Patent ES-2656404-T3 (ES)
Title: Sistema de análisis
Inventor: HEDIN LARS OLOV ELIS
IPC: G01M13/04
Filed: 2009-12-22
Granted: 2018-02-27
Abstract: Un aparato para analizar la condición de una máquina que tiene una parte giratoria con una velocidad de rotación (fROT), que comprende: un primer sensor adaptado para generar una señal (SEA) de medición eléctrica analógica que depende de las vibraciones (VMD) mecánicas que emanan de la rotación de dicha parte; un convertidor (44) analógico a digital adaptado para muestrear dicha señal de medición eléctrica analógica (SEA) a una frecuencia de muestreo de entrada (fS) para generar una señal de datos de medición digital (SMD, SENV) en respuesta a dicha señal de medición eléctrica analógica (SEA); un primer decimador (310) configurado para realizar una decimación de la señal de datos de medición digital (SMD, SENV) para obtener una primera señal digital (SRED1) que tiene una primera frecuencia de muestreo reducida (fSR1) tal que la primera frecuencia de muestreo reducida (fSR1) se reduce en un factor de números enteros (M) en comparación con la frecuencia de muestreo de entrada (fS); un segundo decimador (470B) configurado para generar una segunda señal digital (SRED2, R) que tiene una segunda frecuencia de muestreo reducida (fSR2), más baja que la primera frecuencia de muestreo reducida (fSR1) por un valor de decimación fraccionaria (D), y un evaluador (230, 290, 290T, 290F, 294) configurado para realizar una función de análisis de condición (F1, F2, Fn) para analizar la condición de la máquina que depende de dicha segunda señal digital (SRED2); caracterizado porque dicho primer decimador tiene un puerto configurado para recibir dicho factor de número entero (M); en el que dicho factor de número entero (M) se establece en dependencia de una velocidad de rotación detectada (fROT); y porque dicho segundo decimador (470B) es un decimador fraccional que tiene una primera entrada configurada para recibir dicha primera señal digital (SRED1, S(j)) como una secuencia de valores de datos (S(j)); y una segunda entrada configurada para recibir una señal indicativa de dicha velocidad de rotación variable detectada (fROT) asociada con dicha parte; y una tercera entrada configurada para recibir una señal indicativa de una señal de ajuste de la tasa de muestreo de salida; una memoria (604) adaptada para recibir y almacenar los valores de datos (S(j)), así como información indicativa de la velocidad de rotación (fROT) correspondiente de la parte giratoria monitorizada; y un filtro (608) de respuesta de impulso finito que tiene valores (Fval) de filtro; y porque dicho segundo decimador (470B) está adaptado para generar dicha segunda señal (SRED2, R) digital en respuesta a dicha primera señal digital (SRED1, S(j)), dicha señal indicativa de dicha velocidad (fROT) de rotación variable detectada y dicha señal indicativa de una señal de ajuste de tasa de muestreo de salida; y porque dicho segundo decimador (470B) está configurado para registrar (S2070) dichos valores de datos (S(j)) en dicha memoria (604), y asociar cada valor de datos con un valor de velocidad de rotación (fROT); en el que dicha memoria está adaptada para almacenar cada valor de datos (S(j)) de modo que esté asociado con un valor indicativo de la velocidad de rotación de la parte monitorizada en el momento de la detección del valor de la señal del sensor (SEA) correspondiente al valor de los datos (S(j)); y porque dicho segundo decimador (470B) está configurado para analizar los valores de la velocidad de rotación registrada (fROT) y dividir los valores de datos registrados (S(j)) en bloques de datos que dependen de los valores de velocidad de rotación (fROT) para generar un número de bloques de valores de datos (S(j)), estando asociado cada bloque de valores de datos (S(j)) con un valor de velocidad de rotación (fROT);