**تداخل‌سنج *اِن-*شکاف** (به انگلیسی: N-slit interferometer) توسعه‌ای از تداخل‌سنج دوشکاف است که به‌عنوان تداخل‌سنج دوشکافی یانگ نیز شناخته می‌شود. یکی از اولین کاربردهای شناخته شده آرایه‌های *اِن-*شکاف در اپتیک توسط نیوتن نشان داده شد. در نیمه اول قرن بیستم، مایکلسون موارد مختلفی از پراش *اِن-*شکافی را توصیف کرد.

فاینمن آزمایش‌های فکری تداخل کوانتومی دوشکافی الکترون‌ها را با استفاده از نماد دیراک توصیف کرد. این رویکرد توسط دوارته و همکارانش درسال ۱۹۸۹ به تداخل‌سنج‌های *اِن-*شکاف گسترش یافت، با استفاده از روشنایی لیزری با پهنای‌خط‌باریک، یعنی روشنایی توسط فوتون‌های تمیزناپذیر (به انگلیسی: indistinguishable). اولین کاربرد تداخل‌سنج *اِن-*شکاف تولید و اندازه‌گیری الگوهای تداخل پیچیده بود. این تداخل‌نگارها (به انگلیسی: interferograms) به‌طور دقیق توسط معادله تداخل‌سنجی *ان-*شکاف برای اعددهایی از شکاف‌ها، زوج (*N* = ۲، ۴، ۶،...)، یا فرد (*N* = ۳، ۵، ۷،...)، بازتولید یا پیش‌بینی می‌شوند.

تداخل‌سنج لیزری ان-شکاف
-----------------------

 شماتیک‌های نمای بالا تداخل‌سنج ان-شکاف: TBE یک باریکه گستر (به انگلیسی: beam expander) تلسکوپی است، MPBE یک باریکه گستر پرتو چندمنشوری است. آرایه ان-شکاف در *j* (با شکاف‌ها عمود بر گسترش باریکه) و صفحه تداخل‌سنجی در *x* است که آشکارساز دیجیتال در آن قرار دارد. فاصله درون‌تداخل‌سنجی *D* به اندازه ۵۲۷ متر گزارش شده‌است. **نکته**: تداخل‌سنج‌های *ان-*شکاف شامل تداخل‌سنج‌های سه‌شکاف (یا تداخل‌سنج‌های شکاف‌سه‌تایی)، تداخل‌سنج‌های چهارشکاف و غیره می‌باشند
تداخل‌سنج لیزری ان-شکاف، معرفی‌شده توسط دوارته، از باریکه گستر منشوری برای روشن‌کردن یک شبکه انتقال یا آرایه *ان-*شکاف و یک آرایه آشکارساز فوتوالکتریک (مانند سی‌سی‌دی یا سیماس) در صفحه تداخل برای ثبت سیگنال تداخل‌سنجی استفاده می‌کند. پرتو لیزر گسترش‌یافته که آرایه ان-شکاف را روشن می‌کند تک‌مُدعرضی و با عرض‌خط‌باریک است. این پرتو همچنین می‌تواند از طریق واردکردن یک عدسی کوژ قبل از گسترنده منشوری، شکل یک باریکه بسیار کشیده در صفحه انتشار و بسیار نازک در صفحه متعامد را به خود بگیرد. این استفاده از روشنایی یک‌بُعدی (یا خطی) نیاز به اسکن نقطه‌به‌نقطه در میکروسکوپ و ریزچگالی‌سنج را از بین می‌برد. بنابراین، این ابزار را می‌توان به عنوان تداخل‌سنج *ان-*شکاف مستقیم یا به عنوان میکروسکوپ تداخل‌سنجی استفاده کرد.

وابستار (به انگلیسی: disclosure) این پیکربندی تداخل‌سنجی استفاده از آشکارسازهای دیجیتال را در تداخل‌سنجی *ان-شکاف* معرفی کرد.

کاربردها
--------

### مخابرات نوری امن

 اتداخل‌نگاشت برای *N* = ۳ شکاف با الگوی پراش که روی بال بیرونی سمت راست قرارگرفته است. این تداخل‌نگاشت خاص با *نویسه تداخل‌سنجی* "b" مطابقت دارد.
 الگوی پراش بر روی تداخل‌نگاشت نشان‌داده‌شده در بالا، مربوط به *N* = ۳ شکاف، با استفاده از یک فیبر ابریشم عنکبوت با قطر حدود ۲۵ میکرومتر ایجاد شد.
این تداخل‌سنج‌ها، که در ابتدا برای کاربردهای تصویربرداری معرفی شدند، در اندازه‌شناسی (به انگلیسی: metrology) نوری نیز مفید هستند و برای مخابرات نوری امن در فضای آزاد بین فضاپیماها پیشنهاد شده‌اند. این به‌دلیل این واقعیت است که تداخل‌نگاشت‌های ان-شکاف در حال انتشار، به دلیل تلاش‌های گیرش (به انگلیسی: interception) با استفاده از روش‌های نوری ماکروسکوپی مانند باریکه شکافی (به انگلیسی: beam splitting)، دچار رُمبش فاجعه‌بار می‌شوند. پیشرفت‌های تجربی اخیر شامل طول مسیرهای درون‌تداخل‌سنجی (به انگلیسی: intra-interferometric) زمینی ۳۵ متر و ۵۲۷ متر است.

### تلاطم هوای صاف

تداخل‌سنج‌های ان-شکاف، با استفاده از فاصله‌های درون‌تداخل‌سنجی بزرگ، آشکارسازهای تلاطم هوای صاف هستند. اعوجاج‌های ناشی از تلاطم هوای صاف بر سیگنال تداخل‌سنجی، هم از نظر مشخصه و هم از نظر بزرگی، از رُمبش فاجعه‌بار ناشی از تلاش برای گیرش سیگنال‌های نوری با استفاده از عناصر نوری ماکروسکوپی متفاوت است.

