二川清
『LSIハンドブック』(共著、オーム社、1984年)
『次世代半導体工場センシング技術』(共著、1988年)
『CARE:パソコン信頼性解析法』(共著、日科技連出版社、1991年)
『デバイス・部品の故障解析』(共著、日科技連出版社、1992年)
『エレクトロニクスの静電気対策』(共訳、マグロウヒル出版、1992年)
『信頼性の歴史』(共編著、日本信頼性学会、1993年)
『商品開発と品質保証』(共著、フジテクノシステム、1993年)
『電子顕微鏡Q&A -先端材料解析のための手引き』(共著、アグネ承風社、1996年)
『信頼性ハンドブック』(共著、日科技連出版社、1997年)
『電子・イオンビームハンドブック第3版』(共著、日刊工業新聞社、1998年)
『半導体大事典』(共著、工業調査会、1999年)
『はじめてのデバイス評価技術』(工業調査会、2000年)
『走査電子顕微鏡』(共著、共立出版、2000年)
『ナノ光工学ハンドブック』(共著、朝倉書店、2002年)
『最新電子部品・デバイス実装技術便覧』(共著、R&Dプラニング、2002年)
『FIB・イオンミリング技法Q&A』(共著、アグネ承風社、2002年)