テセック
ディスクリートデバイス用テスタ
小信号からパワーデバイスまで広範囲のデバイス電気特性のテストを行うテスタ
熱抵抗テスタ
過渡熱抵抗の測定を行うテスタ
L負荷テスタ
MOSFETの誘導負荷におけるターンオフ時に波形を監視し、V-GATE、IH、ILで規定された安全動作領域(SOA)を通過するかを判定するテスタ
ダイナミックテストシステム
MOSFET及びIGBTのスイッチング特性の測定を行うテスタ
IPD/IPMテストシステム
駆動回路や自己保護機能を組み込んだ複合素子測定を行うテスタ
Rgテスタゲートチャージテスタ
MOSFETのゲート抵抗を抽出し測定を行うテスタ
Qgテスタ
MOSFETのゲートチャージの測定を行うテスタ