Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si techniką skaningowej mikroskopii pojemnościowej
Authors: A. Szyszka, T. Szymański, M. Tłaczała, M. Wośko, R. Paszkiewicz,
Published in: Przegląd Elektrotechniczny
Publication type: article
Subject areas: Engineering
SJR best quartile: Q4