stanford-oval/wikipedia huggingface dataset:
ไลบร้า โดโก
ชุดคล็อธไลบร้า

ชุดคล็อธไลบร้ามีลักษณะเป็นรูปตาชั่ง โดยสามารถแยกชิ้นออกมาเป็นอาวุธได้ 6 ชนิด ๆ ละ 2 ชิ้น ได้แก่ หอก กระบองคู่ ดาบ กระบอง 3 ท่อน โล่ และพลองมือ รวมเป็น 12 ชิ้น เพื่อเป็นอาวุธให้เหล่าโกลด์เซนต์ทั้ง 12 คนนั่นเอง อย่างไรก็ตาม ผู้ที่จะใช้อาวุธ 12 ชิ้นนี้ได้นั้น ต้องได้รับการอนุญาตจากอาเทน่าหรือได้รับการยินยอมจากโกลด์เซนต์ไลบร้าเสียก่อน
ในภาค 12 ปราสาทนั้น ชุดคล็อธไลบร้าได้ปรากฏขึ้นในปราสาทตาชั่งฟ้า ซึ่งเป็นที่เฮียวกะถูกกักขังไว้ในโลงน้ำแข็งโดยอควอเรียส คามิว ชิริวได้เลือกใช้ดาบแห่งชุดชุดคล็อธไลบร้าทำลายโลงน้ำแข็งและสามารถช่วยเฮียวกะออกจากโลงน้ำแข็งได้ในที่สุด
ชุดคล็อธไลบร้าปรากฏอีกครั้งในภาคโพไซดอน โดยใช้เป็นอาวุธเพื่อทำลายเสาค้ำมหาสมุทรทั้ง 7 ต้น หลังจากนั้น ได้เข้าสวมร่างของชิริวในการรับมือกับโพไซดอน อย่างไรก็ตาม อาวุธทั้ง 6 ชนิดของชุดคล็อธไลบร้าก็ไม่สามารถทำลายเสาเมนเบรดวินเนอร์ได้
สำหรับภาคฮาเดสนั้น โพไซดอนได้ส่งชุดโกลคล็อธ 5 ชุดไปยังเอลิเชี่ยนเพื่อช่วยเหลือพวกเซย่า โดยชุดคล็อธไลบร้านั้นได้เข้าสวมร่างของชิริวอีกครั้ง อย่างไรก็ตาม ชุดคล็อธได้ถูกทำลายลงอย่างง่ายดายโดยฝีมือของเทพมรณะ ทานาทอส
ท่าไม้ตาย

หมัดมังกรผงาดโรซัน (廬山昇龍覇 Rozan Shō Ryū Ha) เป็นท่าไม้ตายที่ปล่อยคลื่นพลังเป็นมังกรเพียงตัวเดียว ออกมาทำลายศัตรู
หมัดร้อยมังกรสังหาร/ร้อยมังกรผงาดโรซัน (廬山百龍覇 Rozan Hyaku Ryū Ha) เป็นท่าไม้ตายที่ปล่อยคลื่นพลังเป็นมังกรมากมาย ออกมาทำลายศัตรู
มังกรทยานโรซัน  ท่าที่ต้องระเบิดคอสโม่สูงสุดในร่างกาย แล้วพลีชีพตัวเองพร้อมกับศัตรูไปบนท้องฟ้า
การต่อสู้ของ ไลบร้า โดโก

