自動光学検査
以下はAOIに関連する検査技術で、エレクトロニクス製造業界における電子回路基板の検査によく用いられる手法である。:
AXI( Automated x-ray inspection/自動X線検査)
JTAG (Joint Test Action Group)・・・集積回路や基板の検査、デバッグに使えるバウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称
ICT (In-circuit test(インサーキットテスタ))
ファンクションテスト(Functional testing)