyżej 500 W; lub 2. moc wyjściowa powyżej 2 kW; Uwaga 1: Pozycja 6A005.a.6.b nie obejmuje kontrolą „laserów” przemysłowych działających w trybie z pojedynczym przejściem poprzecznym o mocy wyjściowej powyżej 2 kW a nieprzekraczającej 6 kW i o masie całkowitej większej niż 1 200 kg. Do celów niniejszej uwagi masa całkowita obejmuje wszystkie części składowe wymagane do funkcjonowania „lasera”, tzn. „laser”, zasilacz, wymiennik ciepła, natomiast nie obejmuje kontrolą zewnętrznych urządzeń optycznych do kondycjonowania lub wysyłania wiązki. Uwaga 2: Pozycja 6A005.a.6.b nie obejmuje kontrolą „laserów” przemysłowych działających w trybie z pojedynczym przejściem poprzecznym spełniających którekolwiek z poniższych kryteriów: a. Moc wyjściowa większa niż 500 W, ale nieprzekraczająca 1 kW oraz spełniające wszystkie z poniższych kryteriów: 1. Iloczyn parametrów wiązki (BPP) przekraczający 0,7 mm•mrad; oraz 2. ‘Jasność’ nieprzekraczającą 1 024 W/(mm•mrad)2; b. Moc wyjściowa większa niż 1 kW, ale nieprzekraczająca 1,6 kW oraz których wartość BPP przekracza 1,25 mm•mrad; c. Moc wyjściowa większa niż 1,6 kW, ale nieprzekraczająca 2,5 kW oraz których wartość BPP przekracza 1,7 mm•mrad; d. Moc wyjściowa większa niż 2,5 kW, ale nieprzekraczająca 3,3 kW oraz których wartość BPP przekracza 2,5 mm•mrad; e. Moc wyjściowa większa niż 3,3 kW, ale nieprzekraczająca 4 kW oraz których wartość BPP przekracza 3,5 mm•mrad; f. Moc wyjściowa większa niż 4 kW, ale nieprzekraczająca 5 kW oraz których wartość BPP przekracza 5 mm•mrad; g. Moc wyjściowa większa niż 5 kW, ale nieprzekraczająca 6 kW oraz których wartość BPP przekracza 7,2 mm•mrad; h. Moc wyjściowa większa niż 6 kW, ale nieprzekraczająca 8 kW oraz których wartość BPP przekracza 12 mm•mrad; lub i. Moc wyjściowa większa niż 8 kW, ale nieprzekraczająca 10 kW oraz których wartość BPP przekracza 24 mm•mrad. Uwaga techniczna: Dla celów pozycji 6A005.a.6.b. uwaga 2.a., ‘jasność’ definiowana jest jako moc wyjściowa „lasera” podzielona przez iloczyn parametrów wiązki (BPP) do kwadratu, tj. (moc wyjściowa)/BPP2. 7. długość fali wyjściowej powyżej 1 150 nm, ale nie większa niż 1 555 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i moc wyjściowa przekraczająca 50 W; lub b. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i moc wyjściowa przekraczająca 80 W; lub 8. długość fali wyjściowej poniżej 1 555 nm i moc wyjściowa powyżej 1 W; b. „nieprzestrajalne”„lasery” impulsowe, spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. długość fali wyjściowej poniżej 150 nm i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 1 W; lub b. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 1 W; 2. długość fali wyjściowej równa lub większa niż 150 nm, ale nie większa niż 510 nm i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 30 W; lub b. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 30 W; Uwaga: Pozycja 6A005.b.2.b nie obejmuje kontrolą „laserów” argonowych mających „przeciętną moc wyjściową” równą lub większą 50 W. 3. długość fali wyjściowej powyżej 510 nm, ale nie większa niż 540 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 50 W; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 50 W; lub b. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 150 W; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 150 W; 4. długość fali wyjściowej powyżej 540 nm, ale nie większa niż 800 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. „czas trwania impulsu” poniżej 1 ps i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 0,005 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 5 GW; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 20 W; lub b. „czas trwania impulsu” równy lub przekraczający 1 ps i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 1,5 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 30 W; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 30 W; 5. długość fali wyjściowej powyżej 800 nm, ale nie większa niż 975 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. „czas trwania impulsu” poniżej 1 ps i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 0,005 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 5 GW; lub 2. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 20 W; b. „czas trwania impulsu” równy lub przekraczający 1 ps i nieprzekraczający 1 μs i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 0,5 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 50 W; 2. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 20 W; lub 3. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 50 W; lub c. „czas trwania impulsu” przekraczający 1 μs i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 2 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 50 W; 2. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 50 W; lub 3. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 80 W; 6. długość fali wyjściowej powyżej 975 nm, ale nie większa niż 1 150 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. „czas trwania impulsu” poniżej 1 ps i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. wyjściowa „moc szczytowa” powyżej 2 GW na impuls; 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 10 W; lub 3. energia wyjściowa większa niż 0,002 J na impuls; b. „czas trwania impulsu” równy lub przekraczający 1 ps i krótszy niż 1 ns i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. wyjściowa „moc szczytowa” powyżej 5 GW na impuls; 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 10 W; lub 3. energia wyjściowa większa niż 0,1 J na impuls; c. „czas trwania impulsu” równy lub przekraczający 1 ns, ale nieprzekraczający 1 μs i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. „moc szczytowa” przekraczająca 100 MW; b. „przeciętna moc wyjściowa” przekraczająca 20 W, ograniczona projektowo do maksymalnej częstotliwości powtarzania impulsów mniejszej niż lub równej 1 kHz; c. ‘sprawność całkowita’ przekraczająca 12 %, „przeciętna moc wyjściowa” przekraczająca 100 W i zdolne do pracy przy częstotliwości powtarzania impulsów większej niż 1 kHz; d. „przeciętna moc wyjściowa” przekraczająca 150 W i zdolne do pracy przy częstotliwości powtarzania impulsów większej niż 1 kHz; lub e. energia wyjściowa większa niż 2 J na impuls; lub 2. