voidaan käyttää muissa moottoriperheissä, joissa on sama jälkikäsittelyjärjestelmä, jos tyyppihyväksyntäviranomainen on antanut siihen etukäteen luvan valmistajan toimittamien, päästöjen samankaltaisuuden vahvistavien teknisten asiakirjojen perusteella.

Jos regenerointi kestää useamman kuin yhden WHTC-testin (lämmin käynnistys) ajan, tätä seuraavat täysimittaiset WHTC-testit on tehtävä ja niiden päästöjen mittausta on jatkettava ilman vakauttamista ja ilman moottorin pysäyttämistä, kunnes regenerointi on saatu päätökseen, ja on laskettava WHTC-testien (lämmin käynnistys) keskiarvo.

Kun hiukkasvirta otetaan osavirtauslaimennusjärjestelmästä kokonaisnäytteenoton yhteydessä, hiukkasten massa (mPM ), joka on laskettu liitteessä 4B olevan 8.4.3.2.1 tai 8.4.3.2.2 kohdan mukaisesti, korjataan seuraavalla tavalla virran arvon korjaamiseksi. Korjaus on tehtävä myös silloin, kun suodatettu virta johdetaan takaisin osavirtauslaimennusjärjestelmään.

Osavirtauslaimennusjärjestelmään syötettyjen qex :n and qsw :n eron on oltava kaikkina aikoina tarkkuudeltaan 0,1 prosenttia arvosta qmdew . Signaali (tai signaalit) olisi lähetettävä vähintään 1 hertsin taajuudella.

Lisäys

Hiukkaspäästöjen mittauslaitteet

1. Eritelmä

1.1 Järjestelmän yleiskuvaus

1.1.1 Hiukkasnäytteenottojärjestelmässä on näytteenotin tai näytteenottopiste, jonka avulla voidaan ottaa näyte homogeenisesta virrasta laimennusjärjestelmässä liitteen 4B lisäyksessä 3 olevan A.3.2.1 ja A.3.2.2 tai A.3.2.3 ja A.3.2.4 kohdan mukaisesti, haihtuvien hiukkasten poistolaite (VPR), joka sijaitsee virtaussuunnassa hiukkaslaskurin (PNC) etupuolella, sekä soveltuva siirtoputkisto.

1.1.2 Haihtuvien hiukkasten poistolaitteen syöttöaukon eteen on suositeltavaa sijoittaa hiukkaskoon esiluokituslaite (esim. sykloni tai iskuelementti). Hiukkaskoon esiluokituslaitteen asemesta on hyväksyttävää käyttää esimerkiksi liitteen 4B lisäyksessä 3 olevassa kuvassa 14 esitettyä näytteenotinta vaihtoehtona hiukkaskokoluokituslaitteen käytölle. Osavirtauslaimennusjärjestelmien tapauksessa voidaan käyttää sekä hiukkasmassan että hiukkasnäytteenoton osalta samaa esiluokituslaitetta, kun hiukkasnäyte otetaan laimennusjärjestelmästä virtaussuunnassa esiluokituslaitteen jälkeen. Vaihtoehtoisesti voidaan käyttää erillisiä esiluokituslaitteita, kun hiukkasnäyte otetaan laimennusjärjestelmästä virtaussuunnassa ennen hiukkasmassan esiluokituslaitetta.

1.2 Yleiset vaatimukset

1.2.1 Hiukkasnäytteenottopiste sijaitsee laimennusjärjestelmän sisällä.

Näytteenottimen kärki tai hiukkasnäytteen ottopaikka ja hiukkastensiirtoputki (PTT) muodostavat yhdessä hiukkastensiirtojärjestelmän (PTS). Hiukkastensiirtojärjestelmä siirtää näytteen laimennustunnelista haihtuvien hiukkasten poistolaitteen suulle. Hiukkastensiirtojärjestelmän on täytettävä seuraavat edellytykset:

Täysvirtauslaimennusjärjestelmien ja jakeittaiseen näytteenottoon perustuvien osavirtauslaimennusjärjestelmien (kuten kuvattu liitteen 4B lisäyksessä 3 olevassa A.3.2.1 kohdassa) tapauksessa näytteenotin asennetaan lähelle tunnelin keskiviivaa virtaussuunnassa 10–20 tunnelin halkaisijan verran kaasun syöttöaukon jälkeen siten, että se osoittaa tunnelin kaasuvirran suuntaa vastaan ja sen akseli on sen kärjen kohdalla samansuuntainen laimennustunnelin akselin kanssa. Näytteenotin sijoitetaan laimennusilman syöttökanavaan siten, että näyte otetaan homogeenisesta pakokaasuilmaseoksesta.

