補償光学
補償光学は、大気の揺らぎ等によって生じる星像の乱れを、波面センサーで捉えて、電子制御回路を経て、可変形鏡を変形させることによって、対象となる天体や物体の像を正確に捉えるための技術である。工学的には、エレクトロニクスにおける位相同期回路(フェーズ・ロック・ループ、PLL)と同様な原理に基づくものであり、天文科学分野では32素子の波面センサーと可変形鏡を用いたリアルタイム・補償光学が実用化されている。
現在では波長の問題から主に赤外線による観測で用いられているが、2012年に日本の国立天文台などの研究チームがすばる望遠鏡の高性能補償光学装置により可視光線で成功し、さらなる観測精度の向上が期待されている。
当初はアメリカ合衆国が他国の軍事用の偵察衛星の形状観測のために開発し、1989年2月に完成した。開発に携わったウィリアム・ハッパーたちの働きかけにより1991年5月のアメリカ天文学会で初めて一般に公開され、広く研究され、また応用されるようになった。