イオン源
化学イオン化 (CI)は、電子の除去ではなくイオン/分子反応を伴うため、電子イオン化よりも低いエネルギープロセスである。エネルギーが低いほど断片化が少なくなり、通常はスペクトルがより単純になる。典型的なCIスペクトルには、簡単に識別できる分子イオンがある。
CIでは、イオン源の試薬ガスのイオンとの衝突によりイオンが生成される。一般的な試薬ガスには、メタン、アンモニア、イソブタンなどがある。イオン源の内部では、検体に比べて試薬ガスが大過剰に存在している。イオン源に入る電子は、試薬ガスを優先的にイオン化する。その結果生じる他の試薬ガス分子との衝突により、イオン化プラズマが生成される。このプラズマとの反応により、検体の陽イオンと陰イオンが形成される。
CH 4 + CH 4 + ⟶ CH 5 + + CH 3 {\displaystyle {\ce {CH4 + CH4+ -> CH5+ + CH3}}}
M + CH 5 + ⟶ CH 4 + [ M + H ] + {\displaystyle {\ce {M + CH5+ -> CH4 + [M + H]+}}}
非接触大気圧イオン化は、質量分析による液体および固体サンプルの分析に使用される技術である。非接触APIは、追加の電力 (ソースエミッタへの電圧印加)、ガス供給や、シリンジポンプを必要としない。従って、この方法は、大気圧での質量分析によって化合物を分析するための簡単な手段である。
イオン源は、原子および分子イオンを作成する装置のことである。質量分析計、発光分光計、粒子加速器、イオン注入機、イオンエンジンなどで、イオンを形成するために使用される。
イオン結合イオン化は、反応性衝突で陽イオンが分析物分子に結合する化学イオン化に似ている。
M + X + + A ⟶ MX + + A {\displaystyle {\ce {M + X+ + A -> MX+ + A}}} M + X + + A ⟶ MX + + A {\displaystyle {\ce {M + X+ + A -> MX+ + A}}} M + X + + A ⟶ MX + + A {\displaystyle {\ce {M + X+ + A -> MX+ + A}}}
放射性イオン源では、放射性物質の小片、たとえば Niや Amを使用してガスをイオン化する。これは、イオン化煙検出器およびイオン移動度分光計で使用される。