二川清
『Vortex Electronics and SQUIDs』(共著、Springer、2004年)
『金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策』(共著、S&T出版、2006年)
『LSI故障解析技術のすべて』(工業調査会、2007年)
『故障解析技術』(日科技連出版社、2008年)
『LSIテスティングハンドブック』(編著、オーム社、2008年)
『信頼性七つ道具』(共著、日科技連出版社、2008年)
『信頼性問題集』(編著、日科技連出版社、2009年)
『LSIの信頼性』(編著、日科技連出版社、2010年)
『新版 LSI故障解析技術』(日科技連出版社、2011年)
『新・走査電子顕微鏡』(共著、共立出版、2011年)
『はじめてのデバイス評価技術 第2版』(森北出版、2012年)
『薄膜の評価技術ハンドブック』(共著、テクノシステム、2013年)
『新版 信頼性ハンドブック』(編著、日科技連出版社、2014年)
『半導体デバイスの不良・故障解析技術』(編著、日科技連出版社、2019年)
『半導体製造プロセスの今』(共著、情報機構、2019年)
『信頼性七つ道具:応用編』(編著、日科技連出版社、2020年)
二川 清(にかわ きよし、1949年 - )は、日本の技術者である。大阪府出身。
現在、一般的に使われている半導体故障解析技術である、IR-OBIRCHの発明者として知られる。
1968年大阪府立三国丘高校卒業、1972年大阪大学基礎工学部物性物理工学科卒業、1974年同大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。1995年論文提出により工学博士(大阪大学)。1974年日本電気(株)入社。