Patent DE-102011007133-B4 (DE)
Title: Vorrichtung und verfahren zum erkennen des vorhandenseins von objekten
Inventor: MIYAHARA TAKAYUKI
IPC: G01S17/42
Filed: 2011-04-11
Granted: 2023-09-07
Abstract: Vorrichtung zum Erkennen des Vorhandenseins eines Objekts, wobei die Vorrichtung an einem Fahrzeug montiert ist; wobei die Vorrichtung umfasst:eine Strahlabtasteinrichtung zum Abtasten einer strahlförmigen elektromagnetischen Welle in Richtung zu einem Gesichtsfeld außerhalb des Fahrzeugs, wobei die strahlförmige elektromagnetische Welle wiederholt in Intervallen zweidimensional sowohl in einer Breitenrichtung als auch in mehreren Schichten in einer Höhenrichtung des Fahrzeugs ausgesendet wird und eine von dem Objekt reflektierte elektromagnetische Welle durch die Strahlabtasteinrichtung empfangen wird;eine Erfassungseinrichtung zum Erfassen einer Reflexionsintensität von jeder der ausgesendeten elektromagnetischen Wellen und eines Abstands zwischen der Vorrichtung und dem Objekt auf der Basis eines Empfangssignals einer empfangenen elektromagnetischen Welle, wobei Ergebnisse, die durch die Erfassungseinrichtung erfasst werden, die erfassten Reflexionsintensitäten und den erfassten Abstand anzeigen;wobei ein Suchbereich durch eine Position eines Suchbereichs eines spezifizierten Ergebnisses in dem Gesichtsfeld außerhalb des Fahrzeugs definiert ist;eine erste Bestimmungseinrichtung zum Bestimmen, ob der Suchbereich zusätzlich zu dem spezifizierten Ergebnis ein weiteres Ergebnis unter den Ergebnissen enthält oder nicht;eine Erzeugungseinrichtung zum Erzeugen eines Ziels durch Kombinieren der Mehrzahl von Ergebnissen, wodurch es der Vorrichtung ermöglicht ist, das Objekt unter Verwendung des erzeugten Ziels zu erkennen, wenn bestimmt wird, dass der Suchbereich das weitere Ergebnis enthält; undeine zweite Bestimmungseinrichtung zum Bestimmen, dass die erfassten Ergebnisse von einer Straße erhalten werden, wenn die erfassten Ergebnisse sowohl eine erste als auch eine zweite Anforderung erfüllen, wobeidie erste Anforderung darin besteht, dass die erfassten Ergebnisse innerhalb des Suchbereichs von nur einer vorbestimmten Schicht der Mehrzahl von Schichten sind, wenn die Mehrzahl von Schichten des Gesichtsfelds in der Höhenrichtung abgetastet wird, wodurch gezeigt wird, dass das Ziel ein nicht-dreidimensionales Ziel ist, unddie zweite Anforderung darin besteht, dass auf der Basis der erfassten Ergebnisse bei der Abtastung der vorbestimmten Schicht in der Höhenrichtungi) Abstands-Häufigkeitsverteilungen für jeden vorbestimmten Abstandsbereich erhalten werden und die Abstands-Häufigkeitsverteilungen anzeigen, dass die erfassten Ergebnisse einen Abstand enthalten, dessen Häufigkeit einen Abstands-Häufigkeitsschwellenwert überschreitet, wobei der Abstands-Häufigkeitsschwellenwert in Abhängigkeit von dem Abstand und entsprechend einem niedrigsten Wert der Abstandshäufigkeit festgelegt ist, von dem geschätzt ist, dass er durch das erfasste Ergebnis aufgrund einer Reflexion an der Straße generiert wird, wobei jede der Abstands-Häufigkeitsverteilungen für eine entsprechende Schicht der Mehrzahl von Schichten auf einem entsprechenden vertikalen Abtastwinkel von einer Mehrzahl von vertikalen Abtastwinkeln, der einem der strahlförmigen elektromagnetischen Wellen entspricht, in Bezug auf eine horizontale Referenzebene basiert, undii) Intensitäts-Häufigkeitsverteilungen für jeden vorbestimmten Reflexionsintensitätsbereich erhalten werden und Intensitäts-Häufigkeitsverteilungen zeigen, dass die erfassten Ergebnisse eine Reflexionsintensität enthalten, deren Häufigkeit einen Intensitäts-Häufigkeitsschwellwert überschreitet, wobei der Intensitäts-Häufigkeitsschwellwert in Abhängigkeit von der Reflexionsintensität sowie entsprechend einem niedrigsten Wert der Reflexionsintensitäts-Häufigkeit festgelegt ist, von dem geschätzt ist, dass er durch das erfasste Ergebnis aufgrund einer Reflexion an der Straße generiert wird, wobei jede der Intensitäts-Häufigkeitsverteilungen für eine entsprechende Schicht der Mehrzahl von Schichten auf einem entsprechenden vertikalen Abtastwinkel von der Mehrzahl von vertikalen Abtastwinkeln, der einem der strahlförmigen elektromagnetischen Wellen entspricht, in Bezug auf die horizontale Referenzebene basiert.