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. „moc szczytowa” przekraczająca 400 MW; b. ‘sprawność całkowita’ przekraczająca 18 % i „przeciętna moc wyjściowa” przekraczająca 500 W; c. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 2 kW; lub d. energia wyjściowa większa niż 4 J na impuls; lub d. „czas trwania impulsu” przekraczający 1 μs i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. „moc szczytowa” przekraczająca 500 kW; b. ‘sprawność całkowita’ przekraczająca 12 % i „przeciętna moc wyjściowa” przekraczająca 100 W; lub c. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 150 W; lub 2. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. „moc szczytowa” przekraczająca 1 MW; b. ‘sprawność całkowita’ przekraczająca 18 % i „przeciętna moc wyjściowa” przekraczająca 500 W; lub c. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 2 kW; 7. długość fali wyjściowej powyżej 1 150 nm, ale nieprzekraczająca 1 555 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: a. „czas trwania impulsu” nieprzekraczający 1 μs i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 0,5 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 50 W; 2. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 20 W; lub 3. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 50 W; lub b. „czas trwania impulsu” przekraczający 1 μs i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa powyżej 2 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 50 W; 2. sygnał wyjściowy w trybie pojedynczego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 50 W; lub 3. sygnał wyjściowy w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego i „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 80 W; lub 8. długość fali wyjściowej przekraczająca 1 555 nm i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. energia wyjściowa powyżej 100 mJ na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 1 W; lub b. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 1 W; c. „lasery” przestrajalne, spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: Uwaga: Pozycja 6A005.c obejmuje „lasery” tytanowo-szafirowe (Ti: Al2O3), tul – YAG (Tm: YAG), tul – YSGG (Tm: YSGG), aleksandrytowe (CR: BeAl2O4), na centrach barwnych, „lasery” barwnikowe oraz „lasery” cieczowe. 1. długość fali wyjściowej poniżej 600 nm i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 1 W; lub b. przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W; Uwaga: Pozycja 6A005.c.1 nie obejmuje kontrolą laserów barwnikowych ani innych laserów cieczowych z wielomodalnym sygnałem wyjściowym i o długości fali wynoszącej 150 nm lub więcej, ale nieprzekraczającej 600 nm, i spełniających wszystkie z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa poniżej 1,5 J na impuls i „moc szczytowa” poniżej 20 W; oraz 2. przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa poniżej 20 W. 2. długość fali wyjściowej 600 nm lub większa, ale nieprzekraczająca 1 400 nm i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. energia wyjściowa powyżej 1 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 20 W; lub b. przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 20 W; lub 3. długość fali wyjściowej przekraczająca 1 400 nm i którekolwiek z poniższych kryteriów: a. energia wyjściowa powyżej 50 mJ na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 1 W; lub b. przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W; d. następujące inne „lasery”, niewymienione w pozycjach 6A005.a, 6A005.b, lub 6A005.c: 1. następujące „lasery” półprzewodnikowe: Uwaga 1: Pozycja 6A005.d.1 obejmuje „lasery” półprzewodnikowe wyposażone w optyczne złącza wyjściowe (np. kable z włókien światłowodowych). Uwaga 2: Poziom kontroli „laserów” półprzewodnikowych zaprojektowanych specjalnie do innych urządzeń wynika z poziomu kontroli tych innych urządzeń. a. indywidualne „lasery” półprzewodnikowe działające w trybie z pojedynczym przejściem poprzecznym spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. długość fali równa lub mniejsza niż 1 510 nm oraz przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1,5 W; lub 2. długość fali większa niż 1 510 nm oraz przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 500 mW; b. indywidualne „lasery” półprzewodnikowe działające w trybie z wielokrotnym przejściem poprzecznym spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. długość fali poniżej 1 400 nm oraz przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 15 W; 2. długość fali równa lub większa niż 1 400 nm, a mniejsza niż 1 900 nm oraz przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 2,5 W; lub 3. długość fali równa lub większa niż 1 900 nm oraz przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 1 W; c. indywidualne ‘szeregi’„laserów” półprzewodnikowych spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. długość fali poniżej 1 400 nm oraz przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 100 W; 2. długość fali równa lub większa niż 1 400 nm, a mniejsza niż 1 900 nm oraz przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 25 W; lub 3. długość fali równa lub większa niż 1 900 nm oraz przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 10 W; d. ‘macierze’„laserów” półprzewodnikowych (układy dwuwymiarowe) spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. mające długość fali mniejszą niż 1 400 nm i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa mniejsza niż 3 kW oraz przeciętna lub ciągła (CW) wyjściowa ‘gęstość mocy’ powyżej 500 