Patent DE-102017110152-B4 (DE)
Title: Verfahren zur ISO 26262 konformen Überwachung der Versorgungsspannung VCC eines integrierten Sensorschaltkreises innerhalb eines Sensorsystems mit einem Mikrorechner
Inventor: SUDHAUS ANDRE
IPC: H03M1/10
Filed: 2017-05-10
Granted: 2019-03-07
Abstract: Verwendung des folgenden Verfahrens zum ISO 26262 konformen Überwachen der Versorgungsspannung (VCC) eines integrierten Schaltkreises (IC), der dazu vorgesehen ist, Teil eines Sensors (SEN) innerhalb eines Sensorsystems (SSY) mit einem Mikrorechner (RE) und einem Steuerrechner (SE) zu sein,- wobei der integrierte Schaltkreis (IC) einen ersten Komparator (CMP1) umfasst und- wobei der integrierte Schaltkreis (IC) einen zweiten Komparator (CMP2) umfasst und- wobei der integrierte Schaltkreis (IC) einen selbsttestfähigen Analog-zu-Digital-Wandler (ADC) umfasst umfassend die Schritte- Vergleichen des Werts der Versorgungsspannung (VCC) mit einem ersten Schwellwert (SW1) und Erzeugung eines ersten Vergleichswerts (VW1) als Komparatorausgangssignal in Abhängigkeit von diesem Vergleich durch den ersten Komparator (CMP1), wobei der erste Vergleichswert (VW1) einen ersten logischen Pegel einnimmt, wenn der Wert der Versorgungsspannung (VCC) über dem ersten Schwellwert (SW1) liegt, und einen zweiten logischen Pegel einnimmt, wenn der Wert der Versorgungsspannung (VCC) unter dem ersten Schwellwert (SW1) liegt;- Vergleichen des Werts der Versorgungsspannung (VCC) mit einem zweiten Schwellwert (SW2) und Erzeugung eines des zweiten Vergleichswerts (VW2) als Komparatorausgangssignal in Abhängigkeit von diesem Vergleich durch den zweiten Komparator (CMP2), wobei das der zweite Vergleichswert (VW2) einen dritten logischen Pegel einnimmt, wenn der Wert der Versorgungsspannung (VCC) über dem zweiten Schwellwert (SW2) liegt, und einen vierten logischen Pegel einnimmt, wenn der Wert der Versorgungsspannung (VCC) unter dem zweiten Schwellwert (SW2) liegt;- Durchführung eines Selbsttests des Analog-zu-Digital-Wandlers (ADC), zur Beurteilung der Funktionstüchtigkeit des Messkanals (ADCM) des Analog-zu-Digital-Wandlers (ADC) zur Ermittlung eines Messwertes (ADCW) des Werts der Versorgungsspannung (VCC), unter Ermittlung eines Selbsttestergebnisses für diesen Messkanal (ADCM) des Analog-zu-Digital-Wandlers (ADC), wobei das Selbsttestergebnis bezüglich der der Funktionstüchtigkeit des Messkanals (ADCM) des Analog-zu-Digital-Wandlers (ADC) die Bewertung „funktionstüchtig“ und „nicht funktionstüchtig“ haben kann;- Ermittlung eines Messwertes (ADCW) des Werts der Versorgungsspannung (VCC) durch den Analog-zu-Digital-Wandler (ADC) mittels dieses Messkanals (ADCM) des Analog-zu-Digital-Wandlers (ADC);- Vergleichen des Messwertes (ADCW) des Werts der Versorgungsspannung (VCC) mit einem dritten Schwellwert (SW3) und Erzeugung eines dritten Vergleichswerts (VW3) in Abhängigkeit von diesem Vergleich durch den Mikrorechner (RE) oder eine Vergleichslogik, wobei der dritte Vergleichswert (VW3) einen fünften logischen Pegel einnimmt, wenn der Wert des Messwertes (ADCW) des Werts der Versorgungsspannung (VCC) über dem dritten Schwellwert (SW3) liegt, und einen sechsten logischen Pegel einnimmt, wenn der Wert des Messwertes (ADCW) des Werts der Versorgungsspannung (VCC) unter dem dritten Schwellwert (SW3) liegt;- Vergleichen des Messwertes (ADCW) des Werts der Versorgungsspannung (VCC) mit einem vierten Schwellwert (SW4) und Erzeugung eines vierten Vergleichswerts (VW4) in Abhängigkeit von diesem Vergleich durch den Mikrorechner (RE) oder eine Vergleichslogik, wobei der vierte Vergleichswert (VW4) einen siebten logischen Pegel einnimmt, wenn der Wert des Messwertes (ADCW) des Werts der Versorgungsspannung (VCC) über dem vierten Schwellwert (SW4) liegt, und einen achten logischen Pegel einnimmt, wenn der Wert des Messwertes (ADCW) des Werts der Versorgungsspannung (VCC) unter dem vierten Schwellwert (SW4) liegt;- Ausgabe einer Fehlerbotschaft durch den Mikrorechner (RE) oder das Steuergerät (SE)• wenn der erste Vergleichswert (VW1) nicht einen zweiten logischen Pegel aufweist oder ein daraus abgeleiteter Wert einen Wert aufweist, der nicht einem zweiten logischen Pegel des ersten Vergleichswerts (VW1) entspricht oder• wenn der zweite Vergleichswert (VW2) nicht einen dritten logischen Pegel aufweist oder ein daraus abgeleiteter Wert einen Wert aufweist, der nicht einem dritten logischen Pegel des zweiten Vergleichswerts (VW2) entspricht oder• wenn der dritte Vergleichswert (VW3) nicht einen sechsten logischen Pegel aufweist oder• wenn der vierte Vergleichswert (VW4) nicht einen siebten logischen Pegel aufweist oder• wenn das Selbsttestergebnis bezüglich der Funktionstüchtigkeit des Messkanals (ADCM) des Analog-zu-Digital-Wandlers (ADC) die Bewertung „nicht funktionstüchtig“ hat.