光電子分光
光電子分光(こうでんしぶんこう、photoemission spectroscopy)とは、固体に一定エネルギーの電磁波をあて、光電効果によって外に飛び出してきた電子(光電子とよばれる)のエネルギーを測定し、固体の電子状態を調べる方法である。
測定対象となる物質は主に金属や半導体であり、絶縁体はチャージアップの関係から測定には不向きである.
カイ・シーグバーン (Kai M. Siegbahn) は高分解能光電子分光法の開発で1981年のノーベル物理学賞を受賞している。
X線光電子分光 (XPS):照射する光にX線を用いる。XPSは元素の内殻電子の状態を知る目的などで使用される。
紫外光電子分光 (UPS) :紫外線を照射する。UPSからは固体の状態密度がわかる。
光電子の運動量まで測定する方法を角度分解型光電子分光 (Angle-resolved Photoemission Spectroscopy, ARPES) という。
2009年現在ではエネルギー分解能 150 μeV、角度分解能 0.1°程度の高精度の測定が可能である。