yakdoli/chandra-27b-ocr-v1 huggingface dataset:
[별표 2]
                  자연발생석면지역의 환경시료 중 석면 분석방법


Ⅰ. 암석편
1.0 개요
 1.1 목적
 편광현미경을 이용하여 암석시료 중 석면의 특성을 관찰하여 정성분석을 하기 위한 것이다.
 1.2 적용범위
 자연발생석면 지역의 노두로부터 채취한 암석시료 중의 석면 정성분석에 사용된다.
 1.3 조사지점 선정
 조사대상 지역의 행정복지센터를 기준으로 조사대상 지역을 구역(150 m × 150 m)으로 분할 한 다
음, 노두 조사 대상지점 구역을 선정한다.


2.0 용어 정의
 2.1 “굴절률(Refractive Index)”이라 함은 물질(시료)에 빛의 투과시 빛의 속도와 진공에서 빛의
속도 비를 말하며 이는 파장과 온도에 따라 변한다.
 2.2 “색”이라 함은 편광현미경의 개방니콜(Single polar 또는 open nicole)상에서 섬유나 미립자의
색을 말한다
 2.3 “다색성(Pleochroism)”이라 함은 편광현미경의 개방니콜 상에서 재물대를 회전시켰을 때 회전
각에 따라 나타나는 섬유나 미립자 색의 변화를 말한다.
 2.4 “형태(Morphology)”라 함은 섬유나 미립자의 모양, 결정구조, 길고 짧음 등을 말한다.
 2.5 “쪼개짐(Cleavage)”이라 함은 원자들의 결합이 약해서 일정한 방향으로 쪼개지거나 갈라지는
성질을 말한다. 모든 석면섬유는 한쪽 방향으로의 완전한 방향성을 가지고 있다.
 2.6 “간섭색(Interference Color)”이라 함은 상광선과 이상광선의 상호작용에 의해서 나타나는 색
으로 미립자의 두께와 방향, 복굴절률 등에 따라 다양하게 나타나며 광물 자체의 색은 아니다.
 2.7 “간섭상”이라 함은 편광경(conoscope) 장치(Bertrand lens를 넣었을 때)를 했을 때 빛의 간섭
이 나타나는 현상으로, 광축의 수에 따라 일축성과 이축성으로 나눌 수 있고, 각각 결정의 광학적 방향성
에 따라 양(+) 또는 음(-)의 간섭상으로 나누어진다.
 2.8 “신장율(elongation) 부호”라 함은 편광현미경의 직교니콜(Crossed Polars 또는 Crossed
Nicol)상에서 보정판(The First-Order Red Compensator)을 삽입했을 때 평행 굴절률(n∥))과 수직
굴절률(n⊥)의 크기에 따라 “양(+)” 또는 “음(-)”의 신장율 부호를 나타내는데 굴절률의 크기가
n∥〉n⊥일 경우 “양(+)”, 굴절률의 크기가 n∥〈 n⊥ 일 경우 “음(-)”의 부호이다. 보통, 청색이
북동-남서이고, 오렌지색이 북서-남동의 방향을 가리키고 있다면 양(+)의 신장율 부호를 의미한다.
(청석면은 음(-)의 신장율 부호, 백석면 등 5가지 석면은 양(+)의 신장율 부호를 갖는다.)
 2.9 “소광(Extinction)” 이라 함은 편광현미경의 직교니콜 상에서 이방성의 섬유나 미립자가 가장
어두워져 보이지 않는 현상을 말한다. 이방성의 섬유나 미립자의 갈라지는 성질(Cleavage)과 접안렌즈
의 십자선을 일치시킨 후 재물대를 회전시켜 광물이 없어질(가장 어둡게 될) 때의 사이각을 소광각이라
고 한다.
 2.10 “복굴절률(Birefringence; ‘B’)”이라 함은 이방성 광물에 빛이 투과될 때 최대 굴절률과 최
소 굴절률의 차이이다. 즉 높은 굴절률 값에서 낮은 굴절률 값을 뺀 값(n∥-n⊥)이다. 또는 이 복굴절률
은 방해파장(Retardation; ‘R’)과 두께(Thickness; ‘T’)로부터 구할 수 있으며, 이 값은 미셀-레
비 도표(The Michel Levy Chart)를 통해 B=R/1000T의 수식으로 구할 수 있다.


3.0 분석기기 및 기구
 3.1 편광현미경 : 100~400 배율
 3.1.1 대물렌즈 : 배율 10, 20, 40배 또는 이와 동등한 것
 3.1.2 접안렌즈 : 배율 10배 이상인 것
 3.1.3 십자선 접안렌즈 (Retic Eyepiece) : 십자선이 있는 것
 3.1.4 분산염색 대물렌즈 또는 이와 동등한 것
 3.1.5 보정판(The first order red plate compensator 또는 Bertrand lens)
     : 약 550 ± 20 nm
 3.1.6 재물대(Stage) : 360°회전가능
 3.1.7 상부 편광판(Analyzer)
 3.1.8 하부 편광판(Polarizer)
 3.2 작업후드 또는 글로브 박스 : 헤파필터(HEPA filter)가 장착된 장치
 3.3 기구
 3.3.1 시료 용기 : 10 ~ 50 mL 용량의 나사마개 있는 플라스틱 용기
 3.3.2 막자와 막자사발 또는 저속 핸드드릴 : 저속의 전동방식
 3.3.3 체(sieve) : KS 8호(2 mm) 및 200호(75 μm)
 3.3.4 핀셋, 바늘, 약숟가락, 외과용 칼 : 시료를 고정, 절단, 이동용
 3.3.5 투명종이(Glassine paper) 또는 깨끗한 유리판 : 시료 작업판용
 3.3.6 현미경용 슬라이드 유리 : 75 × 25 mm 이상
 3.3.7 현미경용 커버 유리 : 22 × 22 mm 이상


4.0 시약 및 표준시료
 4.1 시약
 4.1.1 분산염색을 위한 굴절액(Refractive index, RI liquids)
 4.1.1.1 석면 분석을 위한 주 굴절액의 굴절률
 1.550, 1.605, 1.620 1.680, 1.700
 4.1.1.2 필요에 따라 다른 섬유와 비교분석하기 위한 굴절액의 굴절률
        1.460, 1.500, 1.532, 1.540, 1.544, 1.556, 1.572, 1.588, 1.604, 1.608, 1.612, 1.615,
      1.616, 1.630, 1.635, 1.636, 1.640, 1.660, 1.662, 1.670, 1.705
 4.2 석면 표준 시료(Standard reference material)1)

 1) NIST(National Institute of Standards and Technology)의 1866b, 1867a 등
순수한 석면 또는 농도가 명시된 시판용 표준시료


