材料分析法の一覧
TAT or TACT - 熱音響トモグラフィー(Thermoacoustic tomography)または熱音響コンピュータトモグラフィー(thermoacoustic computed tomography)、光音響トモグラフィー(PAT)も参照
TEM - 透過型電子顕微鏡(transmission electron microscopy)
TGA - 熱重量分析(Thermogravimetric analysis)
TIKA - Transmitting ion kinetic analysis
TIMS - 表面電離型質量分析(英語版)(Thermal ionization mass spectrometry)
TIRFM - 全反射照明蛍光顕微鏡(Total internal reflection fluorescence microscopy)
TLS - 熱レンズ分光(Photothermal lens spectroscopy)、光熱分光の一種
TMA - 熱機械分析(英語版)(Thermomechanical analysis)
TOF-MS - 飛行時間型質量分析計(Time-of-flight mass spectrometry)
Two-photon excitation microscopy - 2光子励起顕微鏡(Two-photon excitation microscopy)
TXRF - 全反射蛍光X線(Total reflection X-ray fluorescence)
EFTEM - エネルギーフィルター透過型電子顕微鏡(英語版)(Energy filtered transmission electron microscopy)
EID - 電子誘起脱離(Electron induced desorption)
EIT、ERT - 電気インピーダンス・トモグラフィ(Electrical impedance tomography)、電気抵抗トモグラフィー(英語版)(Electrical resistivity tomography)
EL - エレクトロルミネセンス(Electroluminescence)
Electron crystallography - 電子線結晶構造解析(英語版)
ELS - 電気泳動光散乱(英語版)(Electrophoretic light scattering)
ENDOR - 電子核二重共鳴(英語版)(Electron nuclear double resonance)
EPMA - 電子線マイクロアナライザ(Electron probe microanalysis)
EPR - 電子常磁性共鳴(Electron paramagnetic resonance)
ERD、ERDA - 弾性反跳検出(英語版)(Elastic recoil detection)または弾性反跳検出分析(Elastic recoil detection)
ESCA - 化学分析のための電子分光(Electron spectroscopy for chemical analysis)*XPSを参照
ESD - 電子刺激脱離(Electron stimulated desorption)
ESEM - 環境制御型走査電子顕微鏡(Environmental scanning electron microscopy)
ESI-MS、ES-MS - エレクトロスプレーイオン化質量分析法(Electrospray ionization mass spectrometry)、エレクトロスプレー質量分析法(Electrospray mass spectrometry)
ESR - 電子スピン共鳴
ESTM - 電気化学走査型トンネル顕微鏡(Electrochemical scanning tunneling microscopy)
EXAFS - 広域X線吸収微細構造(Extended X-ray absorption fine structure)
EXSY - EXSY(Exchange spectroscopy)
EBIC - 電子線誘起電流(英語版)(Electron beam induced current) 、IBIC(ion beam induced charge)も参照
EBS - 弾性(非ラザフォード)後方散乱分光(Elastic (non-Rutherford) backscattering spectrometry)、RBSを参照。
EBSD - 電子後方散乱回折(Electron backscatter diffraction)
ECOSY - ECOSY(Exclusive correlation spectroscopy)
ECT - 電気容量トモグラフィ(Electrical capacitance tomography)
EDAX - エネルギー分散型X線分析(Energy-dispersive analysis of x-rays)
EDMR - 電気的検出磁気共鳴(英語版)(Electrically detected magnetic resonance)、ESRやEPRを参照
EDS、EDX - エネルギー分散型X線分光(Energy dispersive X-ray spectroscopy)
EELS - 電子エネルギー損失分光(Electron energy loss spectroscopy)
FCS - 蛍光相関分光法(Fluorescence correlation spectroscopy)
FCCS - 蛍光相互相関分光(英語版)(Fluorescence cross-correlation spectroscopy)
FEM - 電界放出顕微鏡(英語版)(Field emission microscopy)
FIB - 集束イオンビーム(Focused ion beam)
FIM-AP - 原子プローブ電界イオン顕微鏡(Field ion microscopy-atom probe)
Flow birefringence - 流動複屈折(英語版)
Fluorescence anisotropy - 蛍光異方性(英語版)
FLIM - 蛍光寿命イメージング顕微鏡(英語版)(Fluorescence Lifetime Imaging Microscopy)
BET - BET表面積測定 (BETはBrunauer、Emmett、Tellerに由来)
BiFC - 二分子蛍光補完(英語版)(Bimolecular fluorescence complementation)
BKD - 後方散乱菊池回折(Backscatter Kikuchi diffraction)、EBSDを参照
BRET - 生物発光共鳴エネルギー移動(Bioluminescence resonance energy transfer)
BSED - 後方散乱電子回折(Back scattered electron diffraction)、EBSDを参照
SAD - 制限視野回折(Selected area diffraction)
SAED - 制限視野電子回折(Selected area electron diffraction)
SAM - 走査型オージェ顕微鏡(Scanning Auger microscopy)
SANS - 中性子小角散乱(英語版)(Small angle neutron scattering)
SAXS - X線小角散乱(Small angle X-ray scattering)
SCANIIR - 粒子衝撃光放射(Surface composition by analysis of neutral species and ion-impact radiation)
SCEM - 走査型共焦点電子顕微鏡(英語版)(Scanning confocal electron microscopy)
SE - 分光エリプソメトリー(Spectroscopic ellipsometry)
SEC - サイズ排除クロマトグラフィー(Size exclusion chromatography)
SEIRA - 表面増強赤外吸収分光(Surface enhanced infrared absorption spectroscopy)