Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si technikami mikroskopii ze skanującą sondą i oświetleniem
Authors: Adam Szyszka, Mateusz M. Wośko, Regina Paszkiewicz
Published in: Przegląd Elektrotechniczny
Publication type: article
Subject areas: Engineering
SJR best quartile: Q4