Nhiễu xạ điện tử tán xạ ngược
Chú thích

1 2 3 4 5 6  Koko, Abdalrhaman; Tong, Vivian; Wilkinson, Angus J.; Marrow, T. James (20 tháng 2 năm 2023). “An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 248: 113705. arXiv:2206.10242. doi:10.1016/j.ultramic.2023.113705. ISSN 0304-3991. PMID 36871367. S2CID 249889699. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023. Bài viết này tích hợp văn bản đã phát hành theo giấy phép CC BY 4.0.
↑  Vespucci, S.; Winkelmann, A.; Naresh-Kumar, G.; Mingard, K. P.; Maneuski, D.; Edwards, P. R.; Day, A. P.; O'Shea, V.; Trager-Cowan, C. (6 tháng 11 năm 2015). “Digital direct electron imaging of energy-filtered electron backscatter diffraction patterns”. Physical Review B. 92 (20): 205301. Bibcode:2015PhRvB..92t5301V. doi:10.1103/PhysRevB.92.205301.
1 2  Randle, Valerie (tháng 9 năm 2009). “Electron backscatter diffraction: Strategies for reliable data acquisition and processing”. Materials Characterization (bằng tiếng Anh). 60 (9): 913–922. doi:10.1016/j.matchar.2009.05.011. Lưu trữ bản gốc ngày 21 tháng 1 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W. M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C. (2018), “Backscattered Electrons”, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (bằng tiếng Anh), New York, NY: Springer New York, tr. 15–28, doi:10.1007/978-1-4939-6676-9_2, ISBN 978-1-4939-6674-5, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023
↑  Winkelmann, Aimo; Nolze, Gert (tháng 2 năm 2010). “Analysis of Kikuchi band contrast reversal in electron backscatter diffraction patterns of silicon”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 110 (3): 190–194. doi:10.1016/j.ultramic.2009.11.008. PMID 20005045. Lưu trữ bản gốc ngày 24 tháng 10 năm 2022. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
1 2 3 4  Schwarzer, Robert A.; Field, David P.; Adams, Brent L.; Kumar, Mukul; Schwartz, Adam J. (2009),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (biên tập), “Present State of Electron Backscatter Diffraction and Prospective Developments”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 1–20, doi:10.1007/978-0-387-88136-2_1, ISBN 978-0-387-88136-2, OSTI 964094, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023
↑   Venables, J. A.; Harland, C. J. (1 tháng 5 năm 1973). “Electron back-scattering patterns—A new technique for obtaining crystallographic information in the scanning electron microscope”. The Philosophical Magazine: A Journal of Theoretical Experimental and Applied Physics. 27 (5): 1193–1200. Bibcode:1973PMag...27.1193V. doi:10.1080/14786437308225827. ISSN 0031-8086. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑   Chen, Delphic; Kuo, Jui-Chao; Wu, Wen-Tuan (1 tháng 8 năm 2011). “Effect of microscopic parameters on EBSD spatial resolution”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 111 (9): 1488–1494. doi:10.1016/j.ultramic.2011.06.007. ISSN 0304-3991. PMID 21930021.
↑  Field, D. P. (2005). “Improving the Spatial Resolution of EBSD”. Microscopy and Microanalysis. 11. doi:10.1017/s1431927605506445. S2CID 138097039. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Deal, Andrew; Tao, Xiaodong; Eades, Alwyn (tháng 11 năm 2005). “EBSD geometry in the SEM: simulation and representation”. Surface and Interface Analysis (bằng tiếng Anh). 37 (11): 1017–1020. doi:10.1002/sia.2115. ISSN 0142-2421. S2CID 122757345.
↑  Goulden, J.; Trimby, P.; Bewick, A. (1 tháng 8 năm 2018). “The Benefits and Applications of a CMOS-based EBSD Detector”. Microscopy and Microanalysis. 24 (S1): 1128–1129. Bibcode:2018MiMic..24S1128G. doi:10.1017/s1431927618006128. ISSN 1431-9276. S2CID 139967518.