5.0 시료채취 및 관리
 5.1 안전사항
 5.1.1 시료의 채취는 미세한 석면 섬유를 차단할 수 있는 헤파(HEPA)필터류가 장착된 마스크와 보호
복 등 모든 보호장비를 구비한 후 채취한다.
 5.1.2 시료의 채취는 물을 분무하는 등 가능한 섬유발생이 적도록 조치한다.
 5.2 시료의 채취
 5.2.1 일반적 요령
 5.2.1.1 암석시료의 채취는 일반적으로 자연발생석면지역에서 석면이 노출된 노두를 대상으로 표적시
료채취하거나 석면이 포함된 암석시편을 채취한다.
 5.2.1.2 여러 개의 시료를 채취 시 서로 오염의 영향을 주지 않도록 채취도구나 보호장비 등의 사용에
주의를 기울인다.
 5.2.2 채취도구
 5.2.2.1 채취도구는 시료의 채취과정 또는 보관 중에 침식되거나 녹이 나는 재질의 것을 사용해서는
안 된다.
 5.2.2.2 채취도구로는 정, 망치 등을 준비한다.
 5.2.2.3 여러 시료를 채취할 때는 서로 오염이 없도록 충분한 숫자의 채취도구를 준비하거나 안전하고
깨끗한 세척과정2)을 거쳐 사용한다.
 5.2.3 시료용기
 5.2.3.1 시료용기는 시료를 변질시키거나 흡착하지 않는 것이어야 하며 기밀하고 누수나 흡습성이 없
어야 한다.
 5.2.3.2 시료용기는 무색의 폴리에틸렌병, 폴리에틸렌백, 유리병을 사용하고 시료 중에 다른 물질의 혼
입이나 성분의 손실을 방지하기 위하여 밀봉할 수 있는 마개를 사용한다.
 5.2.3.3 시료용기의 표시는 시료의 성분명칭, 대상 시료의 양, 채취장소, 채취일자, 시료번호, 채취책임
자 이름, 시료의 양, 채취방법, 기타 참고자료 등을 기재한다.
 5.2.4 시료의 채취방법
 5.2.4.1 암석시료의 채취는 석면이 노출된 노두로부터 석면을 표적시료채취 방식으로 채취한다.
 5.2.4.2 가능한 경우 암석시료의 주변 암석분포확인을 위하여 박편을 제작할 수 있는 암석편을 채취한
다.
 5.2.5 시료의 보관
 5.2.5.1 채취 시료는 수분 등의 영향으로 재질의 변화가 일어나지 않도록 고온다습한 곳을 피하고 상온
에서 보관한다.
 5.2.5.2 채취 시료는 공기 중으로 비산되지 않도록 밀폐용기 또는 헤파필터가 장착된 후드 안에서 보관
한다.

 2) 세척과정은 공기 흡입방식과 물에 젖은 종이 또는 헝겊으로 세척 작업을 병행한다. 물로 세척하는 경우에는 물에서 석

 면을 제거하는 시설 또는 장치를 갖추어야 한다.
5.2.5.3 시료는 가급적 지정된 장소에 보관한다.
 5.2.6 시료의 폐기
 5.2.6.1 실험실에서 폐기되는 석면 함유시료나 석면으로 오염된 폐기물은 별도의 장소에 모아 폐기한
다.
 5.2.6.2 석면 폐기물은 처리량을 고려하여 주기적으로 처리한다.


6.0 정도보증/정도관리(QA/QC)
 6.1 교육
 분석 담당자에 대한 정기적인 교육이나 관련 정보교환 활동을 통해 석면에 대한 지식과 경험을 쌓도록
한다.
 6.2 시험 기기, 기구 및 시약의 관리
 6.2.1 시험 기기의 관리
 현미경을 사용하기 전에 현미경 일치성 확인을 해야 한다. 이는 1) 하부 편광판과 상부 편광판의 90도
일치, 2) 십자선의 일치, 3) 보정판의 진동방향의 적절한 일치, 4) 조리개안에서 시료의 상과 중심 초점
과의 일치, 5) 중심조정 등이 있다.
 6.2.2 현미경과 부속품
 현미경과 부속품은 최소 1년에 1회 이상 광원의 밝기, 집광장치, 배율 등의 전문적인 기술 서비스를
받아 전체적으로 청소를 하고 재조정이 필요하다.
 6.2.3 시험 기구의 관리
 석면분석 전 사용되는 분석기구, 분석 장비에 대한 오염여부를 수시로 점검한다. 슬라이드와 커버글라
스를 렌즈티슈로 닦고, 핀셋, 막자, 막자사발, 집게 등의 석면 오염을 확인하여 분석일지에 그 결과를 기
록한다.
 6.2.4 시험 시약의 관리
 굴절률 시약은 굴절률 측정기 등을 이용하여 주기적으로 그 굴절률을 확인하여 기록한다.
 6.3 내부 정도관리
 6.3.1 정성분석
 석면분석자는 편광현미경과 입체현미경을 사용하여 6가지 종류의 석면을 정확히 구분할 수 있어야 한
다. 분석자는 6가지 종류의 표준시료를 최소 1년 주기로 분석한다.
 6.4 외부 정도관리
 인증된 다른 석면분석기관 간의 교류를 통하여 서로의 분석능력을 확인하고 검증하며 분석역량을 유
지․개발한다.


