Patent ES-2561058-T3 (ES)
Title: Método para el uso de la microestructura de la superficie de materiales como identificador único
Inventor: JORDAN FRÉDÉRIC
IPC: G07D7/20
Filed: 2006-09-05
Granted: 2016-02-24
Abstract: Método para identificar objetos únicamente utilizando una imagen óptica de la microestructura de su superficie que comprende una fase de ajuste de parámetro, una fase de adquisición y una fase de identificación, la fase de ajuste de parámetro que incluye las etapas de: - definir para un conjunto dado de objetos, una resolución, un tipo de iluminación ligera no coherente y una ubicación, llamada área de interés, con una microestructura de identificación aleatoria, cuyo tamaño considerado de estructura está por debajo de 1mm. para cada objeto que se identificará más tarde, la fase de adquisición incluye las etapas de: - adquisición digital de una imagen modelo bidimensional del objeto con una microestructura de identificación, dicha adquisición se basa en los ajustes de parámetro y se usa un muestreo en una rejilla ortogonal uniformemente distanciada de al menos un componente de color, - pretratamiento de la imagen para eliminar variaciones de color macroscópicas aplicando una función de aplanado en dicho modelo, - almacenamiento en una base de datos de referencia la imagen modelo preprocesada junto con al menos una versión modelo de muestreo reducida, para un objeto a identificar, la fase de identificación incluye las etapas de: - adquisición digital de una imagen fotográfica bidimensional del objeto a identificar y según los parámetros como la imagen modelo, - pretratamiento de dicha imagen fotográfica aplicando una función de aplanado para eliminar variaciones de color macroscópicas, - generación al menos una versión de muestreo reducida de la imagen fotográfica aplanada con resoluciones según las resoluciones durante la fase de adquisición, - correlación cruzada de la versión 2D más reducida de la imagen fotográfica aplanada con la correspondiente versión modelo de muestreo reducida almacenada en la base de datos de referencia 25 independientemente de la posición relativa en la traslación, y seleccionando un conjunto de modelos según el valor de la relación señal/ruido de la imagen de correlación cruzada, para los modelos seleccionados, la correlación cruzada de la versión 2D de muestreo reducida del siguiente nivel de resolución de la imagen fotográfica aplanada con las versiones de muestreo reducidas de mismo nivel de resolución del modelo aplanado almacenado en la base de datos de referencia que han sido 30 elegidas en la fase precedente independientemente de la posición relativa en la traslación, y seleccionando un conjunto de modelos según el valor de la relación señal/ruido de la imagen de correlación cruzada, - repetición de la fase precedente para todas resoluciones de muestreo reducidas disponibles - para los modelos seleccionados, realizar la correlación cruzada de la imagen fotográfica 2D aplanada con el modelo aplanado almacenado en la base de datos de referencia independientemente de la posición relativa 35 en la traslación, y así identificar el objeto encontrando el mejor modelo de correspondencia cuyo valor señal/ruido de la imagen con correlación cruzada está sobre un umbral predefinido.