Nhiễu xạ điện tử tán xạ ngược
Chú thích

1 2  Adams, Brent L.; Wright, Stuart I.; Kunze, Karsten (1 tháng 4 năm 1993). “Orientation imaging: The emergence of a new microscopy”. Metallurgical Transactions A (bằng tiếng Anh). 24 (4): 819–831. Bibcode:1993MTA....24..819A. doi:10.1007/BF02656503. ISSN 0360-2133. S2CID 137379846. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
1 2 3 4  Prior (tháng 9 năm 1999). “Problems in determining the misorientation axes, for small angular misorientations, using electron backscatter diffraction in the SEM”. Journal of Microscopy (bằng tiếng Anh). 195 (3): 217–225. doi:10.1046/j.1365-2818.1999.00572.x. ISSN 0022-2720. PMID 10460687. S2CID 10144078.
↑  Humphreys, F. J. (1 tháng 8 năm 2001). “Review Grain and subgrain characterisation by electron backscatter diffraction”. Journal of Materials Science (bằng tiếng Anh). 36 (16): 3833–3854. doi:10.1023/A:1017973432592. ISSN 1573-4803. S2CID 135659350. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
1 2  Wilkinson, Angus J.; Hirsch, Peter B. (1 tháng 8 năm 1997). “Electron diffraction based techniques in scanning electron microscopy of bulk materials”. Micron (bằng tiếng Anh). 28 (4): 279–308. arXiv:1904.05550. doi:10.1016/S0968-4328(97)00032-2. ISSN 0968-4328. S2CID 118944816.
↑  Shi, Qiwei; Roux, Stéphane; Latourte, Félix; Hild, François (1 tháng 4 năm 2019). “Estimation of elastic strain by integrated image correlation on electron diffraction patterns”. Ultramicroscopy. 199: 16–33. doi:10.1016/j.ultramic.2019.02.001. ISSN 0304-3991. PMID 30738984. S2CID 73418370.
↑  Lassen, N. C. Krieger; Jensen, Dorte Juul; Condradsen, K. (10 tháng 5 năm 1994). “Automatic Recognition of Deformed and Recrystallized Regions in Partly Recrystallized Samples Using Electron Back Scattering Patterns”. Materials Science Forum (bằng tiếng Anh). 157–162: 149–158. doi:10.4028/www.scientific.net/MSF.157-162.149. ISSN 1662-9752. S2CID 137129038. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Wilkinson, A. J. (1 tháng 1 năm 1997). “Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns”. Materials Science and Technology. 13 (1): 79–84. Bibcode:1997MatST..13...79W. doi:10.1179/mst.1997.13.1.79. ISSN 0267-0836. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Zhu, Chaoyi; De Graef, Marc (1 tháng 11 năm 2020). “EBSD pattern simulations for an interaction volume containing lattice defects”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 218: 113088. doi:10.1016/j.ultramic.2020.113088. ISSN 0304-3991. PMID 32784084. S2CID 221123906. Lưu trữ bản gốc ngày 31 tháng 10 năm 2022. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Troost, K. Z.; van der Sluis, P.; Gravesteijn, D. J. (8 tháng 3 năm 1993). “Microscale elastic‐strain determination by backscatter Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope”. Applied Physics Letters. 62 (10): 1110–1112. Bibcode:1993ApPhL..62.1110T. doi:10.1063/1.108758. ISSN 0003-6951. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Wilkinson, A. J.; Dingley, D. J. (1 tháng 12 năm 1991). “Quantitative deformation studies using electron back scatter patterns”. Acta Metallurgica et Materialia (bằng tiếng Anh). 39 (12): 3047–3055. doi:10.1016/0956-7151(91)90037-2. ISSN 0956-7151. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Wilkinson, Angus J. (1 tháng 3 năm 1996). “Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 62 (4): 237–247. doi:10.1016/0304-3991(95)00152-2. ISSN 0304-3991. PMID 22666906. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Wilkinson, A. J.; Meaden, G.; Dingley, D. J. (1 tháng 11 năm 2006). “High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction”. Materials Science and Technology. 22 (11): 1271–1278. Bibcode:2006MatST..22.1271W. doi:10.1179/174328406X130966. ISSN 0267-0836. S2CID 135875163.
