材料分析法の一覧
XAES - X線励起オージェ電子分光(X-ray induced Auger electron spectroscopy)
XANES - エックス線吸収端近傍構造(英語版)(X-ray Absorption Near Edge Structure)
XAS - X線吸収分光法(X-ray absorption spectroscopy)
X-CTR - X線結晶トランケーションロッド(英語版)散乱(X-ray crystal truncation rod scattering)
X-ray crystallography - X線結晶構造解析(X-ray crystallography)
XDS - X線散漫散乱(X-ray diffuse scattering)
XPEEM - X線光電子顕微鏡(X-ray photoelectron emission microscopy)
XPS - X線光電子分光(X-ray photoelectron spectroscopy)
XRD - X線回折(X-ray diffraction)
XRES - X線共鳴交換散乱(X-ray resonant exchange scattering)
XRF - 蛍光X線分析(X-ray fluorescence analysis)
XRR - X線反射率法(英語版)(X-ray reflectivity)
XRS - X線ラマン散乱(英語版)(X-ray Raman scattering)
XSW - X線定在波(英語版)法(X-ray standing wave technique)
NAA - 中性子放射化分析(Neutron activation analysis)
Nanovid microscopy - Nanovid microscopy
ND - 中性子回折(Neutron diffraction)
NDP - 中性子深さ方向分析(英語版)(Neutron depth profiling)
NEXAFS - 吸収端近傍X線吸収微細構造(Near edge X-ray absorption fine structure)
NIS - 中性子非弾性散乱(Nuclear inelastic scattering)
NMR - 核磁気共鳴分光法(Nuclear magnetic resonance spectroscopy)
NOESY - 核オーバーハウザー効果分光(Nuclear Overhauser effect spectroscopy)
NRA - 核反応法(Nuclear reaction analysis)
NSOM - 走査型近接場光顕微鏡(Near-field scanning optical microscopy)