ARCHIVESHISTORIQUES
DELACOMMISSION
COLLECTION RELIEEDES
DOCUMENTS "COM"
COM(78)766
Vol.1978/0277

Disclaimer
Conformément aurèglement(CEE,Euratom)n°354/83duConseildu1erfévrier1983
concernantl'ouvertureaupublicdesarchiveshistoriquesdelaCommunauté économique
européenneetdelaCommunautéeuropéennedel'énergieatomique(JOL43du15.2.1983,
p.1),telquemodifiéparlerèglement(CE,Euratom)n°1700/2003du22septembre2003
(JOL243du27.9.2003,p.1),cedossierestouvertaupublic.Lecaséchéant,lesdocuments
classifiésprésentsdanscedossierontétédéclassifiésconformément àl'article5dudit
règlement.
InaccordancewithCouncilRegulation(EEC,Euratom)No354/83of1February1983
concerningtheopeningtothepublicofthehistoricalarchivesoftheEuropeanEconomic
CommunityandtheEuropeanAtomicEnergyCommunity(OJL43,15.2.1983,p.1),as
amendedbyRegulation(EC,Euratom)No1700/2003of22September2003(OJL243,
27.9.2003,p.1),thisfileisopentothepublic.Wherenecessary,classifieddocumentsinthis
filehavebeendeclassified inconformitywithArticle5oftheaforementioned regulation.
InÜbereinstimmung mitderVerordnung(EWG,Euratom)Nr.354/83desRatesvom1.
Februar1983überdieFreigabederhistorischen ArchivederEuropäischen
Wirtschaftsgemeinschaft undderEuropäischen Atomgemeinschaft (ABI.L43vom15.2.1983,
S.1),geändertdurchdieVerordnung(EG,Euratom)Nr.1700/2003vom22.September2003
(ABI.L243vom27.9.2003,S.1),istdieseDateiderÖffentlichkeitzugänglich.Soweit
erforderlich,wurdendieVerschlusssachen indieserDateiinÜbereinstimmung mitArtikel5
dergenanntenVerordnungfreigegeben.

COMMISSIE VANDEEUROPESE GEMEENSCHAPPEN
COM(78)766 def.
Brussel,22januari1979
ONTWERP-VOORSTEL VOOREENRICHTLIJN
VANDERAADTOTWIJZIGINGVANRICHTLIJN71/316/EEGVANDERAADVAN
26JULI.1971INZAKEDEONDERLINGE AANPASSING VANDE
WETGEVINGEN DERLID-STATEN BETREFFENDE VOORMEETMIDDELEN ENMETROLOGISCHE
CONTROLEMETHODEN GELDENDEALGEMENEBEPALINGEN
(doordeCommissiebijdeRaadingediend)
/-
j .ν·'.
Λ'Λ
COM(78)766def.
î

TOELICHTING
IMaEIDING
Deindustrie dermeetmiddelen ondergaat eensterke evolutie wagens de
steeds toenemende toepassing vanelektronische componen ten .
Dehuidige groei indeEuropese Gemeenschap vandehandel indeze meet-
middelen bedraagt ongeveer 10%perjaar enhetzakencijfer gedurende
hetjaar 1976 overtrof 4ö0miljoen ERE .
Indesektor derweegwerktuigen ,waarvoor 'deintra-communautaire handel
250miljoen EREbedraagt ,vertegenwoordigen deinstrumenten uitgerust
rr.etelektronische componenten tussen 30en40%,enditpercentage ver­
hoogt nogelk jaar .
Alsnendaarnaast nogrekening houdt methetsteeds toenemend gebruik
vandeelektronika indevloei stofmeters (benzinepompen ),kanmen zich
voorstellen welke uitgebreid domein openstaat voor detoepassingen van
deelektronik tophetgebied dermeetmiddelen .Maar deïntra-communautaire
handel wordt belemmerd door sterk verschillende nationale wettelijke be­
palingen ,in'tbijzonder door voorschriften die vankracht zijn in
Frankrijk eninDuitsland .Sedert geruime tijd wordt door deCommissie
gewerkt aandeeliminatie der technische handelsbelemmeringen ophet ter­
rein vandemetrologie .
Vijfentwintig richtlijnen inzake meetmiddelen werden vastgesteld sedert
1971 ,maar debetroffen instrumenten zijn allen vanhetmechanische of
elektromechanische type ,want zijvormden tentijde hetgrootste gedeelte
vandeEuropese markt .
Indetoekomst zullen demeeste meetmiddelen metelektronische componenten
worden uitgerust enomdeindustrie derEuropese Gemeenschap behulpzaam
tezijn bijdieovergang moet menervoor zorgen dat zijkangebruik maken
vandevoordelen diegeboden worden door degemeenschappelijke Europese
markt .

II.ONTWERP -VOORSTEL
Deze richtlijn toewijziging vanrichtlijn 71/316/EEGvandeRaad worat vast­
gesteld uithoofde vanartikel 100vanhetVerdrag totoplichting vande
Europese Economische Gemeenschap .
Dgrichtlijn 71/3J.6/EEGvandeRaao inzake oeonderlingen aanpassing vanoe
wetgevingen derlid-staten betreffende degemeenschappelijke bepalingen voer
meetmiddelen enmetrologische controlemethoden dieop26juli 1971 isvastge­
steld beoogt harmonisatie vandedestijds iniedere lid-staat vankracht zijnde
wettelijke enbestuursrechtelijke bepalingen waarin deophungrondgebied toe-
qepaste procedures enmetrologische controlenethoden waren vastgelegd .
Debedoeling vandeze richtlijn wasdusadekwate procedures intestellen voor
deEEG-modelgoedkeuring endeeertste EEG-ijk ,alsmede door alle lid-staten er­
kende ,communautaire metrologische controlemethoden ,waardoor -incombinatie
nietdevoorschriften vandebijzondere richtlijnen -vrij verlieer vandebe­
treffende meetmiddelen konworden gerealiseerd .Hetdoor decommunautaire wet­
geving bestreken gebied omvatte mechanische of.elektrcmechanische meetmiddelen .
Sinds degoedkeuring vanrichtlijn 71/316/EEGvandeRaad zijn eringrijpende
veranderingen opgetreden ophetgebied vandetechniek vandemeetmiddelen .
Tentijde vandeopstelling vanrichtlijn 71/316/EEGwaren demeeste meetmidde -
lenvanhetmechanische enelektromechanische type .Desituatie heeft zich
sindsdien volledig gewijzigd :debouw ,destandardisatie enhetgebruik van
elektronische apparatuur heeft zich steeds meer verbreid ,hetgeen toteenware
revolutie ophetgebied vandemeettechnieken heeft geleid .
Deze nieuwe techniek heeft zich niet totalle middelen uitgebreid ,maar een
groot aantal isvoorzien vanofgekoppeld aanelektronische apparatuur .Men
kandaarbij bijvoorbeeld denken aandeweeginstrumenten alscategorie ,taxi­
meters enbepaalde tellers ,waarvan hetgedeelte voor weergave vandegegevens
inbeeldvorm uitelektronische componenten bestaat .Danzijn ernogmeetin -
richtingen voor andere vloeistoffen danwater ,zoals opbenzinestations ge­
bruikte benzinepompen ,waar veneens vandeze moderne techniek gebruik isgemaakt .
./.