W/cm2; b. przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa nie mniejsza niż 3 kW, lecz nie większa niż 5 kW oraz przeciętna lub ciągła (CW) wyjściowa ‘gęstość mocy’ powyżej 350 W/cm2; c. przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa powyżej 5 kW; d. szczytowa ‘gęstość mocy’ impulsu powyżej 2 500 W/cm2; lub e. przestrzennie koherentna przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa powyżej 150 W; 2. mające długość fali nie mniejszą niż 1 400 nm, lecz mniejszą niż 1 900 nm i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa mniejsza niż 250 W oraz przeciętna lub ciągła (CW) wyjściowa ‘gęstość mocy’ powyżej 150 W/cm2; b. przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa nie mniejsza niż 250 W, lecz nie większa niż 500 W oraz przeciętna lub ciągła (CW) wyjściowa ‘gęstość mocy’ powyżej 50 W/cm2; c. przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa powyżej 500 W; d. szczytowa ‘gęstość mocy’ impulsu powyżej 500 W/cm2; lub e. przestrzennie koherentna przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa powyżej 15 W; 3. mające długość fali nie mniejszą niż 1 900 nm i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. przeciętna lub ciągła (CW) wyjściowa ‘gęstość mocy’ powyżej 50 W/cm2; b. przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 10 W; lub c. przestrzennie koherentna przeciętna lub ciągła (CW) całkowita moc wyjściowa powyżej 1,5 W; lub 4. posiadające przynajmniej jeden ‘szereg’„laserów” określony w poz. 6A005.d.1.c; Uwaga techniczna: Do celów pozycji 6A005.d.1.d ‘gęstość mocy’ oznacza całkowitą moc wyjściową „lasera” podzieloną przez powierzchnię emitera ‘macierzy’. e. ‘macierze’„laserów” półprzewodnikowych inne niż wymienione w poz. 6A005.d.1.d spełniające wszystkie z poniższych kryteriów: 1. specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane z myślą o łączeniu ich z innymi ‘macierze’ w celu utworzenia większej ‘macierzy’; oraz 2. mające zintegrowane połączenia, wspólne zarówno dla układów elektronicznych, jak i układów chłodzenia; Uwaga 1: ‘Macierze’ utworzone przez połączenie ‘macierzy’„laserów” półprzewodnikowych opisanych w poz. 6A005.d.1.e, które nie są zaprojektowane z myślą o dalszym łączeniu lub modyfikacji są wyszczególnione w poz. 6A005.d.1.d. Uwaga 2: ‘Macierze’ utworzone przez połączenie ‘macierzy’„laserów” półprzewodnikowych opisanych w poz. 6A005.d.1.e, które są zaprojektowane z myślą o dalszym łączeniu lub modyfikacji są wyszczególnione w poz. 6A005.d.1.e. Uwaga 3: Pozycja 6A005.d.1.e nie obejmuje kontrolą modularnych zespołów pojedynczych ‘szeregów’ zaprojektowanych do montowania jako liniowe układy szeregów. Uwagi techniczne: 1. „Lasery” półprzewodnikowe są powszechnie nazywane diodami „laserowymi”. 2. ‘Szereg’ (zwany także ‘szeregiem’„laserów” półprzewodnikowych, ‘szeregiem’ diod „laserowych” lub ‘szeregiem’ diod) składa się z wielu półprzewodnikowych „laserów” w układzie jednowymiarowym. 3. ‘Macierz’ składa się z wielu ‘szeregów’ tworzących dwuwymiarowy układ „laserów” półprzewodnikowych. 2. „lasery” na tlenku węgla (CO) spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. energia wyjściowa powyżej 2 J na impuls i „szczytowa moc” impulsu powyżej 5 kW; lub b. przeciętna lub ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 5 kW; 3. „lasery” na dwutlenku węgla (CO2) spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. ciągła (CW) moc wyjściowa powyżej 15 kW; b. wyjście impulsowe z „czasem trwania impulsu” powyżej 10 μs oraz którykolwiek z poniższych parametrów: 1. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 10 kW; lub 2. „moc szczytowa” przekraczająca 100 kW; lub c. wyjście impulsowe o „szerokości impulsu” równej lub mniejszej niż 10 μs oraz którykolwiek z poniższych parametrów: 1. energia impulsu powyżej 5 J na impuls; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 2,5 kW; 4. „lasery” ekscymerowe spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. długość fali wyjściowej nieprzekraczająca 150 nm oraz którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa większa niż 50 mJ na impuls; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 1 W; b. długość fali wyjściowej przekraczająca 150 nm, ale nie większa niż 190 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: 1. energia wyjściowa większa niż 1,5 J na impuls; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 120 W; c. długość fali wyjściowej przekraczająca 190 nm, ale nie większa niż 360 nm oraz którykolwiek z poniższych parametrów: 1. energia wyjściowa większa niż 10 J na impuls; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 500 W; lub d. długość fali wyjściowej powyżej 360 nm i którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. energia wyjściowa większa niż 1,5 J na impuls; lub 2. „przeciętna moc wyjściowa” powyżej 30 W; N.B.: W przypadku „laserów” ekscymerowych specjalnie zaprojektowanych dla urządzeń litograficznych zob. 3B001. 5. następujące „lasery chemiczne”: a. „lasery” fluorowodorowe (HF); b. „lasery” na fluorku deuteru (DF); c. „lasery z przekazaniem energii”: 1. „lasery” tlenowo-jodowe (O2-I); 2. „lasery” na mieszaninie fluorku deuteru i dwutlenku węgla (DF-CO2); 6. „lasery” neodymowo-szklane ‘o niepowtarzających się impulsach’ spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. „czas trwania impulsu” nieprzekraczający 1 μs oraz energia wyjściowa powyżej 50 J na impuls; lub b. „czas trwania impulsu” przekraczający 1 μs oraz energia wyjściowa powyżej 100 J na impuls; Uwaga: ‘O niepowtarzających się impulsach’ dotyczy „laserów” wytwarzających jeden impuls wyjściowy lub „laserów”, w których odcinek czasowy między impulsami wynosi powyżej jednej minuty. e. następujące części składowe: 1. zwierciadła ‘chłodzone czynnie’ lub za pomocą termicznej chłodnicy rurkowej; Uwaga techniczna: ‘Chłodzenie czynne’ jest techniką chłodzenia elementów optycznych za pomocą cieczy przepływającej pomiędzy powierzchnią optyczną a dodatkową (zazwyczaj znajdującą się w odległości poniżej 1 mm od powierzchni optycznej), wskutek czego następuje odprowadzenie ciepła z powierzchni optycznej. 