Kristalografi

Sebelum perkembangan kristalografi difraksi sinar X, studi kristal didasarkan pada geometri kristal. Ini termasuk mengukur sudut permukaan kristal relatif terhadap sumbu referensi teoretis (sumbu kristalografik), dan menetapkan kesetangkupan kristal yang bersangkutan. Yang pertama dilaksanakan menggunakan goniometer.