-3-
Hetgebruik vanelektronica inmeetapparatuur heeft inbeoaalde lid-staten
geleid totdeopstelling vantechnische voorschriften metbetrekking tot
elektronische inrichtingen ,waardoor erophetspecifieke gebied vanmeet-
middelen handelsbelemmeringen zijn ontstaan .
Zich wzlbewust van dedooi -deze technische ontwikkeling ontstane problemen
zijn dediensten vandeCommissie enkele jaren geleden begonnen metbestudering
vandeverschillende aspecten vanditvraagstuk insamenwerking metdebe\::*?gdo
nationale diensten van ieder ,elid-staat endafabrikanten engebruikers van
meetinstrumenten diezijn vertegenwoordigd inorganisaties welke deel uitiiiaVen
var :hetverbindir.gsorgaan vandeEuropese metaalindustrie (ORGALIME )»We
noemen :comité vanindustrieën voor elektrische enelektronische meetappar atuvx
indeGemeenschap (CIMEC ),hetEuropees comité vanfabrikanten vanweerinstru -
menten (CECIP ),Europees comité vanfabrikanten vanmaterieel voor deregis­
tratie endistributie vankoolwaterstoffen (CECOD );Europees comité voor
elcktrotechnische normalisatie {CEMELEC 5endeinternationale elektrotechnische
cormissie (C2I).Deze instanties zijn opdehoogte gehouden ,enzoals inhet
geval vanCENELEC ,betrokken bijdewerkzaamheden .
Tijdens dewerkzaamheden tervoorbereiding vanhetrichtlijnvoorstel tot
wijziging vanrichtlijn 71/316/EEGvandeRaad ismenopeenaantal moeilijK -
hoden gestuit dievoornamelijk tewijten zijn aandeuiteenlopende belangen
vendebetrokken bedri jfstakken ,maar ookindeverschillende beginselen
zoal ?diedoor delid–staten werden gehanteerd bijdetoelating ophun erronei –
gebied vanireetmidd.elen metelektronische inlichtingen .
Tijdons devoorbereidende besprekingen bleken twee ,ookdoor delid-stater
gedeelde ,aanvaardbare visies tebestaan tenaanzien vandeze inrichtingen .
Volgens deenevisie moest door middel vaneenaantal controles lancs de
gehele elektronische keten detectie ensignalering vansignificante storingen
mogel;-^' worden gemaakt ,terwijl volgens detweede opvatting elektronische
i""'.richtingen moeten worden geconstrueerd dieaanredelijke kwaliteits -en
betrouwbaarheidseisen voldoen .

Naveelvuldige studies enbesprekingen metdevoorstanders vanbeice
stellingen ,hebben dedi^'c^ten van£3Comniissis algo:ner.-3 vncrscnriirton
vcci-bca.de richtingen uitgewerkt ;waarvar .aldus eo.iwederzijds rkerde
metrologi sche zekerheid magworden verwacht .Defabrika.it blijft ,openkele
uitzonderingsgevallen na,'/rijindekeuze vanéénvanbeide methode .Het
nieuwe voorstel totwijziging vanderichtlijn bestaat hierin ,dateenbijlage
IIIaandeoorspronkelijke texst wordt toegevoegd ,terwijl bijlage IenII
vandeoude richtlijn opbepaalde punten worden gewijzigd .
Hetvoorstel heeft zohetdubbele voordeel dat zijhaar instrinsieke waarde
metbetrekking totdeEEG-controle (EEG-modelgoedkeuring ,eerste EEG-ijk )
voor demechanische enelektrische apparaten behoudt ,terwijl zijtevens
gemoderniseerd wordt door toevoeging vanbijzondere voorschriften voor met
elektronische inrichtingen uitgeruste meetmiddelen .
Dank zijdeze nieuwe voorschriften ,waarmee nagenoeg alle nationale deskundigen
akkoord zijn gegaan .Hunnen inverticale richtlijnen bijzondere voorschriften
worden opgenomen inzake deEEG-modelgoedkeuring ,deeerste EEG-ijk ,alsmede
deaandeelektronische componenten vanmeetinstrumenten teverrichten proe­
ven .
Door ditrichtlijnvoorstel ,dat zalworden aangevuld metbijzondere richt­
lijnen ,zalhetvrije verkeer vandeze nieuwe meetmiddelen binnen deGemsen -
schap mogelijk worden gemaakt .
III -RAADPLEGING VAN HET EUROPESE PARLEMENT ENHET ECONOMISCHE ENSOCIAAL COMITÉ
Overeenkomstig debepalingen vanartikel 100 ,2ealinea ishetadvies vandeze
twee instanties vereist .Voor detenuitvoerlegging vandeinhetrichtlijn -
voorstel vervatte voorschriften moeten enkele lid-staten hunwettelijke voor­
schriften wijzigen .
Wat deprocedure betreft ,devoorgestelde wijzigingen zijn ,zoals hierboven
reeds uiteengezet ,nodig omrichtlijn 71/316/EEGaan tepassen aandever­
nieuwde technieken .Hetvolgen van debij deartikelen 17tot 19vandie
richtlijn gegeven bijzondere procedure leek danookdeaangewezen weg .
Daar hetingrijpende vernieuwingen betreft heeft deCommissie hetechter
raadzaam geacht ,eenoparti-el 100gebaseerd wijzigingsvoorstel aandeRaad
tedoen toekomen .Aldus zaldeRaad indemogelijkheid verkeren deproble­
mendiepgaand tebesprken endeprincipes vast teleggen volgens welke .
./•

vervolgens debijzondere richtlijnen zullen worden aangepast ,overeen­
komstig "de"zogenaamde procedure inzake deaanpassing aandevooruitgang
van detechniek .

RICHTLIJNVOORSTEL VANDERAAD TOTWIJZIGING VANRICHTLIJN 71/316/EEG INZAKE
DEONDERLINGE AANPASSING VANDEWETGEVINGEN DERLID-STATEN BETREFFENDE VOOR
MEETMIDDELEN ENMETROLOGISCHE CONTROLEMETHODEN GELDENDE ALGEMENE BEPALINGEN
(Door deCommissie bijdeRaad ingediend )
DERAAD VAN DEEUROPESE GEMEENSCHAPPEN ,
Gelet ophetVerdrag totoprichting vandeEuropese Economische Gemeenschap ,
inzonderheid opartikel 100,
Gezien hetvoorstel vandeCommissie ;
Gezien hetadvies vanhetEuropese Parlement ;
Gezien hetadvies vanhetEconomisch enSociaal Comité ;
Overwegende datRichtlijn 71/316/EEGvandeRaad van 26juli 1971 (1)
voor meetmiddelen enmetrologi sche controlemethoden tot doel heeft
hetvrije verkeer van deze middelen binnen deGemeenschap teverwezen­
lijken door harmonisatie van deonderlinge verschillende nationale wet­
gevingen metbetrekking totmetrologi sche controles endoor met hetooq
hierop adequate procedures intestellen voor deEEG-modelgoedkeuring ,de
eerste EEG-ijk ,alsmede metrologi sche EEG-controlemethoden ;
-Overwegende dathetsinds devaststellina vandierichtlijn dank zijde
ontwikkeling van wetenschap entechniek moqelijk isaeworden OD
elektronika gebaseerde constructiemethoden teontwikkelen ,welke momenteel
regelmatig worden toegepast bij ontwerp ,ontwikkeling envervaardiging
vanmeetmiddelen ;
(1)P.B. nr.L202van6.9.1971 ,blz .1.

