5)

w załączniku IX wprowadza się następujące zmiany: a) punkt 1.2.1 otrzymuje brzmienie: „1.2.1. Podzespoły elektryczne/elektroniczne mogą spełniać wymogi jakiejkolwiek kombinacji poniżej scharakteryzowanych metod badawczych, wybranej przez producenta, pod warunkiem iż zbadany zostanie pełen zakres częstotliwości określony w pkt 3.1 niniejszego załącznika. — Metoda badania w komorze pochłaniającej: zgodna z normą ISO 11452-2: wydanie drugie 2004 r. — Metoda badania w komorze TEM: zgodna z normą ISO 11452-3: wydanie drugie 2001 r. — Metoda badania z zastosowaniem dużego impulsu prądu (BCI): zgodna z normą ISO 11452-4: wydanie trzecie 2005 r. — Metoda badania z zastosowaniem linii paskowej: zgodna z normą ISO 11452-5: wydanie drugie 2002 r. — Metoda badania z zastosowaniem linii paskowej: 800 mm: zgodna z pkt 4.5 niniejszego załącznika, zakres częstotliwości i ogólne warunki badania są zgodne z normą ISO 11452-1: wydanie trzecie 2005 r.”; b) punkt 2.1 otrzymuje brzmienie: „2.1. Warunki badania są zgodne z normą ISO 11452-1: wydanie trzecie 2005 r.”; c) punkt 3.1 otrzymuje brzmienie: „3.1. Zakres częstotliwości, czasy oddziaływania Pomiary są wykonywane w zakresie częstotliwości 20–2 000 MHz i wielkością kroków zmiany częstotliwości zgodną z normą ISO 11452-1: Wydanie trzecie 2005 r. Modulacja sygnału badania to: — AM (modulacja amplitudy), z modulacją 1 kHz i 80 % głębią modulacji, w zakresie częstotliwości 20–800 MHz; — PM (modulacja fazowa) t na 577 μs, okres 4 600 μs, w zakresie częstotliwości 800–2 000 MHz, jeżeli nie uzgodniono inaczej w porozumieniu pomiędzy placówką techniczną a producentem podzespołów elektrycznych/elektronicznych. Wielkość kroku zmiany częstotliwości oraz czas oddziaływania są wybierane zgodnie z normą ISO 11452-1: wydanie trzecie 2005 r.”; d) punkt 3.2 otrzymuje brzmienie: „3.2. Placówka techniczna przeprowadza badania w odstępach określonych w normie ISO 11452-1: wydanie trzecie 2005 r., w zakresie częstotliwości od 20 do 2 000 MHz. Alternatywnie, jeżeli producent dostarczy dane pomiarowe dla całego pasma częstotliwości z laboratorium badawczego zgodnego z odpowiednimi częściami normy ISO 17025: wydanie pierwsze 1999 r. i uznanego przez organ zatwierdzający, placówka techniczna może wybrać mniejszą liczbę częstotliwości w zakresie, np.: 27, 45, 65, 90, 120, 150, 190, 230, 280, 380, 450, 600, 750, 900, 1 300 i 1 800 MHz, aby potwierdzić, że PZE spełniają wymogi niniejszego załącznika.”; e) podpunkt 4.1.2 otrzymuje brzmienie: „4.1.2. Metodologia badania Warunki badania pola ustala się »metodą substytucyjną« zgodnie z normą ISO 11452-2: wydanie drugie 2004 r. Badanie jest przeprowadzane z zastosowaniem polaryzacji pionowej.”; f) podpunkt 4.2.2 otrzymuje brzmienie: „4.2.2. Metodologia badania Badanie przeprowadza się zgodnie z normą ISO 11452-3: wydanie drugie 2001 r. Zależnie od badanego PZE organ badawczy wybiera metodę maksymalnego sprzężenia pola dla PZE lub dla okablowania wewnątrz komory TEM.”; g) podpunkt 4.3.2 otrzymuje brzmienie: „4.3.2. Metodologia badania Badanie przeprowadza się zgodnie z normą ISO 11452-4: wydanie trzecie 2005 r. na stole pomiarowym. Alternatywnie, PZE może być testowany w pojeździe, zgodnie z normą ISO 11451-4: wydanie pierwsze 1995 r. — Sondę impulsu prądu umieszcza się w odległości 150 mm od badanego PZE; — Do obliczenia wzbudzonych prądów z mocy przewodzenia stosuje się metodę odniesienia; — Zakres częstotliwości metody jest ograniczony przez specyfikację sondy impulsu prądu.”;