Sekundär-Ione-Massen-Spektrometrie (SIMS) is ne Methode tou dät Analysierjen fon Uurflächen. Deertou wäd ju Probe in Vakuum bestroald mäd Ione (litje leedene Deele). Deertruch wäide dan Ione fon ju Probe-Uurfläche loossloain, wierfon dan ju Masse wain wäd. Dät Weegen fon do sonaamde sekundäre Ione geböärt in n Massen-Spektrometer, so dät ju Atommasse fääststoald wäide kon un me weet, uum wäkker Element sik dät honnelt. Ju Methode is gans geföilich un ju Geföilegaid kon 10-16 bit 10-12 Atome/cm3 bedreege, dät is minner as n millionste Prozent! Deermäd is ju Methode uum ne Million Moal geföiliger as AES.