組み込み自己診断
組み込み自己診断(くみこみじこしんだん、英: built-in self-test, or built-in test、BIST, or BIT)は、自己診断機能(じこしんだんきのう、英: self-diagnosis function)ともいい、機械が自分自身を検査できる機構である。技術者は、次のような要件を満たすためにBISTを設計する。
信頼性の向上
修理サイクルタイム(英語版)の短縮
また、次のような制約が伴う。
技術者のアクセス制限
製造時のテスト費用
BISTの主な目的は、複雑さの軽減、それによる費用の削減、そして外部テスト機器(パターンプログラム)への依存を減らすことである。BISTは2つの方法で費用を削減する。
テストサイクル期間を短縮する。
テスターの制御下で駆動/検査する必要があるI/O信号数を減らすことにより、テスト/プローブのセットアップの複雑さを軽減する。
どちらも、自動試験装置(英語版)サービスの時間当たり料金の削減につながる。