Title: Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si technikami mikroskopii ze skanującą sondą i oświetleniem
Authors: Adam Szyszka, Mateusz M. Wośko, Regina Paszkiewicz
Journal: Przegląd Elektrotechniczny
Publication type: article
DOI: 10.15199/48.2019.09.33