北京知识产权法院行 政 判 决 书（2017）京73行初9560号原告：北京君和信达科技有限公司，住所地北京市西城区新街口外大街8号12幢103号。法定代表人：孙晓明，董事长。委托诉讼代理人：蒋洪义，北京市联德律师事务所律师。委托诉讼代理人：闫世晔，北京市联德律师事务所律师。被告：国家知识产权局，住所地北京市海淀区蓟门桥西土城路6号。法定代表人：申长雨，局长。委托诉讼代理人：刘文治，国家知识产权局审查员。委托诉讼代理人：王婧，国家知识产权局审查员。第三人：同方威视技术股份有限公司，住所地北京市海淀区双清路清华大学同方大厦A座2层。法定代表人：陈志强，董事长。委托诉讼代理人：胡江海，男，同方威视技术股份有限公司员工。第三人：清华大学，住所地北京市海淀区清华园。法定代表人：邱勇，校长。委托诉讼代理人：曾迪，北京志霖（天津）律师事务所律师。委托诉讼代理人：李勤，北京志霖（天津）律师事务所律师。原告北京君和信达科技有限公司（简称君和信达公司）不服原国家知识产权局专利复审委员会（简称原专利复审委员会）于2017年9月27日作出的第33596号无效宣告请求审查决定（简称被诉决定），于法定期限内向本院提起行政诉讼。本院于2017年12月19日受理后，依法组成合议庭，指派技术调查官张靳参与诉讼，并依法通知被诉决定的利害关系人同方威视技术股份有限公司（简称同方威视公司）、清华大学作为本案第三人参加诉讼，于2019年12月12日对本案公开开庭进行了审理。原告君和信达公司的委托诉讼代理人蒋洪义、闫世晔，被告国家知识产权局的委托诉讼代理人刘文治、王婧，第三人同方威视公司的委托诉讼代理人胡江海，第三人清华大学的委托诉讼代理人李勤到庭参加了诉讼。本案现已审理终结。2017年3月7日，君和信达公司针对同方威视公司、清华大学拥有的名称为“物质识别方法和设备”的第200710177405.2号发明专利（简称本专利）向原专利复审委员会提出无效宣告请求。原专利复审委员会于2017年9月27日作出被诉决定，宣告维持专利权有效。被诉决定引用的证据为：证据1：公开号为CN101019042A的中国发明专利申请公布说明书，公开日为2007年8月15日；证据2：“Processingofinterlacedimagesin4-10MeVdualenergycustomssystemformaterialrecognition”及其中文译文，S.OgorodnikovandV.Petrunin，PHYSICALREVIEWSPECIALTOPICS-ACCELERATORSANDBEAMS,VOLUME5104701(2002)，共25页；证据3：“DUALENERGYMETHODOFMATERIALRECOGNITIONINHIGHENERGYINTROSCOPYSYSTEMS”及其中文译文,V.L.Novikovet.al，共7页；证据4：“基于双能量X射线透射技术的物质分类识别方法研究”，孙丽娜等，CT理论与应用研究，第14卷第2期，2005年5月；证据5：“X射线安检设备中物质分类识别方法的研究”，孙丽娜，东北大学硕士学位论文，共87页；证据6：“双能量X射线透射条件下物质分类识别曲线的建立”，原培新等，东北大学学报（自然科学版），第27卷第3期，2006年3月；证据7：“基于贝叶斯决策的双能X射线材料分辨算法研究”，邬小平等，中国体视学与图像分析，第8卷第3期，2003年9月；证据8：“双能X射线检查系统的MonteCarlo模拟”，张国伟等，清华大学学报（自然科学版），第46卷第6期，2006年。决定理由如下：1.关于审查基础专利权人提交的修改后的权利要求2和权利要求17既不是权利要求的删除、技术方案的删除，也不是对权利要求的进一步限定，同时其也不是明显错误的修正，可见，专利权人对权利要求书进行的修改不符合审查指南对修改原则的规定。因此，本案的审查基础是原始授权的权利要求1-26。2.关于证据证据1-8可以作为本专利的现有技术证据以评述本专利的新颖性和创造性，其中外文证据的文字部分以其中文译文为准，证据9-11不能作为本专利的现有技术证据。3.关于专利法实施细则第二十条第一款的无效理由专利法实施细则第二十条第一款规定：权利要求书应当说明发明或实用新型的技术特征，清楚、简要地表述请求保护的范围。在本案中，君和信达公司认为：本专利权利要求1中的“高能透明度”、“低能透明度”、“所述高能透明度的第一函数的值”、“所述高能透明度和所述低能透明度二者的第二函数的值”及“预先创建的分类曲线”的含义不清楚，从而导致权利要求1以及从属于其的权利要求2-13请求保护的范围不清楚，不符合专利法实施细则第二十条第一款的规定，同理，权利要求14-26请求保护的范围也不清楚。对此，原专利复审委员会认为，对于一项权利要求是否符合专利法实施细则第二十条第一款的规定，要站在本领域技术人员的角度，在本专利所属技术领域结合权利要求整理的表述来理解，而不能独立的对个别词句做机械、片面的不符合逻辑的推断。而具体到本案，对于本领域技术人员来说，本专利权利要求1中的“高能透明度”是指高能射线穿透物体后的射线束强度与入射的高能射线的强度之比，“低能透明度”是指低能射线穿透物体后的射线束强度与入射的低能射线的强度之比，“第一函数”是指以高能透明度为自变量的函数、“第二函数”是指以高能透明度和低能透明度两者为自变量的函数，其坐标系只要一个涉及高能透明度，一个涉及高、低能透明度就具备实现分类的前提条件，“预先创建的分类曲线”是指事先创建的能够实现分类的曲线，本专利说明书第0085-0093段说明了分类曲线的建立过程，可以作为对预先创建分类曲线的解释。综上所述，本专利权利要求1以及从属于其的权利要求2-13请求保护的范围清楚，同理，本专利权利要求14-26请求保护的范围也是清楚的，因此，对于君和信达公司提出的本专利权利要求1-26不符合专利法实施细则第二十条第一款的无效理由原专利复审委员会不予支持。4.关于专利法第二十六条第四款的无效理由专利法第二十六条第四款规定：权利要求书应当以说明书为依据，说明要求专利保护的范围。在本案中，君和信达公司认为：第一函数和第二函数涵盖了所有涉及的函数，概况范围过大，而说明书仅有一实施例；预先创建的分类曲线不清楚，不认可说明书对其的解释，分类曲线是一种功能性限定，按照字面意思，预先创建的分类曲线指的是所有实现分类功能的曲线。对此，原专利复审委员会认为，如上所述，对于本领域技术人员来说，“第一函数”是指以高能透明度为自变量的函数、“第二函数”是指以高能透明度和低能透明度两者为自变量的函数，只要保证第一函数与高能透明度有关，第二函数高能透明度和低能透明度都有关即可，说明书实施例只是一种具体实施方式，坐标系只要一个涉及高能透明度，一个涉及高、低能透明度就具备实现分类的前提条件；而对于“预先创建的分类曲线”，本领域技术人员清楚其应该是指分别以高能透明度为自变量的函数值和以高能透明度和低能透明度两者为自变量的函数值作为横纵坐标系事先创建能够实现物质属性识别的曲线，本领域技术人员能够对相关的分类曲线类型进行合理的排除。因此，本专利权利要求1以及从属于其的权利要求2-13请求保护的范围能够得到说明书的支持，同理，本专利权利要求14-26请求保护的范围也能够得到说明书的支持，对于君和信达公司提出的本专利权利要求1-26不符合专利法26条第4款的无效理由原专利复审委员会不予支持。5.关于专利法第二十二条第二款的无效理由专利法第二十二条第二款规定：新颖性，是指在申请日以前没有同样的发明或者实用新型在国内外出版物上公开发表过、在国内公开使用过或者以其他方式为公众所知，也没有同样的发明或者实用新型由他人向国务院专利行政部门提出过申请并且记载在申请日以后公布的专利申请文件中。具体到本案中，君和信达公司认为证据1公开了权利要求1-4、10-17、23-26的技术方案，证据2公开了权利要求1-26的技术方案，证据3公开了权利要求1、10-13、14、23-26的技术方案，因而，本专利权利要求1-26不具备新颖性。