故障率
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Ebeling, Charles E. (1997). An Introduction to Reliability and Maintainability Engineering. Boston: McGraw-Hill. pp. 23–32. ISBN 0070188521
Federal Standard 1037C
Kapur, K. C.; Lamberson, L. R. (1977). Reliability in Engineering Design. New York: John Wiley & Sons. pp. 8–30.
機械的な動作は機器の摩耗を引き起こし、主な故障メカニズムとなる。この消耗故障点は、サイクル試験(cycle testing)により、機器が故障するまでに実行されたサイクル数で定量化される。サイクル試験は機器が故障するまで可能な限り迅速に繰り返される。複数のサンプルを試験し、例えばその内の10%の個体が故障するまで試験が行われる。
故障率は任意の時間の尺度で表すことができるが、実際には時間(hours)が最も一般的な単位である。時間の代わりに、マイルや回転数などの他の単位を使用することもできる。
故障率は非常に低いことが多いため、特に個々の部品の故障では、100万個あたりの故障数または工学表記(英語版)(10)で表されることがよくある。
デバイスの故障率(Failures In Time、FIT)は、10億(10)デバイス時間の動作で予想される故障の数である。たとえば、1000個のデバイスで100万時間や、100万個のデバイスで1000時間など、さまざまな組み合わせが考えられる。この用語は、特に半導体業界で使用されている。
FITとMTBFの関係は次のように表される。
MTBF = 1,000,000,000 × 1/FIT
DFR再生関数を持った再生過程(英語版)(renewal processes)では、再生間時間は凹になる。Brownは逆に、再生間時間が凹になるためにはDFRが必要であると推測したが、この推測は離散的な場合にも連続的な場合にも成り立たないことが示されている。
多くの組織では、製造している機器やシステムの故障情報を内部データベースとして保持しており、故障率を算出するために使用することができる。新しい機器やシステムでデータが少ない場合には、過去のデータが有用な事前情報として役立つ。
年間故障率(英語版)
バーンイン(英語版)
故障 Failure
故障モード
死力
超過頻度(英語版)
信頼性工学
生存分析
ワイブル分布
故障率曲線