### میکروسکوپ تداخل‌سنجی باریکه گستر

کاربرد اصلی تداخل سنج لیزری شکاف *N* تصویربرداری تداخل‌سنجی بود. به‌طور خاص، پرتو لیزر گسترده یک‌بُعدی (با سطح مقطع ۲۵–۵۰ میلی‌متر عرض و ۱۰–۲۵ میکرومتر ارتفاع) برای روشن کردن سطوح تصویربرداری (مانند فیلم‌های نقره هالید) برای اندازه‌گیری چگالی میکروسکوپی سطح روشن‌شده استفاده‌شد.

### کاربردهایی دیگر

تداخل‌سنج‌های ان-شکاف برای محققانی که در اپتیک اتمی، تصویربرداری فوریه، رایانش نوری، و رایانش کوانتومی کار می‌کنند، مورد توجه هستند.

جستارهای وابسته
---------------

* باریکه گستر
* تلاطم هوای صاف
* پراش از شکاف‌ها
* آزمایش دو شکاف
* مخابرات نوری فضای آزاد
* مخابرات لیزری در فضا
* ریزبینی
* ریزچگالی‌سنج
* معادله تداخل‌سنجی *ان-*شکاف
* فهرست مقالات لیزر

منابع
-----

1. ↑  I. Newton, *Opticks* (Royal Society, London, 1704).
2. ↑  A. A. Michelson, *Studies in Optics* (Chicago University, Chicago, 1927).
3. ↑  R. P. Feynman, R. B. Leighton, and M. Sands, *The Feynman Lectures on Physics*, Vol. III (Addison Wesley, Reading, 1965).
4. ↑  P. A. M. Dirac, *The Principles of Quantum Mechanics*, 4th Ed. (Oxford, London, 1978).
5. 1 2 3 4  F. J. Duarte and D. J. Paine, Quantum mechanical description of *N*-slit interference phenomena, in *Proceedings of the International Conference on Lasers '88*, R. C. Sze and
F. J. Duarte (Eds.) (STS, McLean, Va, 1989) pp. 42–47.
6. 1 2 3 4 5 6 7 8 9  Duarte, F.J. (1993). "On a generalized interference equation and interferometric measurements". *Optics Communications*. Elsevier BV. **103** (1–2): 8–14. Bibcode:1993OptCo.103....8D. doi:10.1016/0030-4018(93)90634-h. ISSN 0030-4018.
7. 1 2 3 4  Duarte, F J (2004-12-11). "Secure interferometric communications in free space: enhanced sensitivity for propagation in the metre range". *Journal of Optics A: Pure and Applied Optics*. IOP Publishing. **7** (1): 73–75. doi:10.1088/1464-4258/7/1/011. ISSN 1464-4258.
8. 1 2 3 4  Duarte, F J; Taylor, T S; Clark, A B; Davenport, W E (2009-11-25). "TheN-slit interferometer: an extended configuration". *Journal of Optics*. IOP Publishing. **12** (1): 015705. Bibcode:2010JOpt...12a5705D. doi:10.1088/2040-8978/12/1/015705. ISSN 2040-8978.
9. 1 2 3 4 5  Duarte, F J; Taylor, T S; Black, A M; Davenport, W E; Varmette, P G (2011-02-03). "N-slit interferometer for secure free-space optical communications: 527 m intra interferometric path length". *Journal of Optics*. IOP Publishing. **13** (3): 035710. Bibcode:2011JOpt...13c5710D. doi:10.1088/2040-8978/13/3/035710. ISSN 2040-8978.
10. 1 2 3 4 5  F. J. Duarte, Electro-optical interferometric microdensitometer system, *US Patent* 5255069 (1993) بایگانی‌شده در ۲۰۱۷-۱۰-۱۳ توسط Wayback Machine.
11. 1 2  F. J. Duarte, in *High Power Dye Lasers* (Springer-Verlag, Berlin, 1991) Chapter 2.
12. ↑  Duarte, F.J. (2002). "Secure interferometric communications in free space". *Optics Communications*. Elsevier BV. **205** (4–6): 313–319. Bibcode:2002OptCo.205..313D. doi:10.1016/s0030-4018(02)01384-6. ISSN 0030-4018.
13. ↑  F. J. Duarte, Interferometric imaging, in *Tunable Laser Applications*, 2nd Edition (CRC, New York, 2009) Chapter 12.
14. ↑  F. J. Duarte, Interferometric imaging, in *Tunable Laser Applications* (Marcel-Dekker, New York, 1995) Chapter 5.
15. ↑  L-B. Deng, Theory of atom optics: Feynman path integral approach, *Frontiers Phys. China* **1**, 47-53 (2006).
16. ↑  Liu, Honglin; Shen, Xia; Zhu, Da-Ming; Han, Shensheng (2007-11-07). "Fourier-transform ghost imaging with pure far-field correlated thermal light". *Physical Review A*. American Physical Society (APS). **76** (5): 053808. Bibcode:2007PhRvA..76e3808L. doi:10.1103/physreva.76.053808. ISSN 1050-2947.
17. ↑  F. J. Duarte, *Tunable Laser Optics*, 2nd Edition (CRC, New York, 2015) Chapter 10.
18. ↑  Clauser, John F.; Dowling, Jonathan P. (1996-06-01). "Factoring integers with Young's N-slit interferometer". *Physical Review A*. American Physical Society (APS). **53** (6): 4587–4590. arXiv:0810.4372. Bibcode:1996PhRvA..53.4587C. doi:10.1103/physreva.53.4587. ISSN 1050-2947. PMID 9913434.