Overwegende dathettentijde vandevaststelling vanRichtlijn 71/316/EEG
nogniet mogelijk wasmetdeze technische ontwikkeling rekening
tehouden endat sindsdien enkele lid-staten voorschriften inhun nationale
wetgevingen hebben opgenomen krachtens welke hetmogelijk isnationale goed­
keuringen teverlenen voor meetmiddelen diezijn uitgerust metelektronische
inrichtingen ;
Overwegende datderhalve ,methetoogopuitbreiding vanhettoepassings­
gebied vanvoornoemde richtlijn vandeRaad totmetelektronische inrich­
tingen uitgeruste meetmiddelen enopharmonisatie vandedaartoe vastge­
stelde nationale wettelijke bepalingen ,detekst vandemomenteel geldende
Europese voorschriften dient teworden gewijzigd enaangevuld ,
/
HEEFT DEVOLGENDE RICHTLIJN VASTGESTELD :

Artikel I
Artikel2,Lid2enLid 5,artikel5,Lid3enLid4,artikel 7,lid 1enlid
4,artikel 8,lid 1enlid2,artikel 9,eerste lid,artikel 15,lid2,en
artikel 17vanRichtlijn 71/316/EEGwordt alsvolgt gewijzigd :
"Artikel2,Lid2
Delid-staren verlenen ,indien hunuitrusting dittoelaat ,opaanvraag vande
fabrikant ofvandiens gemachtigde deEEG-modelgoedkeur ingvoor .alle typen
vanmeetmiddelen ,alsmede voor alle hulpinrichtingen dievoldoen aandeeisen
inzake demetrolcgische eigenschappen enaandevoorschriften inzake de
technische uitvoering enwerking zoals diezijn vastgesteld^in voorkomend
geval ,enindebijzondere richtlijn voor deze categorie vanmeetmiddelen ."
"Artikel2,LTd5
Delid-staten verlenen deEEG-modelgoedkeur ingovereenkomstig debepalingen
vandeze richtlijn envandebijzondere richtlijnen ."
'Art ikel5,Lid3
Indien nieuwe ,niet indeze richtlijn ofineenbijzondere richtlijn voorziene
technieken worden toegepast ,kan ,navoorafgaand overleg met deandere lid­
staten ,eenEEG-modelgoedkeuring vanbeperkte strekking worden toegekend .
Zijkangepaard gaan metdezelfde beperkingen alsdiewaarin lid 2voorziet ,
alsmede metbijzondere voorschriften diebetrekking hebben opdetoegepaste
techniek .
Zijmagevenwel slechts worden toegekend :
-indien debijzondere richtlijn voor deze categorie vanmeetmiddelen in
werking isgetreden ;
-indien erniet wordt afgeweken vandeindebijzondere richtlijnen vast­
gestelde maximaal toelaatbare fouten .

-4-
Degeldigheidsduur vaneendergelijke modelgoedkeuring istottenhoogste
twee jaarbeperkt .Deze kanechter nogmetdrie jaarworden verlengd ."
Artikel 5,lid 4
Zodra hijvanoordeel isdatdedeugdelijkheid proefondervindelijk isbewezen ,
dient delid-staat dieeenEEG-modelgoedkeuring vanbeperkte strekking ,als
bedoeld inlid 3,heeft verleend ,eenverzoek inomdebijlagen vandeze
richtlijn ,invoorkomend geval ,envan debijzondere .richtlijn overeen­
Komstig deartikelen18en19aan tepassen aan destand van detechniek .
Artikel7,lid1
Delid-staat dieeenEEG-modelgoedkeuring heeft verleend ,kandeze intrekken
indien :
a)meetmiddelen vervaardigd naar hetgoedgekeurde model niet overeen­
stemmen methetgoedgekeurde model en/ofdebepalingen vandeze
richtlijn ,invoorkomend geval ,envandedesbetreffende bijzondere
richtlijn ; - '
b)deinhetcertificaat vanEEG-modelgoedkeuring gestelde metrologische
voorschriften ofdebepalingen vanartikel 5,lid 2en3,niet zijn
nagekomén .
Artikel 7,lid 4
Delid-staat diehetbestaan vanhetin lid 2bedoelde geval heeft vastgesteld ,
kanhetindehandel brengen enhetingebruik nemen vandeze meetmiddelen
opschorten .
Hijstelt deoverige lid-staten endeCommissie daarvan onmiddellijk in
kennis ,waarbij hijzijn besluit motiveert .
Hetzelfde geldt indegevallen alsbedoeld inlid1 ,voormeetmiddelen dievan
deeerste EEG-ijk zijn vrijgesteld ,indien defabrikant naontvangen waar­
-schuwing deze niet inovereenstemming brengt methetgoedgekeurde model en/of
metdevoorschriften vandeze richtlijn ,invoorkomend geval ,envandedes­
betreffende bijzondere richtlijn .

-5-
Artikel 8lid 1
Deeerste EEG-ijk isdecontrole endebevestiging vandeovereenstemming van
eennieuw ofvernieuwd meetmi ddelmethetgoedgekeurde model en/ofmetdebepa
Lingen vandedesbetreffende bijzondere richtlijn eneventueel vandeze richt­
lijn ;deze ijkkomt totuitdrukking inhetmerk vaneerste EEG-ijk .
Artikel 8lid 2
Delid-staten onderzoeken ,indien hunuitrusting dittoelaat ,demeetmiddelen
dietotdeeerste EEG-ijk werden aangeboden enwaarvan wordt gesteld datzij
deindeze richtlijn ,invoorkomend geval ,endeindebijzondere richtlijn
voor deze categorie vanmeetmiddelen vastgestelde metrologi sche eigenschap­
penbezitten enaandedaarin vastgestelde technische voorschriften inzake
uitvoering enwerking beantwoorden .
Artikel 9,eerste lid
Wanneer eenmeetmiddel totdeeerste EEG-ijk wordt aangeboden ,steld aelid­
staat die deze ijkverricht vast of :
a)hetmeetmiddel behoort toteencategorie dievrijgesteld isvande
EEG-modelgoedkeuring en,zoja,ofhetvoldoet aandevoorschriften inzake
technische uitvoering enwerking die indeze richtlijn ,invoorkomend geval ,
enindebijzondere richtlijn voor deze categorie zijn vastgesteld ;
b)hetmeetmiddel deEEG-modelgoedkeuring heeft ondergaan en,zoja,of
hetovereenkomt methetgoedgekeurde model envoldoet aandevoorschriften
vandeze richtlijn ,invoorkomend geval ,envan dedesbetreffende bijzondere
richt lijn.
Artikel 15lid 2
Ongeacht artikel 1,lid 1kaneenmeetmiddel dat ingébruik isenvoorzien is
vanEEG-tekens of-merken ,maar datniet voldoet aandeeisen vandeze richt­
lijn en/ofvandedesbetreffende bijzondere richtlijn ,metname voor watde
maximaal toelaatbare fouten betreft ,opdezelfde wijze buiten gebruik worden
gesteld alseenmeetmiddel dat isvoorzien vannationale merktekens .