Kokonaisnäytteenottoon perustuvien osavirtauslaimennusjärjestelmien (kuten kuvattu liitteessä 4B olevassa A.3.2.1 kohdassa) tapauksessa hiukkasnäytteen ottopiste tai näytteenotin sijoitetaan hiukkastensiirtoputkeen virtaussuunnassa ennen hiukkassuodattimen pidintä, virtauksenmittauslaitetta ja mahdollisia näyte- ja ohitusvirran haarautumakohtia. Näytteenottopiste tai näytteenotin sijoitetaan siten, että näyte otetaan homogeenisesta pakokaasuilmaseoksesta. Näytteenottimen olisi oltava mitoiltaan sellainen, ettei se häiritse osavirtauslaimennusjärjestelmän toimintaa.

Hiukkastensiirtojärjestelmän läpi johdettavan näytekaasun on täytettävä seuraavat edellytykset:

Täysvirtauslaimennusjärjestelmien tapauksessa virtauksen Reynoldsin luku (Re) on pienempi kuin 1 700.

Osavirtauslaimennusjärjestelmien tapauksessa virtauksen Reynoldsin luku (Re) on pienempi kuin 1 700 hiukkastensiirtoputkessa eli virtaussuunnassa näytteenottimen tai -ottopaikan jälkeen.

Viipymisaika hiukkastensiirtojärjestelmässä on enintään 3 sekuntia.

Hyväksyttävinä pidetään myös muita hiukkastensiirtojärjestelmän näytteenottokonfiguraatioita, kun voidaan osoittaa vastaava hiukkasläpäisevyys 30 nm:n hiukkasilla.

Poistoputkella, jonka kautta laimennettu näyte johdetaan haihtuvien hiukkasten poistolaitteesta hiukkaslaskurin syöttöaukkoon, on oltava seuraavat ominaisuudet:

Putken sisähalkaisija on vähintään 4 mm.

Poistoputken läpi kulkevan näytekaasuvirran viipymisaika on enintään 0,8 sekuntia.

Hyväksyttävinä pidetään myös muita poistoputken näytteenottokonfiguraatioita, kun voidaan osoittaa vastaava hiukkasläpäisevyys 30 nm:n hiukkasilla.

1.2.2 Haihtuvien hiukkasten poistolaitteessa on oltava laitteet näytteen laimentamista ja haihtuvien hiukkasten poistamista varten.

1.2.3 Kaikki laimennusjärjestelmän ja näytteenottojärjestelmän raaka- ja laimennetun pakokaasun kanssa kosketuksiin joutuvat osat pakoputkesta hiukkaslaskuriin on suunniteltava siten, että hiukkasten kerääntyminen on mahdollisimman vähäistä. Kaikki osat on valmistettava sähköä johtavista materiaaleista, jotka eivät reagoi pakokaasun komponenttien kanssa, ja ne on maadoitettava sähköisesti sähköstaattisten vaikutusten estämiseksi.

1.2.4 Hiukkasnäytteenottojärjestelmässä on noudatettava hyvää aerosolinäytteenottokäytäntöä, jonka mukaan vältetään tiukkoja mutkia ja äkillisiä muutoksia poikkileikkauksessa, käytetään sileitä sisäpintoja ja pidetään näytteenottolinja mahdollisimman lyhyenä. Poikkileikkauksessa sallitaan asteittaiset muutokset.

1.3 Erityisvaatimukset

1.3.1 Hiukkasnäyte ei saa kulkea pumpun läpi ennen kulkemista hiukkaslaskurin läpi.

1.3.2 On suositeltavaa käyttää näytteen esiluokituslaitetta.

1.3.3 Näytteen esivakiointiyksikön on täytettävä seuraavat vaatimukset:

1.3.3.1 Yksikkö pystyy laimentamaan näytettä yhdessä tai useammassa vaiheessa siten, että saavutetaan hiukkaspitoisuus, joka alittaa hiukkaslaskurin yksittäisten hiukkasten laskemistilan ylärajan, ja kaasun lämpötila on hiukkaslaskurin syöttöaukon kohdalla alle 35 °C.