| ตนเอง | คู่ต่อสู้ | ผล |
| --- | --- | --- |
| โดโก | ชิออน | เสมอ |
ดูเพิ่ม

อาเทน่าและเซนต์แห่งอาเทน่า
แหล่งข้อมูลอื่น

ไลบร้า โดโก จากไทยเซนต์เซย่าดอตคอม เก็บถาวร 2007-02-08 ที่ เวย์แบ็กแมชชีน
| ด ค กตัวละครในเรื่องเซนต์เซย่า |
| --- | --- | --- |
| บรอนซ์เซนต์ |  เพกาซัส เซย่า  เพกาซัส เท็นมะ (LS)  เพกาซัส เท็นมะ (ND)  เพกาซัส โคกะ  ดราก้อน ชิริว  ดราก้อน ริวโฮ  ซิกนัส เฮียวกะ  อันโดรเมด้า ชุน  ฟีนิกซ์ อิคคิ  ไลโอเน็ต โซมะ  อาควีล่า ยูนะ  วูลฟ์ ฮารุโตะ  โอไรอ้อน เอเดน  ยูนิคอร์น จาบุ  ยูนิคอร์น ยาโตะ  ไฮดรา อิจิ  แบร์ เงกิ  วูล์ฟ นาจิ  ไลโอเน็ต บัน  คาเมเลียน จูน  |  |
| ซิลเวอร์เซนต์ | อีเกิ้ล มารีน โอฟิวซุส ไชน่า  ลิซาร์ด มิสตี้  ไคโทส โมเซซ  เฮาด์ แอสเทเรี่ยน  เซนทอร์ บาเบล  ออไรก้า คาเพลล่า  โครว์ จาเมี่ยน  เซอร์บิรัส ดันเต้  เพอร์เซอุส อัลกอร์  คานิสเมเจอร์ ซิริอุส  มุสก้า ดิออส  เฮอร์คิวลิส อัลเกตี้  ซาจิตต้า เทรมี่  เซเฟอุส ไดดาลอส  ไลร่า โอฟี่  คริสตัลเซนต์  เครน ยุสุริฮะ  ไฮดรัส อิจิ |  |
| แบล็คเซนต์ |  จังโก้  แบล็คเพกาซัส  แบล็คดราก้อน  แบล็คสวอน  แบล็คอันโดรเมด้า  แบล็คฟินิกซ์  |  |
| โกลด์เซนต์ |  แอเรียส มู  แอเรียส ชิออน  ทอรัส อัลเดบารัน  เจมินี่ ซากะ  เจมินี่ คาน่อน  เจมินี่ อัสปูรอส  เจมินี่ เดฟเทรอส  แคนเซอร์ เดธมาสค์  เลโอ ไอโอเลีย  เลโอ เรกูลัส  เวอร์โก้ ชากะ  เวอร์โก้ อัศมิฐา  ไลบร้า โดโก  ไลบร้า ชิริว  สกอร์เปี้ยน มิโร  ซาจิททาเรียส ไอโอลอส  ซาจิททาเรียส เซย์ย่า  แคปริคอร์น ชูร่า  อควอเรียส คามิว  พิสซิส อโฟรดิตี้  |  |
| ก็อดวอริเออร์ |  เฟคด้า ธอร์  แอริออธ เฟนริล  เมรัค ฮาเก้น  เบเนทนาช มีเมย์  เม็กเรซ อัลเบริช  มิซาร์ ชิด  อัลกอร์ บั๊ด  โดเบ ซิกฟรีด  |  |
| มารีเนอร์ |  เมอร์เมด เททีส  ซีฮอร์ส ไบอัน  สคิวล่า อิโอ  คริสซาออร์ กฤษณะ  ลิมนาเดส คาสะ  คราเก้น ไอแซ็ค  ไซเรน โซเรนต์  ซีดราก้อน คาน่อน  |  |
| สเป็คเตอร์ |  ไวเวิร์น ราดาแมนทีส  กริฟฟิน ไมนอส  การูด้า ไออาคอส  อาเครอน ชารอน  สเคลลิตัน มาคิโน  บัลร็อค รูเน่  สฟิงซ์ ฟาโรห์  โกเล็ม ร็อค  โทรล อิวาล  ไลคาออน ฟลีกีอัส  เดทลี่ บีเทิล สแตนด์  ฮาร์ปี้ วาเลนไทน์  บาซิลิสค์ ซิลฟิด  มิโนทอรัส กอร์ดอน  อราวเน่ ควีน  ฟล็อก เซรอส  ดีพ นีโอเบ  ไซคลอปส์ คีกันต์  ปาปิญอง มิว  เวิร์ม ไรมี่  ดิวราแฮน คิวบ์  เอลฟ์ มิลูส  กอร์กอน อ๊อก  เมฟิสโตเฟเลส โยมะ  |  |
| เทพเจ้า |  อาเทน่า  ฮาเดส  โพไซดอน  ซุส  อาเรส  แอโฟรไดที  พัลลัส  ฮีรา  ดิมีเทอร์  เฮสเทีย  อาร์ทิมิส  อพอลโล  เฮอร์มีส  ฮิฟีสตัส  โอดิน  ธอร์  โลกิ  |  |
| อื่น ๆ |  คิโด ซาโอริ  โพลาริส ฮิลด้า  จูเลี่ยน โซโล  ซาช่า  อาโรน  แพนโดรา  อาวล์ พาร์ทีต้า  |  |
 โครงการ  หมวดหมู่  สถานีย่อย 
ไลบร้า โดโก เมื่ออายุ 261 ปี
โดโก และเหล่าโกลด์เซนต์ ใช้อาวุธของไลบร้าคล็อธในการทำลายกำแพงวิปโยค
โดโกในภาค Lost canvas
จังหวัดกาญจนบุรีในการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎรไทยเป็นการทั่วไป พ.ศ. 2526

การเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎรจังหวัดกาญจนบุรี พ.ศ. 2526 เป็นส่วนหนึ่งของการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎรไทยเป็นการทั่วไป พ.ศ. 2526 กำหนดให้มีขึ้นในวันที่ 18 เมษายน พ.ศ. 2526 โดยแบ่งเขตการเลือกตั้งออกเป็น 2 เขตเลือกตั้ง มีสมาชิกสภาผู้แทนราษฎรได้ 4 คน จำนวนที่นั่งเพิ่มจากการเลือกตั้งครั้งก่อนเมื่อปี พ.ศ. 2522 1 ที่นั่ง แต่ละเขตเลือกตั้งจะมีสมาชิกสภาผู้แทนราษฎรได้เขตละ 2 คน
ผลการเลือกตั้งแบบแบ่งเขต

| --- | --- |
สัญลักษณ์และความหมาย
*: ส.ส.ระบบเขตเลือกตั้งที่ได้รับเลือกตั้งในการเลือกตั้งครั้งที่ผ่านมา
**: ส.ส.ระบบบัญชีรายชื่อที่ได้รับเลือกตั้งในการเลือกตั้งครั้งที่ผ่านมา
†: ผู้สมัครที่ถูกตัดสิทธิ์
✔: ผู้สมัครที่เคยดำรงตำแหน่งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎรมาแล้ว
( ): หมายเลขประจำตัวของผู้สมัคร
ตัวหนา: ผู้สมัครที่ชนะการเลือกตั้ง
ผลการเลือกตั้งแบบแบ่งเขต > เขตเลือกตั้งที่ 1