-6-
Artikel 17
Dewijzigingen dienodig zijn voor hetaanpassen aandestand vandetechniek
van :
-debijlagen vandeze richtlijn
-debijlagen vandebijzondere richtlijnen voor deverschillende
categorieën meetmiddelen ,dewettelijke meeteenheden ende
communautaire metrologische controlemethoden ,
worden vastgesteld overeenkomstig deprocedure vanartikel 19.
Artikel II ■
Aandepunten 1.3en2.1vanbijlage IvanRichtlijn '71/316/EEGworden de
volgende teksten toegevoegd : .
1.3.4 .
Voor eenmetelektronische inrichtingen uitgerust meetmiddel bovendien nog
-eenlijst vandeelektronische componenten methunvoornaamste
karakteristieken ;
-eenbeschrijving vandeelektronische inrichtingen mettekeningen en
schema 'swaarop deconstructie enwerking duidelijk isgemaakt .
2.1.3 .
Eventueel eengedetailleerd onderzoek vandeelektronische inrichtingen
metalsvoornaamste onderdelen bestudering vanhetontwerp ,concept -en/of
bedri jfsproeven ,alsmede eenduurproef alsomschreven inpunt 8vanbijlage III
Artikel III
Punt 1vanbijlage IIvanRichtlijn 71/316/EEGwordt vervangen door devolgende
tekst :
"1.Algemeen
1.1 Deeerste EEG-ijk kanworden verricht inéénofmeer fasen (meestal
intwee fasen ).

-7-
1.2 Onverminderd hetbepaalde indebijzondere richtlijnen geldt
hetvolgende :
1.2.1 .Deeerste EEC-ijk vindt plaats inéénfase bijmeetmiddelen die
bijhetverlaten vandefabriek eengeheel vormen ,d.w.z ;meet-
middelen die inprincipe zonder voorafgaande demontage naar de
plaats vanopstelling kunnen worden overgebracht .
1.2.2 .Deeerste EEG-ijk vindt plaats intwee ofmeer fasen bijmeet-
middelen waarvan dejuiste werking afhangt vanopstellings -
engebruiksomstandigheden .
1.2.3 .Deeerste ijkfase dient voornamelijk omtecontroleren ofhet
meetmiddel inovereens temjning ismethetgoedgekeurde model
en/ofdebepalingen vandeze richtlijn ,invoorkomend geval ,
envan dedesbetreffende bijzondere richtlijn ,ofbij meet-
middelen die van deEEG-mode Igoedkeur ingzijn vrijgesteld ,
met dedaarop vantoepassing zijnde voorschriften .
1his 0nripr7opk invprband met deeerste EEG-iik .
Voor deeerste EEG-ijk ondergaan demetelektronische inrichtingen
uitgeruste meetmiddelen niet alleen deinartikel 9,maar ookdein
punt 9vanbijlage IIIgenoemde onderzoeken omtecontroleren of
deze elektronische inrichtingen overeenkomen metdeinhetgoedge­
keurde model ingebouwde inrichtingen .
Artikel IV
Detekst van debijlage bijdeze richtlijn wordt toegevoegd aanRichtlijn
71/316 /EEG .
Artikel V
a)Dewettelijke enbestuursrechtelijke bepalingen dienodig zijn omaanhet
gestelde indeze richtlijn tevoldoen eadieop1april 1932 inwerking
uiterlijk op31december 1981 door delid-staten vastgesteld enge­
publiceerd .DeCommissie wordt hiervan inkennis gesteld .
./.

b)Nakennisgeving vandeze richtlijn zien delid-staten derbovendien optoe
flatdeCoTTimissie tijdig inkennis wordt gesteld vanalle ontwerp-bepalingen
vanwettelijke enbestuursrechtelijke aard die zijvoornemens zijn vast te
stellen ophetdoor deze richtlijn bestreken gebied ,zodat deCommissie
haar opmerkingen kanmaken .
Artikel VI
Deze richtlijn isgericht totdelid-staten .
Gedaan teBrussel ,

BIJLAGE
BIJLAGE III
VOORSCHRIFTEN MET BETREKKING TCT ELEKTRONISCHE INRICHTINGEN
INOFBIJ MEETINSTRUMENTEN
Hoofdstuk I
1.Alnemeen
Indeze bijlage zijn demetrologische enalgemeen technische kenmerken omschreven
vanelektronische inrichtingen diedeel uitmaken vanofbehoren bijmeetmiddelen
ofnevenuitrusting daarvan ,alsmede dedaarop betrekking hébbende onderzoeken
enproeven .
Indebijzondere richtlijnen betreffende deverschillende categorieën meetin­
strumenten worden deze alaemene voorschriften aangevuld enuitgewerkt .
2.Doel
hetdoel dathierbij wordt nagestreefd
inrichtingen goed blijven functioneren
demeetresultaten doen ontstaan .isdezekerheid dat deze elektronische
eningeen geval significante fouten in
3.Definities enterminologie
Devolgende termen ,zoals omschreven indeze richtlijn ,kunnen indebijzondere
richtlijnen worden gebruikt enhebben daarin dezelfde betekenis .
3.1 .Elektronische inrichtingen
3.1.1 .Elektronische inrichting
Indezinvandeze bijlage wordt onder elektronische inrichting
eendeel verstaan van eenmeetinstrument ofvan eenneveninrichting
dattenminste éénelektronische component bevat ,endat inhet
instrument eenspecifieke functie vervult .
3.1.2 .Elektronische inrichting met volledige controle
Eenelektronische inrichting wordt geacht voorzien tezijn van een
volledige controle ,indien elksamengesteld onderdeel vande
elektronische inrichting datbijdemeting eenessentiële functie
vervult ,wordt gecontroleerd .
3.1.3 .Elektronische inrichting zonder controle ofmetgedeeltelijke
controle
Elektronische inrichtingen dieniet volledig worden gecontroleerd
zoals die »omschreven inpunt 3.1.2 .
3.2 .Hoofd -ennevenaandui dingen
3.2.1 .Alle uitgangsgegevens dieindezinvandewettelijke metrologie
als authentiek worden beschouwd .

-2-
Zen}ioofdaonduidingkannietalleendeaanduidingvandegemeten
grootheidindevormvaneenbeeld,eenafdrukofeenregistratie ,
omvatten,maarookeenfunctievandehoeveelheid .
Indebijzondererichtlijnkanwordenaangegevenwelkeaanwijzin­
genvaneenmeetinstrument alshoofdaanduiding moetenworden
beschouwd .
3.2.2,
Nevenaanduiöignen zijnalleuitgangsgegevens dienietalshoord-
aanduidingen wordenbeschouwd .
3.3.Herhaalbare enniet-herhaalbare meting
3.3.1.Herhaalbare metmg
Eenherhaalbare metingiseenmetingwaarbijinhetalgemeende
aer.etenwaardemeerderekerenkanwordenvastgesteld .
3.3.2.Niet-herhaalbare metina
Eenniet-herhaalbare metingiseenmetingwaarbijinhetalgemeen
slechtseenmaaldegemetenwaardekanwordenvastgesteld ,
3.4.Tvoenelektronische inrichtingen
3.4.1.Analogeirmcnting
Inrichtingwaarbijallesignaiencontinuefunctieszijnvance
teverwerkengrootheid.
3.4.2.Numeriekeinrichting
Inrichtingwaarbijallesignalenniet-continue functieszijnvan
deteverwerkengrootheid.
3.4.3.Gecombineerde_inrichting
Eenuitééngeheelbestaandeinrichtingmetbeidehierbovenge­
noemdesignaaltypen.
3.5.Functietvoen
3.5.1.Statistische functie (combinerend )
Functiewaarbijdeuitgangswaarden uitsluitend afhangenvande
momentaneingangsgegevens .
3.5.2.Kinetischefunctie(sequentieel )
Functiewaarbijdeuitgangswaardén nietalleenafhankelijkzijn
vandebetreffende momentaneingangsgegevens maarookvanvroegere
ingangsgegevens .

