Patent ES-2845280-T3 (ES)
Title: Método de demigración en profundidad de Kirchhoff post-apilamiento para medios isotrópicos transversales inclinados (TTI) y heterogéneos basado en trazado de rayos en datos migrados
Inventor: JIAO JUNRU
IPC: G01V1/28
Filed: 2018-04-16
Granted: 2021-07-26
Abstract: Método implementado por ordenador de demigración en profundidad de Kirchhoff post-apilamiento para medios isotrópicos transversales inclinados (TTI) y heterogéneos basado en trazado de rayos en datos migrados que comprende: - proporcionar una imagen sísmica**(Ver fórmula)**uelo en un dominio de profundidad (Ω) generado mediante migración en el que dicho dominio de profundidad (Ω) comprende puntos del subsuelo y puntos de superficie (δΩ); - proporcionar un modelo de velocidad de propagación de ondas en el dominio de profundidad (Ω); - determinar parámetros de anisotropía, ángulo de buzamiento θ y ángulo acimutal φ de los medios isotrópicos transversales inclinados en el dominio de profundidad (Ω) estando el método caracterizado además por - generar una rejilla fina de fuentes de superficie (S1, S2, S3, S4, S5, Sa, Sb, Sc, Sd, Si); - generar una rejilla gruesa de fuentes de superficie (S1, S3, S5, Sa, Sb, Sc, Sd) engrosando la rejilla fina de las fuentes de superficie (S1, S2, S3, S4, S5, Sa, Sb, Sc, Sd, Si); - generar una tabla de tiempos de desplazamiento que almacena al menos el tiempo de desplazamiento entre una fuente de superficie (S1, S3, S5, Sa, Sb, Sc, Sd) de la rejilla gruesa y los puntos del subsuelo de la imagen sísmica **(Ver fórmula)**; - llevar a cabo la demigración resolviendo la ecuación de Kirchhoff en el que el tiempo de desplazamiento entre una fuente de superficie (S1, S2, S3, S4, S5, Sa, Sb, Sc, Sd, Si) y un punto del subsuelo (P) de la imagen sísmica**(Ver fórmula)** en el dominio de profundidad (Ω) requerido cuando se resuelve la ecuación de Kirchhoff se toma a partir de la tabla de tiempos de desplazamiento si la fuente de superficie (S1, S3, S5, Sa, Sb, Sc, Sd) está en la rejilla gruesa; o se calcula mediante interpolación si la fuente de superficie (S1, S2, S3, S4, S5, Sa, Sb, Sc, Sd, Si) está en la rejilla fina pero no en la rejilla gruesa, en el que la interpolación del tiempo de desplazamiento entre una fuente de superficie (S1, S2, S3, S4, S5, Sa, Sb, Sc, Sd, Si) en la rejilla fina y un punto del subsuelo (P) es de la siguiente manera: - determinar un primer patrón (PT1) que comprende una disposición de puntos definidos por las ubicaciones de: - un conjunto de fuentes de superficie (S3, S5, Sa, Sb, Sc, Sd) de la rejilla gruesa que rodean a la fuente de superficie (S4, Si) de la rejilla fina y, - la fuente de superficie de la rejilla fina (S4, Si) en la que está calculándose el tiempo de desplazamiento; - determinar los puntos del subsuelo (R3, R5, Ra, Rb, Rc, Rd, P) de la imagen **(Ver fórmula)**en el dominio de profundidad (Ω) según un segundo patrón (PT2), siendo dicho segundo patrón (PT2) una disposición de puntos del subsuelo que tienen el mismo número de nodos, la misma forma y las mismas dimensiones que el primer patrón (PT1), siendo el segundo patrón (PT2) paralelo a la superficie (δΩ) y estando ubicado de tal manera que la ubicación del punto del subsuelo (P) del segundo patrón (PT2) correspondiente a la fuente de superficie (S4, Si) del primer patrón (PT1) en la rejilla fina está ubicada en el punto del subsuelo (P) de la imagen**(Ver fórmula)** en la que está calculándose el tiempo de desplazamiento; - calcular el tiempo de desplazamiento interpolado como el promedio ponderado de todos los valores de tiempo de desplazamiento tomados a partir de tablas de tiempos de desplazamiento respectivas del conjunto de fuentes de superficie (S3, S5, Sa, Sb, Sc, Sd) de la rejilla gruesa que rodean a la fuente de superficie (S4, Si) de la rejilla fina, siendo los valores de tiempo de desplazamiento los tiempos de desplazamiento entre una fuente de superficie (S3, S5, Sa, Sb, Sc, Sd) del primer patrón (PT1) y el punto del subsuelo (R3, R5, Ra, Rb, Rc, Rd) correspondiente de la imagen**(Ver fórmula)** del segundo patrón (PT2); - hacer que estén disponibles los datos demigrados.