セクター型質量分析計
セクター型質量分析計(せくたーがたしつりょうぶんせきけい、英: sector mass spectrometer)とは、静電セクター、磁気セクター、またはこれら二つの(空間的に分離された)組み合わせを分析部に用いる質量分析計の分類である。広く普及しているセクター組み合わせとしては、BEB(磁気-電気-磁気)が挙げられる。最新のセクター型分析計は、イオンビームの方向および速度を収束させることのできる二重収束型質量分析計である。これは1936年にアーサー・ジェフリー・デンプスター、ケネス・ベインブリッジ、ヨーゼフ・マッタウフ(英語版)により開発された。
様々なセクターの配列を区別するために用いられる、古典的な構成の分類が存在する。しかし、現在の装置は設計がより進歩しているため、ほとんどはこれらの分類に厳密にあてはまらない。