Zastosowanie elektronicznej interferometrii plamkowej do lokalizacji uszkodzeń zmęczeniowych.
Authors: Grzywna P., Kukla D., Kowalewski Z.L., Kopeć M., Wyszkowski M.
Published in: XXIII Seminarium NIENISZCZĄCE BADANIA MATERIAŁÓW(), Wydawca:PTBN
Publication type: conference