1.3.3.2 Yksikön toiminnan alkuvaiheeseen sisältyy lämmitys-laimennusvaihe, jonka tuloksena näyte saavuttaa vähintään 150:n °C ja enintään 400:n °C lämpötilan ja laimennus on vähintään 10-kertainen.

1.3.3.3 Yksikkö pitää lämminvaiheissa nimelliskäyttölämpötilan vakaana 1.3.3.2 kohdassa esitetyissä rajoissa ± 10:n °C tarkkuudella. Yksikkö ilmaisee, onko nimelliskäyttölämpötila lämminvaiheissa oikea vai ei.

1.3.3.4 Saavutetaan sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n ja 50 nm:n hiukkasille 2.2.2 kohdassa määritelty hiukkaspitoisuuden vähenemiskerroin (fr(di)), joka on enintään 30 prosenttia (30 nm) tai 20 prosenttia (50 nm) suurempi ja enintään 5 prosenttia pienempi kuin sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 100 nm:n hiukkasten vastaava kerroin koko haihtuvien hiukkasten poistolaitetta tarkasteltuna.

1.3.3.5 Saadaan 30 nm:n tetrakontaanihiukkasten (CH3(CH2)38CH3) höyrystymisasteeksi yli 99,0 prosenttia, kun syöttöpitoisuus on vähintään 10 000 cm–3, kuumentamalla tetrakontaania ja vähentämällä sen osapaineita.

1.3.4 Hiukkaslaskurin on täytettävä seuraavat vaatimukset:

1.3.4.1 Laite toimii täysvirtaustoimintaoloissa.

1.3.4.2 Hiukkaslaskurin mittaustarkkuus on ± 10 prosenttia alueella, joka ulottuu arvosta 1 cm–3 laitteen yksittäisten hiukkasten laskemistilan ylärajaan, ja määritys perustuu standardiin. Arvon 100 cm–3 alittavilla pitoisuuksilla voidaan vaatia, että laskurin tarkkuus osoitetaan hyvällä tilastollisella luotettavuustasolla käyttämällä pidennetyillä näytteenottoajoilla tehtyjen mittausten keskiarvoa.

1.3.4.3 Laitteen luettavuus on vähintään 0,1 cm–3 arvon 100 cm–3 alittavilla pitoisuuksilla.

1.3.4.4 Laitteella saadaan lineaarinen vaste hiukkaspitoisuuksiin koko mittausalueella yksittäisten hiukkasten laskemistilassa.

1.3.4.5 Tietojen ilmoittamistaajuus on vähintään 0,5 Hz.

1.3.4.6 Laitteen vasteaika t90 on alle 5 s mitatulla pitoisuusalueella.

1.3.4.7 Laitteessa on koinsidenssikorjaustoiminne, jossa korjaus on enintään 10 prosenttia. Siinä voidaan käyttää 2.1.3 kohdassa määritettyä sisäistä kalibrointikerrointa, mutta laskentahyötysuhteen korjaamiseen tai määrittelemiseen ei saa käyttää muita algoritmeja.

1.3.4.8 Laskentahyötysuhde on 50 prosenttia (± 12 prosenttia) sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 23 nm:n (± 1 nm) ja yli 90 prosenttia 41 nm:n (± 1 nm) hiukkasten osalta. Laskentahyötysuhteet voidaan saavuttaa sisäisin (esim. laitteen suunnittelu) tai ulkoisin (esim. koon esiluokitus) keinoin.

1.3.4.9 Jos hiukkaslaskurissa käytetään käyttönestettä, se on vaihdettava laitteen valmistajan ilmoittamin väliajoin.

1.3.5 Jos painetta ja/tai lämpötilaa hiukkaslaskurin syöttöaukon kohdalla ei pidetä vakiona kohdassa, jossa hiukkaslaskurin virtaa säädetään, niiden arvot on mitattava ja ilmoitettava, jotta hiukkaspitoisuusmittaukset voidaan korjata vakio-olosuhteisiin.

