加速劣化試験
電気回路は経時と共に回路を構成する要素の変化や、外部からの影響を受けて回路が変化する。絶縁の破壊が問題になるほか、半導体集積回路の微小な電子回路ではマイグレーションによる回路の短絡や破断が問題になる。
高分子材料の架橋は、紫外線を受けて破壊され、それにより強度を喪う。所定の期間に照射される紫外線の総量を推計し、それに応じた量の紫外線を短時間に当てて長期間の評価に代える。
加速劣化試験(かそくれっかしけん、"Accelerated Aging Test")とは、製品を過酷な条件下に置き、意図的に劣化を進めて製品寿命を検証する試験である。
CD-RやDVD-Rでは反射膜・記録色素の劣化、ならびに基板ポリカーボネートの劣化が問題になる。反射膜については前述のとおり。メーカーの発表では、加速劣化試験の結果より記録色素は50年以上の保持期間を持つと言われる。ポリカーボネートについても前述のとおり。
酸性紙の劣化については実例を元に評価が行える。また、金属疲労については事故原因の追求の動機から研究が進んだ。
その他の加速劣化試験の妥当性の判断に際しては、必ずしも実例を元にした充分なデータが蓄積されていない事に注意が必要である。俗に「100年に相当する加速劣化試験」などの表記が為されることもあるが、実験で与えられた条件が日常生活の100年に相当するかは厳密に確かめられておらず、凡その推定・推測に基づくものである数値であることに注意する必要がある。
また、加速劣化試験では限られた要素や要素の組み合わせでの実験が行われるが、実用に際してはより多くの要素が複雑に絡み合っており、今後も予想外の現象が発生する可能性が否定できない。