证据1涉及通过双能量辐射扫描和缓发中子探测来检查物体，其公开了一种检查物体内容的方法，与本专利同属于辐射扫描检测领域。证据1具体（参见证据1说明书第0050-0069段，附图1a-1c）公开了以下内容：利用至少两种具有不同最大能级的不同X射线能量分布或能谱来扫描物体，最大能级也称为端点或峰值能量，可以使用的能量分布的例子包括5MeV和9MeV，利用探测器阵列的探测元件来测量在两个不同能量端点下透过物体的辐射，沿每条射束路径透射的辐射在表面上的投影被称为“像素”，如果产生了图像，则像素可以对应于图像的像素，计算在两个不同能量端点下对对应部分或像素探测到的辐射的函数，函数可以是在较高能量端点（如9MeV）探测的辐射和在较低能量端点（如5MeV）探测的辐射之比，或反之亦然，这种比值被称为透射比（TR），第二函数可以是阈值，可以利用较高能量端点（在此为9MeV）下的透射来选择阈值，图1c显示了5条曲线，这5条曲线描述了根据没有这些问题情况下的模拟所模拟的，该曲线的横坐标x是9MeV谱能量透射，纵坐标y是9MeV谱能量透射与5MeV谱能量透射的比值，在图1a和1c中，如果把一般在货物运输工具中发现的材料中具有最高原子数的铁（Fe，Z=26）用作测试材料，则所计算的比值小于铁的比值就指示存在原子数大于铁的材料。将证据1公开的内容与本专利权利要求1相比可知，证据1的检查物体内容的方法相当于本专利的物质识别方法，证据1中利用至少两种具有不同最大能级的不同X射线能量分布或能谱来扫描物体，利用探测器阵列的探测元件来测量在两个不同能量端点下透过物体的辐射，沿每条射束路径透射的辐射在表面上的投影被称为“像素”，如果产生了图像，则像素可以对应于图像的像素，相当于本专利的用高能射线和低能射线透射被检物体以获得被检物体的高能透射图像或低能透射图像，证据1中计算在两个不同能量端点下对对应部分或像素探测到的辐射的函数，函数可以是在较高能量端点（如9MeV）探测的辐射和在较低能量端点（如5MeV）探测的辐射之比，或反之亦然，这种比值被称为透射比（TR），第二函数可以是阈值，可以利用较高能量端点（在此为9MeV）下的透射来选择阈值，对应于本专利的针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数和所述高能透明度和低能透明度二者的第二函数的值。由此可见，原专利复审委员会认为：证据1没有公开本专利中每个像素的值表示相应的高能透明度或低能透明度，证据1中的分类曲线是模拟的，并不是预先创建的分类曲线，即没有公开本专利的通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型。综上，证据1并没有公开本专利权利要求1的全部技术特征，因而本专利权利要求1相对于证据1具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性，因此，从属于权利要求1的从属权利要求2-4、10-13相对于证据1也具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性，此外，由于本专利权利要求14-26分别是对应权利要求1-13所述方法的装置权利要求，基于上述相似的原因，本专利权利要求14以及引用其的权利要求15-17、23-26相对于证据1也具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性。证据2涉及用于物质识别的4-10MeV双能海关系统中交替图像的处理，其公开了一种用于物质识别的4-10MeV双能海关系统，与本专利同属于辐射扫描检测领域。证据2具体（参见证据2中文译文第3、4、6-8页）公开了以下内容：海关检查系统包括工业电子直线加速器、准直系统、探测器阵列和被测物体的运输系统，在实验期间，被检查的物体被运输系统移动，通过由准直系统形成的扇形韧致辐射束，探测器阵列的敏感元件记录穿透该物体的致辐射光子，来自探测器的信号被数字化，经过预处理，被传送到工作站，在那里形成透视图像；加速器以所谓的隔行扫描公式工作，即每个偶数脉冲产生一个高能量的韧致辐射，每个奇数脉冲产生一个低能量的，这种方案能够形成包含具有不同能量的两个透明度数据分布的双能透射图像，两个透明度通过对属于同一障碍物的像素求平局而获得，并在表1中给出，每个步骤的比率（3）的分布在图7中给出；为了确定根据Z来辨别的可能性并估计效果，在韧致辐射的额定边界能量E1和第二边界能量E2处引入透明度的对数的比率（吸收的到数值）是很有用的，原子序数可以简单地由比率（3）的一个给定值以及其中一个能量的衰减值进行估计，因此可以创建一个查找表，根据实验测量的高能透明度和低能透明度来直接计算Z值；假设我们只有两组材料，有机物，由碳氢化合物（Z1≈5.3）充分地表征，以及无机物，由铁（Z2≈26）代表，然后可以根据贝叶斯公式写出决定数据点属于两个组中的一组的概率，并且对于不同的衰减率进行数值估计。将证据2公开的内容与本专利权利要求1相比可知，证据2公开了一种物质识别方法，其中证据2中的高能量的韧致辐射和低能量韧致辐射分别相当于本专利的高能射线和低能射线，具有不同能量的两个透明度数据分布的双能透射图像相当于本专利的高能透射图像和低能透射图像，不同能量的两个透明度数据相当于本专利的高能透射图像中的每个像素的值和低能透射图像中每个像素的值，不同能量的两个透明度则相当于高能透明度和低能透明度，证据2图7中的x轴的函数值1/T（E1）相当于所述高能透明度的第一函数的值，y轴的函数值R（E1，E2，t，Z）相当于高能透明度和低能透明度二者的第二函数值，证据2中的两个透明度通过对属于同一障碍物的像素求平均而获得并在表1中给出，每个步骤的比率（3）的分布在图7中示出则相当于针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度二者的第二函数的值。君和信达公司认为证据2的图7公开了预先创建分类曲线，对此，原专利复审委员会认为：证据2中是利用原子序数可以简单地由比率（3）的一个给定值以及其中一个能量的衰减值进行估计的原理，创建一个查找表，并根据实验测量的高能透明度和低能透明度来直接计算Z值，根据Z值来进行物质属性辨识，图7只是一种用于效果评估的测试样本曲线，而非分类曲线。由此可见，证据2并没有公开本专利权利要求1中的技术特征“通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”。综上，证据2并没有公开本专利权利要求1的全部技术特征，因而本专利权利要求1相对于证据2具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性，因此，从属于权利要求1的从属权利要求2-13相对于证据2也具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性，此外，由于本专利权利要求14-26分别是对应权利要求1-13所述方法的装置权利要求，基于上述相似的原因，本专利权利要求14以及引用其的权利要求15-26相对于证据2也具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性。证据3公开了一种用于高能透射系统的双能物质识别方法，其与本专利同属于辐射扫描检测领域。