スピン偏極STM
1990年: R.Wiesendangerらが電流一定で表面を走査した際に、表面のスピンの状態で試料ー探針距離が異なり表面のスピンが検出可能と主張。
1998年: 強磁性体探針を用いて、Tip Biasを変化させたときのコンダクタンスの変化からスピンの状態を検出する。
1998年: 左・右円偏光を利用したSP-STM
1998年: Biasを変化させ、電流像とトポ像取得する方式。