เขตการเลือกตั้งที่ 1 ประกอบด้วยอำเภอเมืองกาญจนบุรี, อำเภอสังขละบุรี, อำเภอทองผาภูมิ, อำเภอไทรโยค, อำเภอศรีสวัสดิ์, อำเภอบ่อพลอย และอำเภอเลาขวัญ
| ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 1 จังหวัดกาญจนบุรี> พรรค | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 1 จังหวัดกาญจนบุรี> พรรค | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 1 จังหวัดกาญจนบุรี> ผู้สมัคร | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 1 จังหวัดกาญจนบุรี> คะแนนเสียง | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 1 จังหวัดกาญจนบุรี> % | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 1 จังหวัดกาญจนบุรี> ± |
| --- | --- | --- | --- | --- | --- |
|  | ไม่สังกัดพรรค | พลตำรวจโท จำรัส มังคลารัตน์ (5) | 31,617 | ' | ' |
|  | ชาติไทย  | พลโท ชาญ อังศุโชติ (3)* | 24,155 |  |  |
|  | ชาติไทย  | วิเชียร จันทาภากุล (4) | 17,862 |  |  |
|  | ประชากรไทย  | บัญชา ศรีนครินทร์ (1) | 9,602 |  |  |
|  | ประชากรไทย  | อิทธิพล ไพศาลพานิช (2) | 5,307 |  |  |
|  | ประชาเสรี   | สุพจน์ พักตร์เพียรจันทร์ (6) | 4,363 |  |  |
|  | กิจสังคม  | ถกล แผ่ความดี (8) | 2,446 |  |  |
|  | สยามประชาธิปไตย   | พันโท กาญจนะ แสงทอง (7) | 1,191 |  |  |
| บัตรดี | บัตรดี | บัตรดี |  |  | – |
| ไม่ประสงค์ลงคะแนน | ไม่ประสงค์ลงคะแนน | ไม่ประสงค์ลงคะแนน |  |  | – |
| บัตรเสีย | บัตรเสีย | บัตรเสีย |  |  | – |
| ผู้มาใช้สิทธิเลือกตั้ง | ผู้มาใช้สิทธิเลือกตั้ง | ผู้มาใช้สิทธิเลือกตั้ง |  |  | – |
| ผู้มีสิทธิเลือกตั้ง | ผู้มีสิทธิเลือกตั้ง | ผู้มีสิทธิเลือกตั้ง |  |  | — |
: ไม่สังกัดพรรค   ชนะที่นั่ง (เขตเลือกตั้งใหม่)
: ชาติไทย  รักษาที่นั่ง
ผลการเลือกตั้งแบบแบ่งเขต > เขตเลือกตั้งที่ 2

เขตการเลือกตั้งที่ 2 ประกอบด้วยอำเภอพนมทวน, อำเภอท่าม่วง และอำเภอท่ามะกา
| ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 2 จังหวัดราชบุรี> พรรค | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 2 จังหวัดราชบุรี> พรรค | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 2 จังหวัดราชบุรี> ผู้สมัคร | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 2 จังหวัดราชบุรี> คะแนนเสียง | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 2 จังหวัดราชบุรี> % | ผลการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎร เขต 2 จังหวัดราชบุรี> ± |
| --- | --- | --- | --- | --- | --- |
|  | กิจสังคม  | เรวัต ศิริศิลวัตนุกุล (6) | 32,363 |  |  |
|  | ชาติไทย  | จินดา อังศุโชติ (8)✔ | 21,734 |  |  |
|  | ชาติไทย  | สมทรง จันทาภากุล (2)* | 19,313 |  |  |
|  | กิจสังคม  | ชวิน เป้าอารีย์ (5)* | 13,114 |  |  |
|  | ไม่สังกัดพรรค | อำนวย แช่มช้อย (3) | 7,601 |  |  |
|  | ประชาธิปัตย์   | ครองชัย วงศ์สุวรรณ (1) | 3,068 |  |  |
|  | ประชากรไทย  | บูรณะศักดิ์ เทพาคำ (9)* | 2,826 |  |  |
|  | สยามประชาธิปไตย   | ฮวด ศรสินชัย (4) | 2,485 |  |  |
|  | ไม่สังกัดพรรค | ไพบูลย์ ไพบูลย์ธรรม (7) | 753 |  |  |
|  | ไม่สังกัดพรรค | วรทัศน์ อารินทร์ (10) | 595 |  |  |
| บัตรดี | บัตรดี | บัตรดี |  |  | – |
| ไม่ประสงค์ลงคะแนน | ไม่ประสงค์ลงคะแนน | ไม่ประสงค์ลงคะแนน |  |  | – |
| บัตรเสีย | บัตรเสีย | บัตรเสีย |  |  | – |
| ผู้มาใช้สิทธิเลือกตั้ง | ผู้มาใช้สิทธิเลือกตั้ง | ผู้มาใช้สิทธิเลือกตั้ง |  |  | – |
| ผู้มีสิทธิเลือกตั้ง | ผู้มีสิทธิเลือกตั้ง | ผู้มีสิทธิเลือกตั้ง |  |  | — |
: กิจสังคม  รักษาที่นั่ง
: ชาติไทย  ได้ที่นั่งจาก สยามประชาธิปไตย
ดูเพิ่ม

จังหวัดกาญจนบุรีในการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎรไทยเป็นการทั่วไป พ.ศ. 2522
จังหวัดกาญจนบุรีในการเลือกตั้งสมาชิกสภาผู้แทนราษฎรไทยเป็นการทั่วไป พ.ศ. 2529
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

แผนผังของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (อังกฤษ: transmission electron microscope (TEM))
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของซีเมนส์รุ่นปี 1973 ใน Musée des Arts et Métiers, กรุงปารีส
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (อังกฤษ: electron microscope) เป็นชนิดของกล้องจุลทรรศน์แบบหนึ่งที่ใช้อิเล็กตรอนที่ถูกเร่งความเร็วเป็นแหล่งที่มาของการส่องสว่าง เนื่องจากอิเล็กตรอนมีความยาวคลื่นสั้นกว่าโฟตอนของแสงที่มนุษย์มองเห็นได้ถึง 100,000 เท่า กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจึงมีกำลังขยายสูงกว่ากล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงและสามารถเปิดเผยให้เห็นโครงสร้างของวัตถุที่มีขนาดเล็กมาก ๆ ได้ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านสามารถให้รายละเอียดได้สูงถึง 50 picometre และมีกำลังการขยายได้ถึงประมาณ 10,000,000 เท่า ขณะที่ส่วนใหญ่ของกล้องจุลทรรศน์แบบแสงจะถูกจำกัดโดยการเลี้ยวเบนของแสงที่ให้ความละเอียดประมาณ 200 นาโนเมตรและกำลังขยายที่ใชการได้ต่ำกว่า 2000 เท่า
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านใช้เลนส์ไฟฟ้าสถิตและแม่เหล็กไฟฟ้า (อังกฤษ: electrostatic and electromagnetic lenses) ในการควบคุมลำแสงอิเล็กตรอนและโฟกัสมันเพื่อสร้างเป็นภาพ เลนส์แสงอิเล็กตรอนเหล่านี้เปรียบเทียบได้กับเลนส์แก้วของกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงออปติคอล
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนถูกนำไปใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างขนาดเล็กมาก ๆ ของตัวอย่างทางชีวภาพและอนินทรีที่หลากหลายรวมทั้งจุลินทรีย์ เซลล์ชีวะ โมเลกุลขนาดใหญ่ ตัวอย่างชิ้นเนื้อ โลหะ และคริสตัล ด้านอุตสาหกรรมกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนมักจะใช้สำหรับการควบคุมคุณภาพและการวิเคราะห์ความล้มเหลว กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ทันสมัยสามารถผลิตภาพถ่ายขนาดจิ๋วแบบอิเล็กตรอน (อังกฤษ: electron micrograph) โดยใช้กล้องดิจิทัลแบบพิเศษหรือ frame grabber (อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกที่ใช้จับภาพนิ่งจากสัญญาณวิดีโอแอนะลอกหรือดิจิทัล) ในการจับภาพ
ประวัติ

เลนส์แม่เหล็กไฟฟ้าตัวแรกได้รับการพัฒนาในปี ค.ศ. 1926 โดยนักฟิสิกส์ Hans Busch
อ้างถึง Dennis Gabor ในปี ค.ศ. 1928 นักฟิสิกส์ Leó Szilárd ได้พยายามที่จะโน้มน้าวให้ Busch ทำการสร้างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนตัวหนึ่งที่เขาจะได้ยื่นจดสิทธิบัตร
นักฟิสิกส์ชาวเยอรมัน Ernst Ruska และวิศวกรไฟฟ้า Max Knoll ได้สร้างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนต้นแบบในปี ค.ศ. 1931 มีกำลังการขยายสี่ร้อยเท่า อุปกรณ์นี้ได้สาธิตหลักการของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเป็นครั้งแรก อีกสองปีต่อมาในปี ค.ศ. 1933 Ruska ได้สร้างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีความคมชัดเกินกว่ากล้องจุลทรรศน์แบบแสงสามารถทำได้ นอกจากนี้ Reinhold Rudenberg ผู้อำนวยการทางวิทยาศาสตร์ของ Siemens-Schuckertwerke ได้รับสิทธิบัตรสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนในเดือนพฤษภาคม ค.ศ. 1931
ในปี ค.ศ. 1932 Ernst Lubcke แห่ง Siemens & Halske ได้สร้างภาพออกมาได้จากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนต้นแบบ เป็นการประยุกต์ใช้แนวคิดที่ได้อธิบายเอาไว้ในการยื่นขอจดสิทธิบัตรของ  Rudenberg ห้าปีต่อมา (1937) บริษัทได้ให้ทุนกับงานของ Ernst Ruska และ Bodo von Borries และว่าจ้าง Helmut Ruska (น้องชายเอิร์นส์) ในการพัฒนาแอปพลิเคชันสำหรับกล้องจุลทรรศน์โดยเฉพาะอย่างยิ่งกับตัวอย่างทางชีวภาพ เช่นกันในปี 1937 Manfred von Ardenne ได้บุกเบิกกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (อังกฤษ: scanning electron microscope (SEM)) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน"ในทางปฏิบัติ"ตัวแรกถูกสร้างขึ้นในปี ค.ศ. 1938 ที่มหาวิทยาลัยโตรอนโตโดย Eli Franklin Burton และนักเรียน Cecil Hall James Hillier และ Albert Prebus จากนั้นซีเมนส์ได้ผลิตกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) เชิงพาณิชย์ตัวแรกในปี ค.ศ. 1939 แม้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนร่วมสมัยมีกำลังการขยายถึงสองล้านเท่าก็ตาม ในฐานะที่เป็นเครื่องมือทางวิทยาศาสตร์ พวกมันยังคงขึ้นอยู่กับต้นแบบของ Ruska
ประเภท > กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM)