证据3具体（参见证据3中文译文的方法和试验结果部分）公开了以下内容：使测试样品穿过辐射射线的传送系统，电子加速器工作在上述交替模式，即偶数脉冲产生常规能量、奇数脉冲产生第二能量，常规模式下的能量达到7-10MeV，第二能量达到3-7MeV，将原始数据文件分为高能图像文件和低能图像文件，分别处理各文件，即通过对图像进行垂直方向均值校正，消除探测器的不一致性以及韧致辐射强度的角各向异性，通过规整化至白场的计数水平的方式，将数据计数转换为透明度，对两个文件中的数据取对数，并应将其中一个以灰度调色板的形式可视化，图像上的每个像素均具有两个透明度的值，采用吸收法对加速度器的两种能量进行评估，根据物质识别调色板，可对各像素进行处理并在成功完成后对其进行彩色化来实现物质识别；图2所示为一组元素从0到120gr/cm2范围内的厚度曲线，其中X轴表示常规能量Eacc1=8MeV下比例因子Scale=1000的透明度的对数值的取反α1（吸收值），以及Y轴（α2-α1）表示第二能量Eacc2=4MeV和常规能量下吸收值之差：α1=（1-lnT1）*Scaleα2-α1=（lnT1-lnT2）*Scale（3）；图3示出E常规=9.04MeV和E第二能量=4.65MeV时，计算得到的吸收曲线和聚乙烯（50cm）、硬铝（40cm）、钢（18cm）和铅（8cm）制楔形试样实验数据的散点分布。将证据3公开的内容与本专利权利要求1相比可知，证据3公开了一种物质识别方法，其中证据2中的常规能量和第二能量分别相当于本专利的高能射线和低能射线，高能图像文件和低能图像文件相当于本专利的高能透射图像和低能透射图像，图像上的每个像素均具有两个透明度的值相当于本专利的高能透射图像中的每个像素的值和低能透射图像中每个像素的值，两个透明度的值则相当于高能透明度和低能透明度，证据3图2中所示为一组元素从0到120gr/cm2范围内的厚度曲线，其中X轴表示常规能量Eacc1=8MeV下比例因子Scale=1000的透明度的对数值的取反α1（吸收值），以及Y轴（α2-α1）表示第二能量Eacc2=4MeV和常规能量下吸收值之差相当于公开了针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度二者的第二函数的值。君和信达公司认为：证据3图3示出E常规=9.04MeV和E第二能量=4.65MeV时，计算得到的吸收曲线和聚乙烯（50cm）、硬铝（40cm）、钢（18cm）和铅（8cm）制楔形试样实验数据的散点分布相当于公开本专利的通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型。对此，原专利复审委员会认为：如上所述，证据3的图3示出的是4条吸收曲线，同时也并未公开所述曲线是通过以高能透明度的第一函数值作为横坐标以高能透明度和低能透明度二者的第二函数值作为纵坐标而预先创建的，实际上，证据3中的4条曲线是通过计算得到的，并且通过实验数据的散点分布来验证这种计算方法的可靠性。由此可见，证据3并没有公开本专利权利要求1中的技术特征“通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”。综上，证据3并没有公开本专利权利要求1的全部技术特征，因而本专利权利要求1相对于证据3具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性，因此，从属于权利要求1的从属权利要求10-13相对于证据3也具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性，此外，由于本专利权利要求14-26分别是对应权利要求1-13所述方法的装置权利要求，基于上述相似的原因，本专利权利要求14以及引用其的权利要求23-26相对于证据3也具备专利法第二十二条第二款规定的新颖性。综上所述，君和信达公司认为本专利权利要求1-26不具备新颖性的无效理由不成立。6.关于专利法第二十二条第三款的无效理由专利法第二十二条第三款规定：创造性，是指同申请日以前已有的技术相比，该发明有突出的实质性特点和显著的进步，该实用新型有实质性特点和进步。具体到本案中，君和信达公司认为权利要求相1对于证据1与证据2-9中的一个或多个、和/或公知常识的结合不具备创造性，权利要求1相对于证据2与证据1、3-9中的一个或多个、和/或公知常识的结合不具备创造性，权利要求1相对于证据3与证据1、2、4-9中的一个或多个、和/或公知常识的结合不具备创造性。如上所述，证据1-3均至少没有公开本专利权利要求1中的技术特征“通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”，而且本专利中的预先创建的分类曲线是通过以高能透明度的第一函数值作为横坐标以高能透明度和低能透明度二者的第二函数值作为纵坐标而预先创建的，此外，根据本专利说明书描述可知，本专利的高能射线和低能射线分别是指高能双能中的高能射线和低能射线。证据4公开了一种基于双能量X射线透射技术的物质分类识别方法研究，其与本专利同属于辐射扫描检测领域。证据4具体（参见证据4第26-27页）公开了如下内容：由图1可得到两条边界曲线的上下位置关系，这样就将坐标空间分为三个区域，相应的物质也就被分成了三类，已知物质的低能、高能灰度值就可以得到一坐标点，这一点落在哪一区域，该物质就是什么物质。证据5公开了一种X射线案件设备中物质分类识别方法的研究，其与本专利同属于辐射扫描检测领域。证据5具体（参见证据5第52页，图4.3）公开了如下内容：图4.3和图4.6得到两条边界曲线的上下位置关系，这样就将坐标空间分为三个区域，相应的物质也就被分成了三类，已知物质的低能、高能灰度值就可以得到一坐标点，这一点落在哪一区域，该物质就是什么物质。证据6公开了一种双能量X射线透射条件下物质分类识别曲线的建立，其与本专利同属于辐射扫描检测领域。证据6具体（参见证据6第337-338页，图1）公开了如下内容：由图1可得到两条边界曲线的上下位置关系，这样就将坐标空间分为三个区域，相应的物质也就被分成了三类，已知物质的低能、高能灰度值就可以得到一坐标点，这一点落在哪一区域，该物质就是什么物质。证据7公开了一种基于贝叶斯决策的双能X射线材料分辨算法的研究，其与本专利同属于辐射扫描检测领域。证据7具体（参见证据7第163-164页，图1）公开了如下内容：基于最小错误率的贝叶斯决策，可以对有机物、混合物、无机物三类样本材料进行一系列的实验，通过处理高、低能数据得到相应类别的特征量并进一步估计出这三类材料的类条件概率密度函数P（x|wi），这样就可以对未知材料进行分辨了，其中图1中的横坐标函数为1/T（Eh），纵坐标函数为x（Eh，El，t，z）。证据8公开了一种双能X射线检查系统的MonteCarlo模拟，其与本专利同属于辐射扫描检测领域。证据8具体（参见证据8第814-815页，图5）公开了如下内容：不同原子序数的物质有不同的高低能关系曲线，如果能够得到不同材料的TH-TL关系曲线，那么可以据此进行未知材料的识别，其中的关键在于获取精确的材料分类曲线，图5给出了聚乙烯、碳酸钠、铝和氯化钾等4种式样的高、低能数据点分布，并选取Z从5到20共计16条曲线作为材料分类边界。君和信达公司认为，证据4-8均公开了本专利权利要求1中的利用分类曲线识别物质类型的过程，即公开了“通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”。对此，原专利复审委员会认为：如上所述，虽然证据4-8均公开了可以通过曲线实现物质分类，即物质类型的识别，然而，其并未公开所述曲线是是通过以高能透明度的第一函数值作为横坐标以高能透明度和低能透明度二者的第二函数值作为纵坐标而预先创建的；此外，证据4-8中的曲线都是以百k电子伏的低能双能为基准创立的，而本专利以及证据1-3中是基于兆电子伏的高能双能X射线物质识别技术，而高能双能技术与低能双能技术在识别对象、识别原理及识别结果上均不相同，是完全不同的技术，高能物质识别和低能物质识别技术之间不存在结合的技术启示；也就是说，证据4-8均未公开本专利权利要求1中的技术特征“通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”，而且也不能给出将上述技术特征用于证据1、证据2或证据3以解决其技术问题的技术启示，同时，目前也没有证据表明将上述技术特征用于证据1、证据2或证据3以解决其技术问题属于本领域的公知常识。