暗視野検鏡
暗視野検鏡(あんしやけんきょう、Dark field microscopy)とは、顕微鏡を用いた観察において、観察試料による散乱光(ビーム)を観察することにより、高コントラスト・超微細構造の観察を行う技術のこと。光学顕微鏡や電子顕微鏡で用いられる手法。
暗視野検鏡を行うことを目的としている光学顕微鏡のことを暗視野顕微鏡とよぶ。