stanford-oval/wikipedia huggingface dataset:
FC Pune City
Tartışmalar ve Kapatılması

2019'da kapatmadan önce, aralarında Hint uluslararası Ashique Kuruniyan ve Kanadalı Iain Hume'un da bulunduğu birkaç Pune Şehri Oyuncusu, tüm sezon boyunca yönetimden maaşlarını almadıklarını iddia eden bir açıklama yaptı. Bundan sonra, Hindistan Futbol Federasyonu devreye girdi ve oyuncular ve kulüple ilgili maaşla ilgili sorunları araştırdı.
2019'da Pune City, Chennai City FC'den bir oyuncuyu yasadışı olarak sözleşme imzalatmaya çalıştı. Pune City, Chennai City'nin bilgisi olmadan Chennai City FC'den İspanyol Néstor Gordillo'yu almaya çalıştı, bu arada oyuncunun Chennai City ile bir sözleşmesi vardı. Bunun üzerine Hindistan Futbol Federasyonu tarafından, iki dönem transfer yasağı, 50 lakh (INR) para cezası ve herhangi bir AFC turnuvasına katılma yasağı veridiği için Pune City'ye ağır bir şekilde ligden düştü. Olaydan birkaç ay sonra kulüp feshedildi ve hisseler satıldı. Daha sonra yeni sahipleri, kulüp merkezini Hyderabad FC takımı ismi altında Pune'den güneydeki Haydarabad şehrine kaydırdı.
Önemli eski oyuncuları

Ülkelerini en üst düzeyde temsil eden oyuncular.
| Adı | Ülkesi |
| --- | --- |
Kostas Katsouranis:  Yunanistan
Krisztián Vadócz:  Macaristan
Apoula Edel:  Armenia
Andrés González:  Kolombiya
David Trezeguet:  Fransa
Adrian Mutu:  Romanya
Saïdou Panandétiguiri:  Burkina Faso
Yendrick Ruiz:  Costa Rica
Didier Zokora:  Ivory Coast
Mohamed Sissoko:  Mali
Iván Bolado:  Equatorial Guinea
Eduardo Ferreira:  Equatorial Guinea
Dramane Traoré:  Mali
Kalu Uche:  Nigeria
Nicky Shorey:  İngiltere
Tuncay Şanlı:  Türkiye
Iain Hume:  Kanada
Marko Stanković:  Avusturya
| g t Indian Super League 2014–15 |
| --- | --- |
 Atlético de Kolkata  Chennaiyin  Delhi Dynamos  FC Goa  Kerala Blasters  Mumbai City  NorthEast United  Pune City
Felix Brych

| 0 | 1 | 2 |
| --- | --- | --- |

Kişisel bilgileri
| Doğum tarihi | 03 Ağustos 1975 (49 yaşında) |  |
| Doğum yeri | Münih, Almanya |  |
Mesleği: Avukat, FIFA kokartlı futbol hakemi
Hakemlik görevi
| Yıl | Turnuva | Görevi |
| 2004-  | Bundesliga | Hakem |
Felix Brych (d. 3 Ağustos 1975, Münih), Alman futbol hakemi.
Hakemlik kariyerine 2004 yılında Bundesliga'da başladı ve 2007 yılında FIFA kokartını aldı. Yönettiği ilk üst düzey uluslararası maç, o yılın Ekim ayında Romanya'nın Lüksemburg'u 2-0 yendiği 2008 Avrupa Futbol Şampiyonası Elemeleri G Grubu mücadelesiydi. Şubat 2008'de, 2007-08 UEFA Kupası'nda son 32 turu maçı olan Panathinaikos-Rangers maçına atandı.
2021'de Uluslararası Futbol Tarihi ve İstatistikleri Federasyonu (IFFHS) tarafından 21. yüzyıl'ın en iyi hakemi seçildi. 2001-2020 arasını kapsayan ve jüri oylarıyla belirlenen en iyiler sıralamasında, Brych 141 puanla ilk sırada yer alırken, onu sırasıyla 140 puanla Türk hakem Cüneyt Çakır ve 137 puanla İngiliz hakem Howard Webb takip etti.
Futbol kariyeri dışında Brych, hukuk doktorası sahibidir.
Evrimci Parti

