ストレールレシオ
これは回折限界近くまで非常に良く較正されたシステム (これらはほとんどの望遠鏡と顕微鏡を含むが、例えばカメラの光学系は含まない) で有効である。
ストレールレシオは André Maréchal の業績を通じて許容収差理論 (これは非常に良く較正されたシステムの設計者にとって非常に有用である) にリンクされ、さらにこれが幾何光学における収差と物理光学における回折理論の有意義なリンクを許すことになる。ストレールレシオの画像評価法としての重大な欠点は、その設計値は光学系の設計書から比較的容易に計算可能であるが、主に理論的最大輝度 (を有する比較のための基準となる光学システム) を容易に利用可能ではないため、実際のシステムで計測するのは通常は難しいということである。
このレシオは大気かく乱の存在下でのシーイングの質の評価と、補償光学システムの性能評価で広く用いられている。また、ラッキー・イメージング法 (en:lucky imaging) における短時間露光画像の選択にも用いられている。