EDA (半導体)
システム、アーキテクチャ設計 全体のシステムの要求より、構成するブロックと各ブロックの要求性能を決定する。この際に行われるシミュレーションをシステムシミュレーションという。
個別ブロック設計 各ブロックはシミュレーションを利用して、個別に要求性能を満たす設計を行う。デジタル回路のブロックはVerilog・VHDL等を用いた論理記述で、アナログ回路はSPICEネットリスト等を利用した記述で回路図へ変換を行う。必要に応じてIPを利用する。 IP(英: intellectual property) 知的財産権をもった既製品の回路ブロックのこと。 シミュレーション 回路シミュレーション・論理シミュレーション・アナログデジタル混載シミュレーション(英: mixed signal simulation)・故障シミュレーション・プロセスシミュレーション・デバイスシミュレーション・システムシミュレーション等がある。
DFT (英: design for test) / DFM (英: design for manufacturing) DFTは製造時の製品の欠陥を検出する仕組みを、あらかじめチップの回路に作りこんでおく手法で、バウンダリスキャン、BIST (built-in self test)、ATPG(英: auto test pattern generation)などの欠陥検出回路を追加する。DFMは欠陥があることを前提として歩留まりを向上させる仕組みを、あらかじめ作りこんでおく手法。
CR-5000
OrCAD
PADS
Quadcept
Virtuoso
esCAD
SX-Meister
Altium Designer
EDAツールの新製品の発表の場として年1回 Design Automation Conference(通称DAC、ダック)という会議、展示会がアメリカで開かれる。この名称は、前述のようにDAという言葉の名残である。
日本での同種の催しとして新製品の展示会 Electronic Design and Solution Fair が毎年開催されている。また、DACのアジア版となる国際会議 ASP-DAC も毎年開催される。