-3-
3.6 .Storingen
3.6.1 .Storingen
Indezinvandeze bijlage wordt onder eenstoring eentekort -
korrjLng indewerking vaneenelektronische inrichting verst ar.a
diehezgevolg isvaneenbreuk indecomponenten ofdeverom -
dingen daarvan ofveroorzaakt wordt door verstoringen vanbuitenaf ,
3.6.2 .Storingen ingedeeld naar deduur
3.6.2.1 .Kortstondiae_storingen _
Storingen waarvan deduur korter kanzijn dandievan
dekortste meetverrichting .
3.6.2.1 .Perrnanente_storingen
Storingen dieniet kortstondig zijn .
3.6.3 .Storingen ingedeeld gevolgen
3.6.3.1 .Niet-significante storingen
Storingen diegeen fouten veroorzaken indenetingen of
storingen diefouten veroorzaken meteenwaarde diege­
ringer isdandiewelke indebijzondere richtlijn be­
treffende hetbetrokken meetinstruirent wordt aangegeven .
3.6.3.2 .Significante_storingen
Alle storingen dieniet inpunt 3.6.3.1 .zijn vermeld .
3.7 .Contr oletvoen
3.7.1 .Automatische enoermanente controle (P)
Eencontrole waardoor het zonder tussenkomst vanbedieningsper -
soneel mogelijk isdejuiste werking vanelektronische inrich­
tingen tijdens een nieting ,aldan -niet continu tecontroleren ,
waarbij metgeen enkele foutieve informatie rekening kanworden
gehouden .
3.7.2 .Automatische entussentijdse controle (I)
Eencontrole waarbij het ,zonder tussenkomst vanbedieningsperso -
neel mogelijk isopcyclische wijze dejuiste werking van elek­
tronische inrichtingen tecontroleren .
3.7.3 .Niet-automatische controle (N)
Eencontrole waarbij hetviadetussenkomst vanbedieningspersoneel
mogelijk isdejuiste werking vanelektronische inrichtingen te
controleren »
3.8 .Metrologische betrouwbaarheid
Eenmeetinstrument voordien vanelektronische inrichtingen isbetrouwbaar
wanneer deelektronische inrichtingen voldoen aandegestelde metrolo -
gische entechnische eisen .

Hoofdstuk II
Voorschriften voor elektronische inrichtingen
Algemene voorschriften
4.1 .Metrolocrische betrouwbaarheid
Meetinstrumenten ofneveninrichtingen daarvan voorzien vanelektronische
inrichtingen moeten devoor hetgebruiksdoel vereiste metrologische be­
trouwbaarheid bezitten .
Deze betrouwbaarheid kanmetbehulp vanéénvanonderstaande methoden
worden bereikt :
-hetzij hetmetbehulp vaneenadequaat concept eneenadequate con­
structie vervaardigen vanelektronische inrichtingen die aanhet
vereiste kwaliteitsniveau voldoen enwaarvan men opgrond van proeven
magveronderstellen datzijeenredelijke levensduur hébben ;
-hetzij door voor elksamengesteld onderdeel -vaneeneenelektronische
inrichting datbijdemeting eenessentiële functie vervult controles
voor teschrijven waardoor detectie ensignalering vansignificante
storingen mogelijk zijn ;
-hetzij door combinatie vanbovenvermelde methoden .
Tenzij ineenbijzondere richtlijn anders isvoorgeschreven ,wordt de
keuze vandemethode aandefabrikant overgelaten .
4.2 .Noods troomvoorziemnq
Indien ineenbijzonder -;.richtlijn eennoodstroomvoorziening alseis
wordt gesteld ,magdeoverschakeling opdeze noodstroomvoorziening niet
leiden totstoringen iadeelektronische inrichtingen .
Voorschr i 'XJelektronische inrichtingen met volledige controle
Elektronische inrichtingen metvolledige controle moeten zodanig zijn ont­
worpen datertoezicht isopdewerking vandeinrichting endatbedrijfs -
storingen automatisch ofdoor tussenkomst vanbedieningspersoneel worden
opgespoord engesignaleerd .
5.1 .Opsporing vanstoringen
Storingen worden opgespoord door middel vandeinpunt 3.7 .aangegeven
controles .Hetcontroleniveau (P.I.N. )isafhankelijk vandetypen
elektronische inrichtingen waarin deze controlerende functies zijn verwerkt .
Tenzij ineenbijzondere richtlijn anders isvermeld zijn automatische
controles voorzien indevolgende gevallen :
-denumerieke inrichtingen metkinetische functie (numeriek-sequentieel )
moeten voorzien zi^n vaneenautomatisch enpermanent controle­
systeem (P).

Indien echter genoemd controlesysteem slechts deel uitmaakt vaneenge­
deelte vandenumerieke inrichting metkinetische functie ,maar dedetectie
mogelijk maakt vankortstondige storingen indegehele inrichting ,mag
voor deandere gedeelten worden volstaan meteensysteem vcor automatische
entussentijdse controle (I).
--Denumerieke inrichtingen metstatische functie (numeriek-ccmbinerend )
zijn voorzien vaneenautomatische enpermanent controlesysteem (P)of
vaneenautomatisch ,entussentijds controlesysteem (I).
Defrequentie vandeautomatische entussentijdse controles isvastgelegd
indebijzondere richtlijn .
Niet-automatische controles (N)worden alleen toegepast indegevallen
vermeld indebijzondere richtlijnen .
Bepaalde storingen kunnen echter niet worden opgespoord :
-storingen dievoortvloeien uittwee ofmeer gelijktijdig ,door losvan
elkaar staande oorzaken optredende defecten ,
-storingen dieelke meting onmogelijk maken ,
-storingen diedusdanige meetfouten veroorzaken datzijweldoor alle bij
hetmeetresultaat betrokken partijen moeten worden opgemerkt ,
-storingen dienader indebijzondere richtlijnen worden aangegeven .
5.2 .Signalering vaneenstoring
Indien eenstoring isgedetecteerd ,dient automatisch eennader inde
bijzondere richtlijn aangegeven werking tevolgen ,zoals b.v .deinschake­
ling vaneenvisueel ofgeluidsignaal ,stopzetting vandemeetverrichting ,
afscherming vanhetaanwi jsorgaan enz.).
Deze werking dient plaats tevinden nadetectie vaiï :
-elke storing bijnumerieke inrichtingen ,
-elke storing diebijanaloge ofgecombineerde inrichtingen èfö?.groter O
meetfout veroorzaakt dandewaarde vastgesteld indebijzondere r jn.
5.3 .Metdehand bediende testapparatuur
Indien eenmeetinstrument metelektronische inrichtingen voorzien van
controles isuitgerust ,danmoet hetmeteenofmeerdere handbediende
testapparaten inhetmeetinstrument mogelijk zijn deaanwezigheid ende
werking vandecontrole teverifiëren .
Voorschriften voor elektronische inrichtingen zonder controle oftendele uit­
gerust met controles
Hetontwerp endeconstructie vanelektronische inrichtingen zonder controle of
tendele uitgerust metcontroles ,moeten zodanig zijn dateenkwaliteitsniveau
kanworden bereikt waardoor zijvoldoende duurzaam ennauwkeurig functioneren
onder denormale gebru ikr .omstandigheden vanhetmeetinstrument waarvan zijdeel
uitmaken .