由此可见，证据1-8均为公开上述技术特征“通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”，同时也没有证据表明其属于本领域的公知常识。因此，君和信达公司认为权利要求相1对于证据1与证据2-8中的一个或多个、和/或公知常识的结合不具备专利法第二十二条第三款规定的创造性，权利要求1相对于证据2与证据1、3-8中的一个或多个、和/或公知常识的结合不具备专利法第二十二条第三款规定的创造性，以及权利要求1相对于证据3与证据1、2、4-8中的一个或多个、和/或公知常识的结合不具备专利法第二十二条第三款规定的创造性的无效理由均不能成立。此外，如上所述，证据9不能作为本专利的现有技术以评价本专利的创造性，因而，君和信达公司所提出的本专利权利要求相对于有证据9的证据组合方式不具备专利法第二十二条第三款规定的创造性的无效理由并不成立。本专利权利要求2-13均直接或间接引用权利要求1，因此，当权利要求1具备创造性时，本专利权利要求2-13也具备专利法第二十二条第三款规定的创造性，即君和信达公司认为本专利权利要求2-13不具备创造性的无效理由也不成立。本专利权利要求14-26分别是对应权利要求1-13所述方法的装置权利要求，基于上述相似的原因，君和信达公司认为本专利权利要求14以及引用其的权利要求15-26也具备专利法第二十二条第三款规定的创造性的无效理由也不成立。综上所述，君和信达公司提出的所有无效理由均不能成立。基于以上事实和理由，原专利复审委员会作出了维持专利权有效的决定。原告君和信达公司不服被诉决定，于法定期限内向本院提起行政诉讼，其诉称：1.被诉决定在对权利要求1的特征“预先创建的分类曲线”进行解释时，引入从属权利要求的附加技术特征和说明书的内容对其进行限缩性解释，属于适用法律错误。2.被诉决定认定本专利的权利要求1相对于证据1、证据2和证据3具备新颖性，并基于此认定权利要求2-26也具备新颖性，与事实不符，适用法律错误。第一，被诉决定认定证据1没有公开权利要求1中“每个像素的值表示相应的高能透明度和低能透明度”和“预先创建的分类曲线”，与事实不符，导致决定内容前后矛盾。第二，被诉决定认定证据2没有公开权利要求1中“通过预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”与事实不符。第三，被诉决定认定证据3没有公开权利要求1中的“通过预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”与事实不符。3.被诉决定认定本专利的权利要求1相对于证据1（或证据2，或证据3）与证据2-9中的一个或多个、和/或公知常识的结合具备创造性，并基于此认定权利要求2-26也具备创造性，与事实不符。综上所述，被诉决定事实认定有误，适用法律错误，依法应予撤销，请求法院撤销被诉决定并指令重新作出决定。国家知识产权局辩称，被诉认定事实认定清楚，适用法律正确，程序合法，结论亦正确，君和信达公司的诉讼理由不能成立，请求法院驳回其诉讼请求。同方威视公司述称，被诉认定事实认定清楚，适用法律正确，程序合法，请求法院驳回君和信达公司的诉讼请求。清华大学述称，被诉认定事实认定清楚，适用法律正确，程序合法，请求法院驳回君和信达公司的诉讼请求。本院经审理查明：本专利系专利号为200710177405.2，名称为“物质识别方法和设备”的发明专利，申请日为2007年11月15日，授权公告日为2011年1月26日，专利权人为同方威视技术股份有限公司、清华大学。本专利授权公告时的权利要求书如下：“1.一种物质识别方法，包括步骤：用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能透射图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能透射图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度二者的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。2.如权利要求1所述的方法，还包括步骤：设置具有预定大小的邻域；以及在每个像素的邻域中对所述高能透射图像和所述低能透射图像进行降噪。3.如权利要求2所述的方法，其中在每个像素的邻域中对所述高能透射图像和所述低能透射图像进行降噪的步骤包括：在邻域中寻找与中心像素相似的像素，作为相似像素；对邻域中的相似像素进行加权平均。4.如权利要求3所述的方法，其中所述相似像素的高能透明度和低能透明度与所述中心像素的高能透明度和低能透明度之间的差异小于预定值。5.如权利要求3所述的方法，其中将所述被检物体识别为有机物、轻金属、无机物或重金属。6.如权利要求5所述的方法，还包括对识别结果进行彩色化显示的步骤。7.如权利要求6所述的方法，其中所述彩色化显示步骤包括：对每个像素的高能透明度和低能透明度进行加权平均，作为该像素的融合灰度值；根据被检物体中与该像素相对应部分的材料类型来确定颜色色调；根据该像素的融合灰度值来确定该像素的亮度等级；将所述颜色色调和所述亮度等级作为索引来从预先创建的查找表中获得该像素的R值、G值和B值。8.如权利要求7所述的方法，其中根据被检物体中与该像素相对应部分的材料类型来确定颜色色调的步骤包括：将橙色赋予有机物、将绿色赋予轻金属、将蓝色赋予无机物、将紫色赋予重金属。9.如权利要求1所述的方法，还包括步骤：对从射线源发出的射线进行能谱整形来扩大高能射线和低能射线之间的能谱差异。10.如权利要求1所述的方法，其中所述分类曲线是通过下面的步骤针对每种标定材料而创建的：用高能射线和低能射线照射各种厚度下标定材料来获得相应的高能透明度和低能透明度；将高能透明度的第一函数作为横坐标，将低能透明度和高能透明度二者的第二函数作为纵坐标来形成标定材料在不同厚度下的点；基于所述的点形成所述分类曲线。11.如权利要求10所述的方法，其中基于所述点形成所述分类曲线的步骤包括：采用最小二乘曲线拟合法对所述点进行曲线拟合。12.如权利要求10所述的方法，其中基于所述点形成所述分类曲线的步骤包括：采用切比雪夫意义下的最佳拟合多项式对所述点进行曲线拟合。13.如权利要求10所述的方法，还包括对所述分类曲线进行离散化的步骤。14.一种物质识别设备，包括：图像形成装置，用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能透射图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能透射图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；计算装置，针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度二者的第二函数的值；以及分类装置，通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。15.如权利要求14所述的设备，还包括：设置具有预定大小的邻域的装置；以及在每个像素的邻域中对所述高能透射图像和所述低能透射图像进行降噪的装置。16.如权利要求15所述的设备，其中在每个像素的邻域中对所述高能透射图像和所述低能透射图像进行降噪的装置包括：在邻域中寻找与中心像素相似的像素作为相似像素的装置；对邻域中的相似像素进行加权平均的装置。17.如权利要求16所述的设备，其中所述相似像素的高能透明度和低能透明度与所述中心像素的高能透明度和低能透明度之间的差异小于预定值。18.如权利要求16所述的设备，其中将所述被检物体识别为有机物、轻金属、无机物或重金属。19.如权利要求18所述的设备，还包括对识别结果进行彩色化显示的装置。20.