エレクトロケミカルマイグレーション
エレクトロマイグレーション(以下、IPC-9201に従いEMgとする)に関する最初の論文は1955年に発表され、この中では silver migration と呼ばれていた。その後IPCが、半導体内部における電気的要因によるマイグレーションのみをEMgと呼称し、半導体実装部における、外的要因を伴うマイグレーションをエレクトロケミカルマイグレーション(以下、同様にECMgとする)と定義した(IPC-TR-467A-1995)。
国内においては電気学会が、電気学会技術報告559号において、IPCの定義とほぼ同時期にイオンマイグレーションを定義し、国内ではこの呼び方が一般的となった。
その後2007年、JPCA規格上においてECMgとイオンマイグレーションの統一が行われ、「エレクトロケミカルマイグレーション(イオンマイグレーション併記)」とされた(JPCA-ET01–09)。