組み込み自己診断
BISTには、機能や実装方法によって異なる、いくつかの特殊なバージョンがある。
プログラム可能型ビルトインセルフテスト(英語版)(pBIST)
メモリービルトインセルフテスト(mBIST) - Marinescuアルゴリズムを使用。
論理ビルトインセルフテスト(英語版)(LBIST)
アナログおよび混合信号型ビルトインセルフテスト(AMBIST)
連続型ビルトインセルフテスト(CBIST、C-BIT)
イベント駆動型ビルトイン・セルフテスト - 航空機の着陸後のシステムに対するBISTのようなもの。
定期ビルトインセルフテスト(C-BIT/P-BIT)
割込駆動型ビルトインセルフテスト(IBIST)またはユーザ/オペレータ起動型ビルトインセルフテスト(I-BIT、またはO-BIT)。
パワーアップ・ビルトインセルフテスト(PupBIST、P-BIT)
自動内蔵型ビルトインセルフテスト(ABIST)
ビルトインセルフテストは、集積回路(IC)の製造テストをより速く、安価に行うために使用される。ICには、ICの内部機能の全部または一部を検証する機能がある。これは顧客にとっても価値がある場合がある。たとえば、高度なフィールドバス(英語版)システムでは、機能を検証するためにBIST機構が用意されている。大まかに言えば、これはパーソナルコンピュータのBIOSが電源投入時にメモリやバスの自己診断を行うPOSTと似たものと見なすことができる。