Seçilmiş iyon izleme
Seçilmiş iyon izleme (Selected ion monitoring-SIM), tam spektrum aralığının aksine cihaz tarafından yalnızca sınırlı bir kütle-yük oranı aralığının iletildiği/saptandığı bir kütle spektrometrisi tarama modudur. Bu çalışma modu tipik olarak önemli ölçüde artan hassasiyetle sonuçlanır. Doğası gereği bu teknik, kuadrupol kütle spektrometrelerinde ve Fourier dönüşümü iyon siklotron rezonans kütle spektrometrelerinde en etkili ve bu nedenle en yaygın olanıdır.