二端子測定法
物性測定における二端子測定法は、被測定物の両端に配線を施すだけで測定が可能である一方、接触抵抗および配線自体の抵抗の寄与があるため、測定する抵抗範囲が低い(あるいは超伝導体のように限りなく0に近い)場合には、四端子測定法に比べて測定誤差が大きくなりがちである。測定環境上、四端子測定法を実施できない場合には、測定誤差の寄与を別途評価しこれにより被測定物の結果を補正することで用いられることがある。 接触・配線抵抗と比べて被測定物の抵抗値が十分に高い場合には、配線による熱の流入を軽減するためあえて二端子で測定されることがある。実際に室温~低温用温度センサーなどは半導体が用いられることが多く、低温になるほど抵抗値が高くなるため、二端子測定法で測定されている場合が多い。一般的に、見かけ上温度センサーからは4本の配線が出ているが、センサー部パッケージの中で接続されているため4本ある配線(+V,+I,-V,-I)のうち+/-だけに気をつければよく、例えば+Vと+I(あるいは-Vと-I)は同等である。
低温下測定を要する環境以外では、広くテスターとして市販されているように四端子測定法に比べ極めて簡便である。 また、テスターなど、測定レンジ(内部インピーダンス)が選択できる場合、高抵抗用の測定レンジにすることで試料にかかる電流を下げることが出来るため、繊細なデバイスの配線接続のチェックに用いられることもある。