材料分析法の一覧
DE(T)A - Dielectric thermal analysis
dHvA - ドハース・ファンアルフェン効果(De Haas–van Alphen effect)
DIC - 微分干渉顕微鏡(Differential interference contrast microscopy)
Dielectric spectroscopy - 誘電分光(英語版)
DLS - 動的光散乱(英語版)(Dynamic light scattering)
DLTS - 深い準位過渡分光(Deep-level transient spectroscopy)
DMA - 動的機械分析(英語版)(Dynamic mechanical analysis)
DPI - 二面偏波式干渉計(Dual polarisation interferometry)
DRS - 拡散反射分光(Diffuse reflection spectroscopy)
DSC - 示差走査熱量測定(Differential scanning calorimetry)
DTA - 示差熱分析(Differential thermal analysis)
DVS - 動的蒸気収着(英語版)(Dynamic vapour sorption)
GC-MS - ガスクロマトグラフィー–質量分析法(Gas chromatography-mass spectrometry)
GD-MS - グロー放電質量分析法(Glow discharge mass spectrometry)
GD-OES - グロー放電発光分光(Glow discharge optical spectroscopy)
GISAXS - すれすれ入射小角X線散乱(Grazing incidence small angle X-ray scattering)
GIXD - すれすれ入射X線回折(Grazing incidence X-ray diffraction)
GIXR - すれすれ入射X線反射率測定(Grazing incidence X-ray reflectivity)
GLC - 気液クロマトグラフィー(Gas-liquid chromatography)
Analytical ultracentrifugation - 超遠心分析
AAS - 原子吸光分光(Atomic absorption spectroscopy)
AED - オージェ電子回折(Auger electron diffraction)
AES - オージェ電子分光(Auger electron spectroscopy)
AFM - 原子間力顕微鏡(Atomic force microscope|Atomic force microscopy)
AFS - 原子蛍光分光(Atomic fluorescence spectroscopy)
APFIM - 原子プローブ電界イオン顕微鏡(Atom probe field ion microscopy)
APS - 出現電位分光(Appearance potential spectroscopy)
ARPES - 角度分解光電子分光(Angle resolved photoemission spectroscopy)
ARUPS - 角度分解紫外光電子分光(Angle resolved ultraviolet photoemission spectroscopy)
ATR -減衰全反射(英語版)(Attenuated total reflectance)