Title: ARMScope – THE VERSATILE PLATFORM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPY SYSTEMS
Authors: Bartosz Świadkowski, Tomasz Piasecki, Maciej Rudek, Michał Świątkowski, Krzysztof Gajewski, Wojciech Majstrzyk, Michał Babij, Andrzej Dzierka, Teodor Gotszalk
Journal: METROLOGY AND MEASUREMENT SYSTEMS
Publication type: article
DOI: 10.24425/mms.2020.131711