1 2 3 4 5 6 7 8  Wilkinson, Angus J.; Meaden, Graham; Dingley, David J. (1 tháng 3 năm 2006). “High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: New levels of sensitivity”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 106 (4): 307–313. doi:10.1016/j.ultramic.2005.10.001. ISSN 0304-3991. PMID 16324788.
↑  Barabash, Rozaliya; Ice, Gene (21 tháng 2 năm 2013). Strain and Dislocation Gradients from Diffraction (bằng tiếng Anh). doi:10.1142/p897. ISBN 978-1-908979-62-9. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
1 2 3 4  Britton, T. B.; Wilkinson, A. J. (1 tháng 3 năm 2012). “High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 114: 82–95. doi:10.1016/j.ultramic.2012.01.004. ISSN 0304-3991. PMID 22366635.
↑  Wilkinson, Angus J.; Dingley, David J.; Meaden, Graham (2009),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (biên tập), “Strain Mapping Using Electron Backscatter Diffraction”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 231–249, doi:10.1007/978-0-387-88136-2_17, ISBN 978-0-387-88136-2, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023
↑  Wilkinson, Angus J.; Dingley, David J.; Meaden, Graham (2009),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (biên tập), “Strain Mapping Using Electron Backscatter Diffraction”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 231–249, doi:10.1007/978-0-387-88136-2_17, ISBN 978-0-387-88136-2, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023
1 2  Hardin, T.J.; Ruggles, T.J.; Koch, D.P.; Niezgoda, S.R.; Fullwood, D.T.; Homer, E.R. (tháng 10 năm 2015). “Analysis of traction-free assumption in high-resolution EBSD measurements: HR-EBSD TRACTION-FREE ASSUMPTION”. Journal of Microscopy (bằng tiếng Anh). 260 (1): 73–85. doi:10.1111/jmi.12268. PMID 26138919. S2CID 25692536. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Pantleon, W. (1 tháng 6 năm 2008). “Resolving the geometrically necessary dislocation content by conventional electron backscattering diffraction”. Scripta Materialia (bằng tiếng Anh). 58 (11): 994–997. doi:10.1016/j.scriptamat.2008.01.050. ISSN 1359-6462.
↑  Brewer, Luke N.; Field, David P.; Merriman, Colin C. (2009),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (biên tập), “Mapping and Assessing Plastic Deformation Using EBSD”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 251–262, doi:10.1007/978-0-387-88136-2_18, ISBN 978-0-387-88136-2, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023
1 2  Plancher, E.; Petit, J.; Maurice, C.; Favier, V.; Saintoyant, L.; Loisnard, D.; Rupin, N.; Marijon, J.-B.; Ulrich, O.; Bornert, M.; Micha, J.-S.; Robach, O.; Castelnau, O. (1 tháng 3 năm 2016). “On the Accuracy of Elastic Strain Field Measurements by Laue Microdiffraction and High-Resolution EBSD: a Cross-Validation Experiment”. Experimental Mechanics (bằng tiếng Anh). 56 (3): 483–492. doi:10.1007/s11340-015-0114-1. ISSN 1741-2765. S2CID 255157494. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Maurice, Claire; Driver, Julian H.; Fortunier, Roland (1 tháng 2 năm 2012). “On solving the orientation gradient dependency of high angular resolution EBSD”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 113: 171–181. doi:10.1016/j.ultramic.2011.10.013. ISSN 0304-3991.
1 2  Koko, Abdalrhaman; Marrow, James; Elmukashfi, Elsiddig (2022-06-12). "A Computational Method for the Determination of the Elastic Displacement Field using Measured Elastic Deformation Field".  arΧiv:2107.10330 [cond-mat.mtrl-sci].  Bài viết này tích hợp văn bản đã phát hành theo giấy phép CC BY 4.0.