บทความหลัก: กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องผ่าน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) เป็นรูปแบบเดิมของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน มันใช้ลำแสงอิเล็กตรอนไฟฟ้าแรงสูงในการสร้างภาพ ลำแสงอิเล็กตรอนถูกผลิตโดยปืนอิเล็กตรอนที่ทั่วไปแล้วได้ติดตั้งแคโทดที่มีไส้หลอดเป็นทังสเตนเพื่อเป็นแหล่งที่มาของอิเล็กตรอน ลำแสงอิเล็กตรอนถูกเร่งความเร็วโดยขั้วบวกปกติที่ 100 กิโลอิเล็กตรอนโวลท์ (kev) (40-400 kev) เมื่อเทียบกับแคโทด จากนั้นลำแสงจะถูกโฟกัสโดยเลนส์ไฟฟ้าสถิตและคลื่นแม่เหล็กไฟฟ้าและส่องผ่านชิ้นงานที่มีบางส่วนที่โปร่งใสกับอิเล็กตรอนและบางส่วนกระจายลำแสงออกไป เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนผ่านพ้นออกมาจากชิ้นงานมันจะเก็บข้อมูลเกี่ยวกับโครงสร้างของชิ้นงานออกมาด้วยซึ่งจะมีการขยายโดยระบบเลนส์ใกล้วัตถุ (อังกฤษ: objective lens) ของกล้องจุลทรรศน์นั้น การเปลี่ยนแปลงเชิงพื้นที่ในข้อมูลนี้ ("ภาพ") อาจสามารถดูได้โดยการฉายภาพอิเล็กตรอนที่ถูกขยายแล้วนี้ลงบนหน้าจอดูเรืองแสงที่เคลือบด้วยวัสดุสารเรืองแสงหรือ scintillator เช่นสังกะสีซัลไฟด์ หรืออีกทางเลือกหนึ่งภาพสามารถถูกบันทึกได้แบบการถ่ายรูปโดยการฉายแสงอิเล็กตรอนโดยตรงลงบนแผ่นฟิล์มถ่ายรูป หรือสารเรืองแสงความละเอียดสูงอาจต่อเข้ากับตัวรับแสงของกล้องถ่ายรูปที่ใช้ CCD (อุปกรณ์ถ่ายเทประจุ) ด้วยระบบเลนส์ออปติคอลหรือตัวนำแสงแบบใยแก้ว ภาพที่จับได้โดย CCD อาจจะแสดงบนหน้าจอคอมพิวเตอร์
ความละเอียดของ TEM ถูกจำกัดเป็นส่วนใหญ่โดยความผิดปกติแบบทรงกลม (อังกฤษ: spherical aberration) (การหักเหของแสงตามขอบเลนส์) แต่รุ่นใหม่ของตัวแก้ความผิดปกติสามารถเอาชนะการผิดปกติแบบทรงกลมเหล่านั้นได้เพื่อเพิ่มความละเอียด การแก้ไขด้วยฮาร์ดแวร์ของความผิดปกติแบบทรงกลมสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนความละเอียดสูงแบบส่องผ่าน (อังกฤษ: high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM)) สามารถผลิตภาพที่มีความละเอียดต่ำกว่า 0.5 อังสตรอม (50 picometres) และกำลังขยายสูงกว่า 50 ล้านเท่า ความสามารถในการกำหนดตำแหน่งของอะตอมภายในวัสดุได้ทำให้ HRTEM เป็นเครื่องมือสำคัญสำหรับการวิจัยและการพัฒนาด้านนาโนเทคโนโลยี
โหมดที่สำคัญของการใช้ TEM คือการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน (อังกฤษ: electron diffraction) ข้อดีของการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนที่เหนือกว่าเทคนิคของผลึกวิทยา (อังกฤษ: X-ray crystallography) อยู่ที่ชิ้นงานไม่จำเป็นต้องเป็นผลึกเดี่ยวหรือแม้กระทั่งเป็นผงผลึก (อังกฤษ: polycrystalline powder) และนอกจากนี้การฟื้นฟูโครงสร้างด้วยการแปลงแบบฟูริเยร์ (อังกฤษ: Fourier transform reconstruction) ของโครงสร้างที่ถูกขยายแล้วของวัตถุจะเกิดขึ้นทางกายภาพ จึงหลีกเลี่ยงความจำเป็นสำหรับการแก้ปัญหาแบบเฟส (อังกฤษ: phase problem) ที่ต้องเผชิญกับ X-ray crystallographers หลังจากได้รับรูปแบบ X-ray diffraction ของผลึกเดี่ยวหรือผงผลึกของพวกมัน ข้อเสียที่สำคัญของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านคือความจำเป็นสำหรับตัวอย่างที่ต้องใช้ส่วนที่บางมากโดยทั่วไปประมาณ 100 นาโนเมตร ตัวอย่างทางชีวภาพโดยทั่วไปจะต้องคงที่ทางเคมี แห้งและถูกฝังตัวอยู่ในเรซินลิเมอร์เพื่อรักษาเสถียรภาพของพวกมันให้พอที่จะยอมให้ตัดเซ็กชั่นอย่างบางเฉียบได้ เซ็กชั่นของตัวอย่างทางชีวภาพ โพลิเมอร์อินทรีย์และวัสดุที่คล้ายกันอาจจะต้องการการดูแลเป็นพิเศษด้วยป้ายชื่ออะตอมหนักเพื่อให้ได้ความคมชัดของภาพตามที่ต้องการ
ประเภท > กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