MQ«
Voorts dienen deze elektronische inrichtingen beveiligd teworden tegen sto­
rende invloeden vanbuitenaf waaraan zijkunnen zijn blootgesteld endie .sig­
nificante storingen tot gevolg kunnen hebben .
Aan dehand vanproeven moet het kwaliteitsniveau van deze elektronische in­
richtingen worden bepaald .

7-
Hoofdstuk III .
Onderzoek enbeproeving van deelektronische
inrichting bi.j deEEG-modelgoedkeuring
endeeerste EEG-i.jk
7.BijdeEEG-goedkeuring endeeerste EEG-ijk vanmeetinstrumenten met
elektronische inrichtingen moet deelektronische apparatuur worden
onderworpen aandeindithoofdstuk voorgeschreven onderzoeken en/of
proeven . -
8.Onderzoek voor deEEG-modelgoedkeuring
8.1 .Onderzoek enbeproeving van elektronische inrichtingen metvolledige
controle
8.1.1 .Onderzoek van he_fc ontwerjD
Het onderzoek vanhet ontwerp aan dehand van tekeningen heeft
ten doel nategaan ofdeelektronische inrichtingen ende "
controlesystemen daarvan voldoen aan devoorschriften van
punt 4en5vandeze bijlage .
Het onderzoek omvat :
... - a)eenbeoordeling van deconstructiekenmerken envan de
componenten die daarin zijn verwerkt ,ten einde vast
testellen ofdeze aan deminimale kwaliteitseisen
voldoen ,
b)eenbeschouwing vaneventuele bedrijfsstoringen die door
deinvloeden van buitenaf worden veroorzaakt ofhet ge­
volg zijn van gebreken aan componenten ofverbindingen
daartussen ,ten einde vast testellen ofdeze inrichtin­
gen inalle gevallen voldoen aan devoorschriften van
punt 5»
c)eencontrole van deAanwezigheid envan dewerking van
een ofmeerdere met dehand bediende testapparaten .
8.1.2 .Ond_erzoe_k en_bep£oe_vinj£ van _de_werk_in_g _
Inhet meetapparaat ingebouwde elektronische inrichtingen
moeten worden onderzocht ten einde vast testellen ofzij
zorgvuldig zijn geconstrueerd enofdeverbindingen enaan­
^ sluitingen juist zijn uitgevoerd .
Indien eennoodstroomvoorziening isvereist ,dient tewor­
dengecontroleerd ofaanhet'bepaalde inpunt Ua2mwordt
voldaan .
Tenslotte worden bedrijf sproeven uitgevoerd metelektro­
nische inrichtingen dieeenbestanddeel vormen vanhet
volledig operationeel meetinstrument .
/

-8-
a)Gedrag onder invloed vanbeïnvloedingsfactoren
Indien eeninstrument wordt blootgesteld aanheteffect van
deinpunt 11.1vandeze bijlage bedoelde beïnvloedingsfac -
toren ,moeten deelektronische inrichtingen correct blijven
functioneren enwelzonder datbijhetinstrument onder de
door dedesbetreffende bijzondere richtlijn gespecificeerde
omstandigheden overschrijding vandetoelaatbare fouten
plaatsvindt .
b)Gedrag onder invloed van_storingsverschijnsel en
Hetinstrument moet worden bLootgesteld aanstoringen van
buitenaf ,zoals vermeld inpunt 11.2 vandeze bijlage ,even - 
tueel aangevuld methetbepaalde indebijzondere richtlijn , -
alsmede aangesimuleerde storingen incomponenten enver­
bindingen .
Tijdens deze proeven moet deelektronische inrichting nor­
maal kunnen blijven functioneren ofalle significante sto-
-ringen detecteren ensignaleren waarbij devoorschriften
terzake van "punt 5dienen teworden nageleefde
8.1.3 .Karakteriserinj ;va_nhe_tinodel
Door hetinwerking stellen van deingebouwde handbediende test-
apparatuur moet deaanwezigheid endegoede werking dercontroles
worden aangetoond .
Vervolgens wordt eenduurproef verricht ,waarbij eenofmeerdere
instrumenten gedurende eenbepaalde tijd ofgedurende eenaan­
talbedri jfscyclussen aaneenreeks proeven wordt onderworpen .
Duur enwijze vanuitvoering van elke proef zijn vermeld inde
bijzondere richtlijn die ophetbetreffende instrument betrek­
king heeft .
. 'Nabeëindiging vanbeproeven dient door middel van detestappa -
ratuur detoestand endewerking van decontroles teworden ge­
verifieerd enmoet worden beoordeeld ofhet gedrag van deelektro
nische inrichtingen tijdens deproeven bevredigend kan worden
geacht met het oog op .het gebruiksdoel van deze inrichtingen .
8.2.Onderzoek enbeproeving van elektronische inrichtingen zonder controles
ofgedeeltelijk uitgerust met controles
8.2.1 .Ond_er_zo_ek en_j?roeven_met_be_trel£kinj£ _tot _he_t ontwerja
Debestudering van het ontwerp van elektronische inrichtingen
dient omnategaan ofdeze inrichtingen voldoen aan devoor­
schriften van depunten 4,6en10vandeze bijlageo