1.3.6 Hiukkastensiirtojärjestelmän, haihtuvien hiukkasten poistolaitteen ja poistoputken viipymisajan sekä hiukkaslaskurin vasteajan t90 summa saa olla enintään 20 s.

1.3.7 Koko hiukkasnäytteenottojärjestelmän (hiukkastensiirtojärjestelmä, haihtuvien hiukkasten poistolaitteen, poistoputken ja hiukkaslaskurin) muunnosaika määritetään suoraan hiukkastensiirtojärjestelmän syöttöaukolla tehtävällä aerosolikytkennällä. Aerosolikytkennän on tapahduttava alle 0,1 sekunnissa. Testissä käytettävän aerosolin on aiheutettava pitoisuudenmuutos, joka on vähintään 60 prosenttia täydestä asteikosta.

Pitoisuus on kirjattava. Hiukkaspitoisuus- ja pakovirtasignaalien aikojen yhdenmukaistamista varten muunnosajaksi määritellään aika muutoksesta (t0) siihen, kun vaste on 50 prosenttia lopullisesta lukemasta (t50).

1.4 Järjestelmän suositeltu kuvaus

Seuraavassa kohdassa esitetään suositeltava käytäntö hiukkasmäärän mittaamiseen. Kaikki järjestelmät, jotka täyttävät 1.2 ja 1.3 kohdassa asetetut suorituskykyvaatimukset, ovat kuitenkin hyväksyttäviä.

Kuvissa 14 ja 15 esitetään kaavakuva suositeltavista osa- ja täysvirtauslaimennusjärjestelmissä käytettävistä hiukkasnäytteenottojärjestelmäkonfiguraatioista.

Kuva 14

Kaavakuva suositeltavasta hiukkasnäytteenottojärjestelmästä – osavirtausnäytteenotto

Kuva 15

Kaavakuva suositeltavasta hiukkasnäytteenottojärjestelmästä – täysvirtausnäytteenotto

1.4.1 Näytteenottojärjestelmän kuvaus

Hiukkasnäytteenottojärjestelmässä on laimennusjärjestelmässä sijaitseva näytteenottimen kärki tai hiukkasnäytteenottopiste, hiukkastensiirtoputki (PTT), hiukkasten esiluokituslaite (PCF) ja haihtuvien hiukkasten poistolaite (VPR), joka sijaitsee virtaussuunnassa hiukkaspitoisuuden mittauslaitteen (PNC) etupuolella. Haihtuvien hiukkasten poistolaitteessa on oltava laitteet näytteen laimentamista (hiukkasmäärälaimentimet PND1 ja PND2) ja hiukkasten höyrystämistä varten (höyrystysputki ET). Näytteenotin tai näytteenottopiste testattavaa kaasuvirtaa varten sijoitetaan laimennusilman syöttökanavaan siten, että saadaan edustava näyte homogeenisesta pakokaasuilmaseoksesta. Järjestelmän ja hiukkaslaskurin vasteajan t90 summa saa olla enintään 20 s.

1.4.2 Hiukkastensiirtojärjestelmä

Näytteenottimen kärki tai hiukkasnäytteen ottopaikka ja hiukkastensiirtoputki (PTT) muodostavat yhdessä hiukkastensiirtojärjestelmän (PTS). Hiukkastensiirtojärjestelmä siirtää näytteen laimennustunnelista ensimmäisen hiukkasmäärälaimentimen suulle. Hiukkastensiirtojärjestelmän on täytettävä seuraavat edellytykset:

Täysvirtauslaimennusjärjestelmien ja jakeittaiseen näytteenottoon perustuvien osavirtauslaimennusjärjestelmien (kuten kuvattu liitteen 4B lisäyksessä 3 olevassa A.3.2.1 kohdassa) tapauksessa näytteenotin asennetaan lähelle tunnelin keskiviivaa virtaussuunnassa 10–20 tunnelin halkaisijan verran kaasun syöttöaukon jälkeen siten, että se osoittaa tunnelin kaasuvirran suuntaa vastaan ja sen akseli on sen kärjen kohdalla samansuuntainen laimennustunnelin akselin kanssa. Näytteenotin sijoitetaan laimennusilman syöttökanavaan siten, että näyte otetaan homogeenisesta pakokaasuilmaseoksesta.