7.0 분석절차
 7.1 시료 전처리
 7.1.1 건조
 7.1.1.1 표적시료채취한 시료는 시료에 붙은 이물질을 제거한 후 분쇄기 등을 이용하여 분쇄하고, 암석
시편으로 채취한 시료는 석면으로 의심되는 부분을 추출하여 분쇄한다.
7.1.1.2 분쇄한 시료는 조제하기 전 수분흡수와 오염의 위험성이 없는 넓은 용기에 5 ㎝ 이하의 두께로
암석시료를 고르게 편 후 가열등, 가열판, 건조기 등을 사용하여 100±5 ℃에서 암석시료의 총 무게손실
이 24시간 동안 5%(질량기준)이하 일 때까지 건조한다.
 7.1.1.3 모든 건조과정은 안전하게 헤파필터가 장착된 후드 내에서 수행한다.
 7.1.2 체가름
 7.1.2.1 건조과정이 끝난 암석시료 약 2g을 분취한 다음, 2 mm(KS 8호)체, 75 ㎛(KS 200호)체를
체가름을 실시하며, 75 ㎛체 위에 남아 있는 체잔류물이 10% 이하가 될 때까지 막자사발과 막자, 분쇄기
등을 이용하여 분쇄한 후 체를 통과시킨다.
 7.1.2.2 모든 체가름과정은 안전하게 헤파필터가 장착된 후드 내에서 수행한다.
 7.1.2.3 75 ㎛(KS 200호)체를 통과한 시료는 편광현미경을 이용하여 정성분석한다.
 7.1.3 굴절시약 처리
 7.1.3.1 슬라이드 유리 위에 굴절시약 1~3 방울을 떨어뜨린 후, 암석시료 일정량을 슬라이드 유리 위
굴절시약에 담그고 바늘, 핀셋 등으로 시료를 적절히 분산시켜 슬라이드 유리 위에 고르고 평평하게 배치
시킨다.
 7.1.3.2 굴절시약에 완전하게 담긴 시료가 있는 슬라이드 유리 위에 커버 유리로 덮고, 커버 유리를
핀셋이나 고무 등으로 살짝 눌러주어 공극을 제거한다.
 7.1.3.3 시료를 전처리할 때는 시료가 너무 적어 함유량 분석에 지장을 주거나 너무 많은 시료를 전처
리하여 정성분석 할 때 방해를 주지 않도록 하며, 커버 글라스 전체 면적의 20% 내외의 빈 공간이 생기
도록 하는 것이 좋다.
 7.2 정성평가
 7.2.1   석면의   정성분석은    시험물질의     형태,   굴절률,   다색성(pleochroism),   색깔,   복굴절률
(birefringence), 소광특성(extinction), 신장율 부호(sign of elongation), 분산염색(dispersion
staining color) 등 섬유나 광물의 광학 특성을 분석하여 석면의 정성분석이 이루어진다. [표 1]과 같이
시료의 굴절률, 형태 등의 점검표를 작성하여 시료별 석면 종류를 판단한다.
 7.2.2 시료를 1.550 굴절시약으로 처리하고 개방니콜 또는 직교니콜 상태로 반복하면서 시료를 확인
하고, 재물대를 회전하며 섬유형태를 면밀히 관찰한다. 만일 석면의 특성과 유사한 섬유가 발견되지 않는
다면 석면이 없는 것으로 판단한다.
 7.2.3 섬유를 발견하면, 직교니콜상태로 하여 섬유의 특성이                   등방성(isotropic)인지    이방성
(anisotropic)인지를 확인한다. 만일 모든 섬유가 등방성이고 추가한 전처리 시료도 등방성이면 석면이
없는 것으로 판정한다.
 7.2.4 섬유가 이방성이면 재물대를 회전시켜 소광각(angle of extinction)을 측정하여 기록하고 표 2
를 참조해 판정한다.
 7.2.5 현미경에 석고 검판(gypsum plate)을 삽입한 다음 신장율 부호를 측정한다. 청석면을 제외한
모든 종류의 석면섬유는 양(+)의 부호를 갖으며 음(-)의 부호를 가진 경우는 7.2.8의 단계로 가서 분석
한다.
 7.2.6 석고 검판(gypsum plate)을 제거하고, 개방니콜에서 섬유-굴절액의 경계선에서 청색과 금갈색
의 벡케선의 색(Becke color)을 관찰한다.
7.2.7 백석면의 확인
 7.2.7.1 백석면의 특징인 꼬임과 굴곡을 가진 다발 모양 등 섬유 형태를 관찰한다. 단, 꼬임이 있되 리
본 모양의 형태를 가진 섬유는 셀룰로오스 섬유일 수 있다. 이때는 섬유의 굴절률이 정확히 1.550 인지
를 보기 위해 벡케선의 이동을 관찰할 필요가 있다. 만약 섬유가 더 높은 굴절률을 보이면 7.2.10의 방법
으로 분석하고 그렇지 않으면 다음단계로 넘어간다.
 7.2.7.2 백석면을 확인하기 위해 분산염색용 대물렌즈를 끼우고 청색과 청-자홍색을 관찰한다. 이 검
사로 백석면이 확인되면 정량은 7.3.1의 분석방법에 따른다.
 7.2.8 청석면의 확인
 7.2.8.1 청석면을 확인하기 위해 시료를 1.680 굴절시약으로 처리하고 청석면의 형태를 관찰한다. 그
형태는 곧고, 강직한 모양으로 분산염색은 가로방향(n∥)에서 황금색을 띠고 세로방향(n⊥)에서는 연한
노란색을 나타낸다. 이 검사로 청석면이 확인되면 정량은 7.3.1의 분석방법에 따른다.
 7.2.8.2 청석면을 확인하기 위해 시료를 1.700 굴절시약으로 처리하고 청석면의 형태를 관찰한다. 그
형태는 곧고, 강직한 모양으로 청색 또는 자청색을 띤다. 다색성을 나타내어 회전각도에 따라 파란색 또
는 회색빛을 띠고 분산염색용 대물렌즈를 끼우고 관찰하면 붉은 자홍색과 파란 자홍색을 나타낸다. 이
검사로 청석면이 확인되면 정량은 7.3.1의 분석방법에 따른다.
 7.2.9 갈석면의 확인
 갈석면을 확인하기 위해 시료를 1.680 굴절시약으로 처리하고 갈석면의 형태를 관찰한다. 갈석면은
곧은   섬유와   빗자루    같은    섬유다발이거나       끝이   벌어진    모양이고     분산염색은   커밍토나이트
(cummingtonite) 형태는 연한 청색과 청색을 나타내며, 그루네라이트(grunerite) 형태는 청색과 금색
을 띤다. 이 검사로 갈석면이 확인되면 정량은 7.3.1의 분석방법에 따른다.
 7.2.10 안소필라이트-트레모라이트-악티노라이트의 확인
 7.2.10.1 안소필라이트-트레모라이트-악티노라이트를 확인하기 위해 1.605 굴절시약을 준비하고 안
소필라이트-트레모라이트-악티노라이트의 형태를 관찰한다. 이 섬유들의 굴절률은 같은 종 내에서도
다르며, 안소필라이트는 거의 평행소광을 보이므로, 이 특성을 이용해 트레모라이트와 악티노라이트의
구별이 가능하다. 세 섬유 모두 곧으며 쪼개지기도 한다.
 7.2.10.2 분산염색의 대물렌즈를 이용하여 관찰할 경우 안소필라이트는 청색과 황금색․금빛 자홍색을
나타낸다.
 7.2.10.3 트레모라이트는 연한 청색과 노란색을 나타낸다.
 7.2.10.4 악티노라이트는 개방니콜 하에서 밝은 녹색에서 어두운 녹색을 띠며 약간의 다색성을 보인
다. 악티노라이트의 분산염색은 노란색과 연한 노랑을 나타낸다.
 7.2.11 규회석3)과 안소필라이트의 비교
 규회석과 안소필라이트와의 비교를 위해서 시료를 굴절시약 처리 전에 진한 염산으로 시료가 있는 슬
라이드에 떨어뜨려 전처리하고 커버슬라이드를 덮고, 전열기 위에서 따뜻하게 하여 건조시킨다. 모세관
현상을 이용하여, 커버글라스 밑에 1.620 굴절시약을 넣고 편광현미경으로 관찰하면, 규회석은 “음영교
차(cross-hatched)" 형태를 띠고 분산염색을 보이지 않는 반면 트레모라이트와 안소필라이트는 분산염
색을 나타낸다.

