電界放射顕微鏡
金属や半導体の表面に高電界を印加すると、固体表面のポテンシャル障壁が変形してトンネル効果によって固体中の電子が真空中に放射される。これは電界電子放出と呼ばれる現象で、放出された電子は電気力線に沿って加速し、針先端から放射状に広がっていく。この結果針先端の情報が10万倍程度に拡大され、その電子を蛍光スクリーンに投影することで針先端を観測することができる。これが電界放射顕微鏡(FEM)である。
電界放出顕微鏡(でんかいほうしゅつけんびきょう、英名:Field-Emission microscope; FEM)は尖鋭化された金属針先端部から電子を放射することにより、針先端を実空間実時間で観測できる投影型の顕微鏡。ドイツ人研究者のErwin Wilhelm Müller博士により1936年に開発された。