↑  Randle, Valerie (2000),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L. (biên tập), “Theoretical Framework for Electron Backscatter Diffraction”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 19–30, doi:10.1007/978-1-4757-3205-4_2, ISBN 978-1-4757-3205-4, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023
1 2  Eades, Alwyn; Deal, Andrew; Bhattacharyya, Abhishek; Hooghan, Tejpal (2009),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (biên tập), “Energy Filtering in EBSD”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 53–63, doi:10.1007/978-0-387-88136-2_4, ISBN 978-0-387-88136-2, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023
1 2 3 4  Wilkinson, Angus J.; Britton, T. Ben. (1 tháng 9 năm 2012). “Strains, planes, and EBSD in materials science”. Materials Today (bằng tiếng Anh). 15 (9): 366–376. doi:10.1016/S1369-7021(12)70163-3. ISSN 1369-7021. Lưu trữ bản gốc ngày 17 tháng 10 năm 2022. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Sawatzki, Simon; Woodcock, Thomas G.; Güth, Konrad; Müller, Karl-Hartmut; Gutfleisch, Oliver (15 tháng 5 năm 2015). “Calculation of remanence and degree of texture from EBSD orientation histograms and XRD rocking curves in Nd–Fe–B sintered magnets”. Journal of Magnetism and Magnetic Materials (bằng tiếng Anh). 382: 219–224. Bibcode:2015JMMM..382..219S. doi:10.1016/j.jmmm.2015.01.046. ISSN 0304-8853.
↑  Maitland, Tim; Sitzman, Scott (2007),  Zhou, Weilie; Wang, Zhong Lin (biên tập), “Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization”, Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications (bằng tiếng Anh), New York, NY: Springer, tr. 41–75, doi:10.1007/978-0-387-39620-0_2, ISBN 978-0-387-39620-0, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023
↑  Tixier, R.; Waché, C. (1 tháng 12 năm 1970). “Kossel patterns”. Journal of Applied Crystallography (bằng tiếng Anh). 3 (6): 466–485. doi:10.1107/S0021889870006726. ISSN 0021-8898. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Alam, M. N.; Blackman, M.; Pashley, D. W. (21 tháng 1 năm 1954). “High-angle Kikuchi patterns”. Proceedings of the Royal Society of London. Series A. Mathematical and Physical Sciences (bằng tiếng Anh). 221 (1145): 224–242. Bibcode:1954RSPSA.221..224A. doi:10.1098/rspa.1954.0017. ISSN 0080-4630. S2CID 97131764. Lưu trữ bản gốc ngày 26 tháng 1 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Dingley, D J; Wright, S I; Nowell, M M (tháng 8 năm 2005). “Dynamic Background Correction of Electron Backscatter Diffraction Patterns”. Microscopy and Microanalysis (bằng tiếng Anh). 11 (S02). doi:10.1017/S1431927605506676. ISSN 1431-9276. S2CID 137658758. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  El-Dasher, Bassem; Deal, Andrew (2009),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (biên tập), “Application of Electron Backscatter Diffraction to Phase Identification”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 81–95, doi:10.1007/978-0-387-88136-2_6, ISBN 978-0-387-88136-2, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023
1 2  Winkelmann, Aimo; Trager-Cowan, Carol; Sweeney, Francis; Day, Austin P.; Parbrook, Peter (1 tháng 4 năm 2007). “Many-beam dynamical simulation of electron backscatter diffraction patterns”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 107 (4): 414–421. doi:10.1016/j.ultramic.2006.10.006. ISSN 0304-3991. PMID 17126489.
1 2  Winkelmann, Aimo (2009),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (biên tập), “Dynamical Simulation of Electron Backscatter Diffraction Patterns”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 21–33, doi:10.1007/978-0-387-88136-2_2, ISBN 978-0-387-88136-2, S2CID 122806598, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023
1 2 3 4  Britton, T. B.; Jiang, J.; Guo, Y.; Vilalta-Clemente, A.; Wallis, D.; Hansen, L. N.; Winkelmann, A.; Wilkinson, A. J. (1 tháng 7 năm 2016). “Tutorial: Crystal orientations and EBSD — Or which way is up?”. Materials Characterization (bằng tiếng Anh). 117: 113–126. doi:10.1016/j.matchar.2016.04.008. ISSN 1044-5803. S2CID 138070296. Lưu trữ bản gốc ngày 31 tháng 10 năm 2022. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Nowell, Matthew M; Witt, Ronald A; True, Brian W (1 tháng 7 năm 2005). “EBSD Sample Preparation: Techniques, Tips, and Tricks”. Microscopy Today. 13 (4): 44–49. doi:10.1017/s1551929500053669. ISSN 2150-3583. S2CID 139585885. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
1 2  Koko, Abdalrhaman; Elmukashfi, Elsiddig; Becker, Thorsten H.; Karamched, Phani S.; Wilkinson, Angus J.; Marrow, T. James (15 tháng 10 năm 2022). “In situ characterisation of the strain fields of intragranular slip bands in ferrite by high-resolution electron backscatter diffraction”. Acta Materialia (bằng tiếng Anh). 239: 118284. Bibcode:2022AcMat.23918284K. doi:10.1016/j.actamat.2022.118284. ISSN 1359-6454. S2CID 251783802. Lưu trữ bản gốc ngày 7 tháng 10 năm 2022. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023. Bài viết này tích hợp văn bản đã phát hành theo giấy phép CC BY 4.0.
↑  “Sample Preparation Techniques for EBSD Analysis (Electron Backscatter Diffraction)”. AZoNano.com (bằng tiếng Anh). 15 tháng 11 năm 2013. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  B., Williams, David (2009). Transmission electron microscopy: a textbook for materials science. Plenum Press. ISBN 978-0-387-76501-3. OCLC 633626308. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Britton, T.B.; Jiang, J.; Clough, R.; Tarleton, E.; Kirkland, A.I.; Wilkinson, A.J. (1 tháng 12 năm 2013). “Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction – Part 2: Experimental demonstration”. Ultramicroscopy. 135: 136–141. doi:10.1016/j.ultramic.2013.08.006. ISSN 0304-3991. PMID 24034981. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Jiang, J.; Britton, T.B.; Wilkinson, A.J. (1 tháng 11 năm 2013). “Evolution of dislocation density distributions in copper during tensile deformation”. Acta Materialia. 61 (19): 7227–7239. Bibcode:2013AcMat..61.7227J. doi:10.1016/j.actamat.2013.08.027. ISSN 1359-6454. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Abdolvand, Hamidreza; Wilkinson, Angus J. (1 tháng 9 năm 2016). “On the effects of reorientation and shear transfer during twin formation: Comparison between high-resolution electron backscatter diffraction experiments and a crystal plasticity finite element model”. International Journal of Plasticity. 84: 160–182. doi:10.1016/j.ijplas.2016.05.006. ISSN 0749-6419. S2CID 139049848. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Koko, Abdalrhaman; Becker, Thorsten H.; Elmukashfi, Elsiddig; Pugno, Nicola M.; Wilkinson, Angus J.; Marrow, T. James (1 tháng 3 năm 2023). “HR-EBSD analysis of in situ stable crack growth at the micron scale”. Journal of the Mechanics and Physics of Solids (bằng tiếng Anh). 172: 105173. arXiv:2206.10243. Bibcode:2023JMPSo.17205173K. doi:10.1016/j.jmps.2022.105173. ISSN 0022-5096. S2CID 249889649. Lưu trữ bản gốc ngày 1 tháng 2 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
1 2  Wilkinson, Angus J.; Randman, David (21 tháng 3 năm 2010). “Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction”. Philosophical Magazine. 90 (9): 1159–1177. Bibcode:2010PMag...90.1159W. doi:10.1080/14786430903304145. ISSN 1478-6435. S2CID 121903030. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
1 2 3  Koko, A. Mohamed (2022). In situ full-field characterisation of strain concentrations (deformation twins, slip bands and cracks) (Luận văn) (bằng tiếng English). University of Oxford. Lưu trữ bản gốc ngày 1 tháng 2 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.Quản lý CS1: ngôn ngữ không rõ (liên kết) Bài viết này tích hợp văn bản đã phát hành theo giấy phép CC BY 4.0.
↑  Griffiths, A J V; Walther, T (1 tháng 7 năm 2010). “Quantification of carbon contamination under electron beam irradiation in a scanning transmission electron microscope and its suppression by plasma cleaning”. Journal of Physics: Conference Series. 241 (1): 012017. Bibcode:2010JPhCS.241a2017G. doi:10.1088/1742-6596/241/1/012017. ISSN 1742-6596. S2CID 250689401.
↑  Koko, Abdalrhaman; Elmukashfi, Elsiddig; Dragnevski, Kalin; Wilkinson, Angus J.; Marrow, Thomas James (1 tháng 10 năm 2021). “J-integral analysis of the elastic strain fields of ferrite deformation twins using electron backscatter diffraction”. Acta Materialia (bằng tiếng Anh). 218: 117203. Bibcode:2021AcMat.21817203K. doi:10.1016/j.actamat.2021.117203. ISSN 1359-6454.
