Tytuł projektu: Badanie struktury elektronowej, gęstości stanów i morfologii powierzchni półprzewodników złożonych AIIIBV-N z zastosowaniem nowatorskiego spektromikroskopu DEEM. Opracowanie nowej metodologii charakteryzacji.
Instytucja: Politechnika Wrocławska, Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Miasto: Wrocław
Województwo: dolnośląskie
Kierownik projektu: dr hab. Krzysztof Piotr Grzelakowski
Panel: ST7 (obszar: ST)
Liczba wykonawców: 6
Finansowanie: 1342200 PLN
Okres realizacji: 2016-03-18 00:00:00 – 2019-09-17 00:00:00 (42 miesięcy)