2. zwierciadła optyczne lub przepuszczalne lub częściowo przepuszczalne elementy optyczne lub elektrooptyczne specjalnie zaprojektowane do wymienionych „laserów”; f. następujące urządzenia optyczne: N.B.: Odnośnie do elementów optycznych z dzieloną aperturą, zdolnych do pracy w „laserach super wysokiej mocy” („SHPL”) zob. także wykaz uzbrojenia. 1. dynamiczne urządzenia pomiarowe do czoła fali (faza) umożliwiające mapowanie co najmniej 50 położeń na czole wiązki falowej i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. szybkość analizy obrazów równa lub wyższa niż 100 Hz oraz dyskryminacja fazy na co najmniej 5 % długości fali wiązki; lub b. szybkość analizy obrazów równa lub wyższa niż 1 000 Hz oraz dyskryminacja fazy na co najmniej 20 % długości fali wiązki; 2. „laserowe” urządzenia diagnostyczne umożliwiające pomiar błędów sterowania położeniem kątowym „systemów laserowych super wysokiej mocy” (SHPL) z dokładnością równą lub lepszą niż 10 μrad (mikroradianów); 3. urządzenia optyczne i elementy specjalnie zaprojektowane do systemów „SHPL” w formie zespołów fazowanych w celu sterowania wiązkami koherentnymi z dokładnością λ/10 dla określonej długości fali, lub 0,1 μm, w zależności od tego, która z tych wielkości jest mniejsza; 4. teleskopy projekcyjne specjalnie zaprojektowane do systemów SHPL; g. ‘laserowe urządzenia do detekcji akustycznej’ spełniające wszystkie z poniższych kryteriów: 1. ciągła moc wyjściowa lasera równa lub przewyższająca 20 mW; 2. stabilność częstotliwości lasera równa lub lepsza (mniejsza) niż 10 MHz; 3. długość fali lasera równa lub przewyższająca 1 000 nm, ale nie przewyższająca 2 000 nm; 4. rozdzielczość układu optycznego lepsza (mniejsza) niż 1 nm; oraz 5. stosunek sygnału optycznego do szumu równe lub przewyższające 103. Uwaga techniczna: „Laserowe urządzenia do detekcji akustycznej” są czasami określane nazwą mikrofonu laserowego lub mikrofonu wykrywającego przepływ cząstek.

6A006 Następujące „magnetometry”, „mierniki gradientu magnetycznego”, „mierniki gradientu magnetycznego właściwego”, podwodne czujniki pola elektrycznego, „systemy kompensacji” i specjalnie do nich zaprojektowane elementy: N.B.: ZOB. TAKŻE POZYCJA 7A103.d. Uwaga: Pozycja 6A006 nie obejmuje kontrolą instrumentów specjalnie zaprojektowanych do pomiarów biomagnetycznych do celów zastosowań w rybołówstwie lub diagnostyce medycznej. a. następujące „magnetometry” i podukłady: 1. „magnetometry” wykorzystujące „technologie” materiałów „nadprzewodzących” (SQUID) i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: a. systemy SQUID przeznaczone do działania nieruchomego bez specjalnie zaprojektowanych podukładów do zmniejszenia szumu w ruchu i charakteryzujące się ‘czułością’ równą lub niższą (lepszą) niż 50 fT (rms) na pierwiastek kwadratowy Hz przy częstotliwości 1 Hz; lub b. systemy SQUID mające magnetometr ruchu i charakteryzujące się ‘czułością’ równą lub niższą (lepszą) niż 20 pT (średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy Hz przy częstotliwości 1 Hz i specjalnie zaprojektowane do zmniejszenia szumu w ruchu; 2. „magnetometry”, w których zastosowano technologię pompowania optycznego lub precesji jądrowej (proton/Overhauser), charakteryzujące się ‘czułością’ mniejszą (lepszą) niż 20 pT (średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy Hz przy częstotliwości 1 Hz; 3. „magnetometry”, w których zastosowano „technologię” bramkowania strumienia, charakteryzujące się ‘czułością’ mniejszą (lepszą) niż 10 pT (średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy Hz przy częstotliwości 1 Hz; 4. „magnetometry” z cewką indukcyjną, charakteryzujące się ‘czułością’ mniejszą (lepszą) niż którykolwiek z poniższych: a. 0,05 nT rms na pierwiastek kwadratowy Hz [(średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz] w zakresie częstotliwości poniżej 1 Hz; b. 1 × 10–3 nT rms na pierwiastek kwadratowy Hz [(średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz] w zakresie częstotliwości 1 Hz lub powyżej, ale nieprzekraczających 10 Hz; lub c. 1 × 10–4 nT rms na pierwiastek kwadratowy Hz w zakresie częstotliwości powyżej 10 Hz; 5. „magnetometry” światłowodowe charakteryzujące się ‘czułością’ mniejszą (lepszą) niż 1 nT (średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy z Hz; b. podwodne czujniki pola elektrycznego charakteryzujące się ‘czułością’ mniejszą (lepszą) niż 8 nanowoltów na metr na pierwiastek kwadratowy z Hz dla częstotliwości 1 Hz; c. następujące „mierniki gradientu magnetycznego”: 1. „mierniki gradientu magnetycznego”, w których zastosowano pewną liczbę „magnetometrów” objętych kontrolą według pozycji 6A006.a; 2. światłowodowe „mierniki gradientu magnetycznego właściwego” charakteryzujące się ‘czułością’ gradientu pola magnetycznego mniejszą (lepszą) niż 0,3 nT/m (średnia wartość kwadratowa) na pierwiastek kwadratowy Hz; 3. „mierniki gradientu magnetycznego właściwego”, w których zastosowano inną „technologię” niż światłowodowa, charakteryzujące się ‘czułością’ gradientu pola magnetycznego mniejszą (lepszą) niż 0,015 nT/m rms na pierwiastek kwadratowy Hz; d. „systemy kompensacji” do czujników magnetycznych lub podwodnych czujników pola elektrycznego o parametrach odpowiadających parametrom wymienionych w pozycjach 6A006.a, 6A006.b lub 6A006.c lub przewyższających je; e. podwodne odbiorniki elektromagnetyczne zawierające czujniki pola magnetycznego wyszczególnione w pozycji 6A006.a lub podwodne czujniki pola elektrycznego wyszczególnione w pozycji 6A006.b. Uwaga techniczna: Do celów pozycji 6A006 ‘czułość’ (poziom szumu) oznacza średni pierwiastek kwadratowy ograniczonego przez urządzenia progu szumu, który jest najniższym sygnałem dającym się zmierzyć.

