Patent ES-2812649-T3 (ES)
Title: Método de reconstrucción de imágenes basado en modelo
Inventor: BESSON ADRIEN
IPC: G01S7/486
Filed: 2017-08-23
Granted: 2021-03-17
Abstract: Un método de reconstrucción de imágenes de ondas de pulso que comprende: - transmitir (21) un conjunto de ondas de pulso a un objeto para ser reconstruido al menos parcialmente por medio de un conjunto de elementos de transmisión (13); - recibir (23) un conjunto de formas de onda de eco reflejadas, por medio de un conjunto de sensores (13), del objeto, caracterizado por un conjunto de valores de reflectividad definidos en una cuadrícula de reflectividad que comprende puntos de la cuadrícula de reflectividad, el conjunto de formas de onda de eco que define un conjunto de valores de medición definidos en una cuadrícula de medición que comprende puntos de la cuadrícula de medición; - definir (25) un problema inverso para obtener un conjunto de estimaciones de valores de reflectividad a partir del conjunto de valores de medición mediante un modelo de medición; - expresar (27) el problema inverso como un problema de optimización que implica una función objetivo que comprende un término de discrepancia de datos; - expresar (27) el problema de optimización como un sistema de ecuaciones que implica contribuciones del término de discrepancia de datos; - obtener (29) el conjunto de estimaciones de valores de reflectividad al realizar iteraciones en el sistema de ecuaciones hasta que se haya alcanzado un umbral de convergencia dado, al menos algunas de las iteraciones que involucran al menos una estimación del valor de medición para cada punto de la cuadrícula de medición de un conjunto de puntos de la cuadrícula de medición y una estimación del valor de reflectividad para cada punto de la cuadrícula de reflectividad de un conjunto de puntos de la cuadrícula de reflectividad; el método que se caracteriza porque la obtención de las contribuciones en el sistema de ecuaciones comprende: - obtener la estimación del valor de medición para cada punto de la cuadrícula de medición del conjunto de puntos de la cuadrícula de medición del modelo de medición, que comprende: - generar (71) un conjunto de ecuaciones paramétricas de reflectividad por elemento de transmisión - trayectoria del sensor que define un conjunto de hipersuperficies de reflectividad que comprende los valores de reflectividad de hipersuperficie; - integrar (77) los valores de reflectividad de hipersuperficie sobre cada hipersuperficie de reflectividad del conjunto de hipersuperficies de reflectividad para obtener la estimación del valor de medición para el punto de la cuadrícula de medición respectivo; - obtener la estimación del valor de reflectividad para cada punto de la cuadrícula de reflectividad del conjunto de puntos de la cuadrícula de reflectividad a partir de un operador adjunto del modelo de medición, que comprende: - generar (83) un conjunto de ecuaciones paramétricas de medición por elemento de transmisión - trayectoria del sensor que define un conjunto de hipersuperficies de medición que comprende los valores de medición de hipersuperficie; - integrar (89) los valores de medición de hipersuperficie sobre cada hipersuperficie de medición del conjunto de hipersuperficies de medición para obtener la estimación del valor de reflectividad para el punto de la cuadrícula de reflectividad respectivo.