SHRIMP
一次イオンは試料チェンバーの表面に対して45°の角度で入射し、90°の角度で二次イオンが放出され、一次イオンと同様に10 kVで加速される。3枚の四重極レンズによって二次イオンはスリット線源へと集約される。この設計は他のイオンプローブ法を利用する装置と異なり、イオンの状態を維持するのではなく、イオンの透過力を最大化することを目的としている。シュヴァルツシルト型の対物レンズによって、反射光を利用して分析中に試料を直接顕微鏡で観察することを可能にしている。
ウラン・鉛年代測定法を利用して分析する際、デュオプラズマトロン(英語版)の中空Ni陰極内で高純度の酸素ガスから(O2)の一次イオンの光線が生み出される。このイオンはプラズマから抽出され、10 kVの加速電圧によって加速される。一次イオンカラムは、イオンが目的のスポットにて全体的に密度が均等になるように生成されるようにするケーラー照明に用いられる。このスポットの直径は必要に応じて~5 μmから30 μm以上まで変更することが可能である。一般的な試料のイオン光線の密度はpA/μmまでであり、15分から20分ほどの解析で1 μm未満のアブレーションピットを形成することが出来る。
通常操作ではSHRIMPは、20 カウント/秒/ppm/nA以上の感度でジルコンから鉛を5000の質量分解能で計測することを果たした。