温度
ヘリウムの蒸気圧点: 3 K – 5 K での値を校正に使用
平衡水素(オルト水素とパラ水素が平衡にある水素)の三重点: 13.8033 K
平衡水素の蒸気圧点: 17.025 K – 17.045 K と 20.26 K – 20.28 K の値が定義されている
ヘリウム気体温度計の示度: 16.9 K – 17.1 K と 20.2 K – 20.4 K の値を校正に使用
ネオンの三重点: 24.5561 K
酸素の三重点: 54.3584 K
アルゴンの三重点: 83.8058 K
水銀の三重点: 234.3156 K
水の三重点: 273.16 K (熱力学温度目盛のもう一つの定義定点)
ガリウムの標準気圧下(101 325 Pa)の融解点: 302.9146 K
インジウムの標準気圧下の凝固点: 429.7485 K
スズの標準気圧下の凝固点: 505.078 Kᐸ
亜鉛の標準気圧下の凝固点: 692.677 K
アルミニウムの標準気圧下の凝固点: 933.473 K
銀の標準気圧下の凝固点: 1234.93 K
金の標準気圧下の凝固点: 1337.33 K
銅の標準気圧下の凝固点: 1357.77 K
測定方法には物体に直接触れて測る接触式と、触らずに測る非接触式がある。
接触式は、膨張式と電気式、計数式等があり、膨張式は、気圧温度計や蒸気圧温度計など温度変化による気体の圧力変化を測るものや、水銀温度計のような液体の長さを測るもの、固体の変形を測るバイメタル式がある。電気式は、温度によって抵抗率が変わる原理を利用した白金抵抗温度計や熱電対など金属線を用いるもの、サーミスタやダイオードなど半導体を用いるものがある。温度変化を共振周波数変化として計測できる水晶温度計は計数式に分類され、この他にもサーモペイントや液晶も接触して温度変化を測定できる。
非接触式は、検出波長によって2種類に分かれる。ひとつは、約2–5 μmの短波長の赤外線を検出波長帯とする量子型。もうひとつは、約8–14 μmの長波長の赤外線を検出波長帯とする熱型。それぞれの検出波長帯は、大気による赤外線の減衰が小さい波長帯にあたり、量子型は検出素子にInSb(インジウムアンチモン)、InAs(ヒ化インジウム)などを使い、熱型はマイクロボロメータを使っている。非接触式の温度計としては代表的なものとして、赤外線サーモグラフィがある。
熱電対
測温抵抗体
サーミスタ
放射温度計
液柱温度計
バイメタル式温度計
赤外線サーモグラフィ