Kokonaisnäytteenottoon perustuvien osavirtauslaimennusjärjestelmien (kuten kuvattu liitteessä 4B olevassa A.3.2.1 kohdassa) tapauksessa hiukkasnäytteen ottopiste sijoitetaan hiukkastensiirtoputkeen virtaussuunnassa ennen hiukkassuodattimen pidintä, virtauksenmittauslaitetta ja mahdollisia näyte- ja ohitusvirran haarautumakohtia. Näytteenottopiste tai näytteenotin sijoitetaan siten, että näyte otetaan homogeenisesta pakokaasuilmaseoksesta.

Hiukkastensiirtojärjestelmän läpi johdettavan näytekaasun on täytettävä seuraavat edellytykset:

Virtauksen Reynoldsin luku (Re) on pienempi kuin 1 700.

Viipymisaika hiukkastensiirtojärjestelmässä on enintään 3 sekuntia.

Hyväksyttävinä pidetään myös muita hiukkastensiirtojärjestelmän näytteenottokonfiguraatioita, kun voidaan osoittaa vastaava hiukkasläpäisevyys sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n hiukkasille.

Poistoputkella, jonka kautta laimennettu näyte johdetaan haihtuvien hiukkasten poistolaitteesta hiukkaslaskurin syöttöaukkoon, on oltava seuraavat ominaisuudet:

Putken sisähalkaisija on vähintään 4 mm.

Poistoputken läpi kulkevan näytekaasuvirran viipymisaika on enintään 0,8 sekuntia.

Hyväksyttävinä pidetään myös muita poistoputken näytteenottokonfiguraatioita, kun voidaan osoittaa vastaava hiukkasläpäisevyys sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n hiukkasille.

1.4.3 Hiukkasten esiluokituslaite

Suositeltu hiukkasten esiluokituslaite sijoitetaan virtaussuunnassa haihtuvien hiukkasten poistolaitteen etupuolelle. Esiluokituslaitteen 50 prosentin luokituskoon on oltava 2,5–10 μm tilavuusvirralla, joka on valittu hiukkaspäästönäytteiden ottamiseen. Esiluokituslaitteen on oltava sellainen, että laitteeseen tulevien 1 μm:n hiukkasten massapitoisuudesta 99 prosenttia pääsee laitteen ulostulosta tilavuusvirralla, joka on valittu hiukkaspäästönäytteiden ottamiseen. Osavirtauslaimennusjärjestelmien tapauksessa voidaan käyttää sekä hiukkasmassan että hiukkasnäytteenoton osalta samaa esiluokituslaitetta, kun hiukkasnäyte otetaan laimennusjärjestelmästä virtaussuunnassa esiluokituslaitteen jälkeen. Vaihtoehtoisesti voidaan käyttää erillisiä esiluokituslaitteita, kun hiukkasnäyte otetaan laimennusjärjestelmästä virtaussuunnassa ennen hiukkasmassan esiluokituslaitetta.

1.4.4 Haihtuvien hiukkasten poistolaite (VPR)

Haihtuvien hiukkasten poistolaite koostuu hiukkasmäärälaimentimesta (PND1), höyrystysputkesta ja toisesta laimentimesta (PND2), jotka on asennettu sarjaan. Laimentamisessa pienennetään hiukkaspitoisuuden mittausyksikköön tulevan näytteen hiukkaspitoisuutta niin, että se alittaa hiukkaslaskurin yksittäisten hiukkasten laskemistilan ylärajan sekä estää nukleaatiota näytteessä. Laitteen on ilmaistava, onko PND1:n ja höyrystysputken käyttölämpötila oikea.

Laitteella on saatava 30 nm:n tetrakontaanihiukkasten (CH3(CH2)38CH3) höyrystymisasteeksi yli 99,0 prosenttia, kun syöttöpitoisuus on vähintään 10 000 cm–3, kuumentamalla tetrakontaania ja vähentämällä sen osapaineita. Lisäksi on saavutettava sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n ja 50 nm:n hiukkasille hiukkaspitoisuuden vähenemiskerroin (fr), joka on enintään 30 prosenttia (30 nm) tai 20 prosenttia (50 nm) suurempi ja enintään 5 prosenttia pienempi kuin sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 100 nm:n hiukkasten vastaava kerroin koko haihtuvien hiukkasten poistolaitetta tarkasteltuna.

