Patent DE-102018205800-B4 (DE)
Title: Optische-leistung-überwachungseinrichtung und laservorrichtung
Inventor: MACHIDA HISATADA
IPC: H01S3/00
Filed: 2018-04-17
Granted: 2020-10-29
Abstract: Optische-Leistung-Überwachungseinrichtung (1), welche eine optische Leistung erfasst, die sich durch eine Lichtleitfaser mit zumindest einem Kern (21, 31) und einem Mantel (22, 32) ausbreitet, mit:einer ersten Lichtleitfaser (2);einer zweiten Lichtleitfaser (3) mit einem größeren Kerndurchmesser als die erste Lichtleitfaser (2);einem Verbindungsteil (4), wo eine Endoberfläche der ersten Lichtleitfaser (2) und eine Endoberfläche der zweiten Lichtleitfaser (3) gespleißt sind;einem ersten Leckageteil (23) zur Leckage eines Strahls von der ersten Lichtleitfaser (2) zu der Außenseite;einem zweiten Leckageteil (33) zur Leckage eines Strahls von der zweiten Lichtleitfaser (3) zu der Außenseite;einem ersten Photodetektor (5), welcher eine optische Leistung erfasst, die von dem ersten Leckageteil (23) austritt; undeinem zweiten Photodetektor (6), welcher eine optische Leistung erfasst, die von dem zweiten Leckageteil (33) austritt,wobei eine Laservorrichtung (100, 200, 300) zumindest umfassteinen Laser-Oszillator (101);eine Ausgangslichtleitfaser (102) zur Ausbreitung eines Laserausgangstrahlausgangs von dem Laser-Oszillator (101) zu einem Laserstrahlausgangsende hin;eine Steuereinheit (104), die einen Ausgangsbefehlswert ausgibt, der eine Zufuhr von Antriebsleistung an den Laser-Oszillator (101) anweist,eine Aufzeichnungseinheit (107), die eine erste Erfassungscharakteristik und eine zweite Erfassungscharakteristik enthält, die im Voraus aufgezeichnet sind, wobei die erste Erfassungscharakteristik eine Beziehung eines von dem ersten Photodetektor (5) erhaltenen Erfassungswerts mit einem Ausgangsbefehlswert von der Steuereinheit (104) in der Abwesenheit eines reflektierten Strahls von einem Werkstück (106) als ein Laserbearbeitungsziel zeigt, wobei die zweite Erfassungscharakteristik eine Beziehung eines von dem zweiten Photodetektor (6) erhaltenen Erfassungswerts mit dem Ausgangsbefehlswert von der Steuereinheit (104) in der Abwesenheit eines reflektierten Strahls von dem Werkstück (106) zeigt, undeine Berechnungseinheit (108), die eine erste Reflektierter-Strahl-Leistung während einer Laserbearbeitung basierend auf einem von dem ersten Photodetektor (5) erhaltenen Erfassungswert relativ zu dem Ausgangsbefehlswert von der Steuereinheit (104) und der ersten Erfassungscharakteristik berechnet, und eine zweite Reflektierter-Strahl-Leistung während der Laserbearbeitung basierend auf einem von dem zweiten Photodetektor (6) erhaltenen Erfassungswert relativ zu dem Ausgangsbefehlswert von der Steuereinheit (104) und der zweiten Erfassungscharakteristik,wobei zumindest eine Schwelle individuell für jede der ersten Reflektierter-Strahl-Leistung und der zweiten Reflektierter-Strahl-Leistung, die durch die Berechnungseinheit (108) berechnet sind, festgelegt ist, und falls die Schwelle überschritten wird, die Steuereinheit (104) eine Unterbrechung einer Strahlausgabe anweist oder betrieben wird, um den Ausgangsbefehlswert durch Folgen eines vorbestimmten Standards zu ändern, undwobei die Optische-Leistung-Überwachungseinrichtung (1) an einem Punkt entlang der Ausgangslichtleitfaser (102) installiert ist, damit sich ein Laserausgangstrahlausgang von dem Laser-Oszillator (101) in eine Richtung von der ersten Lichtleitfaser (2) zu der zweiten Lichtleitfaser (3) hin ausbreitet.