X線吸収分光法
X線吸収分光法は、原子分子、固体物理学、物質化学、化学、地学、生物学など幅広い分野で利用されている。X線回折法と比較すると、X線吸収分光法は、局所構造に敏感であることや、元素選択性をもつことなどの特徴があることから、以下のような幅広い物質系において利用されている。
原子、分子
イオン注入や不純物が導入された半導体
磁性体
色素増感太陽電池
結晶構造のひずみ
有機金属化学
固溶体
金属タンパク質
金属クラスター
触媒反応
アモルファスや液体
溶液中のイオン
元素分析
液体の水や水溶液
X線の照射によって引き起こされる、X線領域の発光の全強度を測定する方法である。発光の検出には、MCP(マイクロチャンネルプレート)やフォトダイオードなどが用いられる。前述した電子の場合と比較すると物質中での透過率が高いため、一般的に物質の内部を観測することが可能である(学術誌等においては「バルク敏感」であると表現されている)。発光の強度は、ほぼ吸収係数に比例しているため、吸収スペクトルの測定が可能である。 軟X線領域などの光の透過率が著しく低いエネルギー領域では、Saturation効果や自己吸収によって観測されるスペクトル形状にゆがみが生じることがあり、それらを回避する測定法や補正の方法が検討されている。