मूल आवेश ( इलेक्ट्रॉन का आवेश ) को मापने के लिए 1909 में रॉबर्ट ए मिल्लिकन और हार्वे फ़्लेचर द्वारा तैल विन्दु प्रयोग किया गया था ।
Entity: मिल्लिकन — Type: /person, /person/author