Cumhuriyetçi Evrimci Parti (Portekizce: Partido Republicano Evolucionista, PRE), yaygın olarak Evrimci Parti olarak bilinir, Portekiz'de António José de Almeida tarafından yönetilen bir siyasi partiydi.
Tarihi

Parti, 24 Şubat 1912'de Portekiz Cumhuriyetçi Partisi'nde PRE, Demokrat Parti ve Cumhuriyet Birliği'nin kurulmasına yol açan bir bölünmenin sonucu olarak kuruldu. Temsilciler Meclisinde 26 ve Senatoda 9 sandalye kazanarak 1915 parlamento seçimlerinde Demokrat Parti'den sonra ikinci en büyük hizip olarak ortaya çıktı.
Parti 1918 seçimlerini boykot etti, ancak 1919 seçimlerinde tekrar aday oldu ve 38 Meclis sandalyesi kazandı. Böylece ikinci en büyük parti olarak yerini geri aldı.
Almeida 1919'da cumhurbaşkanı olduktan sonra, parti aynı yıl Cumhuriyetçi Liberal Parti'yi kurmak için Cumhuriyetçi Birlik ile birleşti.
Bayağı kılıçgaga

Recurvirostra avosetta
Bayağı kılıçgaga (Recurvirostra avosetta), kılıçgagagiller (Recurvirostridae) familyasından bir kuş türü.
Özellikler

Erişkinlerin, bir siyah başlığın dışında kuş tüyü beyazdır ve kanatlarda ve arkada siyah yama vardır. Uzun yukarıya dönük gagaları ve uzun mavimsi bacakları vardır. Çocuk kuşlarda, erişkinin siyah olduğu yerler kahverengidir ve çocuğun beyaz kuş tüyü, çoğunlukla daha gri yamalarla lekelidir.
Habitat ve beslenme

Üreme habitatı, hafif tuzlu suyla sığ göllerdir ve yalın çamur açıktır. Açık yerde çoğunlukla küçük gruplarla yuva yaparlar. 3-5 yumurta, doldurulmuş bir kazımaya veya bitki yaşamının bir yığınına koyulur. Yumurtalar yeşil, siyah beneklidir. Bu kuşlar, sığ hafif tuzlu suda veya çamur dairelerinde, suda kenardan kenara gagalarıyla yiyecek ararlar. Onlar çoğunlukla, kabuklular ve böcekleri yerler.
Ötüşleri gürültülü bir klute-klute-klutedir.
Yayılış

Ilımlı Avrupa ve batı ve merkezi Asya'da üreme gösterirler. Bu tür göçmendir ve kışın en çok Afrika veya güney Asya'da görülürler. Bazıları, sahalarının en yumuşak parçalarında kışa kalır, örneğin güney İspanya ve güney İngiltere'de.
Resimler

Bayağı kılıçgaga yavrusu
Bayağı kılıçgaga yumurtası
Yüzerken ve yürürken
Bayağı kılıçgaga sürüsü
Elektron göçü

Elektron göçü, iletken elektronlar ve dağılmış metal atomları arasındaki momentum transferinden dolayı iletkendeki iyonların aşamalı hareketinden kaynaklanan materyalin taşınmasıdır. Bu etki, mikroelektronikler ve ilgili yapılar gibi yüksek doğru akım yoğunluklarının kullanıldığı uygulamalarda çok önemlidir. Mikroçipler gibi elektroniklerde boyut azaldıkça, bu etkinin pratik önemi artıyor.
Bir tel içindeki elektronların harekentinden kaynaklanan ivme transferi sayesinde elektron göçü.
Tarih

