polyglot-tagger/wikipedia-language-snippets-filtered huggingface dataset:
ನೊಳಗೆ ಸೇರಿಸಿದ ನಂತರ ಮಾದರಿಯನ್ನು, ಅದರ ಪರೀಕ್ಷಿಸಬೇಕಾದ ಭಾಗವನ್ನು ಏಕ ಕಣ ವಿವರ್ತನೆಯಂತಹ ಕಿರಣಕ್ಕೆ ಒಡ್ಡಲು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಸ್ಥಾನದಲ್ಲಿ ಬದಲಾಯಿಸಬೇಕು. ಇದನ್ನು ಮಾಡಲು ಆಧಾರ ಫಲಕವು, ಮಾದರಿಯನ್ನು ಮಾದರಿಯ- ಸಮತಲದಲ್ಲಿ ಪರಿವರ್ತಿಸಲು, ಮಾದರಿ-ಧಾರಕವನ್ನು ಎತ್ತರದಲ್ಲಿ ಹೊಂದಿಸಲು ಮತ್ತು ಮಾದರಿಯನ್ನು ಕನಿಷ್ಠ ಒಂದು ಸುತ್ತು ಸ್ವತಂತ್ರ-ಮಾರ್ಗ ಕ್ಕಾಗಿ ಕಾರ್ಯವಿಧಾನಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುತ್ತದೆ. ಆದ್ದರಿಂದ ಆಧಾರ ಫಲಕವು ಮಾದರಿಯ ಚಲನೆಗೆ ನಾಲ್ಕು ಸ್ವತಂತ್ರ ಮಾರ್ಗಗಳನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತದೆ. ಬಹುತೇಕ ಆಧುನಿಕ ಗಳು ಡಬಲ್-ಟಿಲ್ಟ್ ಮಾದರಿ-ಧಾರಕಗಳೆಂಬ ವಿಶೇಷ ಧಾರಕ ವಿನ್ಯಾಸಗಳೊಂದಿಗೆ ಎರಡು ಲಂಬಕೋನೀಯ ಆವರ್ತ ಚಲಿಸುವ ಕೋನಗಳ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತದೆ. ಹೆಚ್ಚು ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ಗಳಲ್ಲಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತಿದ್ದ ಮೇಲಿನಿಂದ ಪ್ರವೇಶ ಅಥವಾ ಲಂಬವಾಗಿ ಸೇರಿಸುವ ಆಧಾರ ಫಲಕಗಳಂತಹ ಕೆಲವು ಆಧಾರ-ಫಲಕಗಳ ವಿನ್ಯಾಸಗಳು ಕೇವಲ - ಪರಿವರ್ತನೆಗಳನ್ನು ಮಾತ್ರ ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ. ಏಕಕಾಲದಲ್ಲಿ ಯಾಂತ್ರಿಕ ಮತ್ತು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌-ಮಸೂರಗಳ ಇತಿಮಿತಿಗಳ ಅವಶ್ಯಕತೆ ಇರುವುದರಿಂದ ಆಧಾರ-ಫಲಕಗಳ ವಿನ್ಯಾಸದ ಮಾನದಂಡವು ಸಂಕೀರ್ಣವಾಗಿದೆ. ಆ ಮೂಲಕ ಅದು ಅನೇಕ ಅನುಷ್ಠಾನಗಳನ್ನು ಸೃಷ್ಟಿಸಿದೆ.