บทความหลัก: กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด
ไม่เหมือนกับแบบ TEM ที่อิเล็กตรอนของลำแสงไฟฟ้าแรงสูงจะเก็บภาพของชิ้นงาน, ลำแสงอิเล็กตรอนของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ไม่ได้เก็บภาพที่สมบูรณ์ของชิ้นงานได้ตลอดเวลา SEM จะผลิตภาพโดยตรวจสอบชิ้นงานโดยใช้ลำแสงอิเล็กตรอนที่โฟกัสให้กราด(สแกน)ไปทั่วพื้นที่สี่เหลี่ยมของชิ้นงาน (เหมือนการสแกนจอภาพ CRT (อังกฤษ: raster scan)) เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนมีปฏิสัมพันธ์กับชิ้นงาน มันจะสูญเสียพลังงานตามความหลากหลายของกลไก พลังงานที่หายไปจะถูกแปลงเป็นรูปแบบทางเลือกอื่นเช่นความร้อน การปล่อยอิเล็กตรอนทุติยภูมิพลังงานต่ำและอิเล็กตรอนสะท้อนกลับพลังงานสูง การปล่อยแสง (cathodoluminescence) หรือการเปล่งรังสีเอกซ์ พลังงานทั้งหมดเหล่านี้เป็นสัญญาณของข้อมูลเกี่ยวกับคุณสมบัติของพื้นผิวของชิ้นงาน เช่นรูปร่างและองค์ประกอบของมัน ภาพที่แสดงโดย SEM จะแปลความเข้มที่แตกต่างใดๆของสัญญาณเหล่านี้ให้เป็นภาพที่อยู่ในตำแหน่งที่สอดคล้องกับตำแหน่งของลำแสงบนชิ้นงานตอนที่สัญญาณถูกสร้างขึ้น ในภาพ SEM ของมดที่แสดงทางด้านขวา ภาพถูกสร้างขึ้นมาจากสัญญาณที่ผลิตโดยเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิซึ่งเป็นโหมดการสร้างภาพปกติหรือทั่วไปใน SEM ส่วนใหญ่
โดยทั่วไปความละเอียดของภาพจาก SEM มีความคมชัดด้อยกว่าของ TEM อย่างไรก็ตามเนื่องจากภาพ SEM เป็นกระบวนการที่เกิดบนพื้นผิวมากกว่าการส่องผ่าน มันจึงสามารถที่จะสร้างภาพตัวอย่างที่เป็นกลุ่มได้ในขนาดหลายเซนติเมตรขึ้นไปและ (ขึ้นอยู่กับการออกแบบและการตั้งค่าของเครื่องมือ) มีความลึกของสนามที่สูง ดังนั้นมันจึงสามารถผลิตภาพที่มีการแสดงที่ดีของรูปทรงสามมิติของกลุ่มตัวอย่าง ประโยชน์ของ SEM อีกประการหนึ่งคือความหลากหลายของมันที่เรียกว่ากล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสิ่งแวดล้อม (อังกฤษ: environmental scanning electron microscope (Esem)) ที่สามารถผลิตภาพที่มีคุณภาพและความละเอียดเพียงพอสำหรับกลุ่มตัวอย่างที่เปียกหรือถูกเก็บอยู่ในสูญญากาศหรือก๊าซต่ำ อุปกรณ์นี้จะช่วยอำนวยความสะดวกในการถ่ายภาพตัวอย่างทางชีวภาพที่มีความไม่แน่นอนในสูญญากาศสูงของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบเดิม
ประเภท > สี

ในคอนฟิกูเลชั่นที่พบมากที่สุดของพวกมันกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนผลิตภาพที่มีค่าความสว่างเดียวต่อพิกเซลโดยผลลัพธ์ที่ได้แสดงผลมักจะอยู่ในระดับสีเทา อย่างไรก็ตามบ่อยครั้งที่ภาพเหล่านี้จะทำเป็นสีโดยใช้ซอฟแวร์ที่มีการตรวจสอบคุณลักษณะหรือง่ายๆเพียงแค่ใช้มือด้วยโปรแกรมแก้ไขภาพกราฟิก วิธีนี้มักจะทำเพื่อความสวยงามหรือสำหรับการอธิบายโครงสร้างและโดยทั่วไปก็ไม่ได้เพิ่มข้อมูลใดๆเกี่ยวกับตัวอย่าง
ในบางคอนฟิกูเลชั่นข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับคุณสมบัติของชิ้นงานถูกรวบรวมต่อพิกเซล ปกติโดยการใช้เครื่องตรวจจับหลายชั้น ใน SEM คุณลักษณะของรูปร่างและความคมชัดแบบวัสดุสามารถสร้างภาพได้โดยใช้เครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนสะท้อนกลับหนึ่งคู่และคุณลักษณะดังกล่าวสามารถซ้อนทับในภาพสีภาพเดียวโดยการกำหนดสีหลักที่แตกต่างกันไปแต่ละคุณลักษณะ ในทำนองเดียวกันการรวมกันของสัญญาณอิเล็กตรอนสะท้อนกลับและทุติยภูมิสามารถกำหนดให้มีสีที่แตกต่างกันและซ้อนทับกันบน Micrograph สีเดียวที่แสดงคุณสมบัติของชิ้นงานพร้อมกัน
ในวิธีการที่คล้ายกัน อิเล็กตรอนทุติยภูมิและเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนสะท้อนกลับมีการซ้อนทับกันและสีหนึ่งได้ถูกกำหนดให้ในแต่ละภาพที่จับได้โดยแต่ละเครื่องตรวจจับ ทำให้ได้ผลในตอนท้ายเป็นภาพสีผสมที่สีทั้งหลายมีความสัมพันธ์กับความหนาแน่นของส่วนประกอบต่างๆ วิธีการนี้เป็นที่รู้จักกันว่าเป็น SEM แบบมีสีที่ขึ้นอยู่กับความหนาแน่น (อังกฤษ: Density-dependent colour SEM (DDC-SEM)) ภาพ micrograph ที่ผลิตโดย DDC-SEM จะเก็บข้อมูลรูปร่าง(ซึ่งถูกจับได้ดีกว่าที่จับได้โดยต้วตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิและผสมเข้าด้วยกันกับข้อมูลเกี่ยวกับความหนาแน่น)ที่ได้รับจากเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนสะท้อนกลับ
บางชนิดของตัวตรวจจับที่ใช้ใน SEM มีความสามารถในการวิเคราะห์และสามารถให้ข้อมูลหลายรายการในแต่ละพิกเซล ตัวอย่างเช่นตัวตรวจจับในเครื่องเอกซ์เรย์สเปกโตรสโคปีแบบพลังงานกระจาย (อังกฤษ: Energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS)) ที่ใช้ในการวิเคราะห์ธาตุและระบบกล้องจุลทรรศน์แบบเปล่งแสงด้วยคาโทด (อังกฤษ: Cathodoluminescence microscope (CL)) ที่วิเคราะห์ความเข้มข้นและสเปกตรัมของการเปล่งแสงที่เกิดขึ้นจากอิเล็กตรอน (อังกฤษ: electron-induced luminescence) ใน (ตัวอย่างเช่น) ชิ้นตัวอย่างทางธรณีวิทยา ในระบบ SEM การใช้ตัวตรวจจับเหล่านี้มันเป็นเรื่องธรรมดาที่จะให้รหัสสีกับสัญญาณทั้ได้และซ้อนทับพวกมันออกกมาเป็นนภาพสีภาพเดียวเพื่อที่ว่าความแตกต่างทั้งหลายในการกระจายของส่วนประกอบต่างๆของชิ้นงานสามารถมองเห็นได้อย่างชัดเจนและสามารถเทียบกันได้ เพื่อเป็นทางเลือก ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิมาตรฐานสามารถถูกรวมเข้ากับช่องทางแบบองค์ประกอบ (อังกฤษ: compositional channel) หนึ่งช่องทางหรือมากกว่าเพื่อให้โครงสร้างของชิ้นงานและองค์ประกอบสามารถนำมาเปรียบเทียบกันได้ ภาพดังกล่าวสามารถถูกทำขึ้นในขณะที่มีการรักษาความสมบูรณ์เต็มรูปแบบของสัญญาณเดิมซึ่งไม่ได้ถูกแก้ไขในทางใดทางหนึ่ง
ประเภท > กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสะท้อน (REM)

ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสะท้อน (อังกฤษ: Reflection electron microscope (REM)) เช่นเดียวกับใน TEM ลำแสงอิเล็กตรอนตกลงบนพื้นผิว แต่แทนที่จะใช้การส่องผ่าน (ใน TEM) หรืออิเล็กตรอนทุติยภูมิ (ใน SEM) ลำแสงที่สะท้อนของอิเล็กตรอนที่กระจายอย่างยืดหยุ่นจะถูกตรวจพบ เทคนิคนี้จะมักจะเชื่อมต่อเข้ากับการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนพลังงานสูงสะท้อน (อังกฤษ: reflection high energy electron diffraction (RHEED)) และเครื่องสเปกโทรสโกปีแบบสะท้อนการสูญเสียพลังงานสูง (อังกฤษ: reflection high-energy loss spectroscopy (RHELS)) การแปรเปลี่ยนอีกประการหนึ่งคือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนพลังงานต่ำแบบขั้วหมุน (อังกฤษ: spin-polarized low-energy electron microscopy (SPLEEM)) ซึ่งจะใช้สำหรับการมองหาจุลภาคของโดเมนแม่เหล็ก
ประเภท > กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านและส่องกราด (STEM)

บทความหลัก: กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านและส่องกราด
เครื่อง STEM นี้จะสแกนลำแสงที่โฟกัสแล้วให้ตกกระทบทั่วชิ้นงาน (เช่นเดียวกับ TEM) ชิ้นงานจะถูกทำให้บางเพื่ออำนวยความสะดวกในการตรวจจับอิเล็กตรอนที่กระจาย"ผ่าน"ชิ้นงาน
ความละเอียดสูงของ TEM จึงสามารถเป็นไปได้ใน STEM  การดำเนินการ (และความผิดปรกติ) จากการโฟกัสจะเกิดขึ้นก่อนที่อิเล็กตรอนจะกระทบชิ้นงานใน STEM แต่ใน TEM จะเกิดทีหลัง  STEM จะใช้การสแกนลำแสงเหมือนกับ SEM เพื่อลดความยุ่งยากในการถ่ายภาพเป็นรูปวงแหวนสนามมืด (อังกฤษ: annular dark-field imaging) (ซึ่งเป็นเทคนิคการวิเคราะห์อีกอันหนึ่ง) แต่ยังหมายถึงว่าข้อมูลภาพจำเป็นต้องอยู่ในรูปอนุกรมมากกว่าอยู่ในรูปขนาน บ่อยครั้งที่ TEM สามารถถูกติดตั้งด้วยตัวเลือกการสแกน มันจึงสามารถทำงานได้ทั้งแบบ TEM และ STEM
ข้อเสีย