-9-
8.2.1.1 .Onderzoek van_het_ontwerp
Dit onderzoek omvat : .
a)eenbeoordeling van dekarakteristieken van de
componenten ,vanhetontwerp endeconstructie
van deelektronische inrichting ten einde debe­
trouwbaarheid vast testellen enuit temaken of
zijgeschikt isominhetmeetinstrument tewor­
den gebruikt , - .
b)het inoverweging nemen van eventuele bedrijfs -
storingen ,veroorzaakt door gebreken aan componen­
ten ofverbindingen ,ten einde nategaan ofdeze
storingen niet-signif icant zijn of,indien zijsig-
■_ nificant zijn ,defrequentie daarvan zogering is
dat aan het vereiste betrouwbaarheidsniveau wordt
voldaan ,
c)bestudering van de 'maatregelen die deconstruc­
teur heeft getroffen terbescherming yan deelek-
s tronische inrichting tegen invloeden van buitenaf ,
als vermeld inpunt 11.2 .
8.2.1.2 .Beproeving vanhetontwerp
Debeproeving vanhet ontwerp vermeld inpunt 10van
' deze bijlage wordt uitgevoerd met elke niet-operatio -
nele elektronische inrichting . ~
Degoede werking van deelektronische inrichting
wordt voor ennadeze proeven gecontroleerd .
8.2.2 .Onderzo_ek en_bejroevi_ng v_aii _de__wer ki_ng__
Inhet meetapparaat ingebouwde elektronische inrichtingen moe­
ten worden onderzocht ,ten einde vast testellen -ofzij zorg - -
vuldig zijn geconstrueerd enofdeverbindingen enaansluitin­
gen juist zijn uitgevoerd .
Indien een noodstroomvoorziening vereist is,dient teworden
gecontroleerd ofaanhetbepaalde inpunt k.2wordt voldaan <>
Vervolgens worden deindepunten 11.1 en11.2 van deze bij­
lage vermelde bedrijfsproeven uitgevoerd met deelektronische
inrichtingen die deel uitmaken van eenvolledig operationeel
meetinstrument .Tijdens een reeks proeven moeten deelektro­
nische inrichtingen goed blijven functioneren ,waardoor het
instrument devereiste metro3,ogische hoedanigheden kan
behouden .
8.2.3 «Karakt eris_er ing_vanhetmodel
Hetmodel wordt gekarakteriseerd door delijst vancomponenten ,
defabricagemethoden eneen objectief kwaliteitscriterium ./De
kwaliteit wordt beoordeeld aandehand vaneenduurproef waarbij
éénofmeerdere instrumenten gedurende eenbepaalde tijd ofge-
rdurende eenaantal bedrijf scyclussen aaneenreeks proeven
wordt onderworpen .

-10-
Duur enwijze vanuitvoering van elke proef zijn vermeld m
debijzondere richtlijn die ophetbetreffende instrument
betrekking heeft . .
Deelektronische inrichtingen moeten gedurende degehele
duurproef juist blijven functioneren .
'8.J. Uitvoering derproeven
Deindepunten 8.1.2 .en8.2.2 .vermelde bedrijf sproeven kunnen ,
naar gelang van het geval eninelk geval krachtens devoor elk
instrument geldende bijzondere richtlijnen gecombineerd worden met
deindepunten 8.1.3 en8.2.3 voorgeschreven duurproeven .
Aldeze proeven moeten aldus resulteren ineenhomogeen programma
dat aan het betrokken instrument isaangepast endat opuniforme
wijze door deverantwoordelijke instanties indelid-staten wordt
toegepast .
Indien zulks indebijzondere richtlijnen wordt voorgeschreven ,kun
nen deze proeven ook worden uitgevoerd aan met elektronische inrich
tingen uitgeruste samenstellende delen die inoperationele toestand
kunnen worden gebracht .
Onderzoek voor deeerste EEG-ijk
9.1.Elektronische inrichtingen metvolledige controle
Deingebouwde met dehand bediende testapparatuur moet bij alle in­
strumenten dievoor deeerste „ijkterbeschikking worden gesteld
zodanig functioneren dat deaanwezigheid endegoede werking van
decontroles kan worden aangetoond . -
Uit deinstrumenten diebij demetrologische dienst voor een eerste
ijkworden aangeboden wordt eenexemplaar gekozen ,waarmee dein
punt 8.1.3 .vermelde proeven worden verricht of,voor zover vantoe
passing ,dekrachtens punt 8.3.samengestelde reeks proeven .
Het aantal ,alsmede degevolgen voortvloeiend uit eventuele niet-
bevredigende resultaten vandeze proeven ,worden aangegeven inde
bijzondere richtlijn .
9*2.Elektronische inrichtingen zonder controle ofmetgedeeltelijke
controle
Uitdem-instrumenten dievoor -eeneerste ijkworden aangeboden
wordt eenexemplaar gekozen ten einde :
-nategaan ofdebelangrijkste componenten dievoor defabricage
vanelektronische inrichtingen zijn toegepast zich .ineengelijk­
waardige conditie bevinden enofzijkwalitatief tenminste ge­
lijk zijn aandiewelke voorkomen opdelijst vancomponenten
diedeel uitmaakt vanhetEEG–modelgoedkeuringsdossier »

-11-
-het instrument teonderwerpen aan deproeven vermeld inpunt
8.2.5 »ofaan dekrachtens punt 8.3 «samengestelde reeks
proeven .
Het' aantal malsmede degevolgen voortvloeiend uit eventuele niet
bevredigende resultaten van genoemde verrichtingen worden aange­
geven indebijzondere richtlijn ,,

Hoofdstuk IV
Voorgeschreven proeven metelektronische inrichtingen
Beproeving van het ontwerp
Aandehand vandeontwerp –proeven moet dekwaliteit enduurzaamheid van
deelektronische inrichtingen zonder controle ofmetgedeeltelijke con­
trole worden vastgestelde
Deze proeven ,waaraan elke elektronische inrichting moet worden onderwor­
pen ,vinden plaats bijhetonderzoek voor deEEG-modelgoedkeuringo
Debijditonderzoek uitgevoerde verrichtingen bestaan uit :
-controle van degoede werking van het instrument ,
-uitvoering van deindenavolgende punten opgesomde proeven ,
-hernieuwde montage van deelektronische inrichtingen -ophetinstrument
en,
-hernieuwde controle van dewerking van het instrument waarbij met
name wordt nagegaan ofdemaximaal toelaatbare fouten nogsteeds in
acht worden genomen . 1
10.1 .Proeven bij een vochtige warmtecyclus
Deelektronische inrichting wordt geplaatst ineen ruimte met een
stabiele temperatuur van 25+3°Ceneenrelatieve vochtigheid
van ten minste 95%o
Decyclus begint meteenopvoering van detemperatuur tot *f0°C
in3uur +30minuten ,derelatieve vochtigheid (RV)mag niet la­
gerzijn dan 95%%uitgezonderd delaatste 15minuten ,waarin deze
tenminste 90%moet bedragen .
^Handhaving vandetemperatuur op <f0°C+2°Ctot12uur+30
minuten nahetbegin vaneencyclus ,bijbeen RVvan93+3
mm
Verlaging vandetemperatuur tjot25°C+3®Cin3uur+30minuten .DeRVmagniet lager zijn dan95%uitgezonderd deeerste
15minuten ,waarin deze tenminste 90%moet bedrageno
Handhaving van detemperatuur op25°C+3°Cbij eenRVvan
tenminste 95 totdat decyclus van2V~uur isvoltooide
'Deproef omvat 6cyclussen van 2.kuur »
10.2 .Thermische schokproef '"
Deuitrusting wordt gedurende 3.uurineenruimte geplaatst waar
eentemperatuur van 5°C+3°Cheerst ;daarna wordt deuitrus­
ting uitdeze koude ruimte~gehaald engedurende tenminste 2.en
hoogstens 3minuten aandeomgevingstemperatuur blootgesteld .

