Sınır tarama tekniği
Sınır tarama tekniği, yeni paketleme teknolojileri nedeniyle gittikçe komplike hale gelen baskılı devre kartlarının üzerindeki fiziksel erişim problemlerini çözebilmek için 1980'lerin sonlarında geliştirilen bir test tekniğidir. Sınır tarama tekniği, aynı zamanda entegre devrelerin pin durumlarını izlemede, voltajlarını ölçmede ya da entegre devrelerin alt bloklarını analiz etmede düzeltme tekniği olarak da kullanılır. boundary scan testi için, 1990 yılında IEEE Std.