デザインルールチェック
DRCは、図形同士の論理演算機能や、問題の箇所を発見するために必要な関数を備えている。これは、どのCADメーカーのDRCでもほぼ同じである。ルールファイルは、そのような論理演算とエラー判定等から構成される簡単なプログラムである。
一般に半導体設計におけるマスクデータは、層(レイヤー)に関する情報を持った多角形のデータの集合で構成されている。これらの層は半導体プロセスの各工程に相当するものと、何かしらの作業、すなわちDRCやLVSで素子を判別するなどのプロセス上では意味のないダミーレイヤーとがある。
DRCでは、これらの図形データの重なりや距離の判別を行うことでルールのチェックを行う。例えば、A層とB層が重なってはいけないというルールがある場合、A層に含まれる図形データとB層に含まれる図形データのAND(論理積)をとり、その結果に何らかの図形が含まれていればエラー、含まれていなければ問題なしとする。
プリント基板の場合もほぼ同様である。