↑  Bachmann, F.; Hielscher, Ralf; Schaeben, Helmut (3 tháng 2 năm 2010). “Texture Analysis with MTEX – Free and Open Source Software Toolbox”. Solid State Phenomena (bằng tiếng Anh). 160: 63–68. doi:10.4028/www.scientific.net/SSP.160.63. ISSN 1662-9779. S2CID 136017346. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Dingley, D. (19 tháng 2 năm 2004). “Progressive steps in the development of electron backscatter diffraction and orientation imaging microscopy: EBSD AND OIM”. Journal of Microscopy (bằng tiếng Anh). 213 (3): 214–224. doi:10.1111/j.0022-2720.2004.01321.x. PMID 15009688. S2CID 41385346. Lưu trữ bản gốc ngày 9 tháng 2 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
1 2 3  Zaefferer, S. (1 tháng 2 năm 2007). “On the formation mechanisms, spatial resolution and intensity of backscatter Kikuchi patterns”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 107 (2): 254–266. doi:10.1016/j.ultramic.2006.08.007. ISSN 0304-3991. PMID 17055170.
1 2  Isabell, Thomas C.; Dravid, Vinayak P. (1 tháng 6 năm 1997). “Resolution and sensitivity of electron backscattered diffraction in a cold field emission gun SEM”. Ultramicroscopy. Frontiers in Electron Microscopy in Materials Science (bằng tiếng Anh). 67 (1): 59–68. doi:10.1016/S0304-3991(97)00003-X. ISSN 0304-3991.
↑  Wisniewski, Wolfgang; Rüssel, Christian (1 tháng 3 năm 2016). “An experimental viewpoint on the information depth of EBSD: An experimental viewpoint on the information depth of EBSD”. Scanning (bằng tiếng Anh). 38 (2): 164–171. doi:10.1002/sca.21251. PMID 26248948.
↑  Powell, C. J.; Jablonski, A. (2011). “Surface Sensitivity of Auger-Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy”. Journal of Surface Analysis. 17 (3): 170–176. doi:10.1384/jsa.17.170. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 8 năm 2022. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Piňos, J.; Mikmeková, Š.; Frank, L. (1 tháng 6 năm 2017). “About the information depth of backscattered electron imaging: ABOUT THE INFORMATION DEPTH”. Journal of Microscopy (bằng tiếng Anh). 266 (3): 335–342. doi:10.1111/jmi.12542. PMID 28248420. S2CID 35266526.
↑  Seah, M. P. (2001). “Summary of ISO/TC 201 Standard: VIII, ISO 18115:2001?Surface chemical analysis?Vocabulary”. Surface and Interface Analysis. 31 (11): 1048–1049. doi:10.1002/sia.1139. ISSN 0142-2421. S2CID 97982609.
↑  Humphreys, F. J (1 tháng 10 năm 2004). “Characterisation of fine-scale microstructures by electron backscatter diffraction (EBSD)”. Scripta Materialia. Viewpoint set no. 35. Metals and alloys with a structural scale from the micrometer to the atomic dimensions (bằng tiếng Anh). 51 (8): 771–776. doi:10.1016/j.scriptamat.2004.05.016. ISSN 1359-6462.
↑  Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W. M.; Scott, John Henry J.; Joy, David C. (2018),  Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas W.M. (biên tập), “The Visibility of Features in SEM Images”, Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (bằng tiếng Anh), New York, NY: Springer, tr. 123–131, doi:10.1007/978-1-4939-6676-9_8, ISBN 978-1-4939-6676-9, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023
↑  Zhu, Chaoyi; De Graef, Marc (1 tháng 11 năm 2020). “EBSD pattern simulations for an interaction volume containing lattice defects”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 218: 113088. doi:10.1016/j.ultramic.2020.113088. ISSN 0304-3991. PMID 32784084. S2CID 221123906. Lưu trữ bản gốc ngày 31 tháng 10 năm 2022. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Ren, S. X.; Kenik, E. A.; Alexander, K. B. (1 tháng 8 năm 1997). “Monte Carlo Simulation of Spatial Resolution for Electron Backscattered Diffraction (EBSD) with Application to Two-Phase Materials”. Microscopy and Microanalysis (bằng tiếng Anh). 3 (S2): 575–576. Bibcode:1997MiMic...3S.575R. doi:10.1017/S1431927600009764. ISSN 1431-9276. S2CID 137029133.