↑  Ruggles, T. J.; Bomarito, G. F.; Qiu, R. L.; Hochhalter, J. D. (1 tháng 12 năm 2018). “New levels of high angular resolution EBSD performance via inverse compositional Gauss–Newton based digital image correlation”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 195: 85–92. doi:10.1016/j.ultramic.2018.08.020. ISSN 0304-3991. PMC 7780544. PMID 30216795.
↑  Vermeij, T.; Hoefnagels, J. P. M. (1 tháng 8 năm 2018). “A consistent full-field integrated DIC framework for HR-EBSD”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 191: 44–50. doi:10.1016/j.ultramic.2018.05.001. ISSN 0304-3991. PMID 29772417. S2CID 21685690.
↑  Ernould, Clément; Beausir, Benoît; Fundenberger, Jean-Jacques; Taupin, Vincent; Bouzy, Emmanuel (1 tháng 2 năm 2021). “Integrated correction of optical distortions for global HR-EBSD techniques”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 221: 113158. doi:10.1016/j.ultramic.2020.113158. ISSN 0304-3991. PMID 33338818. S2CID 228997006.
↑  Shi, Qiwei; Loisnard, Dominique; Dan, Chengyi; Zhang, Fengguo; Zhong, Hongru; Li, Han; Li, Yuda; Chen, Zhe; Wang, Haowei; Roux, Stéphane (1 tháng 8 năm 2021). “Calibration of crystal orientation and pattern center of EBSD using integrated digital image correlation”. Materials Characterization (bằng tiếng Anh). 178: 111206. doi:10.1016/j.matchar.2021.111206. ISSN 1044-5803. S2CID 236241507.
1 2 3 4  Maurice, Claire; Fortunier, Roland; Driver, Julian; Day, Austin; Mingard, Ken; Meaden, Graham (1 tháng 6 năm 2010). “Comments on the paper "Bragg's law diffraction simulations for electron backscatter diffraction analysis" by Josh Kacher, Colin Landon, Brent L. Adams & David Fullwood”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 110 (7): 758–759. doi:10.1016/j.ultramic.2010.02.003. ISSN 0304-3991. PMID 20223590.
↑  Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M. (2006). “EBSD Image Quality Mapping”. Microscopy and Microanalysis. 12 (1): 72–84. Bibcode:2006MiMic..12...72W. doi:10.1017/s1431927606060090. PMID 17481343. S2CID 35055001. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Jiang, Jun; Zhang, Tiantian; Dunne, Fionn P. E.; Britton, T. Ben (tháng 1 năm 2016). “Deformation compatibility in a single crystalline Ni superalloy”. Proceedings of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences (bằng tiếng Anh). 472 (2185): 20150690. Bibcode:2016RSPSA.47250690J. doi:10.1098/rspa.2015.0690. ISSN 1364-5021. PMC 4786046. PMID 26997901.
1 2 3 4  Mikami, Yoshiki; Oda, Kazuo; Kamaya, Masayuki; Mochizuki, Masahito (28 tháng 10 năm 2015). “Effect of reference point selection on microscopic stress measurement using EBSD”. Materials Science and Engineering: A (bằng tiếng Anh). 647: 256–264. doi:10.1016/j.msea.2015.09.004. ISSN 0921-5093.
↑  Koko, A.; Earp, P.; Wigger, T.; Tong, J.; Marrow, T. J. (1 tháng 5 năm 2020). “J-integral analysis: An EDXD and DIC comparative study for a fatigue crack”. International Journal of Fatigue (bằng tiếng Anh). 134: 105474. doi:10.1016/j.ijfatigue.2020.105474. ISSN 0142-1123. S2CID 214391445.