Fransız bilim adamı Gerardin tarafından bulunan elektron göçü 100 yıllardır biliniyor. Bu konu 1966 yılında mikroçipler ticari olarak uygun hale geldiğinde pratik ilgili kazanmıştır. İnce filmlerdeki elektron göçünün ilk gözlemi I. Blech tarafından yapılmıştır. Bu alandaki araştırma, yarı iletken sanayisindeki bir grup araştırmacı tarafından başlatılmıştır. En önemli mühendislik çalışmalarından biri daha sonra da Black'in eşitliğine adını veren Motorola'dan Jim Black tarafından yapılmıştır. Bu zamanda, mikroçiplerdeki metal bağları yaklaşık 10 mikrometre genişliğinde idi. Günümüzde bağlantılar elektron göçünün artan önemi ile yapılan araştırmlara sonucu sadece 100 – 10 nanometre genişliğindedir.
Elektron Göçünün Pratik Uygulamaları

Elektron göçü mikroçiplerin güvenilirliğini azaltır. Bu devrenin hatasına veya bağlantıların kaybına neden olur. Uzay yolculuğu, askeri amaçlar, ABS fren sistemi, tıbbi cihazlar ve hatta kişisel bilgisayar veya ev eğlence sistemi için güvenilirlik çok önemli olduğu için, mikroçiplerin güvenilirliği araştırmaların ana odak noktasıdır.
Gerçek şartlar altında test etmek zor olduğundan, tümleşik devrenin yaşam döngüsünü tahmin etmek için Black'in eşitliği kullanılır. Balck'in eşitliğini kullanmak için, bileşen yüksek sıcaklıkta test edilen yaşam (HTOL) testine konulur. Gerçek şartlar altında bileşenin beklenen yaşam döngüsü, test boyunca elde edilen verilerden tahmin ediliyor.
Electron göçü hasarı etkilenen mikroçiplerde hataya neden olmasına rağmen, ilk belirtiler görüntü bozukluğudur ve düzeltmesi çok uğraştırıcıdır. Diğerlerinden önce bazı bağlar çalışmadığı için, devre diğer mekanik hatalardan ayrılamayan rastgele hatalar gösterir. Laboratuvar koşullarında, elektron göçü hatası elektron mikroskobu ile önceden gözlemlenmiştir.
Artan minyatürlerle, VLSI ve ULSI devrelerinde güç yoğunluğu ve akım yoğunluğu arttığından dolayı elektron göçü arttığı için hatanın olasılığı artar. Özel olarak, hat genişlikleri, kablonun kesit alanında olduğu gibi zamanla azaltmak için devam edecek. Akımlar da, çünkü voltajı ve çeken direnci düzeltmek için azaltılacak. Fakat, artan frekanslardan dolayı akım azalması sınırlanacağı için, kesit alanlarda daha fazla işaretli azalma mikroçiplerde akım yoğunluğunu artırmak için devam edecektir.
Gelişmiş yarı iletken üretim süreçlerinde, bakır bağlantı materyali için bir seçenek olarak alüminyum ile yer değiştirdi. Sanayi süreçlerinde yüksek kırılganlığı olmasına rağmen, bakır çok iyi iletkenlik gösterdiği için tercih ediliyor. Aynı zamanda elektron göçüne daha az duyarlıdır. Fakat, elektron göçü cihaz sanayisinde mücadele etmeye devam edecektir ve böylelikle bakır bağlantılar için elektron göçü araştırmaları da devam edecektir.
Modern tüketici elektronik cihazlarında, mikroçipler elektron göçü etkilerinden dolayı başarısızlığa uğradı. Bunun nedeni, doğru yarı iletken dizayn pratikleri mikroçiplerin yerleşim alanlarındaki elektron göçü etkileri ile birleşir. Neredeyse tüm mikroçip dizayn evleri, transiztörlerdeki elektron göçü problemlerini kontrol etmek ve düzenlemek için otomatik EDA araçları kullanır. Belli sıcaklık ve voltaj aralığında çalışıldığında, doğru şekilde dizayn edilen mikroçip cihazları diğer (çevresel) nedenlerden dolayı başarısız olabilir.
Ancak, elektron göçünden dolayı ürün hataları ile ilgili birçok belgelenmiş çalışma bulunmaktadır. 80'lerin sonunda, Western Digitals'ın masaüstü sürücülerinin bir hattı, alan kullanımından 12-18 ay sonra tahmin edilen hatalardan zarar gördü.
Elektron göçü, düşük voltajlı güç MOSFETleri gibi güç yarı iletken cihazlarında bozulmalara neden olabilir. Aluminyum tabakasındaki bu bozulma iletken durumdaki direncin artmasına neden olur ve tamamen başarısızlığa dahi öncülük edebilir.
Esaslar

