NetBurstマイクロアーキテクチャ
NetBurstマイクロアーキテクチャは、パイプライン段数を増やすことにより分岐予測ミスのペナルティが増加してクロック周波数あたりの性能が低下しても、それを上回るだけクロック周波数が向上すればトータルの性能は向上する、という理論に基づき設計された。これは、半導体プロセスが微細化すれば動作周波数は向上し、消費電力は下がるというスケーリング則が成立し続けることを前提としたものであった。
一般的に、発熱や消費電力は動作クロックに比例して大きくなる。スケーリング則が成り立っていた2000年代初頭までは、製造プロセスを微細化することで動作電圧を低減し発熱や消費電力を抑えることができたが、微細化がより高度になることによりリーク(漏れ)電流と呼ばれる電流が問題視されるようになった。
漏れ電流はどのような半導体でも発生する。コンピュータ以外も含むいかなる回路の中で、漏れ電流はその回路の動作に悪影響を与える存在として排除の対象となる。特にnm(ナノメートル)単位で設計されるようになった集積度の極めて高いマイクロプロセッサ類では、それまで大きな問題にならなかった漏れ電流が、実際の動作による消費電力と大差ないところまで増えてしまい、半導体業界全体の問題となった。