 3) 규회석(wollastonite)은 안소필라이트와 거의 비슷한 성질을 가지고 있어 분석할 때 주의해야 한다.
7.3 투과전자현미경 분석
 편광현미경 분석결과 석면의 종류를 확인하기 곤란한 경우 투과전자현미경 분석을 실시할 수 있다.
 7.3.1 시편 전처리
 7.3.1.1 체가름을 통해 구분되어 나온 입자크기(75 ㎛ 미만)에 따라 제작한다.
 7.3.1.2 암석시료 100 mg~200 mg을 칭량하여 증류수에 넣어 100 mL 용액를 만든다.
 7.3.1.3 교반기를 이용하여 5분간 암석시료가 골고루 분산될 수 있도록 교반 후 30초 간 큰 입자들을
침강하게 한 후 용기의 중간지점에서 여과지의 크기에 따라 시료가 그리드 면적의 20% 내외로 분포하도
록 1 mL 또는 10 mL를 분취한 다음 MCE 필터(D 25 ㎜ 또는 47 ㎜, pore size 0.45 ㎛)로 여과한다.
 7.3.1.4 여과된 필터는 데시케이터 안에서 48시간 건조한다.
 7.3.2 필터를 이용한 시편제작
 7.3.2.1 여과된 필터를 1/4로 절개하고 투명화 용액(dimethylformamide 35 mL + glacial acetic
acid 15 mL + Water 50 mL)으로 투명화한다.
 7.3.2.2 플라즈마 회화장치(Plasma Asher)를 이용하여 필터표면 두께의 약 10%를 에칭(etching)처
리한다.
 7.3.2.3      탄소     코팅기(Carbon      Coater)로    코팅하고,          Grid에   정착시킨       후   포화용액
(dimethylformamide 50% + acetone 50%)이 든 Jaffe washer로 필터를 녹인 다음 건조한다.
 7.3.3 드롭 마운트 스크리닝
 7.3.3.1 필터를 이용한 분석이 원활하지 않은 경우 드롭 마운트 스크리닝 방법을 이용하여 투과현미경
분석을 실시할 수 있다.
 7.3.3.2 신틸레이션 바이알(Scintillation vial) 또는 이와 동등한 것에 약 20~100 mg의 암석시료를
넣고 2~5 mL의 에탄올 또는 기타 알코올을 추가하여 현탁시킨 다음, 현탁액을 3분 동안 초음파처리한
다.
 7.3.3.3 현탁액을 흔들면서 바로 3 μL 분취량을 추출하여 탄소 코팅된 그리드에 떨어뜨린 다음 건조
시킨다음, 두 번째 분취량도 이 과정을 반복한다. 같은 방법으로 또 다른 그리드(직경 3mm, 200 메쉬)
를 만든다.
 7.3.3.4 건조되는 동안 드롭이 그리드 안에서 비활성상태로 그리드 표면을 벗어나지 않도록 한다.
 7.3.4 정성 분석
 7.3.4.1 정성분석은 다음 각 호의 방법으로 실시할 수 있다.
     1.   국제표준기구(International       Standard   Organization)    시험법    :   ISO   22262-1   Air
          quality-Bulk materials-Part 1(Sampling and qualitative determination of asbestos in
          commercial bulk materials, 2012)
     2. 제1호와 동등하게 투과전자현미경을 이용한 석면 분석방법을 제시하는 미국 환경청(US EPA),
          미국 국립산업안전보건연구원(NIOSH) 등의 석면 정성 분석방법
8.0 결과보고
 8.1 정성 분석
 편광현미경으로 암석시료를 관찰하여 [서식 1]의 양식으로 기록하여 석면의 종류를 확인하고, 검출된
석면은 사진촬영 한다.[서식 2]
Ⅱ. 토양편
1.0 개요
 1.1 목적
 편광현미경을 이용하여 토양시료 중 석면의 특성을 관찰하여 정성․정량분석을 하기 위한 것이다.
 1.2 적용범위
 토양시료 중의 석면분석에 사용되며 편광현미경으로 판단할 수 있는 석면의 정량범위(400 포인트 계
수법)는 0.25~100% 이다. 유효측정한계는 0.25% 이상으로 한다.
 1.3 조사지점 선정
 조사대상 지역의 행정복지센터를 기준으로 조사대상 지역을 구역(100 m × 100 m)으로 분할 한 다
음, 토양 조사 대상지점 구역을 선정한다.


2.0 용어 정의
 2.1 “굴절률(Refractive Index)”이라 함은 물질(시료)에 빛의 투과시 빛의 속도와 진공에서 빛의
속도 비를 말하며 이는 파장과 온도에 따라 변한다.
 2.2 “색”이라 함은 편광현미경의 개방니콜(Single polar 또는 open nicole)상에서 섬유나 미립자의
색을 말한다
 2.3 “다색성(Pleochroism)”이라 함은 편광현미경의 개방니콜 상에서 재물대를 회전시켰을 때 회전
각에 따라 나타나는 섬유나 미립자 색의 변화를 말한다.
 2.4 “형태(Morphology)”라 함은 섬유나 미립자의 모양, 결정구조, 길고 짧음 등을 말한다.
 2.5 “쪼개짐(Cleavage)”이라 함은 원자들의 결합이 약해서 일정한 방향으로 쪼개지거나 갈라지는
성질을 말한다. 모든 석면섬유는 한쪽 방향으로의 완전한 방향성을 가지고 있다.
 2.6 “간섭색(Interference Color)”이라 함은 상광선과 이상광선의 상호작용에 의해서 나타나는 색
으로 미립자의 두께와 방향, 복굴절률 등에 따라 다양하게 나타나며 광물 자체의 색은 아니다.
 2.7 “간섭상”이라 함은 편광경(conoscope) 장치(Bertrand lens를 넣었을 때)를 했을 때 빛의 간섭
이 나타나는 현상으로, 광축의 수에 따라 일축성과 이축성으로 나눌 수 있고, 각각 결정의 광학적 방향성
에 따라 양(+) 또는 음(-)의 간섭상으로 나누어진다.
 2.8 “신장율(elongation) 부호”라 함은 편광현미경의 직교니콜(Crossed Polars 또는 Crossed
Nicol)상에서 보정판(The First-Order Red Compensator)을 삽입했을 때 평행 굴절률(n∥))과 수직
굴절률(n⊥)의 크기에 따라 “양(+)” 또는 “음(-)”의 신장율 부호를 나타내는데 굴절률의 크기가
n∥〉n⊥일 경우 “양(+)”, 굴절률의 크기가 n∥〈 n⊥ 일 경우 “음(-)”의 부호이다. 보통, 청색이
북동-남서이고, 오렌지색이 북서-남동의 방향을 가리키고 있다면 양(+)의 신장율 부호를 의미한다.
(청석면은 음(-)의 신장율 부호, 백석면 등 5가지 석면은 양(+)의 신장율 부호를 갖는다.)
 2.9 “소광(Extinction)” 이라 함은 편광현미경의 직교니콜 상에서 이방성의 섬유나 미립자가 가장
어두워져 보이지 않는 현상을 말한다. 이방성의 섬유나 미립자의 갈라지는 성질(Cleavage)과 접안렌즈
의 십자선을 일치시킨 후 재물대를 회전시켜 광물이 없어질(가장 어둡게 될) 때의 사이각을 소광각이라
고 한다.
 2.10 “복굴절률(Birefringence; ‘B’)”이라 함은 이방성 광물에 빛이 투과될 때 최대 굴절률과 최
소 굴절률의 차이이다. 즉 높은 굴절률 값에서 낮은 굴절률 값을 뺀 값(n∥-n⊥)이다. 또는 이 복굴절률
은 방해파장(Retardation; ‘R’)과 두께(Thickness; ‘T’)로부터 구할 수 있으며, 이 값은 미셀-레
비 도표(The Michel Levy Chart)를 통해 B=R/1000T의 수식으로 구할 수 있다.
 2.11 “비산성 석면”이라 함은 토양시료를 분쇄하지 않고 75 ㎛ 체를 통과한 전처리 시료에서 분석된
석면을 말한다.
 2.12 “잠재성 석면”이라 함은 토양시료를 분쇄하지 않고 75 ㎛ 체를 이용하여 체가름을 실시한 후
75 ㎛ 체 위의 시료가 90% 이상 통과하도록 분쇄하여 체가름한 전처리 시료에서 분석된 석면을 말한다.