Metal bağlantıların materyal özellikleri yaşam döngüsünde güçlü bir etkiye sahiptir. Özellikleri metal alaşımın bileşenleri ve iletkenin boyutlarıdır. İletkenin yapısı, metalde tanelerin kristal yapıda uyumlandırılması, tabaka için süreçler, ısı muamelesi veya tavlama, pasivasyon özellikleri ve diğer metallerin arayüzü de bağlantıların dayanıklılığını etkiler. Aynı zamanda zamana bağlı akım ile ciddi farklar vardır.: doğru akım veya farklı alternatif akım dalga formları farklı etkilere neden olur.
Esaslar > Elektrik Alanındaki İyonlar Üzerindeki Kuvvetler

İletkendeki iyonize atomlara iki tane kuvvet etki eder: 1) Elektrik alanıyla aynı yönde olan elektrik alanının sonucu olarakdirekt elktrostatik kuvvet Fe, 2) elektrik alanının yönüyle zıt yönde olan yük taşıyıcılarının akımı doğrultusunda diğer yük taşıyanlarla momentum değişiminden kaynaklanan kuvvet, Fp. Metalik iletkenlerde, Fp “elektron rüzgarı” veya “iyon rüzgarı” diye adlandırılanlardan dolayı oluşur. Elektriksel alandaki iyonları aktifleştrien net kuvvet, Fres:
Elektron göçü, bazı hareket eden elektronlaın momentum yanında aktif haldeki iyona transfer ettiği zaman meydana gelir. Bu da iyonun Orijinal pozisyonundan başka bir yere hareket etmesine neden olur. Zamanla, bu kuvvet önemli sayıdaki atomları kendi Orijinal pozisyonlarından daha uzağa götürür. Ara veya boşluk elektrik akımını engelleyen iletken materyalde gelişebilir. Dar bağlantı iletkenleri açık devredeki iç hata olarak da bilinir. Elektron göçü aynı zamanda iletkenin atomların yığılmasına ve istemeden yapılan kısa devre diye bilinen elektriksel bağlantı yaratarak yanındaki diğer iletkene gitmesine neden olur.Her iki durumda devrenin fonksiyonunda bozulmaya yol açar.
Hata Mekanizmaları > Difüzyon Mekanizmaları

Homojen kristal yapıda, metal iyonlarının kafes yapısından dolayı, iletken elektronlar ile metal iyonları arasındaki momentum transferi zordur. Fakat, bu simetri tane sınırlarında ve materyal arayüzlerinde bulunmaz ve bu yüzden momentum transferi daha çok enerji enerji gerektirir. Bu bölgedeki metal iyonları normal kristal kafestekinden daha zayıf bağlandığı için, elektron rüzgarı kesin bir kuvvete ulaştığında, atomlar tane sınırlarından ayrılır ve akımın yönünde taşınırlar. Bu yön, atomlar sınır boyunca hareket etmeye meyilli olduğu için sınırın kendisinden de etkilenir.
Elektron göçünden kaynaklanan difüzyon süreçleri sınır difüzyonu, kütle difüzyonu ve yüzey difüzyonu olarak ayrılabilirler. Genellikle, yüzey difüzyonu bakır bağlantılarda baskın olmasına rağmen sınır difüzyonu aluminyum kablolarda başlıca elektron göçüdür.
Hata Mekanizmaları > Termal Etkiler

