TTL露出計
一眼レフカメラのピントグラスの上に位置するコンデンサーレンズに、中央を斜め45度に切ってハーフミラー加工し、再び貼り合わせたものを用い、コンデンサーレンズと同一平面状に受光部を置いて、コンデンサーレンズ内を屈折して入射してくる光を測る方式である。キヤノンFTなどキヤノンのカメラでのみ用いられた方法である。構造上、スポット・部分測光以外の測光分布にはできない。
このような場合、多分割測光とオートブラケット機構やAEロック機構と組み合わせて使用することによって、作画意図どおりの写真を撮影することが可能である。またほとんどの多分割測光搭載カメラは中央重点測光やスポット測光に切り替えられる。
よく知られる各社の多分割測光方式として以下の方式がある。
オリンパス - ESP(Electro Selective Pattern)測光。OM40に搭載、その後のデジタルカメラやデジタル一眼レフカメラでも「デジタルESP測光」として搭載。
キヤノン - 評価測光。画面内のコントラストに反応して、そのコントラストの高い部分が露出の決定にどれくらい重要かを評価し、それに基づいて適正露出を算出する。順光の風景など画面内のどの部分もコントラストがあまり大きくない時は中央部重点測光のような動作になる。EOS650から搭載され、EOS10QD以降はオートフォーカスエリアも参考にした動作になった。
京セラ/コンタックス - 評価測光。
ニコン - マルチパターン測光。多点スポット測光に近い結果を算出するように設計されている。ニコンFAで初搭載、その後ニコンF5でレンズからの距離情報や被写体の色調を加味する「3D-RGBマルチパターン測光」となる。
ペンタックス - 分割測光。キヤノンの評価測光と似た算出方式。機種によってはフィルムのDXコードからラティチュード情報を読み取り、露出決定の要素に加えている。
ミノルタ/コニカミノルタ - ハニカムパターン測光。画面の広範囲にわたる測光エリアのうち、コンピュータによって算出された重点エリアをさらに細かく分割測光する。
画面の中心の1~5%程度の極小の範囲で測光を行う方式。カメラ側の判断が一切入らないため、どの機種においても同じ測光結果が出る。ただし、反射光式露出計の特徴を理解していないと使いこなしが難しい方式である。
AEでの使用には全く適さず、AE使用時においては測光時にAEロック機構と連動させる場合がほとんどである。
測光を1回で終わらせず画面内の複数の場所を測って平均する多点スポットという使い方をされることも多い。
露出制御が撮影者側で決定できるため、フルマニュアル露出を多用し、経験豊富な撮影者に好まれる傾向にある。現在も上級者向けのカメラには必須の機能として実装されている。亜種として、やや測光範囲の広い「部分測光」というものもある。
使いこなしの難しさや速写性の欠如からスポット測光方式を単独で採用しているカメラは非常に少ない。一方、部分測光方式のみを搭載しているカメラはキヤノン製一眼レフカメラに多かった。