Title: Optical examination of high contrast grating fabricated by focused-ion beam etching
Authors: D. Urbańczyk, A. Wójcik-Jedlińska, J. Muszalski, A. Łaszcz, M. Płuska, M. Gębski, T. Czyszanowski, A. Czerwinski, M. Bugajski
Journal: Optical and Quantum Electronics
Publication type: article
DOI: 10.1007/s11082-016-0544-8