Atomların mükemmel kafes yapısında dizildiği ideal iletkende, elektronlar bir çarpışma olmadan ve elektron göçü meydana gelmeden hareket ederler. Gerçek iletkenlerde, kafes yapısındaki bozukluklar ve atomların kendi pozisyonlarındaki rastgele termal titreşimleri elektronların atomlarla çarpışmasına neden olur. Normalde, kısmi düşük kütleli elektronların verildiği momentum miktarı atomların kalıcı yer değiştirmeleri için yeterli değildir. Fakat, yüksek güç olan durumlarda, eğer çoğu elektron yeterli kuvvetle atomları bombalıyorsa, bu elektron göçü sürecini ivmeler. Yüksek akım yoğunluğu, iletkenin atomlarına karşı saçılan elektron sayısını arttırır ve yer değişen atomların hızı da artmış olur.
Tümleşik devrelerde, elektron göçü yarı iletkenlerde meydana gelmez.
Elektron göçü yüksek akım yoğunluğu ve iletkenin Joule ısısı tarafından şiddetlenir ve elektriksel bileşenlerin hatalarına öncülük eder.
Hata Mekanizmaları > Atom Konsantrasyonunun Dengesi

Bazı bağlantı parçaları boyunca atom konsantrasyonlarının değerlendirilmesini tanımlayan eşitlik geleneksel kütle dengesi eşitliğidir.
{\frac {\partial N}{\partial t}}+\nabla \cdot {\vec {J}}=0
N({\vec {x}},t) koordinatlarında bulunan atom konsantrasyonu,  {\vec {x}}=(x,y,z) t zamanında  t ve  J toplam atomik akış.  J J toplam atomik akış farklı atomların göç kuvvetlerinden kaynaklanan akışların bileşimidir. Ana kuvvet elektrik akımı, sıcaklık eğimi, mekanik stres ve konsantrasyon tarafından indüklenir.  {\vec {J}}={\vec {J}}_{c}+{\vec {J}}_{T}+{\vec {J}}_{\sigma }+{\vec {J}}_{N}.
Yukarıda bahsedilen akımları tanımlamak için:
•  {\vec {J}}_{c}={\frac {NeZD\rho }{kT}}{\vec {j}}. Here  e Elektron yükü,  eZ göçen atomun etkili yükü,  \rho  tomun göçünün olduğu yerdeki iletkene direnci,  {\vec {j}} bölgesel akım yoğunluğu,  k Boltzmann sabiti,  T sıcaklık.  D({\vec {x}},t) zaman ve pozisyona bağlı dağılımı.
•  {\vec {J}}_{T}=-{\frac {NDQ}{kT^{2}}}\nabla T.  Q termal dağılım olarak kullanıyoruz.
•  {\vec {J}}_{\sigma }={\frac {ND\Omega }{kT}}\nabla H here  \Omega =1/N_{0} atomik hacim ve  N_{0} başlangıçtaki atomik konsantrasyon,  H=(\sigma _{11}+\sigma _{22}+\sigma _{33})/3 Hidrostatik stres ve  \sigma _{11},\sigma _{22},\sigma _{33} ana stresin bileşenleri.
•  {\vec {J}}_{N}=-D\nabla N.
atom düifüzyonu için boş mekanizmayı varsayarak  D hidrostatik stresin fonksiyonu olarak tanımlayabiliriz.  D=D_{0}\exp({\frac {\Omega H-E_{A}}{kT}})  E_{A} metal atomların termal dağılımının aktivasyon enerjisi, boş konsantrasyon göçen atomlar tarafından doldurulacak boş kafes taraflarını gösterir.
Elektron Göçü Ön Görülen Dizayn > Black Eşitliği