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนมีราคาแพงในการสร้างและบำรุงรักษา แต่เงินทุนและค่าใช้จ่ายในการดำเนินงานของกล้องจุลทรรศน์ระบบแสงจุดโฟกัสร่วมในเวลานี้จะคาบเกี่ยวกับบรรดาของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนพื้นฐาน กล้องจุลทรรศน์ที่ออกแบบเพื่อให้บรรลุความละเอียดสูงจะต้องติดตั้งอยู่ในอาคารที่มั่นคง (บางครั้งใต้ดิน) ที่มีบริการพิเศษเช่นระบบกำจัดสนามแม่เหล็ก
ชิ้นตัวอย่างส่วนใหญ่จะต้องมีการส่องดูในสุญญากาศเนื่องจากโมเลกุลที่ประกอบขึ้นเป็นอากาศจะทำให้อิเล็กตรอนถูกกระเจิง ข้อยกเว้นเดียวสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสิ่งแวดล้อมซึ่งยอมให้ตัวอย่างที่ผ่านการชุ่มน้ำสามารถส่องดูได้ในสภาพแวดล้อมที่เปียกแรงดันต่ำ (ไม่เกิน 20 Torr หรือ 2.7 ปาสคาล)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดที่ทำงานในโหมดสุญญากาศสูงธรรมดามักจะสร้างภาพชิ้นงานที่เป็นตัวนำไฟฟ้า ดังนั้นวัสดุที่ไม่นำไฟฟ้าจึงต้องเคลือบด้วยสารตัวนำ (ทอง/โลหะผสมแพลเลเดียม คาร์บอน ออสเมียม ฯลฯ) โหมดแรงดันต่ำของกล้องจุลทรรศน์ที่ทันสมัยทำให้เป็นไปได้ในการการสังเกตชิ้นงานที่ไม่นำไฟฟ้าโดยไม่ต้องเคลือบ วัสดุที่ไม่นำไฟฟ้าสามารถถ่ายภาพโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบความดันแปร (หรือแบบสิ่งแวดล้อม)
ชิ้นตัวอย่างขนาดเล็กและมีความเสถียรเช่นท่อคาร์บอนนาโน เปลือกไดอะตอม (อังกฤษ: diatom frustules) และผลึกแร่ขนาดเล็ก (เช่นแร่ใยหิน) ไม่จำเป็นต้องมีการดูแลเป็นพิเศษก่อนที่จะมีการตรวจสอบในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ตัวอย่างของวัสดุไฮเดรทรวมทั้งเกือบทั้งหมดของตัวอย่างทางชีวภาพจะต้องมีการจัดเตรียมในรูปแบบต่าง ๆ เพื่อสร้างเสถียรภาพให้กับพวกมัน ลดความหนาของพวกมัน (ทำเซ็กชั่นให้บางเฉียบ) และเพิ่มความคมชัดด้านอิเล็กตรอนออปติคอล (ย้อมสี) กระบวนการเหล่านี้อาจส่งผลให้เกิด"สิ่งแปลกปลอม" แต่มักจะสามารถระบุได้โดยการเปรียบเทียบผลลัพธ์ที่ได้โดยใช้วิธีการเตรียมชิ้นงานหลาย ๆ อย่างที่แตกต่างกันอย่างสิ้นเชิง นักวิทยาศาสตร์ที่ทำงานในสนามโดยทั่วไปเชื่อว่าผลลัพธ์จากเทคนิคการเตรียมการที่หลากหลายต่าง ๆ จะถูกนำมาเปรียบเทียบและไม่มีเหตุผลที่พวกมันจะผลิตสิ่งแปลกปลอมที่คล้ายกันและมันมีเหตุผลที่เชื่อได้ว่าคุณสมบัติกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสอดคล้องกับบรรดาคุณสมบัติของเซลล์ทั้งหลายที่มีชีวิต ตั้งแต่ปี 1980s การวิเคราะห์ของชิ้นตัวอย่างที่มีการเตรียมแบบเย็นยิ่งยวดจนกลายเป็นแก้วยังได้กลายเป็นที่ใช้มากขึ้นโดยนักวิทยาศาสตร์ ยืนยันมากขึ้นถึงความถูกต้องของเทคนิคนี้
การประยุกต์ใช้งาน

| --- | --- |
 Semiconductor and data storage Circuit edit  Defect analysis  Failure analysis Biology and life sciences Diagnostic electron microscopy  Cryobiology  Protein localization  Electron tomography  Cryo-electron microscopy  Toxicology  Biological production and viral load monitoring  Particle analysis  Pharmaceutical QC  Structural biology  3D tissue imaging  Virology  Vitrification:  Materials research Electron beam-induced deposition  Materials qualification  Medical research  Nanoprototyping  Nanometrology  Device testing and characterization Industry High-resolution imaging  2D & 3D micro-characterization  Macro sample to nanometer metrology  Particle detection and characterization  Direct beam-writing fabrication  Dynamic materials experiments  Sample preparation  Forensics  Mining (mineral liberation analysis)  Chemical/Petrochemical  Fractography and failure analysis  
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสร้างโดย Ernst Ruska ในปี ค.ศ. 1933
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนรุ่นตั้งโต๊ะ RCA Model EMT3 ปี 1950
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านที่ทันสมัย
ภาพของมดในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
ภาพจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดแบบมีสีที่ขึ้นอยู่กับความหนาแน่น (DDC-SEM) ของแคลเซียมในหลอดเลือดหัวใจที่แสดงในสีส้มเป็นอนุภาคทรงกลมของแคลเซียมฟอสเฟต (วัสดุทึบแสงกว่า) และในสีเขียวแสดงเป็น extracellular matrix (วัสดุหนาแน่นน้อยกว่า)
แมลงถูกเคลือบด้วยทองสำหรับการดูด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
ภาพสีปลอมจากเครื่อง SEM ของเส้นขนกรองของตัวเคยในมหาสมุทรแอนตาร์กติก (ภาพดิบจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจะให้ข้อมูลที่ไม่มีสี)

ภาพ: ภาพกรองระดับแรกของตัวเคยเป็นรูปตัว V ของตัวเคยระดับที่สองที่ชี้ไปทางด้านในของตะกร้าให้อาหาร ลูกบอลสีม่วงมีขนาดเส้นผ่าศูนย์กลาง 1 ไมโครเมตร