半導体製品製造技能士
1級 要素試験:膜厚の判定、測定装置の判定、ポジレジストのパターン形成時における異常状態の判定、半導体製造装置のガス系についての判定、イオン注入装置(中電流イオン注入機)の構成部品についての判定、薬品の容器と種類についての判定、異物の判定、IC製造工程の判定、配線工程での異常状態の判定等について行う。試験時間=40分 ペーパーテスト:エッチング、フォトリソグラフィ、CVD、スパッタリング、酸化、イオン注入、ガス・薬品、防塵管理等について行う。試験時間=1時間30分
2級 要素試験:膜厚の判定、測定装置の判定、ポジレジストのパターン形成時における最適条件の判定、半導体製造装置のガス系についての判定、イオン注入装置(中電流イオン注入機)の構成部品についての判定、薬品の容器と種類についての判定、異物の判定、IC製造工程の判定、配線工程での異常状態の判定等について行う。試験時間=40分 ペーパーテスト:エッチング、フォトリソグラフィ、CVD、スパッタリング、イオン注入、ガス・薬品、防塵管理等について行う。試験時間=1時間30分