走査型トンネル顕微鏡
STMの探針は機械研磨、または電解研磨(英語版)によって先鋭化される。ビーニッヒらが開発した初期のものは先端半径が100nm程度であったが、その後は集束イオンビームなどの手法も用いられてはるかに鋭い探針が得られるようになった。2007年現在では、先端の直径が約10nmにまでなっている。(#外部リンクを参照)