3.0 분석기기 및 기구
 3.1 편광현미경 : 100~400 배율
 3.1.1 대물렌즈 : 배율 10, 20, 40배 또는 이와 동등한 것
 3.1.2 접안렌즈 : 배율 10배 이상인 것
 3.1.3 십자선 접안렌즈 (Retic Eyepiece) : 십자선이 있는 것
 3.1.4 분산염색 대물렌즈 또는 이와 동등한 것
 3.1.5 보정판(The first order red plate compensator 또는 Bertrand lens)
     : 약 550 ± 20 nm
 3.1.6 재물대(Stage) : 360°회전가능
 3.1.7 상부 편광판(Analyzer)
 3.1.8 하부 편광판(Polarizer)
 3.2 작업후드 또는 글로브 박스 : 헤파필터(HEPA filter)가 장착된 장치
 3.3 기구
 3.3.1 시료 용기 : 10~50 mL 용량의 나사마개 있는 플라스틱 용기
 3.3.2 막자와 막자사발 또는 저속 핸드드릴 : 저속의 전동방식
 3.3.3 체(sieve) : KS 8호(2 mm) 및 200호(75 μm)
 3.3.4 핀셋, 바늘, 약숟가락, 외과용 칼 : 시료를 고정, 절단, 이동용
 3.3.5 투명종이(Glassine paper) 또는 깨끗한 유리판 : 시료 작업판용
 3.3.6 현미경용 슬라이드 유리 : 75 × 25 mm 이상
 3.3.7 현미경용 커버 유리 : 30 × 22 mm 이상


4.0 시약 및 표준시료
 4.1 시약
 4.1.1 분산염색을 위한 굴절액(Refractive index, RI liquids)
 4.1.1.1 석면 분석을 위한 주 굴절액의 굴절률
 1.550, 1.605, 1.620 1.680, 1.700
 4.1.1.2 필요에 따라 다른 섬유와 비교분석하기 위한 굴절액의 굴절률
     1.460, 1.500, 1.532, 1.540, 1.544, 1.556, 1.572, 1.588, 1.604, 1.608, 1.612, 1.615,
      1.616, 1.630, 1.635, 1.636, 1.640, 1.660, 1.662, 1.670, 1.705
4.2 석면 표준 시료(Standard reference material)4)
     순수한 석면 또는 농도가 명시된 시판용 표준시료


5.0 시료채취 및 관리
 5.1 안전사항
 5.1.1 시료의 채취는 미세한 석면 섬유를 차단할 수 있는 헤파(HEPA)필터류가 장착된 마스크와 보호
복 등 모든 보호장비를 구비한 후 채취한다.
 5.1.2 시료의 채취는 물을 분무하는 등 가능한 섬유발생이 적도록 조치한다.
 5.2 시료의 채취
 5.2.1 일반적 요령
 5.2.1.1 토양시료의 채취는 일반적으로 석면으로 인한 토양오염이 우려되는 지역을 대상으로 채취한
다.
 5.2.1.2 여러 개의 시료를 채취 시 서로 오염의 영향을 주지 않도록 채취도구나 보호장비 등의 사용에
주의를 기울인다.
 5.2.2 채취도구
 5.2.2.1 채취도구는 시료의 채취과정 또는 보관 중에 침식되거나 녹이 나는 재질의 것을 사용해서는
안 된다.
 5.2.2.2 채취도구로는 토양오염공정시험기준의 토양시료채취기 또는 모종삽 등을 준비한다.
 5.2.2.3 여러 시료를 채취할 때는 서로 오염이 없도록 충분한 숫자의 채취도구를 준비하거나 안전하고
깨끗한 세척과정5)을 거쳐 사용한다.
 5.2.3 시료용기
 5.2.3.1 시료용기는 시료를 변질시키거나 흡착하지 않는 것이어야 하며 기밀하고 누수나 흡습성이 없
어야 한다.
 5.2.3.2 시료용기는 무색의 폴리에틸렌병, 폴리에틸렌백, 유리병을 사용하고 시료 중에 다른 물질의 혼
입이나 성분의 손실을 방지하기 위하여 밀봉할 수 있는 마개를 사용한다.
 5.2.3.3 시료용기의 표시는 시료의 성분명칭, 대상 시료의 양, 채취장소, 채취일자, 시료번호, 채취책임
자 이름, 시료의 양, 채취방법, 기타 참고자료 등을 기재한다.
 5.2.4 시료의 채취방법
 5.2.4.1 토양시료의 채취는 지형여건 및 토지이용현황을 고려하여 5~20 m 간격으로 8방위 또는 갈지
자형 시료채취법에 따라 총 10개 지점을 선정한다.




 4) NIST(National Institute of Standards and Technology)의 1866b, 1867a 등

 5) 세척과정은 공기 흡입방식과 물에 젖은 종이 또는 헝겊으로 세척 작업을 병행한다. 물로 세척하는 경우에는 물에서 석

 면을 제거하는 시설 또는 장치를 갖추어야 한다.
8방위 시료채취법     갈지자형 시료채취법


 5.2.4.2 토양시료 채취시 각 채취지점별로 토양표면(0 ~ 30 cm 심도)의 토양을 19 mm 체 등으로
잡초 및 돌 등 큰 이물질을 제거한 후 토양시료채취기로 약 0.5 kg씩 채취한다. 다만, 토양시료채취기가
없을 때는 모종삽 또는 삽 등과 같은 기구를 사용할 수 있다. 채취한 토양시료를 4분법 등을 이용하여
최대한 고르게 10회 이상 혼합하여 균질화한 후 이 중 약 500 g을 분취하여 시료용기에 넣어 보관한다.
 5.2.5 시료의 보관
 5.2.5.1 채취 시료는 수분 등의 영향으로 재질의 변화가 일어나지 않도록 고온다습한 곳을 피하고 상온
에서 보관한다.
 5.2.5.2 채취 시료는 공기 중으로 비산되지 않도록 밀폐용기 또는 헤파필터가 장착된 후드 안에서 보관
한다.
 5.2.5.3 시료는 가급적 지정된 장소에 보관한다.
 5.2.6 시료의 폐기
 5.2.6.1 실험실에서 폐기되는 석면 함유토양이나 석면으로 오염된 폐기물은 별도의 장소에 모아 폐기
한다.
 5.2.6.2 석면 폐기물은 처리량을 고려하여 주기적으로 처리한다.