如权利要求19所述的设备，其中所述对识别结果进行彩色化显示的装置包括：对每个像素的高能透明度和低能透明度进行加权平均作为该像素的融合灰度值的装置；根据被检物体中与该像素相对应部分的材料类型来确定颜色色调的装置；根据该像素的融合灰度值来确定该像素的亮度等级的装置；将所述颜色色调和所述亮度等级作为索引来从预先创建的查找表中获得该像素的R值、G值和B值的装置。21.如权利要求20所述的设备，其中将橙色赋予有机物、将绿色赋予轻金属、将蓝色赋予无机物、将紫色赋予重金属。22.如权利要求14所述的设备，还包括对从射线源发出的射线进行能谱整形来扩大高能射线和低能射线之间的能谱差异的装置。23.如权利要求14所述的设备，其中所述分类曲线是通过下面的步骤针对每种标定材料而创建的：用高能射线和低能射线照射各种厚度下标定材料来获得相应的高能透明度和低能透明度；将高能透明度的第一函数作为横坐标，将低能透明度和高能透明度二者的第二函数作为纵坐标来形成标定材料在不同厚度下的点；基于所述的点形成所述分类曲线。24.如权利要求23所述的设备，其中采用最小二乘曲线拟合法对所述点进行曲线拟合。25.如权利要求23所述的设备，其中采用切比雪夫意义下的最佳拟合多项式对所述点进行曲线拟合。26.如权利要求23所述的设备，其中对所述分类曲线进行离散化。”针对上述专利权，君和信达公司于2017年3月7日向原专利复审委员会提出了无效宣告请求，请求宣告本专利权利要求1-26全部无效，其理由是：本专利权利要求1-26不符合专利法第二十二条第三款、第二十六条第四款以及专利法实施细则第二十条第一款的规定，本专利权利要求1-4、9、10、14-17、22、23不符合专利法第二十二条第二款的规定。同时提交了如下附件：附件1：本专利授权公告文本附件2：公开号为CN101019042A的中国发明专利申请公布说明书，公开日为2007年8月15日。结合上述证据，君和信达公司认为：本专利权利要求1-26未清楚、简要地表述请求保护的范围，不符合专利法事实细则第二十条第一款的规定；本专利权利要求1-26限定的技术方案概况了较宽的保护范围，得不到说明书的支持，不符合专利法第二十六条第四款的规定，本专利权利要求1-4、9、10、14-17、22、23相对于证据1不具备新颖性，不符合专利法第二十二条第二款的规定，本专利权利要求1-26相对于证据1或证据1和公知常识的结合不具备创造性，不符合专利法第二十二条第三款的规定。经形式审查合格，原专利复审委员会依法受理了上述无效宣告请求，并于2017年3月24日向双方当事人发出了无效宣告请求受理通知书，并同时将无效宣告请求书及其证据清单所列的证据副本转给了同方威视公司、清华大学。君和信达公司又于2017年4月6日提交了意见陈述书，补充提交了无效理由，即：本专利权利要求1-26不符合专利法第22条第2、3款、第二十六条第四款以及专利法实施细则第二十条第一款的规定，并补充提交了如下附件（标号续前）：附件3：“Processingofinterlacedimagesin4-10MeVdualenergycustomssystemformaterialrecognition”及其中文译文，S.OgorodnikovandV.Petrunin，PHYSICALREVIEWSPECIALTOPICS-ACCELERATORSANDBEAMS,VOLUME5104701(2002)，共25页；附件4：本专利美国同族的授权文本；附件5：本专利美国同族的审查档案及译文；附件6：“DUALENERGYMETHODOFMATERIALRECOGNITIONINHIGHENERGYINTROSCOPYSYSTEMS”及其中文译文,V.L.Novikovet.al，共7页；附件7：“基于双能量X射线透射技术的物质分类识别方法研究”，孙丽娜等，CT理论与应用研究，第14卷第2期，2005年5月；附件8：“X射线安检设备中物质分类识别方法的研究”，孙丽娜，东北大学硕士学位论文，共87页；附件9：“双能量X射线透射条件下物质分类识别曲线的建立”，原培新等，东北大学学报（自然科学版），第27卷第3期，2006年3月；附件10：“基于贝叶斯决策的双能X射线材料分辨算法研究”，邬小平等，中国体视学与图像分析，第8卷第3期，2003年9月；附件11：“双能X射线检查系统的MonteCarlo模拟”，张国伟等，清华大学学报（自然科学版），第46卷第6期，2006年；附件12（下称证据9）：“APPLICATIONOFHIGH-PENETRATINGINTROSCOPYSYSTEMSFORRECOGNITIONOFMATERIALS”及其中文译文,S.A.Ogorodnikovet.al，共6页；附件13（下称证据10）：“EXPERIMENTSONMATERIALRECOGNITIONFOR8MEVCUSTOMSINSPECTIONSYSTEMFORTRUCKSANDLARGE-SCALECONTAINERS”及其中文译文，M.F.VoroGUSHINet.al，共6页；附件14（下称证据11）：“LOW-ENERGYLINACSANDTHEIRAPPLICATIONSINTSINGHUAUNIVERSITY”及其中文译文，CH.Tanget.al，共6页；附件15：中国科学院文献情报中心出具的证明编号为2017-015涉及证据2、证据3、证据5、证据7的文献提供证明；附件16：中国科学院文献情报中心出具的证明编号为2017-016涉及证据4、证据6证据8的文献提供证明；附件17：中国科学院文献情报中心出具的证明编号为2017-017涉及证据9、证据10、证据11的文献提供证明。原专利复审委员会于2017年4月28日发出转文通知书，将君和信达公司于2017年4月6日提交的意见陈述书及其附件转送给同方威视公司、清华大学，于2017年5月9日向双方当事人发出口头审理通知书，告知双方当事人，本案于2017年6月29日举行口头审理。同方威视公司、清华大学于2017年6月13日提交了意见陈述书和修改后的权利要求书，其中修改涉及将原权利要求10的部分技术特征作为权利要求1的新从属权利要求2的附加技术特征，将原权利要求10作为权利要求2的从属权利要求3，删除原权利要求10，并相应调整其它从属权利要求的引用关系，将原权利要求23的部分技术特征作为原权利要求14的新从属权利要求16的附加技术特征，将原权利要求23作为权利要求16的从属权利要求17，删除原权利要求23，并相应调整其它从属权利要求的引用关系，修改后的权利要求书如下：“1.一种物质识别方法，包括步骤：用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能透射图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能透射图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度二者的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。2.如权利要求1所述的物质识别方法，其特征在于，所述分类曲线是通过针对每种标定材料而创建的。3.如权利要求2所述的方法，其中所述分类曲线是通过下面的步骤针对每种标定材料而创建的：用高能射线和低能射线照射各种厚度下标定材料来获得相应的高能透明度和低能透明度；将高能透明度的第一函数作为横坐标，将低能透明度和高能透明度二者的第二函数作为纵坐标来形成标定材料在不同厚度下的点；基于所述的点形成所述分类曲线。4.如权利要求1-3任一项所述的方法，还包括步骤：设置具有预定大小的邻域；以及在每个像素的邻域中对所述高能透射图像和所述低能透射图像进行降噪。5.如权利要求4所述的方法，其中在每个像素的邻域中对所述高能透射图像和所述低能透射图像进行降噪的步骤包括：在邻域中寻找与中心像素相似的像素，作为相似像素；对邻域中的相似像素进行加权平均。6.如权利要求5所述的方法，其中所述相似像素的高能透明度和低能透明度与所述中心像素的高能透明度和低能透明度之间的差异小于预定值。