Patent ES-2544313-T3 (ES)
Title: Sistema de inspección no destructiva por ultrasonidos, en particular para estructuras de material compuesto para aplicaciones aeronáuticas
Inventor: CAVACCINI GIOVANNI
IPC: G01N29/48
Filed: 2011-12-30
Granted: 2015-08-28
Abstract: Un sistema de inspección no destructiva por ultrasonidos para una estructura de material compuesto (2) que incluye una primera superficie de incidencia y una primera superficie posterior dispuesta a una distancia con respecto a la superficie de incidencia, para detectar por lo menos un primer defecto (4) que se encuentra entre la primera superficie de incidencia y la primera superficie posterior, que comprende: - una primera sonda de exploración (110; 132); - un primer motor (116; 138) que está configurado para mover la primera sonda de exploración hasta una pluralidad de primeros puntos de inspección a lo largo de una primera dirección de exploración de la estructura (2), estando dicha sonda de exploración configurada para generar (20; 50), para cada uno de los primeros puntos de inspección, una señal de ultrasonidos incidente sobre dicha primera superficie de incidencia y adquirir (20; 50) una señal de ultrasonidos reflejada indicativa de la presencia del primer defecto (4); y - unos medios de procesamiento (200, 202), que incluyen un microprocesador (200), que están configurados para: procesar (24; 52; 91 - 93), mediante el microprocesador, para cada uno de dichos primeros puntos de inspección, la señal de ultrasonidos reflejada con el fin de extraer una primera señal de eco relacionada con una reflexión de defecto (D) que se genera por el primer defecto en respuesta a la señal de ultrasonidos incidente; asociar (24; 52; 91 - 93), mediante el microprocesador, un valor de amplitud y un valor de tiempo de vuelo con la primera señal de eco, siendo el valor de tiempo de vuelo el valor de la duración de tiempo transcurrida entre un instante de tiempo inicial y un instante de tiempo de la adquisición de la primera señal de eco; ajustar (54; 94), mediante el microprocesador, por medio de una primera y una segunda funciones de interpolación respectivas, los valores de amplitud y de tiempo de vuelo asociados con las primeras señales de eco extraídas para la totalidad de los puntos de inspección de dicha pluralidad de primeros puntos de inspección; y estimar (58; 65; 68; 70; 95; 97), mediante el microprocesador, una primera dimensión (Lw) de dicho primer defecto (4) en función de por lo menos un parámetro de la primera o la segunda función de interpolación, siendo la primera dimensión una anchura del primer defecto (4) en la primera dirección de exploración, caracterizado por que: el primer motor (116; 138) está configurado además para mover la primera sonda de exploración hasta una pluralidad de segundos puntos de inspección a lo largo de una segunda dirección de exploración de una estructura de referencia que tiene una superficie incidente, una superficie posterior y encontrándose libre de defecto (4) entre la superficie de incidencia y la superficie posterior, dicha sonda de exploración está configurada además para generar (90), para cada uno de los segundos puntos de inspección en la superficie de incidencia, una señal de referencia de ultrasonidos incidente y adquirir (90) una señal de referencia reflejada respectiva, dichos medios de procesamiento (200, 202) están configurados además para: procesar (91 - 93), mediante el microprocesador, para cada uno de los segundos puntos de inspección, la señal de referencia reflejada respectiva para extraer una segunda señal de eco respectiva relacionada con una reflexión de la porción de la estructura de referencia entre la superficie de incidencia y la superficie posterior; asociar (91), mediante el microprocesador, para cada uno de los segundos puntos de inspección, una referencia de amplitud respectiva con el segundo valor de señal de eco respectivo; normalizar (91), mediante el microprocesador, para cada uno de los primeros puntos de inspección, los valores de amplitud de la primera señal de eco, obteniendo una primera señal normalizada; normalizar (91), mediante el microprocesador, para cada uno de los segundos puntos de inspección, los valores de amplitud de la segunda señal de eco, obteniendo una segunda señal normalizada; generar, mediante el microprocesador, una primera señal media mediante el cálculo del valor medio de los valores de amplitud de las primeras señales de eco relacionadas con los primeros puntos de inspección; generar, mediante el microprocesador, una segunda señal media mediante el cálculo del valor medio de los valores de amplitud de las segundas señales de eco relacionadas con los segundos puntos de inspección; sustraer (96), mediante el microprocesador, la primera y la segunda señales medias una de otra, obteniendo una señal de diferencia (D(t)); definir (96), mediante el microprocesador, una representación espectral variable en el tiempo de dicha señal de diferencia (D(t)), mediante el cálculo de la densidad espectral de la señal de diferencia con el tiempo; y