↑  Kacher, Josh; Landon, Colin; Adams, Brent L.; Fullwood, David (1 tháng 8 năm 2009). “Bragg's Law diffraction simulations for electron backscatter diffraction analysis”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 109 (9): 1148–1156. doi:10.1016/j.ultramic.2009.04.007. ISSN 0304-3991. PMID 19520512.
↑  Winkelmann, A; Nolze, G; Vos, M; Salvat-Pujol, F; Werner, W S M (9 tháng 2 năm 2016). “Physics-based simulation models for EBSD: advances and challenges”. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 109 (1): 012018. arXiv:1505.07982. Bibcode:2016MS&E..109a2018W. doi:10.1088/1757-899x/109/1/012018. ISSN 1757-8981. S2CID 38586851.
↑  Alkorta, Jon; Marteleur, Matthieu; Jacques, Pascal J. (1 tháng 11 năm 2017). “Improved simulation based HR-EBSD procedure using image gradient based DIC techniques”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 182: 17–27. doi:10.1016/j.ultramic.2017.06.015. ISSN 0304-3991. PMID 28644960.
↑  Winkelmann, Aimo; Nolze, Gert; Cios, Grzegorz; Tokarski, Tomasz; Bała, Piotr; Hourahine, Ben; Trager‐Cowan, Carol (tháng 11 năm 2021). “Kikuchi pattern simulations of backscattered and transmitted electrons”. Journal of Microscopy (bằng tiếng Anh). 284 (2): 157–184. doi:10.1111/jmi.13051. ISSN 0022-2720. PMID 34275156. S2CID 236091618. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Winkelmann, A. (tháng 7 năm 2010). “Principles of depth-resolved Kikuchi pattern simulation for electron backscatter diffraction: KIKUCHI PATTERN SIMULATION FOR EBSD”. Journal of Microscopy (bằng tiếng Anh). 239 (1): 32–45. doi:10.1111/j.1365-2818.2009.03353.x. PMID 20579267. S2CID 23590722. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Vermeij, Tijmen; De Graef, Marc; Hoefnagels, Johan (15 tháng 3 năm 2019). “Demonstrating the potential of accurate absolute cross-grain stress and orientation correlation using electron backscatter diffraction”. Scripta Materialia (bằng tiếng Anh). 162: 266–271. arXiv:1807.03908. doi:10.1016/j.scriptamat.2018.11.030. ISSN 1359-6462. S2CID 54575778.
↑  Tanaka, Tomohito; Wilkinson, Angus J. (1 tháng 7 năm 2019). “Pattern matching analysis of electron backscatter diffraction patterns for pattern centre, crystal orientation and absolute elastic strain determination – accuracy and precision assessment”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 202: 87–99. arXiv:1904.06891. doi:10.1016/j.ultramic.2019.04.006. ISSN 0304-3991. PMID 31005023. S2CID 119294636.
↑  Tanaka, Tomohito; Wilkinson, Angus J. (1 tháng 7 năm 2019). “Pattern matching analysis of electron backscatter diffraction patterns for pattern centre, crystal orientation and absolute elastic strain determination – accuracy and precision assessment”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 202: 87–99. arXiv:1904.06891. doi:10.1016/j.ultramic.2019.04.006. ISSN 0304-3991. PMID 31005023. S2CID 119294636.
↑  Kacher, Josh; Basinger, Jay; Adams, Brent L.; Fullwood, David T. (1 tháng 6 năm 2010). “Reply to comment by Maurice et al. in response to "Bragg's Law Diffraction Simulations for Electron Backscatter Diffraction Analysis"”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 110 (7): 760–762. doi:10.1016/j.ultramic.2010.02.004. ISSN 0304-3991. PMID 20189305.
↑  Kacher, Josh; Basinger, Jay; Adams, Brent L.; Fullwood, David T. (1 tháng 6 năm 2010). “Reply to comment by Maurice et al. in response to "Bragg's Law Diffraction Simulations for Electron Backscatter Diffraction Analysis"”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 110 (7): 760–762. doi:10.1016/j.ultramic.2010.02.004. ISSN 0304-3991. PMID 20189305.
