X光散射技术
X 光散射技術或 X 射線繞射技術（英語：X-ray scattering techniques）是一系列常用的非破壞性分析技術，可用於揭示物質的晶體結構、化學組成以及物理性質。這些技術都是以觀測 X 射線穿過樣品後的散射強度為基礎，並根據散射角度、極化度和入射 X 光波長對實驗結果進行分析。X 光散射技術可在許多不同的條件下進行分析，例如不同的溫度或壓力。