6A007 Następujące grawimetry i mierniki gradientu pola grawitacyjnego: N.B.: ZOB. TAKŻE POZYCJA 6A107. a. grawimetry zaprojektowane lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do pomiarów naziemnych i mające dokładność statyczną poniżej (lepszą niż) 10 μGal; Uwaga: Pozycja 6A007.a nie obejmuje kontrolą grawimetrów do pomiarów naziemnych z elementem kwarcowym (Wordena). b. grawimetry do stosowania na ruchomych platformach, spełniające wszystkie poniższe kryteria: 1. dokładność statyczna poniżej (lepsza niż) 0,7 mGal; oraz 2. dokładność eksploatacyjna (robocza) poniżej (lepsza niż) 0,7 mGal przy ‘czasie do ustalenia warunków rejestracji’ poniżej 2 minut bez względu na sposób kompensacji oddziaływań ubocznych i wpływu ruchu; Uwaga techniczna: Do celów pozycji 6A007.b. ‘czas do ustalenia warunków rejestracji’ (nazywany również czasem reakcji grawimetru) oznacza czas w którym zredukowane zostają zakłócające skutki przyspieszeń wywołanych przez platformę (szum o wysokiej częstotliwości). c. mierniki gradientu pola grawitacyjnego.

6A008 Systemy, urządzenia i zespoły radarowe spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów oraz specjalnie do nich zaprojektowane elementy: N.B.: ZOB. TAKŻE POZYCJA 6A108. Uwaga: Pozycja 6A008 nie obejmuje kontrolą następujących obiektów: — pomocniczych radarów kontroli rejonu (SSR), — cywilnych radarów samochodowych, — wyświetlaczy i monitorów stosowanych w kontroli ruchu powietrznego, — radarów meteorologicznych (do obserwacji pogody), — urządzeń radiolokacyjnych dokładnej kontroli podejścia do lądowania (PAR) odpowiadających standardom ICAO oraz wyposażonych w sterowalne układy liniowe (jednowymiarowe) lub ustawiane mechaniczne anteny pasywne. a. działające w zakresie częstotliwości od 40 GHz do 230 GHz i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. przeciętna moc wyjściowa powyżej 100 mW; lub 2. dokładność namierzania o zakresie równym 1 m lub mniejszym (lepszym) lub o azymucie równym 0,2 stopnia lub mniejszym (lepszym); b. umożliwiające przestrajanie pasma częstotliwości w zakresie powyżej ± 6,25 % od ‘środkowej częstotliwości roboczej’; Uwaga techniczna: ‘Środkowa częstotliwość robocza’ równa się połowie sumy najwyższej i najniższej nominalnej częstotliwości roboczej. c. zdolne do równoczesnego działania na dwóch lub więcej częstotliwościach nośnych; d. zdolne do działania w trybie z syntezą apertury (SAR), z odwróconą syntezą apertury (ISAR) lub jako radiolokatory pokładowe obserwacji bocznej (SLAR); e. zaopatrzone w sterowany elektronicznie układ antenowy; f. zdolne do określania wysokości niepowiązanych ze sobą celów; g. specjalnie zaprojektowane dla lotnictwa (zainstalowane na balonach lub samolotach) i mające możliwość „przetwarzania sygnałów” dopplerowskich w celu wykrywania obiektów ruchomych; h. zdolne do przetwarzania sygnałów radiolokacyjnych i wykorzystujące którekolwiek z poniższych: 1. techniki „rozproszonego widma radiolokacyjnego”; lub 2. techniki „regulacji częstotliwości sygnałów radiolokacyjnych”; i. zapewniające działania naziemne o maksymalnym „zasięgu roboczym” powyżej 185 km; Uwaga: Pozycja 6A008.i nie obejmuje kontrolą: a. radarów kontroli łowisk rybackich; b. radarowych instalacji naziemnych specjalnie zaprojektowanych do kierowania ruchem lotniczym i spełniających wszystkie poniższe kryteria: 1. maksymalny „zasięg roboczy” nie większy niż 500 km; 2. skonfigurowanych w taki sposób, że umożliwiają transmisję danych o celach radarowych tylko w jedną stronę, od miejsca zainstalowania radaru do jednego lub więcej cywilnych ośrodków ATC (kierowania ruchem lotniczym); 3. niezawierających żadnych elementów umożliwiających zdalne sterowanie szybkością przeszukiwania radaru z ośrodka ATC; oraz 4. zainstalowanych na stałe. c. meteorologicznych, balonowych radiolokatorów śledzących; j. radary „laserowe” lub optyczne (LIDAR) spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. są „klasy kosmicznej”; 2. wykorzystujące koherentne heterodynowe lub homodynowe techniki wykrywania obiektów oraz posiadające rozdzielczość kątową niższą (lepszą niż) 20 μrad (mikroradianów); lub 3. przeznaczone do przeprowadzania z powietrza przybrzeżnych pomiarów batymetrycznych zgodnie ze standardem rzędu 1a Międzynarodowej Organizacji Hydrograficznej (5. wydanie luty 2008 r.) dla pomiarów hydrograficznych lub lepszym, przy użyciu jednego lub kilku laserów o długości fali przekraczającej 400 nm, ale nieprzekraczającej 600 nm. Uwaga 