1.4.4.1 Ensimmäinen hiukkasmäärälaimennin (PND1)

Ensimmäinen hiukkasmäärälaimennin on suunniteltava sellaiseksi, että se laimentaa hiukkaspitoisuutta ja toimii (seinämän) lämpötilassa 150–400 °C. Seinämän lämpötila-asetus olisi pidettävä mainitulle alueelle sijoittuvassa vakiokäyttölämpötilassa ± 10 °C:en tarkkuudella siten, ettei se ylitä höyrystysputken seinämän lämpötilaa (1.4.4.2 kohta). Laimentimeen olisi johdettava HEPA-suodattimella suodatettua laimennusilmaa, ja sen olisi saatava aikaan välille 10–200 sijoittuva laimennuskerroin.

1.4.4.2 Höyrystysputki

Höyrystysputken seinämän lämpötila säädetään koko putken pituudelta vähintään ensimmäisen hiukkasmäärälaimentimen seinämän lämpötilaan ja pidetään vakiokäyttölämpötilassa 300–400 °C ± 10 °C:en tarkkuudella.

1.4.4.3 Toinen hiukkasmäärälaimennin (PND2)

PND2 on suunniteltava sellaiseksi, että sillä laimennetaan hiukkaspitoisuutta. Laimentimeen johdetaan HEPA-suodattimella suodatettua laimennusilmaa, ja sen on pystyttävä ylläpitämään välille 10–30 asettuva laimennuskerroin. PND2:n laimennuskerroin on valittava väliltä 10–15 siten, että hiukkaspitoisuus toisen laimentimen jälkeen on pienempi kuin hiukkaslaskurin yksittäisten hiukkasten laskemistilan yläraja ja kaasun lämpötila ennen sen johtamista hiukkaslaskuriin on pienempi kuin 35 °C.

1.4.5 Hiukkaslaskuri (PNC)

Hiukkaslaskurin on täytettävä 1.3.4 kohdan vaatimukset.

2. Hiukkasnäytteenottojärjestelmän kalibrointi/validointi (7)

2.1 Hiukkaslaskurin kalibrointi

2.1.1 Tutkimuslaitoksen on varmistettava, että hiukkaslaskurille on myönnetty standardinmukaisuuden osoittava kalibrointitodistus enintään 12 kuukautta ennen päästötestiä.

2.1.2 Hiukkaslaskuri on lisäksi kalibroitava uudelleen ja sille on myönnettävä uusi kalibrointitodistus kaikkien suurempien huoltotoimenpiteiden jälkeen.

2.1.3 Kalibroinnissa on noudatettava standardikalibrointimenetelmää

a) vertaamalla kalibroitavan hiukkaslaskurin vastetta kalibroidun aerosolielektrometrin vasteeseen, kun samalla otetaan näyte elektrostaattisesti luokitelluista kalibrointihiukkasista, tai

b) vertaamalla kalibroitavan hiukkaslaskurin vastetta toisen, edellä mainitulla menetelmällä suoraan kalibroidun hiukkaslaskurin vasteeseen.

Jos käytetään elektrometriä, kalibroinnissa on käytettävä vähintään kuutta standardikonsentraatiota, jotka sijoitetaan mahdollisimman tasaisesti hiukkaslaskurin mittausalueelle. Näihin pisteisiin kuuluu nimellisnollakonsentraatiopiste, joka saadaan aikaan kiinnittämällä kunkin laitteen syöttöaukkoon HEPA-suodatin, joka on vähintään standardin EN 1822:2008 mukaista luokkaa H13 tai suorituskyvyltään vastaava. Kun kalibroitavaan hiukkaslaskuriin ei sovelleta kalibrointikerrointa, mitattujen pitoisuuksien on vastattava ± 10 prosentin tarkkuudella kutakin käytettyä standardikonsentraatiota paitsi nollakohdassa. Muutoin kalibroitava hiukkaslaskuri on hylättävä. Lasketaan ja kirjataan saatujen tietosarjojen lineaarisen regression gradientti. Kalibroitavaan hiukkaslaskuriin sovelletaan kalibrointikerrointa, joka vastaa gradientin käänteisarvoa. Vasteen lineaarisuus määritetään laskemalla kahden tietosarjan Pearsonin tulomomenttikorrelaatiokertoimen neliö (R2), jonka on oltava suurempi tai yhtä suuri kuin 0,97. Sekä gradienttia että R2:ta laskettaessa lineaarisen regression on kuljettava nollapisteen kautta (nollakonsentraatio kummassakin laitteessa).

