Patent ES-2347724-T3 (ES)
Title: Dispositivo de escaneado optico multi-haz y aparato para la formacion de imagenes que lo utiliza.
Inventor: ISHIBE YOSHIHIRO
IPC: B41J2/47
Filed: 2008-06-25
Granted: 2010-11-03
Abstract: Dispositivo de escaneado óptico multi-haz que un dispositivo fuente de luz (1) que comprende una serie de elementos emisores de luz (1a, 1b) que tienen una separación en una dirección principal de escaneado; un espejo poligonal rotativo (5) configurado para desviar para el escaneado una serie de haces de luz emitidos desde dichos elementos emisores de luz; un primer sistema óptico (LA) configurado para formar imágenes, en una sección de subescaneado, de la serie de haces de luz procedentes de dicha serie de elementos emisores de luz sobre una superficie deflectora (5a, 5b) de dicho espejo poligonal rotativo; y un segundo sistema óptico (6) configurado para formar imagen de la serie de haces de luz desviados para el escaneado por la superficie deflectora de dicho espejo poligonal rotativo sobre una superficie (7) a escanear; en el que, en la sección de subescaneado, la superficie deflectora de dicho espejo poligonal rotativo y la superficie a escanear se encuentran en relación conjugada entre sí, caracterizado porque: cada uno de la serie de haces de luz incidentes sobre la superficie deflectora de dicho espejo poligonal rotativo incide desde una dirección oblicua en la sección de subescaneado, con respecto a un plano perpendicular a un eje de rotación de dicho espejo poligonal rotativo, en el que, cuando una dirección hacia el lado de abajo en una dirección del movimiento de la superficie a escanear se define como dirección más en la dirección de subescaneado, mientras que la dirección hacia el lado de arriba en la dirección de movimiento de la superficie a escanear se define como dirección menos en la dirección de subescaneado, cada uno de la serie de haces de luz incidentes sobre la superficie deflectora de dicho espejo poligonal rotativo incide desde una dirección oblicua menos en la dirección de subescaneado con respecto a un plano perpendicular al eje de rotación de dicho espejo poligonal rotativo, de manera que, bajo las condiciones mencionadas, el aumento de formación de imágenes en la sección de subescaneado de dicho segundo sistema óptico sobre el eje óptico y entre la superficie deflectora de dicho espejo poligonal rotativo y la superficie a escanear es mayor que el aumento de formación de imágenes en la sección de subescaneado de dicho segundo sistema óptico entre la superficie deflectora de dicho espejo poligonal rotativo y la superficie a escanear en la parte extrema en el lado de inicio del escaneado del haz de luz que escanea la superficie a escanear, y en el que el aumento de formación de imágenes en la sección de subescaneado de dicho segundo sistema óptico sobre el eje óptico y entre la superficie deflectora de dicho espejo poligonal rotativo y la superficie a escanear es menor que el aumento de formación de imágenes en la sección de subescaneado de dicho segundo sistema óptico entre la superficie deflectora de dicho espejo poligonal rotativo y la superficie a escanear en la parte extrema en el lado de terminación del escaneado del haz de luz que escanea la superficie a escanear. comprende: