Badania właściwości elektromechanicznych nanostruktur dwuwymiarowych
Authors: Krzysztof Gajewski, Ling Hao, Adrian M. Ionescu, Włodek Strupiński, Piotr Niedzielski, Piotr Grabiec, Teodor Gotszalk
Published in: IX Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2016
Publication type: conference