1: Urządzenia LIDAR specjalnie zaprojektowane do celów geodezyjnych są wyszczególnione wyłącznie w pozycji 6A008.j.3. Uwaga 2: Pozycja 6A008.j nie obejmuje kontrolą urządzeń LIDAR specjalnie zaprojektowanych do obserwacji meteorologicznych. Uwaga 3: Parametry standardu rzędu 1a Międzynarodowej Organizacji Hydrograficznej 5. wydanie luty 2008 r. są podsumowane następująco: — dokładność pozioma określenia pozycji (na poziomie ufności 95 %) = 5 m + 5 % głębokości — dokładność określenia głębokości zredukowanej (na poziomie ufności 95 %) = , gdzie: a = 0,5 m = stały błąd głębokości, tj. suma wszystkich stałych błędów głębokości b = 0,013 = współczynnik błędu zależnego od głębokości b × d = błąd zależny od głębokości, tj. suma wszystkich błędów zależnych od głębokości d = głębokość — wykrywanie obiektów = obiekty kubaturowe > 2 m na głębokości do 40 m; 10 % głębokości na głębokości przekraczającej 40 m. k. wyposażone w podukłady do „przetwarzania sygnałów” techniką „kompresji impulsów” i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. wskaźnik „kompresji impulsów” powyżej 150; lub 2. szerokość impulsu poniżej 200 ns; lub Uwaga: Pozycja 6A008.k.2. nie obejmuje kontrolą dwuwymiarowych ‘radarów morskich’ ani radarów do ‘obsługi ruchu statków’ spełniających wszystkie poniższe kryteria; a. wskaźnik „kompresji impulsów” nieprzekraczający 150; b. szerokość impulsu powyżej 30 ns; c. pojedyncza i obrotowa mechanicznie sterowana antena radarowa; d. szczytowa moc wyjściowa nieprzekraczająca 250 W; oraz e. niezdolne do „rozrzucania częstotliwości”. l. wyposażone w podukłady do przetwarzania danych i spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. „automatyczne śledzenie celu” zapewniające, przy dowolnym położeniu kątowym anteny, przewidzenie położenia celu w okresie pomiędzy kolejnymi przejściami wiązki radiolokacyjnej; lub Uwaga: Pozycja 6A008.l.1 nie obejmuje kontrolą układów ostrzegających przed możliwością zderzenia, wchodzących w skład systemów kontroli ruchu powietrznego lub ‘radaru morskiego’. 2. nieużywane; 3. nieużywane; 4. skonfigurowane tak, aby zapewniać superpozycję (nakładanie) i korelację lub scalanie danych o celu w ciągu sześciu sekund z dwóch lub więcej „rozrzuconych geograficznie” czujników radarowych, aby dzięki temu połączonemu działaniu uzyskać wyniki lepsze niż z pojedynczego czujnika wyszczególnione w pozycji 6A008.f lub 6A008.i. N.B.: Zob. także wykaz uzbrojenia. Uwaga: Pozycja 6A008.l.4 nie obejmuje kontrolą systemów, urządzeń lub zespołów używanych do ‘obsługi ruchu statków’. Uwagi techniczne: 1. Do celów pozycji 6A008 ‘radar morski’ oznacza radar, który jest wykorzystywany przy nawigacji po morzach i wodach śródlądowych oraz w strefach przybrzeżnych. 2. Do celów pozycji 6A008 ‘obsługa ruchu statków’ oznacza usługę monitorowania i kontroli podobną do kierowania ruchem lotniczym w przypadku statków powietrznych.

6A102 ‘Detektory’ zabezpieczone przed promieniowaniem, inne niż wyszczególnione w pozycji 6A002, specjalnie zaprojektowane lub zmodyfikowane do ochrony przed skutkami wybuchów jądrowych (np. impulsów elektromagnetycznych (EMP), promieniowania rentgenowskiego, kombinowanych efektów podmuchu i udaru termicznego) i znajdujące zastosowanie w „pociskach rakietowych”, skonstruowane lub przystosowane w taki sposób, że są w stanie wytrzymać łączną dawkę promieniowania o wartości 5 × 105 radów (Si). Uwaga techniczna: W pozycji 6A102 przez pojęcie ‘detektora’ należy rozumieć urządzenie mechaniczne, elektryczne, optyczne lub chemiczne, do automatycznej identyfikacji i rejestracji takich bodźców, jak zmiany warunków otoczenia, np. ciśnienie lub temperatura, sygnał elektryczny lub elektromagnetyczny lub promieniowanie materiału radioaktywnego. Obejmuje to urządzenia, które wykrywają bodziec poprzez jednorazowe zadziałanie lub uszkodzenie się.

6A107 Następujące grawimetry i podzespoły do mierników grawitacji i mierników gradientu pola grawitacyjnego: a. grawimetry inne niż wyszczególnione w pozycji 6A007.b, zaprojektowane lub zmodyfikowane do stosowania w lotnictwie lub w warunkach morskich, mające dokładność statyczną lub eksploatacyjną (roboczą) równą lub niższą (lepszą) niż 0,7 miligala (mGal), przy czasie do ustalenia warunków rejestracji równym lub krótszym od 2 minut; b. specjalnie zaprojektowane podzespoły do grawimetrów wymienionych w pozycjach 6A007.b lub 6A107.a oraz do mierników gradientu pola grawitacyjnego wyszczególnionych w pozycji 6A007.c.