6.0 정도보증/정도관리(QA/QC)
 6.1 교육
 분석 담당자에 대한 정기적인 교육이나 관련 정보교환 활동을 통해 석면에 대한 지식과 경험을 쌓도록
한다.
 6.2 시험 기기, 기구 및 시약의 관리
 6.2.1 시험 기기의 관리
 현미경을 사용하기 전에 현미경 일치성 확인을 해야 한다. 이는 1) 하부 편광판과 상부 편광판의 90도
일치, 2) 십자선의 일치, 3) 보정판의 진동방향의 적절한 일치, 4) 조리개안에서 시료의 상과 중심 초점
과의 일치, 5) 중심조정 등이 있다.
 6.2.2 현미경과 부속품
 현미경과 부속품은 최소 1년에 1회 이상 광원의 밝기, 집광장치, 배율 등의 전문적인 기술 서비스를
받아 전체적으로 청소를 하고 재조정이 필요하다.
 6.2.3 시험 기구의 관리
석면분석 전 사용되는 분석기구, 분석 장비에 대한 오염여부를 수시로 점검한다. 슬라이드와 커버글라
스를 렌즈티슈로 닦고, 핀셋, 막자, 막자사발, 집게 등의 석면 오염을 확인하여 분석일지에 그 결과를 기
록한다.
 6.2.4 시험 시약의 관리
 굴절률 시약은 굴절률 측정기 등을 이용하여 주기적으로 그 굴절률을 확인하여 기록한다.
 6.3 내부 정도관리
 6.3.1 정성분석
 석면분석자는 편광현미경과 입체현미경을 사용하여 6가지 종류의 석면을 정확히 구분할 수 있어야 한
다. 분석자는 6가지 종류의 표준시료를 최소 1년 주기로 분석한다.
 6.3.2 정량분석
 정량분석은 점계수법(point counting)을 사용하여 정량한다.
 6.4 외부 정도관리
 인증된 다른 석면분석기관 간의 교류를 통하여 서로 간의 분석능력을 확인하고 검증하며 분석역량을
유지․개발한다.


