Title: Badanie elektrycznych właściwości powierzchni heterostruktur AlGaN/GaN/Si techniką skaningowej mikroskopii pojemnościowej
Authors: A. Szyszka, T. Szymański, M. Tłaczała, M. Wośko, R. Paszkiewicz,
Journal: Przegląd Elektrotechniczny
Publication type: article
DOI: 10.15199/48.2017.08.15