4Pi 顕微鏡
これまで光学顕微鏡の回折限界を超えるために様々な努力がなされてきた。1992年にシュテファン・ヘルによって開発された4Pi顕微鏡もその様々な試みの一つで試料は対向する対物レンズからレーザーを照射して試料の蛍光色素を励起して放出された光を干渉することによって高分解能の画像を得る。対向する2つの対物レンズの光路長は同じになるように調整される。4Pi顕微鏡では試料ステージのXY走査が必要なため、撮像にやや時間を要するもののアーティファクトを除去できる。2004年にライカマイクロシステムズからLeica TCS 4Pi が発売された。