1960'ların sonunda, J. R. Black kablonun hatasının ortalama zamanını hesaplamak için kapalı bir formül geliştirdi. Bundan sonra, yarı iletken sanayisinde bu eşitlik popülerlik kazandı.
{\text{MTTF}}=(A/(J^{n}))e^{\frac {E_{a}}{kT}}
A bağlantının kesit alanı tabanlı sabit, J akım yoğunluğu, Ea aktivasyon enerjisi, k Boltzmann sabiti, T sıcaklık (K) ve n ölçüm faktörü. İletkenin sıcaklığı üstte gözükür, yani bağlantının hatasının ortalama zamanını kuvvetle etkiler. Sıcaklık artarken ara bağlantının güvenilir kalabilmesi için, iletkenin maksimum toleranslı akım yoğunluğunun azalması zorunludur. Fakat, ara bağlantı nanometre seviyelerinde geliştiği için, Black eşitliğinin geçerliliği tartışmalı hale geliyor.
Elektron Göçü Ön Görülen Dizayn > Kablo Materyali

Tümleşik devrelerde kullanılan en yaygın iletken substrata iyi yapışma özelliğinden, iyi bir iletken olduğundan ve silikon ile ohmik bağlantılar kurabilme yeteneğinden dolayı aluminyumdur. Fakat, saf aluminyum elektron göçüne duyarlıdır. Araştırma aluminyuma %2-4 oranında bakır katıldığında elektron göçüne direnci yaklaşık 50 kat arttırdığını gösterir. Bu etki sınırlar boyunca aluminyum atomlarının dağılımını azaltan bakırın sınır ayrımına dayandırılır.
Saf bakır kablolar, akım yoğunluğuna aluminyum kablolardan yaklaşık 5 kat fazla dayanabilir. Bunun başlıca nedeni, bakırın yüksek erime noktası gibi çok iyi elektriksel ve termal iletkenliğinden kaynaklanan yüksek elektron göçü aktivasyon enerji seviyesidir. İleriki geliştirmeler bakırı %1 paladyum ile alaşım haline getirerek elde edilebilir.
Elektron Göçü Ön Görülen Dizayn > Bambu Yapısı ve Metal Delmesi

Daha geniş kablo daha küçük akım yoğunluğuna ve hatta, daha az elektron göçüne neden olur. Aynı zamanda, metal tanenin boyutu etkiye sahiptir: Ne kadar küçük tane o kadar fazla sınır ve yüksek elektron göçü etkileri. Fakat, eğer kablonun genişliğini kablo materyalinin ortalama tane boyutunudan daha aşağıya çekerseniz, tane sınırları kablonun uzunluğuna daha fazla ya da az dik olur. Elde edilen yapı bambu sapının birleşme yerine benzer. Böyle bir yapıyla, akım yoğunluğu artmasına rağmen elektron göçüne direnç artar.
Elektron Göçü Ön Görülen Dizayn > Blech Uzunluğu

Ara bağlantının uzunluğu için en alt limit elektron göçünün oluşumuna olanak sağlar. Bu da “ Blech uzunluğu” diye bilinir. Bu limitin altında olan herhangi bir kablo elektron göçü tarafından başarısız olur.
Elektron Göçü Ön Görülen Dizayn > Elektriksel Bağlantı Ayarlamaları ve Köşe Eğilmeler

Elektriksel bağlantılara ve bağlantı köşelerine özel olarak dikkat edilmelidir. Elektriksel bağlantının akım taşıma kapasitesi aynı uzunluktaki metalik bağlantınınkinden daha azdır. Hatta, çoklu elektriksel bağlantılar genellikle kullanılır.
Ara bağlantılarda eğilmelere de özel dikkat etmek gerekir. 90 derecelik köşe eğilmelerinden kaçınmak zorunludur, çünkü bu gibi eğilmelerde akım yoğunluğu eğik açılardan (örn. 135 derece) önem açısından daha öndedir.
Elektron Göçü Ön Görülen Dizayn > Lehimli Bağlantı Yerlerindeki Elektron Göçü

Bakır veya aluminyum ara bağlantılarında elektron göçünün meydana geldiği yerdeki akım yoğunluğu 106 – 107 A/cm2 dir. Mikroçiplerde kullanılan lehimli bağlantı noktaları için, (kurşunsuz SnPb veya SNAgCu), elektron göçü daha az akım yoğunluğunda gerçekleşir. Bu da elektron akışının yönü boyunca net atom dağılımına neden olur. Atomlar anodda toplanır. Lektron göçünden kaynaklanan tipik lehimli bağlantı yeri hatasları katodda meydan gelir.
Elektron Göçü Ön Görülen Dizayn > Elektron Göçü ve TCAD (Bilgisayar Yardımlı Teknoloji Dizaynı)

