Patent DE-102016011086-B4 (DE)
Title: Massenspektrometer
Inventor: ROTTMANN LOTHAR
IPC: H01J49/26
Filed: 2016-09-13
Granted: 2021-11-25
Abstract: Elementarmassenspektrometer, umfassend:eine lonenquelle (10) zum Erzeugen von Ionen;einen Massenfilter (50), der dazu ausgelegt ist, die von der lonenquelle (10) erzeugten Ionen zu empfangen, aus den empfangenen Ionen die Ionen eines Filterbereichs von Masse-zu-Ladung-Verhältnissen breiter ist als 1 atomare Masseneinheit auszuwählen, wobei Ionen der Masse von Interesse A enthalten sind und(i) Ionen der Masse A-1 in einer Peak-Flanke des Filterbereichs enthalten sind, wobei die Masse von Interesse A nahe zur unteren Grenze des Filterbereichs liegt; oder(ii) Ionen der Masse A+1 in einer Peak-Flanke des Filterbereichs, enthalten sind, wobei die Masse von Interesse A nahe zur oberen Grenze des Filterbereichs liegt,und der Massenfilter (50) dazu ausgelegt ist, die ausgewählten Ionen zu übertragen;eine Reaktionszelle (60), die dazu konfiguriert ist, die durch den Massenfilter (50) übertragenen Ionen zu empfangen und die empfangenen Ionen mit einem Gas reagieren zu lassen und dadurch Tochterionen bereitzustellen, wobeidas Gas ein polyisotopes Gas ist oderdas Gas eine Mehrzahl von Tochterionen mit unterschiedlichen Masse-zu-Ladung-Verhältnissen hervorruft, undwobei Tochterionen der Ionen der Masse von Interesse A mit Tochterionen der Ionen (i) der Masse A-1 oder (ii) der Masse A+1 eine Interferenz haben;einen Massenanalysator (80), der dazu ausgelegt ist, die Tochterionen von der Reaktionszelle (60) zu empfangen, die empfangenen Ionen innerhalb eines oder mehrerer Bereiche von Masse-zu-Ladung-Verhältnissen zu analysieren und mindestens eine Ausgabe auf der Basis der Detektion der analysierten Ionen bereitzustellen; undeine Steuerungseinrichtung, die dazu konfiguriert ist, das Elementarmassenspektrometer zu betreiben,um eine erste Ausgabe von dem Massenanalysator zur Messung von Ionen innerhalb eines ersten Analysebereichs von Masse-zu-Ladung-Verhältnissen nicht breiter als 1 atomare Masseneinheit bereitzustellen, der ein gewünschtes Masse-zu-Ladung-Verhältnis, M, einschließt, das Tochterionen entspricht, die von der Reaktionsszelle (60) von den Ionen der interessierenden Masse A geliefert werden und der Interferenz entspricht, die durch Tochterionen der Ionen (i) der Masse A-1 oder (ii) der Masse A+1 verursacht werden,und um eine zweite Ausgabe von dem Massenanalysator (80) zur Messung von Ionen innerhalb eines zweiten Analysebereichs von Masse-zu-Ladung-Verhältnissen bereitzustellen, der nicht breiter als 1 atomare Masseneinheit ist und(i) der ein Masse-zu-Ladung-Verhältnis einschließt, das nominell 1 atomare Masseneinheit unterhalb des gewünschten Masse-zu-Ladung-Verhältnisses liegt, (M-1), wenn die Masse A nahe der unteren Grenze des Filterbereichs liegt, oder(ii) ein Masse-zu-Ladung-Verhältnis einschließt, das nominell 1 atomare Masseneinheit oberhalb des gewünschten Masse-zu-Ladung-Verhältnisses liegt, (M+1), wenn die Masse A nahe der oberen Grenze des Filterbereichs liegt,was Tocherionen der Ionen (i) der Masse A-1 oder (ii) der Masse A+1 entspricht, undum einen Störpegel auf Basis der zweiten Ausgabe zu bestimmen, undum zu identifizieren, ob der Störpegel im Verhältnis zu der ersten Ausgabe mindestens einem Schwellenwertpegel entspricht, und wenn der Schwellenwertpegel nicht erreicht ist, die erste Ausgabe bezüglich der Interferenz durch die Tochterionen der Ionen (i) der Masse A-1 oder (ii) der Masse A+1 auf der Basis der zweiten Ausgabe zu korrigieren.