Jos käytetään viitehiukkaslaskuria, kalibroinnissa on käytettävä vähintään kuutta standardikonsentraatiota, jotka sijoitetaan hiukkaslaskurin mittausalueelle. Vähintään kolmessa pisteessä konsentraation on oltava alle 1 000 cm–3, ja muut konsentraatiot on sijoitettava lineaarisin välein arvon 1 000 cm–3 ja laitteen yksittäisten hiukkasten laskemistilan ylärajan välille. Näihin pisteisiin kuuluu nimellisnollakonsentraatiopiste, joka saadaan aikaan kiinnittämällä kunkin laitteen syöttöaukkoon HEPA-suodatin, joka on vähintään standardin EN 1822:2008 mukaista luokkaa H13 tai suorituskyvyltään vastaava. Kun kalibroitavaan hiukkaslaskuriin ei sovelleta kalibrointikerrointa, mitattujen pitoisuuksien on vastattava ± 10 prosentin tarkkuudella kutakin standardikonsentraatiota paitsi nollakohdassa. Muutoin kalibroitava hiukkaslaskuri on hylättävä. Lasketaan ja kirjataan saatujen tietosarjojen lineaarisen regression gradientti. Kalibroitavaan hiukkaslaskuriin sovelletaan kalibrointikerrointa, joka vastaa gradientin käänteisarvoa. Vasteen lineaarisuus määritetään laskemalla kahden tietosarjan Pearsonin tulomomenttikorrelaatiokertoimen neliö (R2), jonka on oltava suurempi tai yhtä suuri kuin 0,97. Sekä gradienttia että R2:ta laskettaessa lineaarisen regression on kuljettava nollapisteen kautta (nollakonsentraatio kummassakin laitteessa).

2.1.4 Kalibroinnissa on lisäksi tarkastettava, täyttääkö hiukkaslaskuri 1.3.4.8 kohdan vaatimukset sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n hiukkasten havaitsemistehokkuuden osalta. Laskentahyötysuhdetta ei tarvitse tarkastaa 41 nm:n hiukkasten osalta.

2.2 Haihtuvien hiukkasten poistolaitteen kalibrointi/validointi

2.2.1 Kun haihtuvien hiukkasten poistolaite on uusi tai sille tehdään suurempia huoltotoimenpiteitä, laitteen hiukkaspitoisuuden vähenemiskertoimet on kalibroitava koko sen laimennusasetusasteikolta laitteen vakionimelliskäyttölämpötiloissa. Laitteen hiukkaspitoisuuden vähenemiskertoimen määräaikaisvalidointia varten edellytetään pelkästään tarkastusta yhdellä asetuksella, jota tavanomaisesti käytetään dieselhiukkassuodattimella varustetuille ajoneuvoille tehtävissä mittauksissa. Tutkimuslaitoksen on varmistettava, että haihtuvien hiukkasten poistolaite on kalibroitu tai sille on myönnetty validointitodistus enintään 6 kuukautta ennen päästötestiä. Jos haihtuvien hiukkasten poistolaite antaa lämpötilan seurantaan liittyviä varoituksia, validointi voidaan tehdä 12 kuukauden välein.

Haihtuvien hiukkasten poistolaitteelle on määriteltävä hiukkaspitoisuuden vähenemiskerroin sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n, 50 nm:n ja 100 nm:n hiukkasten osalta. Sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n ja 50 nm:n hiukkasten osalta hiukkaspitoisuuden vähenemiskerroin (frd)) saa olla enintään 30 prosenttia (30 nm) tai 20 prosenttia (50 nm) suurempi ja enintään 5 prosenttia pienempi kuin sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 100 nm:n hiukkasten vastaava kerroin. Validoinnin osalta edellytetään, että keskimääräinen hiukkaspitoisuuden vähenemiskerroin vastaa ± 10 prosentin tarkkuudella keskimääräistä hiukkaspitoisuuden vähenemiskerrointa , joka määritettiin haihtuvien hiukkasten poistolaitteen ensimmäisessä kalibroinnissa.

