テセック
半導体製造工程に使用する半導体検査装置
TESEC Incorporated (アメリカ)
TESEC (M) Sdn. Bhd. (マレーシア)
TESEC China (Shanghai) Co., Ltd. (中国)
MEMSデバイス用ハンドラピックアンドプレース
ジャイロスコープや加速度計等MEMSデバイスの環境試験(高温・低温)が測定可能なハンドラ
フィルムフレームストリップハンドラ(MAPシステム)
QFNやWLCSPなどのデバイスをウエハリング上で測定し収納するシステム
自重落下方式ハンドラ
SOやパワーパッケージデバイスの環境試験(高温・低温)が測定可能なハンドラ
タレット式ハンドラ
回転テーブルタイプで様々な供給形態に対応する高処理能力ハンドラ
リードフレームストリップハンドラ
リードフレームにマトリックス状に配列されたデバイスを個片化する事無く環境試験(高温)が測定可能なハンドラ