↑  Brodusch, Nicolas; Demers, Hendrix; Gauvin, Raynald (1 tháng 7 năm 2018). “Imaging with a Commercial Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Camera in a Scanning Electron Microscope: A Review”. Journal of Imaging (bằng tiếng Anh). 4 (7): 88. doi:10.3390/jimaging4070088. ISSN 2313-433X.
↑  Michiyoshi., Tanaka (1988). Convergent beam electron diffraction. Jeol. OCLC 312738225.
↑  “New technique provides detailed views of metals' crystal structure”. MIT News | Massachusetts Institute of Technology (bằng tiếng Anh). Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Electron backscatter diffraction in materials science (ấn bản thứ 2). Springer Science+Business Media. 2009. tr. 1. ISBN 978-0-387-88135-5.
↑  Wright, Stuart I.; Zhao, Jun-Wu; Adams, Brent L. (1991). “Automated Determination of Lattice Orientation From Electron Backscattered Kikuchi Diffraction Patterns”. Texture, Stress, and Microstructure (bằng tiếng Anh). 13 (2–3): 123–131. doi:10.1155/TSM.13.123. ISSN 1687-5397.
↑  Wright, Stuart I.; Adams, Brent L.; Kunze, Karsten (28 tháng 2 năm 1993). “Application of a new automatic lattice orientation measurement technique to polycrystalline aluminum”. Materials Science and Engineering: A (bằng tiếng Anh). 160 (2): 229–240. doi:10.1016/0921-5093(93)90452-K. ISSN 0921-5093. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Lassen, Niels Chr. Krieger (1 tháng 1 năm 1992). “Automatic crystal orientation determination from EBSPs”. Micron and Microscopica Acta (bằng tiếng Anh). 23 (1): 191–192. doi:10.1016/0739-6260(92)90133-X. ISSN 0739-6260. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Krieger Lassen, N.C.; Juul Jensen, Dorte; Condradsen, K. (tháng 5 năm 1994). “Automatic Recognition of Deformed and Recrystallized Regions in Partly Recrystallized Samples Using Electron Back Scattering Patterns”. Materials Science Forum. 157–162: 149–158. doi:10.4028/www.scientific.net/msf.157-162.149. ISSN 1662-9752. S2CID 137129038. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M.; Lindeman, Scott P.; Camus, Patrick P.; De Graef, Marc; Jackson, Michael A. (1 tháng 12 năm 2015). “Introduction and comparison of new EBSD post-processing methodologies”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 159: 81–94. doi:10.1016/j.ultramic.2015.08.001. ISSN 0304-3991. PMID 26342553. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Randle, Valerie (1 tháng 9 năm 2009). “Electron backscatter diffraction: Strategies for reliable data acquisition and processing”. Materials Characterization. 60 (9): 913–922. doi:10.1016/j.matchar.2009.05.011.
1 2  Lassen, Niels Christian Krieger (1994). Automated Determination of Crystal Orientations from Electron Backscattering Patterns (PDF) (Luận văn). The Technical University of Denmark. Lưu trữ (PDF) bản gốc ngày 8 tháng 3 năm 2022. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Sitzman, Scott; Schmidt, Niels-Henrik; Palomares-Garcia, Alberto; Munoz-Moreno, Rocio; Goulden, Jenny (2015). “Addressing Pseudo-Symmetric Misindexing in EBSD Analysis of γ-Ti Al with High Accuracy Band Detection”. Microscopy and Microanalysis. 21 (S3): 2037–2038. Bibcode:2015MiMic..21S2037S. doi:10.1017/s143192761501096x. S2CID 51964340. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Lenthe, W.; Singh, S.; De Graef, M. (1 tháng 10 năm 2019). “Prediction of potential pseudo-symmetry issues in the indexing of electron backscatter diffraction patterns”. Journal of Applied Crystallography (bằng tiếng Anh). 52 (5): 1157–1168. doi:10.1107/S1600576719011233. ISSN 1600-5767. OSTI 1575873. S2CID 204108200.