7.如权利要求5所述的方法，其中将所述被检物体识别为有机物、轻金属、无机物或重金属。8.如权利要求7所述的方法，还包括对识别结果进行彩色化显示的步骤。9.如权利要求8所述的方法，其中所述彩色化显示步骤包括：对每个像素的高能透明度和低能透明度进行加权平均，作为该像素的融合灰度值；根据被检物体中与该像素相对应部分的材料类型来确定颜色色调；根据该像素的融合灰度值来确定该像素的亮度等级；将所述颜色色调和所述亮度等级作为索引来从预先创建的查找表中获得该像素的R值、G值和B值。10.如权利要求9所述的方法，其中根据被检物体中与该像素相对应部分的材料类型来确定颜色色调的步骤包括：将橙色赋予有机物、将绿色赋予轻金属、将蓝色赋予无机物、将紫色赋予重金属。11.如权利要求1-3任一项所述的方法，还包括步骤：对从射线源发出的射线进行能谱整形来扩大高能射线和低能射线之间的能谱差异。12.如权利要求3所述的方法，其中基于所述点形成所述分类曲线的步骤包括：采用最小二乘曲线拟合法对所述点进行曲线拟合。13.如权利要求3所述的方法，其中基于所述点形成所述分类曲线的步骤包括：采用切比雪夫意义下的最佳拟合多项式对所述点进行曲线拟合。14.如权利要求3所述的方法，还包括对所述分类曲线进行离散化的步骤。15.一种物质识别设备，包括：图像形成装置，用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能透射图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能透射图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；计算装置，针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度二者的第二函数的值；以及分类装置，通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。16.如权利要求15所述的物质识别设备，其特征在于，所述分类曲线是通过针对每种标定材料而创建的。17.如权利要求16所述的设备，其中所述分类曲线是通过下面的步骤针对每种标定材料而创建的：用高能射线和低能射线照射各种厚度下标定材料来获得相应的高能透明度和低能透明度；将高能透明度的第一函数作为横坐标，将低能透明度和高能透明度二者的第二函数作为纵坐标来形成标定材料在不同厚度下的点；基于所述的点形成所述分类曲线。18.如权利要求15-17任一项所述的设备，还包括：设置具有预定大小的邻域的装置；以及在每个像素的邻域中对所述高能透射图像和所述低能透射图像进行降噪的装置。19.如权利要求18所述的设备，其中在每个像素的邻域中对所述高能透射图像和所述低能透射图像进行降噪的装置包括：在邻域中寻找与中心像素相似的像素作为相似像素的装置；对邻域中的相似像素进行加权平均的装置。20.如权利要求19所述的设备，其中所述相似像素的高能透明度和低能透明度与所述中心像素的高能透明度和低能透明度之间的差异小于预定值。21.如权利要求19所述的设备，其中将所述被检物体识别为有机物、轻金属、无机物或重金属。22.如权利要求21所述的设备，还包括对识别结果进行彩色化显示的装置。23.如权利要求22所述的设备，其中所述对识别结果进行彩色化显示的装置包括：对每个像素的高能透明度和低能透明度进行加权平均作为该像素的融合灰度值的装置；根据被检物体中与该像素相对应部分的材料类型来确定颜色色调的装置；根据该像素的融合灰度值来确定该像素的亮度等级的装置；将所述颜色色调和所述亮度等级作为索引来从预先创建的查找表中获得该像素的R值、G值和B值的装置。24.如权利要求23所述的设备，其中将橙色赋予有机物、将绿色赋予轻金属、将蓝色赋予无机物、将紫色赋予重金属。25.如权利要求15-17任一项所述的设备，还包括对从射线源发出的射线进行能谱整形来扩大高能射线和低能射线之间的能谱差异的装置。26.如权利要求17所述的设备，其中采用最小二乘曲线拟合法对所述点进行曲线拟合。27.如权利要求17所述的设备，其中采用切比雪夫意义下的最佳拟合多项式对所述点进行曲线拟合。28.如权利要求17所述的设备，其中对所述分类曲线进行离散化。”本案原专利复审委员会于2017年6月22日发出转文通知书，将同方威视公司、清华大学于2017年6月13日提交的意见陈述书及其附件转送给君和信达公司。口头审理如期举行，君和信达公司委托专利代理人闫世晔、公民代理人刘硕鹏、李苏祺、郑建斌出席口头审理，同方威视公司、清华大学委托专利代理人陈姗姗、李勤、公民代理人胡江海、黄清萍出席口头审理。同方威视公司、清华大学当庭提交了涉及证据9、证据10和证据11公开性的反证文件（下称反证1），原专利复审委员会当庭将其转文给君和信达公司，君和信达公司当庭签收。反证1：显示为中国科学院文献情报中心（国家科学图书馆）的网上下载文献的打印件，共11页。在口头审理过程中，双方当事人充分发表了意见。针对修改后的权利要求书作为审查文本，双方都表示与以原始权利要求书作为审查文本时对相关特征的认定一致。至此，原专利复审委员会认为本案事实已经清楚，可以作出审查决定，于2017年9月27日作出决定。诉讼阶段，国家知识产权局将被诉决定及审查阶段的相关文书和证据作为证据提交，君和信达公司提交了被诉决定、口审笔录、本专利的专利检索报告、美国同族授权文本、审查档案及相关译文、特征对比表等证据。在本案庭审中，君和信达公司明确表示对被诉决定的案由、决定理由中审查基础的认定无异议。另查，根据中央机构改革部署，不再保留原国家知识产权局专利复审委员会，相关职责由国家知识产权局统一行使。上述事实，有被诉决定、本专利授权公告文本、当事人各方提交的证据、当事人陈述及庭审笔录等证据在案佐证。本院认为：一、关于本案的法律适用问题2008年12月27日修改的《中华人民共和国专利法》（简称2009年专利法）已于2009年10月1日起施行，2009年12月30日修改的《中华人民共和国专利法实施细则》已于2010年2月1日起施行。因此，本案审理涉及2001年专利法与2009年专利法之间、2002年专利法实施细则与2010年专利法实施细则之间的选择适用问题。国家知识产权局制定了《施行修改后的专利法的过渡办法》，并于2009年10月1日起施行。对于专利权是否有效的审查，根据该过渡办法，申请日在2009年10月1日前的专利申请以及根据该专利申请授予的专利权适用2001年专利法的规定；申请日在2009年10月1日以后（含该日）的专利申请以及根据该专利申请授予的专利权适用2009年专利法的规定。国家知识产权局亦制定了《施行修改后的专利法实施细则的过渡办法》，并于2010年2月1日起施行。对于专利权是否有效的审查，根据该过渡办法，申请日在2010年2月1日前（不含该日）的专利申请以及根据该专利申请授予的专利权适用2002年专利法实施细则的规定；申请日在2010年2月1日以后（含该日，下同）的专利申请以及根据该专利申请授予的专利权适用2010年专利法实施细则的规定；但该办法对申请日在2010年2月1日前的专利申请以及根据该申请授予的专利权的有特殊规定除外。具体到本案，本案属于专利确权行政纠纷，本专利的申请日在2009年10月1日前。因此，参照上述过渡办法的相关规定，本案应适用2001年专利法及2002年专利法实施细则进行审理。二、关于2002年专利法实施细则第二十条第一款的适用问题2002年专利法实施细则第二十条第一款规定：权利要求书应当说明发明或者实用新型的技术特征，清楚、简要地表述请求保护的范围。原告君和信达公司主张原专利复审委员会在适用该规定时，对于本专利权利要求1中“预先创建的分类曲线”进行解释时系以说明书中具体实施例即第0085-0093段为依据，从而实际上引入了本专利权利要求10的附加技术特征，故属于适用法律错误。被告国家知识产权局则认为本专利说明书第0085-0093段说明了分类曲线的建立过程，可以作为对前述“预先创建的分类曲线”的解释。