Patent ES-2805461-T3 (ES)
Title: Dispositivo y procedimiento de medición de un coeficiente de calibración de corriente y dispositivo y procedimiento de detección de corriente
Inventor: HOU YIZHEN
IPC: G01R1/20
Filed: 2018-10-18
Granted: 2021-02-12
Abstract: Un dispositivo de medición (100) para medir un coeficiente de calibración de corriente, que comprende un ordenador host (110) y una fuente de corriente (120); en donde la fuente de corriente configurada para emitir una corriente con un valor de corriente especificado a una derivación (210) de un dispositivo de detección de corriente (200) para ser calibrada en respuesta a una instrucción de salida de corriente desde el ordenador host; en donde el ordenador host (110) está configurado para enviar la instrucción de salida de corriente a la fuente actual (120), controlar la fuente de corriente (120) para emitir la corriente con el valor de corriente especificado a la derivación (210) del dispositivo de detección de corriente (200), y calcular, de acuerdo con el valor de corriente especificado y un valor de corriente detectado recibido del dispositivo de detección de corriente (200) en el caso de que la derivación (210) del dispositivo de detección de corriente (200) esté provista de la corriente con el valor de corriente especificado, un coeficiente de calibración de corriente para el dispositivo de detección de corriente (200), en donde el coeficiente de calibración de corriente se usa para calibrar un valor de corriente detectado por el dispositivo de detección de corriente (200) cuando se aplica el dispositivo de detección de corriente (200) en un circuito para detección de corriente, caracterizado porque el dispositivo de medición comprende además una incubadora (130) para colocar el dispositivo de detección de corriente; el ordenador host (110) está configurado para controlar la fuente de corriente (120) para emitir la corriente con el valor de corriente especificado cuando la temperatura de la incubadora (130) está a una temperatura de referencia T1 de acuerdo con las características de temperatura de resistencia de la derivación (210), y calcular, de acuerdo con el valor de corriente especificado y un valor de corriente detectado en T1, un coeficiente de calibración de corriente en T1; y el ordenador host (110) está configurado además para determinar, de acuerdo con el coeficiente de calibración de corriente en T1 y una curva característica de temperatura de resistencia de la derivación (210), los coeficientes de calibración de corriente a temperaturas respectivas distintas de T1 en un intervalo de temperatura de operación de la derivación (210) para obtener una relación de mapeo entre las temperaturas de la derivación (210) y los coeficientes de calibración de corriente, en donde el ordenador host (110) está configurado para controlar la fuente de corriente (120) para emitir la corriente con el valor de corriente especificado cuando la temperatura de la incubadora (130) está a una temperatura T2, calcular un primer valor de resistencia real R1 de la derivación (210) en T1 de acuerdo con el valor de corriente especificado, el valor de corriente detectado en T1 y el valor de resistencia nominal de la derivación (210), calcular un segundo valor de la resistencia real R2 de la derivación (210) en T2 de acuerdo con el valor de corriente especificado, un valor de corriente detectado en T2 y el valor de resistencia nominal de la derivación (210), calcular un coeficiente de resistencia-temperatura de la derivación en T2 de acuerdo con R1 y R2, y determinar la curva característica de resistencia-temperatura de la derivación (210) basada en el coeficiente de resistencia-temperatura en T2 y un coeficiente de resistencia-temperatura en T1, en donde T2 no es igual a T1.