ニール・ゲーレルス・スウィフト
XRTと同様にバーストの追観測に使用される。残光を紫外線と可視光(170-600ナノメートル)で観測し、0.5秒角の精度で発生位置を特定できる。明るい残光ではスペクトルの観測も可能で、その場合赤方偏移に基づいてバーストまでの距離を測ることができる。XMMニュートンの搭載機器の1つである可視光モニター (OM) を設計のベースとしている。