7.0 분석절차
 7.1 시료 전처리
 7.1.1 건조
 7.1.1.1 채취한 시료는 2mm 이상의 돌, 나무 등의 협잡물을 제거한다. 이때 제거되는 물질에 포함되는
토양시료의 양이 최소화되도록 주의한다.
 7.1.1.2 채취한 시료는 조제하기 전 수분흡수와 오염의 위험성이 없는 넓은 용기에 5 ㎝ 이하의 두께로
토양시료를 고르게 편 후 가열등, 가열판, 건조기 등을 사용하여 100±5℃에서 토양시료의 총 무게손실
이 24시간 동안 5%(질량기준)이하 일 때까지 건조하거나, 시료 중 셀룰로오즈 및 합성 고분자물질 등
유기결합재가 많을 경우 약 450℃에서 6시간 정도 가열한다.
 7.1.1.3 건조하는 동안 큰 덩어리(15 mm 이상)는 오염에 주의하면서 나무망치나 막자 등을 이용하여
손으로 가볍게 분쇄하는 것이 좋다. 모든 건조과정은 안전하게 헤파필터가 장착된 후드 내에서 수행한다.
 7.1.2 체가름
 7.1.2.1 건조과정이 끝난 토양시료 약 300 g을 분취한 다음, 2 mm(KS 8호)체, 75 ㎛(KS 200호)체
를 사용하여 5분 이상 통과시킨 후 각 체에 남아있는 토양과 최종 체가름 후 토양의 무게를 각각 잰다.
이때, 75 ㎛(KS 200호)체를 통과한 토양은 비산성 석면시료(a0)로 구분하여 분리한다.
 7.1.2.2 75 ㎛ 체위에 남아 있는 체잔류물이 10% 이하가 될 때 까지 막자사발과 막자, 분쇄기 등을
이용하여 분쇄한 후 체를 통과한 토양을 잠재성 석면시료(a1)로 한다. 모든 체가름과정은 안전하게 헤파
필터가 장착된 후드 내에서 수행한다.
 7.1.2.3 잠재성 시료와 비산성시료는 편광현미경을 이용하여 점계수법으로 분석한다.
 7.1.3 굴절시약 처리
 7.1.3.1 슬라이드 유리 위에 굴절시약 1~3 방울을 떨어뜨린 후, 토양시료 약 5 mg을 슬라이드 유리
위 굴절시약에 담그고 바늘, 핀셋 등으로 시료를 적절히 분산시켜 슬라이드 유리 위에 고르고 평평하게
배치시킨다.
 7.1.3.2 굴절시약에 완전하게 담긴 시료가 있는 슬라이드 유리 위에 커버 유리로 덮고, 커버 유리를
핀셋이나 고무 등으로 살짝 눌러주어 공극을 제거한다.
 7.1.3.3 시료를 전처리할 때는 시료가 너무 적어 함유량 분석에 지장을 주거나 너무 많은 시료를 전처
리하여 정성분석 할 때 방해를 주지 않도록 하며, 커버 글라스 전체 면적의 20% 내외의 빈 공간이 생기
도록 하는 것이 좋다.
 7.2 정성평가
 7.2.1   석면의   정성분석은    시험물질의     형태,    굴절률,   다색성(pleochroism),   색깔,   복굴절률
(birefringence), 소광특성(extinction), 신장율 부호(sign of elongation), 분산염색(dispersion
staining color) 등 섬유나 광물의 광학 특성을 분석하여 석면의 정성분석이 이루어진다. [표 1]과 같이
시료의 굴절률, 형태 등의 점검표를 작성하여 시료별 석면 종류를 판단한다.
 7.2.2 시료를 1.550 굴절시약으로 처리하고 개방니콜 또는 직교니콜 상태로 반복하면서 시료를 확인
하고, 재물대를 회전하며 섬유형태를 면밀히 관찰한다. 만일 석면의 특성과 유사한 섬유가 발견되지 않는
다면 석면이 없는 것으로 판단한다.
 7.2.3 섬유를 발견하면, 직교니콜상태로            하여   섬유의 특성이       등방성(isotropic)인지    이방성
(anisotropic)인지를 확인한다. 만일 모든 섬유가 등방성이고 추가한 전처리 시료도 등방성이면 석면이
없는 것으로 판정한다.
 7.2.4 섬유가 이방성이면 재물대를 회전시켜 소광각(angle of extinction)을 측정하여 기록하고 표 2
를 참조해 판정한다.
 7.2.5 현미경에 석고 검판(gypsum plate)을 삽입한 다음 신장율 부호를 측정한다. 청석면을 제외한
모든 종류의 석면섬유는 양(+)의 부호를 갖으며 음(-)의 부호를 가진 경우는 7.2.8의 단계로 가서 분석
한다.
 7.2.6 석고 검판(gypsum plate)을 제거하고, 개방니콜에서 섬유-굴절액의 경계선에서 청색과 금갈색
의 벡케선의 색(Becke color)을 관찰한다.
 7.2.7 백석면의 확인
 7.2.7.1 백석면의 특징인 꼬임과 굴곡을 가진 다발 모양 등 섬유 형태를 관찰한다. 단, 꼬임이 있되 리
본 모양의 형태를 가진 섬유는 셀룰로오스 섬유일 수 있다. 이때는 섬유의 굴절률이 정확히 1.550 인지
를 보기 위해 벡케선의 이동을 관찰할 필요가 있다. 만약 섬유가 더 높은 굴절률을 보이면 7.2.10의 방법
으로 분석하고 그렇지 않으면 다음 단계로 넘어간다.
 7.2.7.2 백석면을 확인하기 위해 분산염색용 대물렌즈를 끼우고 청색과 청-자홍색을 관찰한다. 이 검
사로 백석면이 확인되면 정량은 7.3.1의 분석방법에 따른다.
 7.2.8 청석면의 확인
 7.2.8.1 청석면을 확인하기 위해 시료를 1.680 굴절시약으로 처리하고 청석면의 형태를 관찰한다. 그
형태는 곧고, 강직한 모양으로 분산염색은 가로방향(n∥)에서 황금색을 띠고 세로방향(n⊥)에서는 연한
노란색을 나타낸다. 이 검사로 청석면이 확인되면 정량은 7.3.1의 분석방법에 따른다.
 7.2.8.2 청석면을 확인하기 위해 시료를 1.700 굴절시약으로 처리하고 청석면의 형태를 관찰한다. 그
형태는 곧고, 강직한 모양으로 청색 또는 자청색을 띤다. 다색성을 나타내어 회전각도에 따라 파란색 또
는 회색빛을 띠고 분산염색용 대물렌즈를 끼우고 관찰하면 붉은 자홍색과 파란 자홍색을 나타낸다. 이
검사로 청석면이 확인되면 정량은 7.3.1의 분석방법에 따른다.
 7.2.9 갈석면의 확인
 갈석면을 확인하기 위해 시료를 1.680 굴절시약으로 처리하고 갈석면의 형태를 관찰한다. 갈석면은
곧은   섬유와    빗자루   같은    섬유다발이거나       끝이   벌어진    모양이며     분산염색은   커밍토나이트
(cummingtonite) 형태는 연한 청색과 청색을 나타내며, 그루네라이트(grunerite) 형태는 청색과 황금
색을 띤다. 이 검사로 갈석면이 확인되면 정량은 7.3.1의 분석방법에 따른다.
 7.2.10 안소필라이트-트레모라이트-악티노라이트의 확인
 7.2.10.1 안소필라이트-트레모라이트-악티노라이트를 확인하기 위해 1.605 굴절시약을 준비하고 안
소필라이트-트레모라이트-악티노라이트의 형태를 관찰한다. 이 섬유들의 굴절률은 같은 종 내에서도
다르며, 안소필라이트는 거의 평행소광을 보이므로, 이 특성을 이용해 트레모라이트와 악티노라이트의
구별이 가능하다. 세 섬유 모두 곧으며 쪼개지기도 한다.
 7.2.10.2 분산염색의 대물렌즈를 이용하여 관찰할 경우 안소필라이트는 청색과 황금색․금빛 자홍색을
나타낸다.
 7.2.10.3 트레모라이트는 연한 청색과 노란색을 나타낸다.
 7.2.10.4 악티노라이트는 개방니콜 하에서 밝은 녹색에서 어두운 녹색을 띠며 약간의 다색성을 보인
다. 악티노라이트의 분산염색은 노란색과 연한 노랑을 나타낸다.
 7.2.11 규회석6)과 안소필라이트의 비교
 규회석과 안소필라이트와의 비교를 위해서 시료를 굴절시약 처리 전에 진한 염산으로 시료가 있는 슬
라이드에 떨어뜨려 전처리하고 커버슬라이드를 덮고, 전열기 위에서 따뜻하게 하여 건조시킨다. 모세관
현상을 이용하여, 커버글라스 밑에 1.620 굴절시약을 넣고 편광현미경으로 관찰하면, 규회석은 “음영교
차(cross-hatched)" 형태를 띠고 분산염색을 보이지 않는 반면 트레모라이트와 안소필라이트는 분산염
색을 나타낸다.
 7.3 정량평가
 7.3.1 편광현미경을 이용한 점계수법(point counting)
 7.3.1.1 “석면 섬유”는 장단비가 3:1 이상을 지닌 광물질의 섬유를 말하며, 석면의 계수(counting)
는 길이 5 ㎛ 이상이고, 폭 3 ㎛ 이하 인 것으로 한다.
 7.3.1.2 토양 중 석면 정량을 위한 점계수법은 총 400지점을 계수하는 것으로 하나의 시료에 대해 적
어도 8개의 슬라이드를 필요로 한다. 이는 1개의 슬라이드에서 50지점씩 계수하는 것을 의미한다.
 7.3.1.3 토양 중 석면 정량은 점계수법에 따라 수행하되 다음의 절차에 따른다.
 7.3.1.3.1 각각의 섬유위에 직접 위치하고 있는 지점수를 기록한다.
 7.3.1.3.2 만일 같은 섬유에 두 지점이 중복되어 위치하면 한 지점으로 기록한다.
 7.3.1.3.3 섬유의 가장자리에 위치하고 있는 지점수를 기록한다.
 7.3.1.3.4 만일 석면 섬유와 토양입자가 겹치면, 한 지점은 양쪽 범주에 저장된다.
 7.3.1.3.5 만일 시험된 지점의 구조가 다음의 예와 같이 모호한 경우, 석면이 없는 것으로 기록한다.
 - 분산염색의 관찰이 어려운 섬유

 6) 규회석(wollastonite)은 안소필라이트와 거의 비슷한 성질을 가지고 있어 분석할 때 주의해야 한다.
- 크기가 너무 작아서 구분이 힘든 구조
 7.3.1.3.6 섬유매트 혹은 다발은 하나의 섬유로 계수한다.
 7.3.1.3.7 비산성 석면으로 계수된 석면은 현미경 배율을 400×으로 하여 폭과 길이를 측정한 다음
석면 수를 기록한다.
 7.3.1.4 정량은 현미경 배율을 100×으로 하여 평가한다.
 7.3.1.5 계수를 위해 상용화된 100지점 십자선, 25지점 십자선 또는 표준 십자선 등을 사용할 수 있으
며, 100지점 십자선 또는 25지점 십자선을 사용하는 경우 무작위로 선택된 최소 2개 필드 내에서 25개
지점을 계수하는 방법을 이용한다. 표준 십자선을 사용하는 경우 선택영역에서 임의로 최소한 50개 지점
을 계수한다.
 7.3.2 계산
 7.3.2.1 비산성 석면의 함량(%)은 다음 식에 의해 계산된다.
                                      a
                                         
