Patent WO-2023214147-A1 (WO)
Inventor: COLLINSON LUCY MARGARET
IPC: G01B11/06
Filed: 2023-04-28
Abstract: L'invention concerne un appareil de caractérisation d'une épaisseur d'une ou de plusieurs tranches obtenues à partir d'une surface externe d'un échantillon à l'aide d'un appareil microtome, l'appareil comprenant un détecteur conçu pour recevoir des signaux optiques réfléchis et/ou diffusés à partir d'au moins des première et seconde parties de la surface d'un échantillon ou d'un ensemble porte-échantillon associé à l'appareil microtome, et pour fournir une sortie indiquant au moins une caractéristique des signaux optiques reçus ; et un dispositif de commande configuré pour : déterminer des premières informations indiquant une position d'une première partie de surface d'un échantillon ou d'un ensemble porte-échantillon de l'appareil microtome avant l'obtention d'une ou de plusieurs tranches à partir de la surface externe d'un échantillon à l'aide d'un ensemble lame associé à l'appareil microtome, les premières informations étant déterminées sur la base d'une première sortie du détecteur associée à des signaux optiques reçus de la première partie de surface de l'échantillon ou de l'ensemble porte-échantillon, déterminer des secondes informations indiquant une position d'une seconde partie de surface de l'échantillon ou de l'ensemble porte-échantillon de l'appareil microtome après l'obtention d'une ou de plusieurs tranches à partir de la surface externe de l'échantillon à l'aide de l'ensemble lame associé à l'appareil microtome, les secondes informations étant déterminées sur la base d'une seconde sortie du détecteur associée à des signaux optiques reçus de la seconde partie de surface de l'échantillon ou de l'ensemble porte-échantillon ; et déterminer une épaisseur d'au moins l'une de la ou des tranches obtenues de l'échantillon à l'aide de l'ensemble lame du microtome, sur la base des premières et secondes informations ; conjointement avec des procédés et des programmes informatiques correspondants. L'invention décrit en outre un appareil de caractérisation d'une orientation d'une surface externe d'un échantillon ou d'un porte-échantillon associé à un appareil microtome, l'appareil comprenant : un premier détecteur conçu pour recevoir des signaux optiques réfléchis et/ou diffusés à partir de chaque partie d'une pluralité de parties de surface de l'échantillon ou de l'ensemble porte-échantillon et pour fournir une sortie indiquant au moins une caractéristique de chacun des signaux optiques reçus ; et un dispositif de commande, le dispositif de commande étant configuré pour : déterminer des premières informations indiquant une position respective de chaque partie de la pluralité de parties de la surface de l'échantillon ou de l'ensemble porte-échantillon, et déterminer une orientation de la surface de l'échantillon ou de l'ensemble porte-échantillon sur la base des premières informations ; la position respective de chaque partie de la pluralité de parties de la surface de l'échantillon ou de l'ensemble porte-échantillon étant déterminée par le dispositif de commande sur la base de la sortie reçue du premier détecteur ; conjointement avec des procédés et des programmes informatiques correspondants.