第三人同方威视公司、清华大学亦主张应以本专利说明书第0085-0093段作为解释依据，同时认为本专利权利要求1中“预先创建的分类曲线”包括两层含义：1.该曲线是基于实测标定数据计算得到，而非仅由理论模拟得到；2.该曲线不同于标定曲线，可以是位于两条标定曲线之间的线，如本专利说明书第0085-0093段中的类别分界线。可见，由于本专利权利要求及说明书均未明确记载“预先创建的分类曲线”的特定含义，结合前述各方当事人意见，各方当事人关于本条法律规定适用的核心争议在于如何解释本专利权利要求1中“预先创建的分类曲线”。对此，本院认为，发明或者实用新型专利权的保护范围以其权利要求的内容为准，说明书及附图可以用于解释权利要求。说明书用于解释权利要求，应当基于其关于技术领域、背景技术、发明内容、附图及实施例等整体记载的内容进行考量，不应单独将说明书中示例性的具体实施例的内容引入权利要求书，实质上限缩权利要求的保护范围。具体到本案中，本专利说明书第0085-0093段载明了具体实施例中从标定材料训练数据生成各类材料之间的“类别分界线”的过程。结合该说明书中具体实施方式部分载明的其他内容，可知此处的“类别分界线”系基于实际测量标定材料的数据而建立。但上述内容仅可从具体实施例的记载中明确得出，从该说明书整体内容看，则无法得出该结论，第三人同方威视公司、清华大学强调的“该曲线不同于标定曲线”亦无法从说明书记载的整体内容中得出。需要指出的是，虽然说明书中发明内容部分记载了自动标定装置或标定装置，但本专利并未将上述装置写入权利要求书，不能基于此得出“预先创建的分类曲线”需基于实际测量标定材料的数据而建立。由于权利要求1记载了“针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型”，根据本领域技术人员的通常理解，“预先创建的分类曲线”应指以高能透明度为自变量的第一函数值和以高能透明度和低能透明度二者为自变量的第二函数值为横纵坐标且事先创建的实现物质类型识别的曲线。据此，结合本专利权利要求1中的上下文记载，“预先创建的分类曲线”的含义对于本领域技术人员来说是清楚的。本专利权利要求1系方法权利要求，权利要求14作为对应的产品权利要求，其中“预先创建的分类曲线”的含义与之相同。因此，本专利权利要求不存在原告君和信达公司在行政程序中所主张的保护范围不清楚的问题。三、关于2001年专利法第二十六条第四款的适用问题2001年专利法第二十六条第四款规定：权利要求书应当以说明书为依据，说明要求专利保护的范围。原告君和信达公司主张本专利说明书仅载明了类别分界线作为“预先创建的分类曲线”这一种具体实施方式，在缺乏其他实施方式记载的情况下，不能概括得出本专利权利要求1中要求保护的技术方案。对此，本院认为，根据前述“预先创建的分类曲线”的界定，本领域技术人员能够知晓，在本专利说明书的实施例记载的“类别分界线”外，还有其他以以高能透明度为自变量的第一函数值和以高能透明度和低能透明度二者为自变量的第二函数值为横纵坐标且事先创建的实现物质类型识别的曲线，本领域技术人员能够对相关的分类曲线类型进行合理的排除。因此，本专利权利要求不存在原告君和信达公司所主张的得不到说明书支持的问题。四、关于本专利权利要求的新颖性问题2001年专利法第二十二条第二款规定：新颖性，是指在申请日以前没有同样的发明或者实用新型在国内外出版物上公开发表过、在国内公开使用过或者以其他方式为公众所知，也没有同样的发明或者实用新型由他人向国务院专利行政部门提出过申请并且记载在申请日以后公布的专利申请文件中。（一）关于证据1各方当事人均认可对比文件已公开本专利权利要求1中除“通过预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”，以及“每个像素的值表示相应的高能透明度或低能透明度”之外的其他内容。故各方争议焦点在于上述内容是否被证据1公开。原告君和信达公司主张，证据1附图1公开的“分类曲线”所属坐标系中，横坐标为涉及高能透明度的第一函数（9MeV下透射能量的函数），纵坐标为涉及高、低能透明度的第二函数（9MeV与5MeV能量透射之比），具备了涉案专利实现分类的前提条件。因此，证据1中的“分类曲线”可以用于实现物质分类，相对于之后进行的物质识别，其必然是事先创建的。“像素”的含义在证据1和本专利中均是指沿每条射束路径透射的辐射在（探测器）表面上的投影，也相当于“射线穿透物体后的射线束强度与入射的射线的强度之比”，即“像素”的值表示透射射线相应的透明度。被告国家知识产权局认为证据1中的分类曲线是模拟的，并不是预先创建的分类曲线，即没有公开本专利的“通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”。两种能量射线所产生的“图像的像素”相当于本专利的“高能透射图像”、“低能透射图像”，但是证据1没有公开每个像素的值表示相应的高能透明度或低能透明度。第三人同方威视公司、清华大学认为，根据证据1的第0059段的记载，图1c中的曲线是模拟得到的H2O、Al等材料的曲线，不像本专利基于标定材料实测数据得到，也不是像本专利在标定得到的材料曲线基础上又计算得到的另外的线。此外，证据1也没有公开每个像素的值表示相应的高能透明度或低能透明度。本院认为，根据证据1说明书及附图的记载（参见说明书第0059-0064段，附图1a-1c），图1c显示了5条曲线，这5条曲线描述了模拟测量情况，作为9MeV下透射能量的函数的、在9MeV下透过5种不同材料的辐射和在5MeV下透过这5种不同材料的辐射之比。在图1a和图1c中，如果把一般在货物运输工具中发现的材料中具有最高原子数的铁（Fe，Z=26）用作测试材料，则所计算的比值小于铁的比值就指示存在原子数大于铁的材料。可见，证据1中的图1c也是事先创建的能够实现被检材料的类型识别的分类曲线，通过利用图1c对由高能透射的第一函数的值和高能透射和低能透射两者的第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体的类型。只是证据1中，两种能量的射线透射的辐射的投影称为“像素”，如果产生了图像，可以称为高能透射图像和低能透射图像，但是透射图像的像素的值可能代表透射前后的强度之比，也可能代表强度的绝对值，即证据1没有明确公开其透射图像的像素的值指的是透射后的射线强度与入射的射线强度之比，即透明度。至于第三人主张证据1中图1c中的曲线是模拟得到而非基于实测数据建立，如前所述，本专利权利要求1中的“预先创建的分类曲线”并未限定于基于标定材料的实测数据建立，从而不排除模拟的情形，故其该项主张不能成立。据此，相对于证据1，本专利权利要求1具备新颖性。在此基础上，本专利其他权利要求亦具备新颖性。（二）关于证据2各方当事人的争议在于其是否公开了“通过预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”。原告君和信达公司认为，原子序数可以简单地由比率（3）的一个给定值（相当于“第二函数的值”）以及其中一个能量的衰减值（可以为高能E1的衰减值，相当于“第一函数的值”）进行估计，因此可以创建一个查找表（相当于预先创建“由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置”的点的集合，基于该预先创建的查找表，形成图7所示的由四种测试材料的点集合构成的“预先创建的分类曲线”），根据实验测量的高能透明度和低能透明度来直接计算Z值（相当于物质识别过程中确定“由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置”）。假设只有两组材料：有机物，由碳氢化合物（Z1≈5.3）充分地表征；以及无机物，由铁（Z2≈26）代表。