走査型近接場光顕微鏡
AFM 装置のカンチレバープローブ先端部を近接場光の発光源とする。
光弾性変調器(PEM)とその偏光変調された光を使い、カー効果を利用して磁気光学的に試料の磁気分布を読み取る機能を持つ SMON。磁気と同時に試料の形状を走査できるものもある。