У Вікіпедыі ёсць артыкулы пра іншых асоб з прозвішчам Аляхновіч.
**Мікалай Міхайлавіч Аляхновіч** (нар. 2 мая 1935, Варонічы, Слонімскі раён, Гродзенская вобласць) — беларускі фізік. Акадэмік Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі (1996; чл.-кар. З 1989), доктар фізіка-матэматычных навук (1988), прафесар (1991). Заслужаны дзеяч навукі Рэспублікі Беларусь (1999).

Біяграфія
---------

Скончыў Беларускі дзяржаўны ўніверсітэт у 1957 годзе. У 1957—1959 гадах малодшы навуковы супрацоўнік Фізіка-тэхнічнага інстытута. З 1959 года малодшы навуковы супрацоўнік, старшы інжынер Аддзела фізікі цвёрдага цела і паўправаднікоў АН БССР. У 1963—1968 гадах малодшы, старшы навуковы супрацоўнік Інстытута фізікі цвёрдага цела і паўправаднікоў. У 1968—1989 гадах загадчык лабараторыі, у 1989—1993 гадах галоўны навуковы супрацоўнік, у 1993—2004 гадах дырэктар Інстытута фізікі цвёрдага цела і паўправаднікоў, адначасова ў 1997—2002 гадах. акадэмік-сакратар Аддзялення фізікі, матэматыкі і інфарматыкі Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. З 2004 галоўны навуковы супрацоўнік Аб’яднанага інстытута фізікі цвёрдага цела і паўправаднікоў, з 2007 года Навукова-практычнага цэнтра па матэрыялазнаўстве Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі.

Навуковая дзейнасць
-------------------

Навуковыя даследаванні прысвечаны праблемам хімічнай сувязі ў цвёрдых целах, дыфракцыі рэнтгенаўскіх прамянёў у рэальных крышталях, атрымання новых матэрыялаў, у тым ліку з выкарыстаннем высокіх ціскаў. Развіў метады эксперыментальнага вызначэння прасторавага размеркавання электроннага зарада і патэнцыялу ў крышталях і вызначэння па іх фізічных уласцівасцей, раскрыў кавалентна-іонны характар ​​хімічнай сувязі ў важнай групе паўправадніковых крышталёў. Развіў рэнтгенаўскі дыфракцыйна-палярызацыйны аналіз рэальных крышталёў. Выявіў і даследаваў з’явы двухпромневга пераламлення і дэпалярызацыі рэнтгенаўскага выпраменьвання пры дыфракцыі ў дыслакацыйных крышталях, на аснове якіх развіў полярыметрыю рэнтгенаўскага дыяпазону частот. Прапанаваў спосабы монахраматызацыі рэнтгенаўскага сінхроннага вымярэння з пераўтварэннем палярызацыі. На аснове эфектаў дынамічнага рассейвання рэнтгенаўскіх прамянёў для скажоных монакрышталёў са статыстычным размеркаваннем дэфектаў распрацаваў метады ідэнтыфікацыі тыпу дэфектаў, ацэнкі іх параметраў, а таксама спосабы прэцызійнага вызначэння структурных фактараў і характарыстык дынамікі крышталічнай рашоткі. Пабудаваў дыяграмы стану для аксідных сістэм, атрымаў і даследаваў шэраг новых метастабільным пераўскітных фаз сегнетаэлектрыкаў.

Навуковыя працы
---------------

* Интегральные характеристики дифракции рентгеновских лучей в монокристаллах с хаотическим распределением дислокаций // Металлофизика. 1986. Т.8, № 1.
* Dynamical effects of X-ray scattering in Laue geometry for Si crystals with structure defects (совм. с А. Л. Карпеем) // Phys. Stat. Sol. (a). 1984. Vol. 82, No.1.
* Birefringence and depolarition effects of X-ray scattering in Laue geometry for highly distorted crystals (совм. с А. В. Пушкаревым) // Там же. 1990. Vol. 119, No.1.
* Длины ненапряженных связей и соответствующие им радиусы катионов в кристаллах со структурой типа перовскита // Кристаллография. 2004. Т.49, № 5.
* Напряженность межатомных связей и многоямный потенциал в кристаллах со структурой типа перовскита // Кристаллография. 2005. Т.50, № 3.
* Relationship between the rotation angles of octahedra and bond-strength energy in crystals with perovskite structure // Crystallography Reports. 2007. Vol.52. No.5.

Спасылкі
--------

* Мікалай Міхайлавіч Аляхновіч у базе даных «История белорусской науки в лицах» Цэнтральнай навуковай бібліятэкі імя Якуба Коласа НАН Беларусі  (руск.)