然后，可以根据贝叶斯公式写出决定数据点属于两个组中的一组的概率，并且对于不同的衰减率[19]进行数值估计，确定被检物质的数据点属于哪一组的材料识别过程，相当于“通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型”（参见证据2译文中第7页倒数第3段，第8页图7及其附图说明，下同）。被告国家知识产权局认为，证据2中是利用原子序数可以简单地由比率（3）的一个给定值以及其中一个能量的衰减值进行估计的原理，创建一个查找表，并根据实验测量的高能透明度和低能透明度来直接计算Z值，根据Z值来进行物质属性辨识，图7只是一种用于效果评估的测试样本曲线，而非分类曲线。第三人同方威视公司、清华大学认为，原子序数查找表是通过理论计算得到，并非通过标定材料实测得到。图7中的4条线为模拟得到的曲线，图7先是模拟得到4条曲线，然后对Fe的5种不同厚度的钢制遮挡物的比率R（E1,E2,t,Z）进行了测量，测量后钢制遮挡物不同厚度的散点均值落在Fe材料的理论曲线上，由此验证原子序数查找表中的比率（3）R（E1,E2,t,Z）能够对物质进行识别。因此，由图7也说明原子序数查找表中存储的比率也是模拟得到的。本院认为，依据证据2的记载（参见证据2译文第3页倒数第4段至第4页第1段、第6页第3段至第8页最后一段，图7），其公开了以下内容：这种方案能够形成包含具有不同能量的两个透明度数据分布的双能透射图像；两个透明度通过对属于同一障碍物的像素求平均而获得，并在表1中给出，每个步骤的比率（3）的分布在图7中示出。图7示出在标称E1=7.5MeV和低能E2=4.6MeV下对于2.5,5.0,7.5,10.0和15.0cm钢制遮挡物的实验测量的比率R（E1,E2,t,Z）的分布，对比标称能量下的吸收率。可见，证据2中利用5种不同厚度的钢制遮挡物对于图7中的曲线进行了验证和评估，利用该曲线对由高能透明度的第一函数的值1/T(E1)和高能透明度和低能透明度两者的第二函数的值R（E1,E2,t,Z）所确定的位置进行分类来识别物质的类型。证据2中图7的曲线也属于事先创建的分类曲线，能够实现物质类型的识别。至于第三人主张证据2中原子序数查找表是通过理论计算得到，并非通过标定材料实测得到，如前所述，本专利权利要求1中的“预先创建的分类曲线”并未限定于基于标定材料的实测数据建立，故其该项主张不能成立。据此，证据2破坏了本专利权利要求1及14的新颖性，被诉决定对此认定有误，本院予以纠正。（三）关于证据3各方当事人的争议焦点亦在于其是否公开了“通过预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”。原告君和信达公司认为，证据3的图3中四种物质的分类曲线是预先创建的，具体的创建方式参见证据3中图2和公式（3）。上述内容公开了“通过预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”。被告国家知识产权局认为，证据3的图3的4条曲线是通过计算得到的，并且通过实验数据的散点分布来验证这种计算方法的可靠性，并非是预先创建的分类曲线。第三人同方威视公司、清华大学认为，证据3的图3的四条曲线是计算得到，并非由标定材料实测得到，其是Al、Fe等材料的曲线，而不像本专利在标定得到的材料曲线基础上又计算得到的另外的线。本院认为，根据证据3的记载（参见证据3的译文的“方法”部分），其公开了以下内容：测得两个常规能量和第二能量条件下未知材料及其厚度的遮挡物的透明度；求解方程组（4）最常用的方法是函数最小化，让我们建立一个正值函数如函数（5），并将作为一个二元函数进行最小化。函数极小化过程（5）可在图上表示为搜索具有透明度T1exp、T2exp（吸收值的对数值）的实验点（图像的像素）与吸收曲线组中特定材料曲线之间的最短距离。材料识别的依据是函数最小化（5），其也可被大大简化。我们并未计算实验点和识别曲线集合中最近的厚度曲线之间的最短距离，而是采用了一种全新的方法；采用的全新物质识别方法是求公式（7）的比值。证据3还公开了（参见译文“试验结果”部分）：在一系列的试验中，我们采用了由聚乙烯、硬铝、钢和铅制成的平板试样和楔形试样，依据上述方法进行的数据处理可在不考虑试样厚度的情况下，区分试样并对其进行彩色化（图3）。图3示出了E常规=9.04MeV和E第二能量=4.65MeV时，计算得到的吸收曲线和聚乙烯（50cm）、硬铝（40cm）、钢（18cm）和铅（8cm）制楔形试样实验数据的散点分布。理论推导和实验结果表明，上述算法在加速器能量范围为1至10MeV时的双能模式下，可根据原子序数对材料进行识别，且无需考虑材料的厚度。可见，证据3事先建立了附图3的四条曲线，利用这些曲线对由常规能量（9.04MeV，即高能透明度）的第一函数的值α1和常规能量和第二能量两者（即高能透明度和低能透明度）的第二函数的值α2-α1所确定的位置进行分类来识别物质的类型，也公开了“通过预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物体的类型”。至于第三人主张该曲线并非基于实测，亦非标定得到的材料曲线基础上又计算得到的另外的线。如前所述，本专利权利要求1中的“预先创建的分类曲线”并未限定于基于标定材料的实测数据建立，亦未限定为在标定得到的材料曲线基础上又计算得到的另外的线，故对第三人上述主张，本院不予采纳。据此，证据3亦破坏了本专利权利要求1及14的新颖性，被诉决定对此认定有误，本院予以纠正。综上，本专利权利要求1、14相对于证据2、3不具备新颖性，依法应当予以无效。在此基础上，被告应就本专利权利要求2-13、15-26是否具备新颖性重新进行评述。五、关于本专利权利要求的创造性问题2001年专利法第二十二条第三款规定：创造性，是指与申请日以前已有的技术相比，该发明具有突出的实质性特点和显著的进步，该实用新型具有实质性特点和进步。如果一项权利要求的技术方案与一篇作为最接近的现有技术的证据相比存在区别特征，本领域技术人员根据现有技术的教导和启示能够容易地想到将该区别技术特征引用到最接近的现有技术而获得权利要求的技术方案，则该权利要求的技术方案是容易想到的，不具有突出的实质性特点和显著性进步，因而不具备创造性。将证据1与作为最接近的现有技术，其与本专利权利要求1的区别特征为：每个像素的值表示相应的高能透明度或低能透明度。但在证据1已经公开获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像的像素的情况下，像素的值选择常用的高能透明度和低能透明度，属于本领域的常规选择，本领域技术人员就此无需付出创造性劳动。因此，相对于证据1结合公知常识，本专利权利要求1不具备创造性。同理，本专利权利要求14亦不具备创造性。此外，由于本专利权利要求1、14分别相对于证据2、3不具备新颖性，其亦不具备创造性。在此基础上，被告应就本专利权利要求2-13、15-26是否具备创造性重新进行评述。综上所述，原专利复审委员会作出的被诉决定适用法律错误，本院依法予以撤销。原告君和信达公司的诉讼请求，具有事实基础和法律依据，本院予以支持。据此，依照《中华人民共和国行政诉讼法》第七十条第（二）项之规定，本院判决如下：一、撤销原国家知识产权局专利复审委员会作出的第33596号无效宣告请求审查决定；二、国家知识产权局在本判决生效后就北京君和信达科技有限公司针对同方威视技术股份有限公司、清华大学拥有的第200710177405.2号、名称为“物质识别方法和设备”的发明专利权提出的无效宣告请求重新作出决定。案件受理费人民币一百元，由被告国家知识产权局负担（于本判决生效后七日内交纳）。如不服本判决，北京君和信达科技有限公司、国家知识产权局、同方威视技术股份有限公司、清华大学可于本判决书送达之日起十五日内，向本院提交上诉状及副本，并交纳上诉案件受理费人民币一百元，上诉于中华人民共和国最高人民法院。审 判 长 仪 军审 判 员 宋 鹏审 判 员 刘炫孜二〇二〇年一月二十二日法官助理 王曹翼技术调查官张靳书记员马静