6A108 Następujące instalacje radarowe i śledzące, inne niż wyszczególnione w pozycji 6A008: a. instalacje radarowe lub laserowe zaprojektowane lub zmodyfikowane z przeznaczeniem do stosowania w kosmicznych pojazdach nośnych wyszczególnionych w pozycji 9A004 lub w rakietach meteorologicznych wyszczególnionych w pozycji 9A104; Uwaga: Pozycja 6A108.a obejmuje następujące obiekty: a. urządzenia do wykonywania map konturowych terenu; b. urządzenia czujnikowe obrazów; c. urządzenia do wykonywania i korelacji obrazów terenu (analogowe i cyfrowe); d. urządzenia do radarowej nawigacji doplerowskiej. b. następujące precyzyjne instalacje do śledzenia torów obiektów, znajdujące zastosowanie w ‘pociskach rakietowych’: 1. instalacje do śledzenia torów, wyposażone w translatory kodów współpracujące z instalacjami naziemnymi lub nadziemnymi lub satelitarnymi instalacjami nawigacyjnymi w celu pomiaru w czasie rzeczywistym położeń i prędkości obiektów w locie; 2. radary kontroli obszaru powietrznego współpracujące z instalacjami śledzenia obiektów w zakresie optycznym i podczerwonym, mające wszystkie wymienione poniżej cechy: a. rozdzielczość kątową lepszą niż 1,5 miliradiana; b. zasięg 30 km lub większy z rozdzielczością odległości lepszą niż 10 m (średnia kwadratowa); c. dokładność ustalania prędkości lepszą niż 3 m/s. Uwaga techniczna: Termin ‘pocisk rakietowy’ w pozycji 6A108.b oznacza kompletną instalację rakietową i systemy bezzałogowych statków powietrznych o zasięgu powyżej 300 km.

6A202 Lampy fotopowielaczowe mające wszystkie następujące cechy: a. powierzchnię fotokatody powyżej 20 cm2; oraz b. czas narastania impulsu katody poniżej 1 ns.

6A203 Następujące kamery filmowe i ich podzespoły, inne niż określone w pozycji 6A003: N.B. 1: „Oprogramowanie” specjalnie zaprojektowane w celu poprawy lub wykorzystania wydajności kamery lub urządzenia obrazowego, tak by odpowiadały cechom pozycji 6A203.a., 6A203.b. lub 6A203.c. jest wymienione w pozycji 3D203. N.B. 2: „Technologia” w postaci kodów lub kluczy, służąca do poprawy lub wykorzystania wydajności kamery lub urządzenia obrazowego, tak by odpowiadały cechom pozycji 6A203.a., 6A203.b. lub 6A203.c jest wymieniona w pozycji 3E203. Uwaga: Pozycje 6A203.a. do 6A203.c. nie obejmują kontrolą kamery lub urządzeń obrazowych, jeśli posiadają osprzęt, „oprogramowanie” lub „technologię”, których pewne cechy ograniczają skuteczność bądź wydajność do poziomu niższego niż określony powyżej, pod warunkiem że spełniają którekolwiek z poniższych kryteriów: 1. w celu dokonania w nich ulepszeń lub zmniejszenia ograniczeń muszą zostać odesłane do pierwotnego producenta; 2. w celu poprawy lub wykorzystania wydajności, pozwalających na spełnienie wymogów wymienionych w pozycji 6D203 wymagają „oprogramowania” określonego w pozycji 6A203; lub 3. w celu poprawy lub wykorzystania wydajności, pozwalających na spełnienie wymogów wymienionych w pozycji 6E203 wymagają „technologii” w postaci kluczy lub kodów określonej w pozycji 6A203; a. następujące kamery smugowe i specjalnie do nich zaprojektowane elementy: 1. kamery smugowe z prędkościami zapisu powyżej 0,5 mm na mikrosekundę; 2. elektroniczne kamery smugowe o rozdzielczości czasowej 50 ns lub mniejszej; 3. lampy smugowe do kamer wyszczególnionych w poz. 6A203.a.2; 4. zespoły wtykane specjalnie zaprojektowane do kamer rejestrujących, które mają strukturę modułową i które pozwalają na osiągnięcie parametrów wymienionych w pozycjach 6A203.a.1. lub 6A203.a.2.; 5. elektroniczne elementy synchronizujące oraz specjalne zespoły wirników składające się z turbinek, zwierciadeł i łożysk specjalnie zaprojektowane do stosowania w kamerach wymienionych w pozycji 6A203.a.1.; b. następujące kamery obrazowe i specjalnie do nich zaprojektowane elementy: 1. kamery filmowe z kadrowaniem z szybkością powyżej 225 000 klatek zdjęciowych na sekundę; 2. kamery obrazowe o czasie naświetlania 50 ns lub krótszym; 3. lampy obrazowe oraz półprzewodnikowe urządzenia obrazowe o czasie bramkowania szybkich obrazów (czasie działania migawki) wynoszącym 50 ns lub mniej, specjalnie zaprojektowane do kamer wyszczególnionych w pozycji 6A203.b.1 lub 6A203.b.2.; 4. zespoły wtykane specjalnie zaprojektowane do kamer obrazowych, które mają strukturę modułową i które pozwalają na osiągnięcie parametrów wymienionych w pozycjach 6A203.b.1. lub 6A203.b.2.; 5. elektroniczne elementy synchronizujące oraz specjalne zespoły wirników składające się z turbinek, zwierciadeł i łożysk specjalnie zaprojektowane do stosowania w kamerach wymienionych