Patent DE-102012206524-B4 (DE)
Title: Gerät zur erfasssung von partikeln und korrekturverfahren eines geräts zur erfassung von partikeln
Inventor: MAEDA ERIKO
IPC: G01N15/06
Filed: 2012-04-20
Granted: 2021-05-20
Abstract: Gerät (6) zur Erfassung von Partikeln in einem zu messenden Gas,wobei das Gerät (6) einen Partikelerfassungssensor (4), eine Felderzeugungsleistungseinheit (50) und einen Messabschnitt (51) umfasst,der Partikelerfassungssensor (4) zumindest umfasst:ein Sensorelement (1), das ein Erfassungselement (13) aufweist, wobei das Erfassungselement eine Konfiguration aufweist auseiner Konfiguration, in der ein Paar von Elektroden (11, 12) als Elektroden zum Sammeln und als Erfassungselektroden verwendet wird, odereiner Konfiguration, in der ein erstes Paar von Elektroden (15a, 15b) als Elektroden zum Sammeln verwendet wird und ein zweites Paar von Elektroden (11, 12), das getrennt von dem ersten Paar von Elektroden (15a, 15b) ist, als Erfassungselektroden verwendet wird, odereiner Konfiguration, in der drei Elektroden (15d, 11d, 12d) ein erstes Paar von Elektroden (15d, 11d), das als Elektroden zum Sammeln verwendet wird, und ein zweites Paar von Elektroden (11d, 12d) bilden, das als Erfassungselektroden verwendet wird,wobei die Erfassungselektroden (11, 12; 11d, 12d) eine elektrische Eigenschaft erfassen, die sich in Abhängigkeit von der Menge von Partikeln ändert, die in dem Erfassungselement (13) gesammelt wird, und die Elektroden zum Sammeln die Partikel in dem zu messenden Gas in dem Erfassungselement (13) unter Verwendung einer Anziehungskraft sammeln, die durch ein elektrisches Feld erzeugt wird, das durch die Felderzeugungsleistungseinheit (50) erzeugt wird,einen Abdeckungskörper (2), der das Sensorelement (1) schützt, undein Gehäuse (3), das das Erfassungselement (13) in dem zu messenden Gas platziert,der Messabschnitt (51) die elektrische Eigenschaft misst, die sich in Abhängigkeit von der Menge von Partikeln in dem zu messenden Gas ändert, die in dem Erfassungselement (13) gesammelt ist,wobei das Gerät (6) zur Erfassung von Partikeln eine erste und eine zweite Angelegte-Spannung-Korrektureinrichtung (S100, S110, S120) umfasst,eine tote Masse (Q0) ein Wert ist, bis eine Ausgabe, die in Bezug auf ein zu messendes Gas für eine Kalibrierung, das eine vorbestimmte Menge von Partikeln beinhaltet, erzeugt wird, ein vorbestimmter Schwellenwert (VREF) oder mehr wird,wenn die tote Masse (Q0) größer als eine tote Masse (Q0REF) eines Partikelerfassungssensors für eine Kalibrierung ist, der als Bezug dient, die erste Angelegte-Spannung-Korrektureinrichtung (S100 (NEIN), S120) die Spannung, die durch die Felderzeugungsleistungseinheit (50) angelegt wird, bei einem vorbestimmten angelegten Spannungswert (VOUT(VLL≤ VOUT≤ VHL)) hält und die Feldstärke beibehält, um die tote Masse (Q0) zu verringern, und,wenn die tote Masse (Q0) kleiner als die tote Masse (Q0REF) des Partikelerfassungssensors für eine Kalibrierung ist, der als Bezug dient, die zweite Angelegte-Spannung-Korrektureinrichtung (S100 (JA), S110) die Spannung, die durch die Felderzeugungsleistungseinheit (50) angelegt wird, einstellt, um niedriger als eine vorbestimmte untere angelegte Schwellenwertspannung (VLL) oder höher als eine vorbestimmte obere angelegte Schwellenwertspannung (VHL) zu sein, und die zweite Angelegte-Spannung-Korrektureinrichtung (S100 (JA), S110) die Feldstärke korrigiert, um die tote Masse (Q0) zu vergrößern.