二川清
1981年、エレクトロマイグレーションの汎用モデルの構築とそれに基づいたモンテカルロシミュレーションの事例を発表。
1989年、FIB (Focused Ion Beam, 集束イオンビーム)の半導体故障解析への応用法を開発し、その事例を発表。
1993年、OBIRCHを発明し、その応用例を発表。
1996年、IR-IBIRCHを発明し、その応用例を発表。