                         비산성 석면 ％ =  × 
                                      n
    a0=75 ㎛체를 통과한 시료에서 계수된 석면 수
    n=계수된 비어있지 않은 지점수(400)
    a0=0인 경우는 “0.25 % 미만”으로 한다.
 7.3.2.2 잠재성 석면의 함량(%)은 다음 식에 의해 계산된다.
                                      a
                                         
                         잠재성 석면 ％ =  × 
                                      n
    a1=75 ㎛체 위에 남아있는 토양을 분쇄한 후 최종 통과한 시료에서 계수된 석면 수
    n=계수된 비어있지 않은 지점수(400)
    a1=0인 경우는 “0.25 % 미만”으로 한다.
 7.4 투과전자현미경 분석
 편광현미경 분석결과 석면의 함량이 불검출인 시료에 대하여 필요한 경우 투과전자현미경 분석을 실시
할 수 있다.
 7.4.1 시편 전처리
 7.4.1.1 체가름을 통해 구분되어 나온 단계별 토양입자크기 중 75 ㎛ 미만을 시편으로 제작한다.
 7.4.1.2 토양시료 100 mg~200 mg을 칭량하여 증류수에 넣어 100 mL 용액를 만든다.
 7.4.1.3 교반기를 이용하여 5분간 토양시료가 골고루 분산될 수 있도록 교반 후 30초 간 큰 입자들을
침강하게 한 후 용기의 중간지점에서 여과지의 크기에 따라 시료가 그리드 면적의 20% 내외로 분포하도
록 1 mL 또는 10 mL를 분취한 다음 MCE 필터(D 25 ㎜ 또는 47 ㎜, pore size 0.45 ㎛)로 여과한다.
 7.4.1.4 여과된 필터는 데시케이터 안에서 48시간 건조한다.
 7.4.2 필터를 이용한 시편제작
 7.4.2.1 여과된 필터를 1/4로 절개하고 투명화 용액(dimethylformamide 35 mL + glacial acetic
acid 15 mL + Water 50 mL)으로 투명화한다.
 7.4.2.2 플라즈마 회화장치(Plasma Asher, EMITECHK1050K, KENT, United Kingdom)를 이용
하여 필터표면 두께의 약 10%를 에칭(etching)처리한다.
7.4.2.3 탄소 코팅기(Carbon Coater)로 코팅하여 Grid에 정착시킨 후 포화용액(dimethylformamide
50% + acetone 50%)이 든 Jaffe washer로 필터를 녹인 다음 건조한다.
 7.4.3 드롭 마운트 스크리닝
 7.4.3.1 필터를 이용한 분석이 원활하지 않은 경우 드롭 마운트 스크리닝 방법을 이용하여 투과현미경
분석을 실시할 수 있다.
 7.4.3.2 신틸레이션 바이알(Scintillation vial) 또는 이와 동등한 것에 약 20~100 mg의 토양시료를
넣고 2~5 mL의 에탄올 또는 기타 알코올을 추가하여 현탁시킨 다음, 현탁액을 3분 동안 초음파처리한
다.
 7.4.3.3 현탁액을 흔들면서 바로 3 μL 분취량을 추출하여 탄소 코팅된 그리드에 떨어뜨린 다음 건조
시킨 후, 두 번째 분취량도 이 과정을 반복한다. 같은 방법으로 또 다른 그리드(직경 3 mm, 200 메쉬)를
만든다.
 7.4.3.3 건조되는 동안 드롭이 그리드 안에서 비활성상태로 그리드 표면을 벗어나지 않도록 한다.
 7.4.4 정성·정량 분석
 7.4.4.1 석면으로 분류되는 섬유상광물은 길이 대 지름 비(aspect ratio)가 3:1 이상인 것을 대상으로
한다. 이는 위상차현미경을 이용한 공기 중 석면 계수기준과 일관성을 유지하기 위함이다.
 7.4.4.2 투과전자현미경에 의한 석면의 계수는 길이 5 ㎛ 이상, 폭 0.25 ~ 3 ㎛ 인 것을 대상으로 한
다.
 7.4.4.3 기타 정성분석에 대한 세부사항은 다음 각 호의 방법을 준용한다.
     1. 미국 재료시험학회(American Society for Testing Materials) ASTM D7521-16 Standard
          Test Method for Determination of Asbestos in Soil(ASTM International, 2016)
     2.   국제표준기구(International       Standard   Organization)   시험법    :   ISO   22262-1   Air
          quality-Bulk materials-Part 1 (Sampling and qualitative determination of asbestos in
          commercial bulk materials, 2012)
     3. 제1호와 동등하게 투과전자현미경을 이용한 석면 분석방법을 제시하는 미국 환경청(US EPA),
          미국 국립산업안전보건연구원(NIOSH) 등의 석면 정성 분석방법
 7.4.4.4 기타 정량분석에 대한 세부사항은 다음 각 호의 방법을 준용한다.
     1. 미국 재료시험학회(American Society for Testing Materials) ASTM D7521-16 Standard
          Test Method for Determination of Asbestos in Soil(ASTM International, 2016)
     2.   국제표준기구(International       Standard   Organization)   시험법    :   ISO   22262-2   Air
          quality-Bulk materials-Part 2 (Quantative determination of asbestos by gravimetric
          and microscopical methods, 2014)
     3. 그 외 국제적으로 통용되는 투과전자현미경을 이용한 석면 정량 분석방법
 7.4.4.5 석면섬유의 농도는 계수기준에서 섬유(Fiber, Cluster Fiber, Matrix Fiber 등)에 해당하는
계수결과를 이용하여 산정한다.
 7.4.4.6 토양시료에서 투과전자현미경으로 분석된 석면의 농도는 다음 식을 이용하여 산정할 수 있
다.
 ×  × 
                         
                             ×  ×  × 


 여기서, CS: 토양 중 석면 농도(f/㎍)
           Ae: 포집여과지 유효 면적, ㎟
           Sa: 석면 섬유(F, CF, MF 등) 수
           Gn: 계수 그리드(grid opening) 수
           Ga: 평균 그리드면적, ㎟
           Vs: 현탁액량(mL)
           Vf: 여과분취량(mL)
           Ss: 토양시료량(㎍)


8.0 결과보고
 8.1 정성 분석
 편광현미경으로 시료를 관찰하여 [서식 1]의 양식으로 기록하여 석면의 종류를 확인한다.
 8.2 정량 분석
 편광현미경으로 토양시료를 관찰 후 석면함량(%)을 기록하고 검출된 석면은 사진촬영 한다.[서식 3]