材料分析法の一覧
SPECT - 単一光子放射断層撮影(Single photon emission computed tomography)
SPM - 走査型プローブ顕微鏡(Scanning probe microscopy)
SRM-CE/MS - 選択反応検出-キャピラリー電気泳動質量分析法(Selected-reaction-monitoring capillary-electrophoresis mass spectrometry)
SSNMR - 固体核磁気共鳴(Solid-state nuclear magnetic resonance)
Stark spectroscopy - シュタルク分光
STED - 誘導放出抑制顕微鏡(Stimulated Emission Depletion microscopy)
STEM - 走査型透過電子顕微鏡(Scanning transmission electron microscopy)
STM - 走査型トンネル顕微鏡(Scanning tunneling microscopy)
STS - 走査型トンネル分光法(Scanning tunneling spectroscopy)
SXRD - 表面X線回折(英語版)(Surface X-ray Diffraction)
PAS - 陽電子消滅分光(英語版)(Positron annihilation spectroscopy)
Photoacoustic spectroscopy - 光音響分光(Photoacoustic spectroscopy)
PAT or PACT - 光音響トモグラフィー(Photoacoustic tomography)または光音響コンピュータトモグラフィー(photoacoustic computed tomography)
PAX - Photoemission of adsorbed xenon
PC or PCS - 光電流分光(Photocurrent spectroscopy)
Phase contrast microscopy - 位相差顕微鏡(Phase contrast microscopy)
PhD - 光電子回折(Photoelectron diffraction)
PD - 光脱離(Photodesorption)
PDEIS - Potentiodynamic electrochemical impedance spectroscopy
PDS - 光熱偏向分光法(Photothermal deflection spectroscopy)
PED - 光電子回折(Photoelectron diffraction)
PEELS - 並列型電子エネルギー損失分光(parallel electron energy loss spectroscopy)
PEEM - 光電子顕微鏡(Photoemission electron microscopy、photoelectron emission microscopy)
PES - 光電子分光(Photoelectron spectroscopy)
PINEM - 光子誘起近接場電子顕微鏡法(photon-induced near-field electron microscopy)
PIGE - 粒子線励起ガンマ線放出(Particle (or proton) induced gamma-ray spectroscopy)、 核反応法を参照
PIXE - 粒子線励起X線分析(Particle (or proton) induced X-ray spectroscopy)
PL - フォトルミネッセンス(Photoluminescence)
Porosimetry - ポロシメトリー(Porosimetry)
Powder diffraction - 粉末回折法(英語版)(Powder diffraction)
PTMS - 光熱変換顕微分光(英語版)(Photothermal microspectroscopy)
PTS - 光熱変換分光法(Photothermal spectroscopy)