13-
Deelektronische inrichting wordt gedurende 3uurineenruimte ge­
plaatst waarin eentemperatuur van40°C+2°Chherst ;daarna
wordt deinrichting uit dewarme ruimte verwijderd engedurénde -ten
minste 2entenhoogste 3minuten aan deomgevingstemperatuur
blootgesteld . , ,
Erworden vijf cyclussen uitgevoerd .
10.3 .Mechanische schokproeven
Uitrusting meteengewicht vanminder dan5kglaat meninvrijé
valvaneenhoogte van25mmopeenstalen plaat vantenminste
8mmdikte vallen ;destalen plaat isbevestigd opeengrondplaat
van beton met een dikte van ten minste 50cm.
Dehoogte van devalwordt gemeten vanaf ,hetpunt van deuitrusting
dat zich het dichtst bij destalen plaat bevindt .
Het element datbij denormale steunpunten opeen stijf frame steunt
wordt 6maal losgelaten op3vakken dieloodrecht tenopzichte van
elkaar zijn . *
Uitrusting meteen gewicht vanmeer dan50kglaat vallen opeen
stalen plaat meteendikte vantenminste 8mmdieisbevestigd
opeengrondplaat vanbeton vanminstens 50cmdik .Eénrand van
deuitrusting blijft tijdens deproef incontact met destalen
plaat ,terwijl hetzwaartepunt van eenhoogte van 12mmomlaag
,valt .Achtereenvolgens dient men van alle randen uit tegaan en
deproef wordt 6maal uitgevoerd .
10.4 .Trilr>roef
Achtereenvolgens worden langs 3loodrecht opelkaar staande assen
trillingen toegepast die zozijn uitgekozen dateventuele gebre­
ken zeer waarschijnlijk zullen worden aangetoond .
Deproef omvat een frequentiegamma van 10tot 150 Hzmet een kleine
sinusvormige versterking eneenverloopsnelheid van minder dan
1octaaf /minuut inbeide richtingen .
Dekeuze van éénvan deachtereenvolgende piekniveaus van dever­
snelling hangt afvan deomgevingsomstandigheden ,behalve inge­
valvanafwijkende specificaties indebijzondere richtlijnen :
5m/s2bijeennormaal omgevingsmilieu
10m/s2ineenindustrieel omgevingsmilieu .
De -proef -duurt -2uur o - .
10.5 .Aanvullende proeven .
Deaanvullende proeven dievereist zijn voor eenmeetinstrument
voor bijzonder gebruik zijn voorgeschreven indebijzondere
richtlijnen »
Bodri.jf s-proeven
Alle elektronióche inrichtingen diedeel uitmaken vaneenmeetinstrument ,
worden onderworpen aanbedri jfsproeven onder éénofmeer inditgedeelte
voorgeschreven beproevingsvoorwaarden ,behalve indien indebijzondere
richtlijn anders isbepaald .Deproeven voor deEEG–modelgoedkeuring wor­
denverricht aanvolledig operationele instrumenten .

-1A-
11.1 .Beïnvloedingsfaçtoren
Indien hetinstrument wordt blootgesteld aanhet effect van
beïnvloedingsf actoren ,moeten deelektronische inrichtingen
correct blijven werken énmogen deindedesbetreffende
*richtlijn voor hetinstrument onder deze omstandigheden
vastgestelde maximale fouten niet worden overschreden .
11.1.1 .Temperatuur
Deze proeven worden uitgevoerd bijeenzodanig aantal
stabiele temperaturen datdeindebijzondere richtlijn
voorgeschreven temperatuurstra jecten worden overbrugd .
Deomgevingstemperatuur wordt alsstabiel beschouwd ,
'indien wordt voldaan aan detwee' volgende voorwaarden :
-hetverschil tussen detijdens eenproef geregistreerde
hoogste enlaagste temperatuur bedraagt niet meer
dan 5C:
-detemperatuursverandering bedraagt niet meer dan
1°Cin5minuten . 1
11.1.2 .Relatieve vochtigheid
Deproeven worden tottenminste 2begrenzingen van
onderstaande zone uitgevoerd ï
-van 20%tot 80 indien deelektronische is
ingebouwd ineen gedeelte van een instrument dat
binnen wordt gebruikt ,of
-van 5/otot 95 indien deelektronische inrichting
isingebouwd ineen gedeelte van een instrument
datbuiten wordt gebruikt.'
11.1 . Fluctuatie van deelektrische stroom
Deze proeven worden uitgevoerd bij denominale waarde
van deelektrische spanning enbij een frequentie
envariabele grenswaarde als vermeld indebijzondere
richtlijn .
11.1 .^.Overige beinvloedin^sfactoren
Andere proeven waarbij beïnvloedingsfactoren inaan­
merking worden genomen als vibraties ,harmonische
vervorming indevoedingsstroom enz.,staan vermeld i
indebijzondere richtlijnen metbetrekking tot
meetinstrumenten ,waarin deze factoren zijn aangegeven .
11.2 .Storingen van buiten af
Tenzij ineenbijzondere richtlijn 'anders isvoorgeschreven ,
worden devolgende proeven verricht :
•: \{»
4

-15-
11.2.1 .Elektrische voeaing
11.2.1.1 .Onderbrekingen ofverminderingen
Vermindering van devoedingsspanning met 100%
gedurende 10m/s.
Vermindering van devoedingsspanning met50%
gedurende +20m/s.
Vermindering van devoedingsspanning met20%
gedurende +50m/s.
Het tijdsinterval tussen twee opeenvolgende proeven
moet ten minste 10seconden bedragen .
11.2.1.2 .Interferentie door het net
Tijdelijke perioden van overspanning van beide
polariteit ,inwillekeurig verschoven fase ,
worden ophet net toegepast .Deze overgangen
worden zowel infasen als inserie opgewekt
uitgaande van eenimpedantie van50A .
"Amplitude ,stijgtijd ,duur enherhalingsfrequentie
zijn gespecificeerd inonderstaande tabel :
Amplitude Stijgti-jd Afvaltijd tôt
halve amplitudeherhalings -
frequentie
500 V
1500 V
300 V
5%van
denominale
waarde
1V5ns
25ns
pulstrexn met een duur
van ongeveer 1msbij
een frequentie van
1MKz
ophet net gesuperpo -
neerde sinusgolf
ophet net gesuperpo -
neerde sinusgolf100 ns
1M*10Hz
412Hz
^12Hz
30kHz
tôt 150
kHz
150 kHz
tôt 400
MHz
11.2.2.' Interferenties van buiten af
11.2.2.1 .Interferentie via het net
Deinterferentie via devoedingsnetten
isgespecificeerd inpunt 11.2.1.2 .
11«2 .2.2.Interferentie door straling
-Magnetisch veld
Magnetisch veld van60A'/men50Hz,zoals
bijvoorbeeld geproduceerd door eenkabel opeenafstand vancirca
2,5cmwaar eenstroom doorheen loopt van10A.

-16-
-Elektromagnetische straling
Veldsterkte van 10V/mbij frequenties
van 100 kHz -500 MHz
Veldsterkte van 1V/mbij frequenties
van 500 MHz tot 1.000 KHz .
11.2.2.3 .Elektrostatiscne ontlading
Een elektrostatische ontlading van 6kV
met een energie van 2mJ aan het geaarde
chassis met een minimale duur van
10stussen twee opeenvolgende ontladingen .
11.2.J>.Ander storingen van buiten af
Andere proeven met het oog opstoringen zoals
bijvoorbeeld het uitvallen van denetstroom ,
interferenties door het laagstroomnet ,-enz .,
worden voorgeschreven indebijzondere richt­
lijnen met betrekking tot demeetinstrumenten
waarbij deze storingen kunnen ontstaan .