Single event upset
Mikroişlemci, hafıza birimleri, transistörler gibi yarı iletken devrelerde oluşan hal değişimine Single event upset (SEU) denir. İyonların veya elektro-manyetik radyasyonun cihazın hassas bir noktasına çarpması sonucu oluşan anlık enerji artmasından kaynaklanır. SEU bir yumuşak hata çeşididir.