セクター型質量分析計
向きは、陽イオンの場合は電場の方向であり、陰イオンの場合は逆方向である。
この力は電荷と電場強度にのみ依存する。慣性の違いによって、より軽いイオンはより大きく偏向され、より重いイオンはあまり偏向されない。このためそれぞれ空間的に分かれた別のビーム物理的に選別され、静電セクターから出ることになる。
一方、一様な線形磁場下(磁気セクター内)におけるイオンの受ける力の大きさは次の式で表される。
F = q v B {\displaystyle F=qvB\,}
向きは磁場とイオン自体の速度ベクトルの両方に直交される向きで、電荷の向きに依存し、クロス積の右手の法則によって決まる。
磁気セクター内の力は速度依存性を持つため複雑であるが、(例えば均一な速度分布など)適当な条件の元では静電セクター同様、質量によって空間的に別々のビームに物理的に分離される。
マッタウフ・ヘルツォーク型は 31.82° ( π / 4 2 {\displaystyle \pi /4{\sqrt {2}}} ラジアン) の静電セクターと、曲率の方向が逆の 90° の磁気セクターから成る。最初に電荷によって並んでいるイオンが磁場下に入射するとエネルギー収束効果が生じ、標準的なエネルギーフィルタよりも高い放射を得ることができる。この構成は生成イオンのエネルギー範囲が広く、精度もある程度必要とされる用途、例えばスパーク源質量分析法 (SSMS) や二次イオン質量分析法 (SIMS) などでよく用いられる。この構成がニーア・ジョンソン型よりも優れている点は、異なる質量のイオンでも全て同じ平面上に収束する点である。これにより、写真乾板もしくは平面検出器アレーを用いることができる。