↑  Dingley, David J.; Wright, S.I. (2009),  Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (biên tập), “Phase Identification Through Symmetry Determination in EBSD Patterns”, Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (bằng tiếng Anh), Boston, MA: Springer US, tr. 97–107, doi:10.1007/978-0-387-88136-2_7, ISBN 978-0-387-88136-2, lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023, truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023
↑  Britton, T. B.; Tong, V. S.; Hickey, J.; Foden, A.; Wilkinson, A. J. (1 tháng 12 năm 2018). “AstroEBSD: exploring new space in pattern indexing with methods launched from an astronomical approach”. Journal of Applied Crystallography (bằng tiếng Anh). 51 (6): 1525–1534. arXiv:1804.02602. doi:10.1107/S1600576718010373. ISSN 1600-5767. S2CID 51687153.
↑  Britton, Thomas Benjamin; Tong, Vivian S.; Hickey, Jim; Foden, Alex; Wilkinson, Angus J. (1 tháng 12 năm 2018). “AstroEBSD : exploring new space in pattern indexing with methods launched from an astronomical approach”. Journal of Applied Crystallography. 51 (6): 1525–1534. arXiv:1804.02602. doi:10.1107/S1600576718010373. ISSN 1600-5767. S2CID 51687153. Lưu trữ bản gốc ngày 2 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Pang, Edward L.; Larsen, Peter M.; Schuh, Christopher A. (1 tháng 2 năm 2020). “Global optimization for accurate determination of EBSD pattern centers”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 209: 112876. doi:10.1016/j.ultramic.2019.112876. ISSN 0304-3991. PMID 31707232. S2CID 201651309.
↑  Tanaka, Tomohito; Wilkinson, Angus J. (1 tháng 7 năm 2019). “Pattern matching analysis of electron backscatter diffraction patterns for pattern centre, crystal orientation and absolute elastic strain determination – accuracy and precision assessment”. Ultramicroscopy (bằng tiếng Anh). 202: 87–99. arXiv:1904.06891. doi:10.1016/j.ultramic.2019.04.006. ISSN 0304-3991. PMID 31005023. S2CID 119294636.
↑  Foden, A.; Collins, D.M.; Wilkinson, A.J.; Britton, T.B. (tháng 12 năm 2019). “Indexing electron backscatter diffraction patterns with a refined template matching approach”. Ultramicroscopy. 207: 112845. arXiv:1807.11313. doi:10.1016/j.ultramic.2019.112845. ISSN 0304-3991. PMID 31586829. S2CID 203307560. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Jackson, M. A.; Pascal, E.; De Graef, M. (1 tháng 6 năm 2019). “Dictionary Indexing of Electron Back-Scatter Diffraction Patterns: a Hands-On Tutorial”. Integrating Materials and Manufacturing Innovation (bằng tiếng Anh). 8 (2): 226–246. doi:10.1007/s40192-019-00137-4. ISSN 2193-9772. S2CID 182073071. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 3 tháng 3 năm 2023.
↑  Dingley, D. J.; Randle, V. (1 tháng 9 năm 1992). “Microtexture determination by electron back-scatter diffraction”. Journal of Materials Science (bằng tiếng Anh). 27 (17): 4545–4566. Bibcode:1992JMatS..27.4545D. doi:10.1007/BF01165988. ISSN 1573-4803. S2CID 137281137. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Adams, Brent L. (1 tháng 6 năm 1997). “Orientation imaging microscopy: Emerging and future applications”. Ultramicroscopy. Frontiers in Electron Microscopy in Materials Science (bằng tiếng Anh). 67 (1): 11–17. doi:10.1016/S0304-3991(96)00103-9. ISSN 0304-3991.
↑  Hielscher, Ralf; Bartel, Felix; Britton, Thomas Benjamin (tháng 12 năm 2019). “Gazing at crystal balls: Electron backscatter diffraction pattern analysis and cross-correlation on the sphere”. Ultramicroscopy. 207: 112836. arXiv:1810.03211. doi:10.1016/j.ultramic.2019.112836. ISSN 0304-3991. PMID 31539865. S2CID 202711517. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Hielscher, R.; Silbermann, C. B.; Schmidl, E.; Ihlemann, Joern (23 tháng 8 năm 2019). “Denoising of crystal orientation maps”. Journal of Applied Crystallography. 52 (5): 984–996. doi:10.1107/s1600576719009075. ISSN 1600-5767. S2CID 202068671. Lưu trữ bản gốc ngày 3 tháng 3 năm 2023. Truy cập ngày 2 tháng 3 năm 2023.
↑  Randle, Valerie; Engler, Olaf (2000). Introduction to texture analysis: macrotexture, microtexture and orientation mapping . Boca Raton: CRC Press. ISBN 978-9056992248.