제16579호                        관            보      2007. 8.31. (금요일)

구분   규   격   번     호   규                 격              명       규 격 내 용

                       반도체 소자-집적회로 제2-8부 : 디지털 집적회로-        붙             임
확인   KSCIEC60748-2-8
                       스태틱 메모리                              (관보게재시 생략)
                       반도체 소자-집적회로 제2-9부 : 디지털 집적회로-        붙             임
확인   KSCIEC60748-2-9
                       자외선 소거형 EPROM                        (관보게재시 생략)
                       반도체 소자-집적회로 제3-1부 : 아날로그 집적회로        붙             임
확인   KSCIEC60748-3-1
                       -OP 앰프                               (관보게재시 생략)
                                                            붙             임
확인    KSCIEC60748-3    반도체 소자-집적회로 제3부 : 아날로그 집적회로
                                                            (관보게재시 생략)
                       반도체소자-개별소자-제4-1부 : 마이크로파 다이오         붙             임
확인   KSCIEC60747-4-1
                       드 및 트랜지스터-마이크로파 FET-개별규격지침           (관보게재시 생략)
                       반도체소자-개별소자-제4-2부 : 마이크로파 다이오
                                                            붙             임
확인   KSCIEC60747-4-2   드 및 트랜지스터-집적회로 마이크로파 증폭기-개별
                                                            (관보게재시 생략)
                       규격지침
                       반도체소자-기계 및 기후적 환경 시험방법-제11부          붙             임
확인   KSCIEC60749-11
                       : 온도의 급격한 변화-두 개의 용액조 방법             (관보게재시 생략)
                       반도체소자-기계 및 기후적 환경 시험방법-제13부          붙             임
확인   KSCIEC60749-13
                       : 염수환경                               (관보게재시 생략)
                       반도체소자-기계 및 기후적 환경 시험방법-제3부 :         붙             임
확인    KSCIEC60749-3
                       외관 검사                                (관보게재시 생략)
                                                            붙       임
확인    KSCIEC60747-8    반도체소자-제8부 : 전계효과트랜지스터
                                                            (관보게재시 생략)
                                                            붙       임
확인   KSCIEC60050-521   반도체소자 및 집적회로용어
                                                            (관보게재시 생략)
                                                            붙       임
확인       KSC7203       신뢰성 보증 모놀리틱 연산 증폭기
                                                            (관보게재시 생략)
                                                            붙       임
확인       KSD0256       실리콘 단결정의 4탐칩법에 의한 저항률 측정 방법
                                                            (관보게재시 생략)
                                                            붙       임
확인   KSCIECPAS62161    안정상태 온-습도 바이어스 수명시험
                                                            (관보게재시 생략)
                                                            붙       임
확인       KSC6564       열식 유량센서의 시험방법
                                                            (관보게재시 생략)
                                                            붙       임
확인    KSCIEC60249-1    인쇄 회로용 기지 재료 제1부 : 시험 방법
                                                            (관보게재시 생략)
                       인쇄 회로용 기지재료 제2부 : 규격 규격 번호 18 :
                                                            붙             임
확인   KSCIEC60249-2-18 규정 가연성 비스말레이미드/트리아진 변형 에폭시화
                                                            (관보게재시 생략)
                       물 유리섬유 동입힘 적층판 (수직 연소 시험)
                       인쇄 회로용 기지재료 제2부 : 규격 규격 번호 19 : 다
                                                            붙             임
확인   KSCIEC60249-2-19 층 인쇄 기판 제조용 규정 가연성 박막 비스말레이미드
                                                            (관보게재시 생략)
                       /트리아진 변형 에폭시화물 유리 섬유 동입힘 적층판
                       인쇄 회로용 기지재료 제2부 : 규격 규격 번호 5 :
                                                            붙             임
확인   KSCIEC60249-2-5   규정 가연성 에폭시 유리 섬유 직물 동입힘 적층판
                                                            (관보게재시 생략)
                       (수직 연소 시험)

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