Measurement of sublayer thickness in Cu/X8CrNi25-21 Multilayers using X-ray method
Authors: Edyta Olejnik, Barbara Kucharska
Published in: XVI Międzynarodowa Konferencja Naukowa Nowe Technologie i Osiągnięcia w Metalurgii, Inżynierii Materiałowej i Inżynierii Produkcji
Publication type: conference