↑  Britton, T. B.; Maurice, C.; Fortunier, R.; Driver, J. H.; Day, A. P.; Meaden, G.; Dingley, D. J.; Mingard, K.; Wilkinson, A. J. (1 tháng 11 năm 2010). “Factors affecting the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction when using simulated patterns”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 110 (12): 1443–1453. doi:10.1016/j.ultramic.2010.08.001. ISSN 0304-3991. PMID 20888125.
↑  Alkorta, Jon (1 tháng 8 năm 2013). “Limits of simulation based high resolution EBSD”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 131: 33–38. doi:10.1016/j.ultramic.2013.03.020. ISSN 0304-3991. PMID 23676453.
↑  Jackson, Brian E.; Christensen, Jordan J.; Singh, Saransh; De Graef, Marc; Fullwood, David T.; Homer, Eric R.; Wagoner, Robert H. (tháng 8 năm 2016). “Performance of Dynamically Simulated Reference Patterns for Cross-Correlation Electron Backscatter Diffraction”. Microscopy and Microanalysis (bằng tiếng Anh). 22 (4): 789–802. Bibcode:2016MiMic..22..789J. doi:10.1017/S143192761601148X. ISSN 1431-9276. PMID 27509538. S2CID 24482631. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Zhang, Tiantian; Collins, David M.; Dunne, Fionn P. E.; Shollock, Barbara A. (1 tháng 11 năm 2014). “Crystal plasticity and high-resolution electron backscatter diffraction analysis of full-field polycrystal Ni superalloy strains and rotations under thermal loading”. Acta Materialia (bằng tiếng Anh). 80: 25–38. doi:10.1016/j.actamat.2014.07.036. hdl:10044/1/25979. ISSN 1359-6454.
↑  Guo, Yi; Zong, Cui; Britton, T. B. (13 tháng 5 năm 2021). “Development of local plasticity around voids during tensile deformation”. Materials Science and Engineering: A (bằng tiếng Anh). 814: 141227. arXiv:2007.11890. doi:10.1016/j.msea.2021.141227. ISSN 0921-5093. S2CID 234850241.
↑  Jiang, J.; Britton, T. B.; Wilkinson, A. J. (1 tháng 11 năm 2013). “Evolution of dislocation density distributions in copper during tensile deformation”. Acta Materialia (bằng tiếng Anh). 61 (19): 7227–7239. Bibcode:2013AcMat..61.7227J. doi:10.1016/j.actamat.2013.08.027. ISSN 1359-6454.
↑  Britton, T B; Hickey, J L R (tháng 1 năm 2018). “Understanding deformation with high angular resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)”. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 304 (1): 012003. Bibcode:2018MS&E..304a2003B. doi:10.1088/1757-899x/304/1/012003. ISSN 1757-8981. S2CID 54529072.
↑  Kalácska, Szilvia; Dankházi, Zoltán; Zilahi, Gyula; Maeder, Xavier; Michler, Johann; Ispánovity, Péter Dusán; Groma, István (7 tháng 1 năm 2020). “Investigation of geometrically necessary dislocation structures in compressed Cu micropillars by 3-dimensional HR-EBSD”. Materials Science and Engineering: A (bằng tiếng Anh). 770: 138499. doi:10.1016/j.msea.2019.138499. ISSN 0921-5093. S2CID 189928469.
↑  Wallis, David; Hansen, Lars N.; Britton, T. Ben; Wilkinson, Angus J. (tháng 10 năm 2017). “Dislocation Interactions in Olivine Revealed by HR-EBSD: Dislocation Interactions in Olivine”. Journal of Geophysical Research: Solid Earth (bằng tiếng Anh). 122 (10): 7659–7678. doi:10.1002/2017JB014513. hdl:10044/1/50615. S2CID 134570945.
