材料分析法の一覧
SEM - 走査型電子顕微鏡(Scanning electron microscopy)
SERS - 表面増強ラマン散乱(Surface enhanced Raman spectroscopy)
SERRS - 表面増強共鳴ラマン散乱(Surface enhanced resonance Raman spectroscopy)
SEXAFS - 表面広域X線吸収微細構造(英語版)(Surface extended X-ray absorption fine structure)
SICM - 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(英語版)(Scanning ion-conductance microscopy)
SIL - ソリッドイマージョンレンズ(Solid immersion lens)
SIM - ソリッドイマージョンミラー(Solid immersion mirror)
SIMS - 二次イオン質量分析法(Secondary ion mass spectrometry)
SNMS - スパッタ中性粒子質量分析(Sputtered neutral species mass spectrometry)
SNOM - 走査型近接場光顕微鏡(Scanning near-field optical microscopy)