反射型干渉分光法
白色光は複数層システムに垂直に入射される。システムはSiO2と高屈折率のTa2O5と更なるSiO2の層から成り、この更なるSiO2層は化学的に修正することができるものである。位相の境界ではどこでも白色光の部分光線が反射するか、または屈折して透過する。反射した部分光線は重なって干渉スペクトルになり、これはダイオードリニアアレイ分光計を通して検出される。 最上部のSiO2層は化学的な修正によって目的の分子と相互作用する状態になるまで変化させられる。この相互作用は物理的な厚さdとこの層の屈折率nの変更をもたらす。この二つを掛け合わせたもの、n • d は光学的な層の厚さとして定義される。 光学的な層の厚さの変化は干渉スペクトルの変調を導く。干渉スペクトルの変化を時間の経過と共に観察すれば、目的の分子の結合状態を追跡することが可能である。
基本的な計測原理はマイケルソン干渉計に相応する。