↑  Moussa, C; Bernacki, M; Besnard, R; Bozzolo, N (7 tháng 8 năm 2015). “About quantitative EBSD analysis of deformation and recovery substructures in pure Tantalum”. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 89 (1): 012038. Bibcode:2015MS&E...89a2038M. doi:10.1088/1757-899x/89/1/012038. ISSN 1757-8981. S2CID 53137730.
↑  Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M. (2006). “EBSD Image Quality Mapping”. Microscopy and Microanalysis. 12 (1): 72–84. Bibcode:2006MiMic..12...72W. doi:10.1017/s1431927606060090. PMID 17481343. S2CID 35055001. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Wright, Stuart I.; Matthew, M. Nowell; David, P. Field. (2011). “A review of strain analysis using electron backscatter diffraction”. Microscopy and Microanalysis. 17. 17 (3): 316–329. Bibcode:2011MiMic..17..316W. doi:10.1017/S1431927611000055. PMID 21418731. S2CID 26116915.
↑  Tao, Xiaodong; Eades, Alwyn (2002). “Alternatives to Image Quality (IQ) Mapping in EBSD”. Microscopy and Microanalysis. 8 (S02): 692–693. Bibcode:2002MiMic...8S.692T. doi:10.1017/s1431927602106465. S2CID 138999871. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  McLean, Mark J.; Osborn, William A. (1 tháng 2 năm 2018). “In-situ elastic strain mapping during micromechanical testing using EBSD”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 185: 21–26. doi:10.1016/j.ultramic.2017.11.007. ISSN 0304-3991. PMID 29161620.
Cấu hình phần cứng tiêu chuẩn của EBSD bên trong máy quét tia electron với nguồn electron phát xạ trường
Côn Kossel được hình thành bằng cách giao nhau với màn hình CCD để tạo thành EBSP có thể được chỉ mục bằng Chỉ số Bravais-Miller
Sự suy giảm chất lượng mẫu do tích tụ carbon tại một vị trí được phóng đại cao sau khi thu thập dữ liệu EBSP trong vòng 3 giờ xung quanh một song song biến dạng trong giai đoạn ferrite của thép không gỉ đôi.
Thể tích tương tác giữa điện tử và vật liệu và các loại tín hiệu được tạo ra.
Hình vẽ minh họa tương tác giữa tia electron với mẫu. K, L, và M là các lớp electron. N là hạt nhân mẫu. Gamma là photon đặc trưng phát ra khi các electron phụ (Secondary Electron) bị bắn ra. BSE là Electron Phản Xạ Lại. Các electron khác được gọi là Electron hình thành ảnh (imaging electron).
Tổng quan về quy trình chỉ số hóa EBSD, cho thấy quá trình thu thập mẫu gợn cho đến xác định hướng tinh thể.
Bản đồ hướng EBSD (đã chỉ mục) cho thấy martenxit gai sắt với các ranh giới góc lớn hơn 10°.
Sự dịch chuyển mô hình giữa các tinh thể tham chiếu và bị biến dạng trong mẫu EBSP được chiếu lên màn hình phosphor
(a) Hình ảnh electron phụ (SE) cho lỗ đẩy trên tinh thể đơn tinh (001). (b) Các thành phần căng và xoay HR-EBSD và mật độ gợi ý hình học của các dislocation ( \rho _{GND}). EBSP0 được đánh dấu với một ngôi sao trong  \sigma _{yz}.
Số hệ số tương quan tuyến tính giữa điều kiện cục bộ tại điểm EBSP0 và điều kiện trung bình tại hạt cho pha ferrite (Fe-α) và austenite (Fe-γ) của DSS được làm giàu bằng tuổi ( A^{0}), độ co giãn chính trong mặt phẳng lớn nhất ( \epsilon _{MAX}), độ lệch góc trung bình (MAE) và mật độ xếp chồng lượng không gian (GND) cũng như cho silic. Phân tích xem xét độ lớn của đỉnh tương quan (PH) trong các điều kiện đó..