加速劣化試験
フィルムや写真を焼き付ける印画紙の像を作る銀化合物は経時と共に変化し、画像が劣化する。旧い白黒写真では銀化合物の化学変化に伴い像が薄くなったり消えているものがある。また、カラー写真でも褪色しているものがある。これに対して、材料等を工夫し像の劣化を抑える製品が開発されている。メーカーは加速劣化試験で相当年数を経過したのと同様な状態をつくり、新旧製品の画像の違いを示している。
製品に塵やホコリを吹き付けたり、汚れを塗布して、絶縁の低下・破壊を測定する。
主に電子部品・碍子に対して行われる。
電子部品に定格一杯、あるいは定格以上の電圧を印加し、電子部品の絶縁体の劣化を促し、製品寿命を測る。
特に半導体集積回路では、基板上の微細な導体(銅、あるいはアルミニウム)に高電圧を印加し、原子のマイグレーションを起こして、配線の短絡や配線の切断が起きるまでの期間を評価する。