2.2.2 Näissä mittauksissa käytettävän testausaerosolin on oltava sellainen, että se koostuu sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan 30 nm:n, 50 nm:n ja 100 nm:n kiinteistä hiukkasista ja että vähimmäispitoisuus haihtuvien hiukkasten poistolaitteen syöttöaukolla on 5 000 cm–3. Hiukkaspitoisuudet mitataan virtaussuunnassa ennen komponentteja ja niiden jälkeen.

Hiukkaspitoisuuden vähenemiskerroin (fr(di)) kunkin hiukkaskoon osalta lasketaan seuraavasti:

jossa

Nin(di) = hiukkaspitoisuus ennen komponentteja, hiukkasten halkaisija di Nout(di) = hiukkaspitoisuus komponenttien jälkeen, hiukkasten halkaisija di di = hiukkasten sähköiseen liikkuvuuteen perustuva halkaisija (30, 50 tai 100 nm)

arvot Nin(di) ja Nout(di) on korjattava samoihin olosuhteisiin.

keskimääräinen hiukkaspitoisuuden väheneminen ( ) tietyllä laimennusasetuksella lasketaan seuraavasti:

On suositeltavaa, että haihtuvien hiukkasten poistolaite kalibroidaan ja validoidaan kokonaisena yksikkönä.

2.2.3 Tutkimuslaitoksen on varmistettava, että haihtuvien hiukkasten poistolaitteelle on myönnetty haihtuvien hiukkasten todellisen poistotehokkuuden osoittava validointitodistus enintään 6 kuukautta ennen päästötestiä. Jos haihtuvien hiukkasten poistolaite antaa lämpötilan seurantaan liittyviä varoituksia, validointi voidaan tehdä 12 kuukauden välein. On osoitettava, että haihtuvien hiukkasten poistolaite poistaa sähköiseen liikkuvuuteen perustuvalta halkaisijaltaan vähintään 30 nm:n tetrakontaanihiukkaset (CH3(CH2)38CH3) yli 99,0-prosenttisesti, kun syöttöpitoisuus on vähintään 10 000 cm-3 ja laitetta käytetään pienimmällä laimennusasetuksella ja valmistajan suosittelemassa käyttölämpötilassa.

2.3 Hiukkasmääräjärjestelmän tarkastusmenettelyt

2.3.1 Hiukkaslaskurin on ennen kutakin testiä ilmoitettava mitattu pitoisuus, joka on alle 0,5 cm–3, kun koko hiukkasnäytteenottojärjestelmän (haihtuvien hiukkasten poistolaitteen ja hiukkaslaskurin) syöttöaukkoon on asennettu HEPA-suodatin, joka on vähintään standardin EN 1822:2008 mukaista luokkaa H13 tai suorituskyvyltään vastaava.

2.3.2 Kuukausittaisissa tarkastuksissa on hiukkaslaskuriin syötettävästä virrasta saatava mittaustulos, joka vastaa 5 prosentin tarkkuudella hiukkaslaskurin nimellisvirtausta tarkastettaessa kalibroidulla virtausmittarilla.

2.3.3 Hiukkaslaskurin on päivittäisissä tarkastuksissa annettava pitoisuusarvoksi enintään 0,2 cm–3, kun laskurin syöttöaukkoon on asennettu HEPA-suodatin, joka on vähintään standardin EN 1822:2008 mukaista luokkaa H13 tai suorituskyvyltään vastaava. Kun suodatin poistetaan, hiukkaslaskurin on osoitettava mitatun pitoisuuden nousseen vähintään arvoon 100 cm–3, kun siihen johdetaan ulkoilmaa, ja osoitettava arvoksi jälleen enintään 0,2 cm–3, kun HEPA-suodatin asennetaan uudelleen paikoilleen.

2.3.4 Ennen kunkin testin aloittamista on varmistettava, että mittausjärjestelmä ilmoittaa, että järjestelmään mahdollisesti kuuluva höyrystysputki on saavuttanut oikean käyttölämpötilansa.

2.3.5 Ennen kunkin testin aloittamista on varmistettava, että mittausjärjestelmä ilmoittaa, että laimennin PND1 on saavuttanut oikean käyttölämpötilansa.