Elektron göçünü tanımlayan matematiksel model bazı kısmi türev eşitlikleri içerir. Bu gibi matemiksel model modern TCAD araçlarında elektron göçünün benzeri için temel oluşturur.Ara bağlantı bozulmasını indükleyen elektron göçünün detaylı araştırmaları için TCAD araçlarının kullanımı önem kazanıyor. Güvenilirlik testleriyle birlikte birleştirilmiş TCAD çalışmasının sonuçları ara bağlantının elektron göçüne direncini geliştiren dizayn kurallarının iyileştirilmesine öncülük eder.
Felix Ehrenhaft

Felix Ehrenhaft (24 Nisan 1879 - 4 Mart 1952) elektrik yüklerinin ölçümü ve metal kolloidlerin optik özellikleri ile atom fiziğine katkıda bulunan Avusturyalı bir fizikçidir. Ehrenhaft başına buyruk ve tartışmacı tarzı ile bilinir. Onun korkusuzca geleneklere karşı çıkması büyük ölçüde filozof Paul Feyerabend tarafından takdir edildi.
Bibliyografi

Joseph Braunbeck: Der andere Physiker. Das Leben von Felix Ehrenhaft. Wien, Graz 2003 (164 pages) ISBN 3-7011-7470-9
Berta Karlik and Erich Schmid: Franz S.Exner und sein Kreis, Verlag der Österreichischen Akademie der Wissenschaften, Vienna 1982 (in German)
Hans Rohatschek: History of Photophoresis, in: O. Preining et al., ed.: History of Aerosol Science, Proceedings of the Symposium on Aerosol Science, Verlag der Österreichischen Akademie der Wissenschaften, Vienna 2000
Santos, G. M. (2010). "A debate on magnetic current: the troubled Einstein–Ehrenhaft correspondence". British Journal for the History of Science.  Firstview published online DOI:10.1017/S0007087410001299
| --- | --- |
Otorite kontrolü :  CANTIC: a11205775  GND: 116383690  ISNI: 0000 0000 5337 5915  LCCN: nr2004009530  MGP: 130487  SNAC: w68w3ngj  SUDOC: 230040098  VIAF: 62298791   WorldCat (LCCN): nr2004-009530
Başrolde Erkek Oyuncu Tarafından Üstün Performans Ekran Oyuncuları Derneği Ödülü

En İyi Erkek Oyuncu SAG Ödülü (Screen Actors Guild Award for Best Actor - Motion Picture) kazananların ve adayların listesi;
En İyi Erkek Oyuncu SAG Ödülü, 1994 yılından bu yana verilmektedir. 14 kez dağıtılan bu ödül 13 farklı aktöre verilmiştir. Bu ödülü birden fazla kazanan tek oyuncu Daniel Day-Lewis (2003 ve 2008) dir. Bu ödülü alıp En İyi Erkek Oyuncu Akademi Ödülü'nü (Oscar) alamayan sadece 4 oyuncu vardır. Bunlar; Benicio del Toro oynadığı Traffic filmiyle (aynı yıl aynı filmle En İyi Yardımcı Erkek Oyuncu Akademi Ödülü'nü almıştır), Russell Crowe oynadığı A Beautiful Mind filmiyle, Daniel Day-Lewis oynadığı Gangs of New York filmiyle ve Johnny Depp oynadığı Pirates of the Caribbean: The Curse of the Black Pearl filmiyle.
Russell Crowe ve Sean Penn bu ödüle dörder kez aday gösterilmiştir. Bu iki oyuncu bu ödüle en fazla aday gösterilen oyunculardır.
En genç aday gösterilen oyuncu 2001 yılında Billy Elliot filmiyle 14 yaşında aday olan Jamie Bell'dir. En yaşlı aday gösterilen oyuncu ise 2007 yılında Venus filmiyle 71 yaşında aday olan Peter O'Toole'dur.
Kazananlar ve adaylar