w pozycji 6A203.b.1 lub 6A203.b.2.; Uwaga techniczna: W pozycji 6A203.b. szybkie kamery jednoklatkowe mogą być używane samodzielnie do wytworzenia pojedynczego obrazu dynamicznego zdarzenia lub kilka takich kamer może być łączone w sekwencyjnie uruchamiany układ w celu wytworzenia szeregu obrazów zdarzenia. c. następujące kamery półprzewodnikowe lub z lampami elektronowymi i specjalnie do nich zaprojektowane elementy: 1. kamery półprzewodnikowe lub z lampami elektronowymi o czasie bramkowania szybkich obrazów (czasie działania migawki) wynoszącym 50 ns lub mniej; 2. półprzewodnikowe urządzenia obrazowe i lampowe wzmacniacze obrazu o czasie bramkowania szybkich obrazów (czasie działania migawki) wynoszącym 50 ns lub mniej specjalnie zaprojektowane do kamer wymienionych w pozycji 6A203.c.1.; 3. migawki elektrooptyczne z fotokomórkami działającymi na zasadzie efektu Kerra lub Pockela o czasie bramkowania szybkich obrazów (czasie działania migawki) wynoszącym 50 ns lub mniej; 4. zespoły wtykane specjalnie zaprojektowane do kamer, które mają strukturę modułową i które pozwalają na osiągnięcie parametrów wymienionych w pozycjach 6A203.c.1. d. kamery telewizyjne zabezpieczone przed promieniowaniem oraz soczewki do nich, skonstruowane lub przystosowane w taki sposób, że są w stanie wytrzymać promieniowanie o natężeniu powyżej 50 × 103 Gy (Si) [5 × 106 rad (Si)] bez pogorszenia własności eksploatacyjnych, oraz specjalnie do nich zaprojektowane soczewki. Uwaga techniczna: Termin Gy (Si) odnosi się do energii w dżulach na kilogram pochłoniętej przez nieekranowaną próbkę krzemu poddaną promieniowaniu jonizującemu.

6A205 Następujące „lasery”, wzmacniacze „laserowe” i oscylatory, inne niż wymienione w pozycjach 0B001.g.5, 0B001.h.6 i 6A005: N.B.: W odniesieniu do laserów na parach miedzi zob. pozycja 6A005.b. a. lasery na jonach argonu mające obydwie wymienione poniżej cechy: 1. pracujące w przedziale długości fal od 400 nm do 515 nm; oraz 2. przeciętną moc wyjściową powyżej 40 W; b. przestrajalne, impulsowe oscylatory na laserach barwnikowych pracujące w trybie pojedynczym, mające wszystkie następujące cechy: 1. pracujące w przedziale długości fal od 300 nm do 800 nm; 2. przeciętną moc wyjściową powyżej 1 W; 3. częstotliwości powtarzania powyżej 1 kHz; oraz 4. impuls o szerokości poniżej 100 ns; c. przestrajalne, impulsowe wzmacniacze i oscylatory na laserach barwnikowych, mające wszystkie następujące cechy: 1. pracujące w przedziale długości fal od 300 nm do 800 nm; 2. przeciętną moc wyjściową powyżej 30 W; 3. częstotliwości powtarzania powyżej 1 kHz; oraz 4. impuls o szerokości poniżej 100 ns; Uwaga: Pozycja 6A205.c nie obejmuje kontrolą oscylatorów pracujących w trybie pojedynczym. d. impulsowe „lasery” na dwutlenku węgla, mające wszystkie następujące cechy: 1. pracujące w przedziale długości fal od 9 000 nm do 11 000 nm; 2. częstotliwości powtarzania powyżej 250 Hz; 3. przeciętnej mocy wyjściowej powyżej 500 W; oraz 4. szerokości impulsu poniżej 200 ns; e. przekształtniki na parawodorze działające w paśmie Ramana, przeznaczone do pracy na fali o długości 16 μm z częstotliwością powtarzania powyżej 250 Hz; f. „lasery” domieszkowane neodymem (inne niż na szkle), o wyjściowej długości fali powyżej 1 000 nm i poniżej 1 100 nm, mające którykolwiek z poniższych parametrów: 1. wzbudzane impulsowo i modulowane dobrocią o czasie trwania impulsu równym lub większym niż 1 ns, mające którykolwiek z poniższych parametrów: a. wyjście w trybie jednokrotnego przejścia poprzecznego ze średnią mocą wyjściową ponad 40 W; lub b. wyjście w trybie wielokrotnego przejścia poprzecznego ze średnią mocą wyjściową ponad 50 W; lub 2. zawierające podwojenie częstotliwości, aby otrzymać wyjściową długość fali powyżej 500 nm i poniżej 550 nm, z przeciętną mocą wyjściową ponad 40 W. g. impulsowe „lasery” na tlenku węgla inne niż wymienione w poz. 6A005.d.2. spełniające wszystkie z poniższych kryteriów: 1. pracujące w przedziale długości fal od 5 000 nm do 6 000 nm; 2. częstotliwości powtarzania powyżej 250 Hz; 3. przeciętnej mocy wyjściowej powyżej 200 W; oraz 4. szerokości impulsu poniżej 200 ns;

6A225 Interferometry do pomiaru prędkości w zakresie powyżej 1 km/s w odstępach czasowych poniżej 10 mikrosekund. Uwaga: Pozycja 6A225 obejmuje interferometry do pomiaru prędkości, takie jak VISAR (interferometr do punktowego pomiaru prędkości powierzchni dowolnego rodzaju), DLI (interferometr laserowy) i PDV (urządzenia do pomiaru prędkości dźwięku w powietrzu na podstawie efektu Dopplera).