Patent ES-2613816-T3 (ES)
Title: Ánodo giratorio de rayos X
Inventor: EITER JOHANN
IPC: H01J35/10
Filed: 2012-01-17
Granted: 2017-05-26
Abstract: Ánodo giratorio de rayos X que presenta un cuerpo de soporte (14) y una pista focal (16), configurada sobre el cuerpo de soporte (14), estando fabricados como compuesto el cuerpo de soporte (14) y la pista focal (16) mediante pulvimetalurgia, estando formado el cuerpo de soporte (14) por molibdeno o una aleación a base de molibdeno y estando formada la pista focal (16) por wolframio o una aleación a base de wolframio, caracterizado por que en el ánodo giratorio de rayos X (10), tratado por último con calor, al menos una sección de la pista focal (16) está presente en una estructura no recristalizada y/o en una estructura parcialmente recristalizada y por que la sección de la pista focal (16) presenta una distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio de <=10 μm, en el que - la distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio se puede determinar mediante un procedimiento de medición, en el que en una zona de la sección de la pista focal (16) se determinan límites de grano (8), secciones de límite de grano (2) y límites de grano de ángulo pequeño (9) con un ángulo de límite de grano de >=5º en una superficie de sección transversal radial que discurre en perpendicular al plano de la pista focal, - para la determinación de la distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio en paralelo al plano de la pista focal se coloca en el patrón de límite de grano (32), resultante de esta manera, un grupo de líneas (34) que discurre en paralelo a la superficie de sección transversal y está formado por líneas que discurren respectivamente en paralelo al plano de la pista focal y presentan en cada caso una distancia respectiva entre sí de 17,2 μm, en las líneas individuales se determinan respectivamente las distancias entre dos puntos de intersección contiguos entre sí de la respectiva línea con líneas del patrón de límite de grano (32) y el valor promedio de estas distancias se determina como distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio en paralelo al plano de la pista focal, - para la determinación de la distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio en perpendicular al plano de la pista focal se coloca en el patrón de límite de grano obtenido (32) un grupo de líneas (36) que discurre en paralelo a la superficie de sección transversal y está formado por líneas que discurren respectivamente en perpendicular al plano de la pista focal y presentan en cada caso una distancia respectiva entre sí de 17,2 μm, en las líneas individuales se determinan respectivamente las distancias entre dos puntos de intersección contiguos entre sí de la respectiva línea con líneas del patrón de límite de grano (32) y el valor promedio de estas distancias se determina como distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio en perpendicular al plano de la pista focal, y - la distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio se determina como valor promedio geométrico de la distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio en paralelo al plano de la pista focal y de la distancia de límite de grano de ángulo pequeño promedio en perpendicular al plano de la pista focal.