kazananları belirtir.
† En İyi Erkek Oyuncu Akademi Ödülü'nü kazananları belirtir.
‡ En İyi Erkek Oyuncu Akademi Ödülü'ne aday gösterilenleri belirtir.
†† En İyi Yardımcı Erkek Oyuncu Akademi Ödülü'nü aynı rol için kazananları belirtir.
‡‡ En İyi Yardımcı Erkek Oyuncu Akademi Ödülü'ne aynı rol için aday gösterilenleri belirtir.
Kazananlar ve adaylar > 1990'lar

| Yıl | Aday | Film | Rol(ler) |
| --- | --- | --- | --- |
| 1994 (1.)  | Tom Hanks † | Forrest Gump | Forrest Gump |
| 1994 (1.)  | Morgan Freeman ‡ | The Shawshank Redemption | Ellis "Red" Redding |
| 1994 (1.)  | Paul Newman ‡ | Nobody's Fool | Donald "Sully" Sullivan |
| 1994 (1.)  | Tim Robbins | The Shawshank Redemption | Andy Dufresne |
| 1994 (1.)  | John Travolta ‡ | Pulp Fiction | Vincent Vega |
| 1995 (2.)  | Nicolas Cage † | Leaving Las Vegas | Ben Sanderson |
| 1995 (2.)  | Anthony Hopkins ‡ | Nixon | Richard Nixon |
| 1995 (2.)  | James Earl Jones | Cry, the Beloved Country | Rev. Stephen Kumalo |
| 1995 (2.)  | Sean Penn ‡ | Dead Man Walking | Matthew Poncelet |
| 1995 (2.)  | Massimo Troisi ‡ (vefatından sonra) | Il Postino: The Postman (Il postino) | Mario Ruoppolo |
| 1996 (3.)  | Geoffrey Rush † | Shine | David Helfgott |
| 1996 (3.)  | Tom Cruise ‡ | Jerry Maguire | Jerry Maguire |
| 1996 (3.)  | Ralph Fiennes ‡ | The English Patient | László Almásy |
| 1996 (3.)  | Woody Harrelson ‡ | The People vs. Larry Flynt | Larry Flynt |
| 1996 (3.)  | Billy Bob Thornton ‡ | Sling Blade | Karl Childers |
| 1997 (4.)  | Jack Nicholson † | As Good as It Gets | Melvin Udall |
| 1997 (4.)  | Matt Damon ‡ | Good Will Hunting | Will Hunting |
| 1997 (4.)  | Robert Duvall ‡ | The Apostle | Euliss "Sonny" Dewey |
| 1997 (4.)  | Peter Fonda ‡ | Ulee's Gold | Ulysses "Ulee" Jackson |
| 1997 (4.)  | Dustin Hoffman ‡ | Wag the Dog | Stanley Motss |
| 1998 (5.)  | Roberto Benigni † | Life Is Beautiful (La vita è bella) | Guido Orefice |
| 1998 (5.)  | Joseph Fiennes | Shakespeare in Love | William Shakespeare |
| 1998 (5.)  | Tom Hanks ‡ | Saving Private Ryan | Capt. John H. Miller |
| 1998 (5.)  | Ian McKellen ‡ | Gods and Monsters | James Whale |
| 1998 (5.)  | Nick Nolte ‡ | Affliction | Wade Whitehouse |
| 1999 (6.)  | Kevin Spacey † | American Beauty | Lester Burnham |
| 1999 (6.)  | Jim Carrey | Man on the Moon | Andy Kaufman |
| 1999 (6.)  | Russell Crowe ‡ | The Insider | Jeffrey Wigand |
| 1999 (6.)  | Philip Seymour Hoffman | Flawless | Rusty |
| 1999 (6.)  | Denzel Washington ‡ | The Hurricane | Rubin "Hurricane" Carter |