Kristalografi sinar-X

Kristalografi sinar-X adalah metode atau alat yang digunakan untuk menentukan struktur atom dan molekul sebuah kristal dengan cara mendifraksikan seberkas sinar-X ke segala arah. Dengan mengukur sudut dan intensitas difraksi sinar ini, kristalografer dapat menghasilkan gambar tiga dimensi mengenai kepadatan elektron di dalam kristal. Dari gambar kepadatan elektron ini, posisi rata-rata atom di dalam kristal dapat ditentukan, serta ikatan kimia yang terkandung dalam atom tersebut, entropi, dan berbagai informasi lainnya.