ಆಧಾರ ಫಲಕವು ಮಾದರಿಯನ್ನು ಹಿಡಿದುಕೊಳ್ಳುವ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ಹೊಂದಿರಬೇಕಾಗಿರುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಪರೀಕ್ಷಿಸಬೇಕಾದ ಭಾಗವನ್ನು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಕಿರಣದ ಪಥಕ್ಕೆ ತರಲು ಅದನ್ನು ಬದಲಾಯಿಸಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಯು ವ್ಯಾಪಕ ವರ್ಧನ-ಸಾಮರ್ಥ್ಯದೊಂದಿಗೆ ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಿಸುವುದರಿಂದ, ಆಧಾರ ಫಲಕವು ಯಾಂತ್ರಿಕ ಪಥಚ್ಯುತಿಗೆ ಹೆಚ್ಚು ಪ್ರತಿರೋಧವನ್ನು ಹೊಂದಿರಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಸ್ಥಾನಬದಲಿಕೆಯ ನಿಖರತೆಯು ನ್ಯಾನೊಮೀಟರ್‌ಗಳ ಪ್ರಮಾಣದಲ್ಲಿರುವುದರೊಂದಿಗೆ ಮೈಕ್ರೊಮೀಟರ್/ನಿಮಿಷದಷ್ಟು ಸರಿಸಲು ಸಾಧ್ಯವಾಗುವಾಗ, ಸ್ಥಾನಬದಲಿಕೆ ಅಗತ್ಯಗಳು ಕೆಲವು ನ್ಯಾನೊಮೀಟರ್/ನಿಮಿಷದಷ್ಟು ಕಡಿಮೆ ಇರುತ್ತದೆ. ನ ಆರಂಭಿಕ ವಿನ್ಯಾಸಗಳು ಇದನ್ನು ಯಾಂತ್ರಿಕ ವೇಗವನ್ನು-ತಗ್ಗಿಸುವ ಸಾಧನಗಳ ಸಂಕೀರ್ಣ ರಚನೆಯೊಂದಿಗೆ ಸಾಧಿಸುತ್ತಿದ್ದವು. ಇದು ಸಾಧನಕ್ಕೆ ಅನೇಕ ತಿರುಗಿಸುವ ಸರಳುಗಳಿಂದ ಆಧಾರ ಫಲಕದ ಚಲನೆಯನ್ನು ಉತ್ತಮವಾಗಿ ನಿಯಂತ್ರಿಸಲು ನಿರ್ವಾಹಕನಿಗೆ ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತಿತ್ತು. ಆಧುನಿಕ ಸಾಧನಗಳು ವಿದ್ಯುತ್ತಿನ ಆಧಾರ ಫಲಕ ವಿನ್ಯಾಸಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತವೆ. ಅವು ಸ್ಟೆಪ್ಪರ್ ಮೋಟಾರ್‌ಗಳೊಂದಿಗೆ ಸ್ಕ್ರೂ ಗೇರ್‌ಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು, ಸಾಧನಕ್ಕೆ ಜಾಯ್‌ಸ್ಟಿಕ್ ಅಥವಾ ಟ್ರ್ಯಾಕ್‌ಬಾಲ್‌‌ನಂತಹ ಕಂಪ್ಯೂಟರ್-ಆಧಾರಿತ ಆಧಾರ ಫಲಕದ ಇನ್‌ಪುಟ್ಅನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತವೆ.
ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಯು ಮಸೂರದ ಮ‌ೂರು ಹಂತಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ. ಆ ಹಂತಗಳೆಂದರೆ - ಸಾಂದ್ರಕ ಮಸೂರಗಳು, ವಸ್ತುವಿನ ಸಮೀಪವಿರುವ ಮಸೂರಗಳು ಮತ್ತು ಪ್ರಕ್ಷೇಪಕ ಮಸೂರಗಳು. ಸಾಂದ್ರಕ ಮಸೂರಗಳು ಪ್ರಾಥಮಿಕ ಕಿರಣದ ಉತ್ಪಾದನೆಗೆ ಜವಾಬ್ದಾರವಾಗಿರುತ್ತವೆ, ವಸ್ತುವಿನ ಸಮೀಪದ ಮಸೂರಗಳು ಕಿರಣವನ್ನು ಮಾದರಿಯ ಮೇಲೆ ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸುತ್ತವೆ. ಪ್ರಕ್ಷೇಪಕ ಮಸೂರಗಳನ್ನು, ಕಿರಣವನ್ನು ಫಾಸ್ಫರ್ ಪರದೆಯ ಅಥವಾ ಫಿಲಂನಂತಹ ಇತರ ಚಿತ್ರಿಸುವ ವಸ್ತುಗಳ ಮೇಲೆ ಹರಡುವಂತೆ ಮಾಡಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ನ ವರ್ಧನೆಯು, ಮಾದರಿಯ ಮತ್ತು ಆಬ್ಜೆಕ್ಟಿವ್ ಮಸೂರದ ಚಿತ್ರದ ಮೇಲ್ಮೈಯ ನಡುವಿನ ದೂರದ ಅನುಪಾತದಿಂದಾಗುತ್ತದೆ. ಹೆಚ್ಚುವರಿ ಕ್ವಾಡ್ ಅಥವಾ ಹೆಕ್ಸಾಪೋಲ್ ಮಸೂರಗಳು ಅಸಮ ದೃಷ್ಟಿ ಎನ್ನುವ ಅಸಮ್ಮಿತ ಕಿರಣದ ಅಸ್ಪಷ್ಟತೆಗಳನ್ನು ಸರಿಪಡಿಸಲು ಅವಕಾಶ ನೀಡುತ್ತದೆ. ಮಸೂರಗಳ ವಿನ್ಯಾಸವು ಗಮನಾರ್ಹವಾಗಿ ಅನುಷ್ಠಾನದೊಂದಿಗೆ ವ್ಯತ್ಯಾಸಗೊಳ್ಳುತ್ತದೆಂಬುದನ್ನು ಗಮನಿಸಲಾಗಿದೆ. ಉತ್ಪಾದಕರು ಗೋಳ ವಿಪಥನ ಸರಿಪಡಿಸಿದ ಸಾಧನಗಳಲ್ಲಿಬಳಸುವಂತೆ ಕಸ್ಟಮ್ ಮಸೂರ ವಿನ್ಯಾಸಗಳನ್ನು ಬಳಸುವುದರೊಂದಿಗೆ ಅಥವಾ ಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ವರ್ಣ ವಿಪಥನವನ್ನು ಸರಿಪಡಿಸಲು ಶಕ್ತಿ ಶೋಧಕವನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸುವುದರೊಂದಿಗೆ ವ್ಯತ್ಯಾಸಗೊಳ್ಳುತ್ತದೆ.
ಹಿಂದೆ ಹೇಳಿದಂತೆ, ಕಾಂತೀಯ ಮಸೂರಗಳನ್ನು ಚಿತ್ರಿಸುವ ಸಮತಲದ ಬದಲಿಗೆ ಮಸೂರದ ಹಿಂಬದಿಯ ನಾಭಿತಲವು ಚಿತ್ರಿಸುವ ಸಾಧನದ ಮೇಲೆ ಬರುವಂತೆ ಸರಿಹೊಂದಿಸುವುದರಿಂದ ವಿವರ್ತನೆಯ ಮಾದರಿಯೊಂದನ್ನು ರಚಿಸಬಹುದು. ತೆಳ್ಳಗಿನ ಸ್ಫಟಿಕದ ಮಾದರಿಗಳಿಗೆ, ಇದು ಏಕ ಸ್ಫಟಿಕದಲ್ಲಿ ಬಿಂದುಗಳ ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ರಚಿಸುತ್ತದೆ, ಅಥವಾ ಬಹುಸ್ಫಟಿಕೀಯ ಅಥವಾ ಅಸ್ಫಟಿಕೀಯ ಘನವಸ್ತುಗಳಲ್ಲಿ ಉಂಗುರಗಳ ಸರಣಿಯನ್ನು ರಚಿಸುತ್ತದೆ. ಏಕ ಸ್ಫಟಿಕದ ಪ್ರಕರಣದಲ್ಲಿ, ವಿವರ್ತನೆಯ ನಮೂನೆಯು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಕಿರಣದಿಂದ ಬೆಳಗುವ ಮಾದರಿಯ ರಚನೆಯನ್ನು ಮತ್ತು ಮಾದರಿಯ ಅಭಿವಿನ್ಯಾಸದ ಮೇಲೆ ಅವಲಂಬಿಸಿರುತ್ತದೆ. ಈ ಚಿತ್ರವು ಪರೀಕ್ಷಕನಿಗೆ ಸ್ಫಟಿಕದಲ್ಲಿನ ಸ್ಥಳಾವಕಾಶ ಗುಂಪಿನ ಸಮ್ಮಿತಿಗಳ ಬಗೆಗಿನ ಮತ್ತು ಕಿರಣದ ಪಥದೊಂದಿಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದಂತೆ ಸ್ಫಟಿಕದ ಅಭಿವಿನ್ಯಾಸದ ಬಗೆಗಿನ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತದೆ. ಇದನ್ನು ವಿಶಿಷ್ಟವಾಗಿ ಯಾವುದೇ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಬಳಸದೆ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಆದರೆ ಇದು ವಿವರ್ತನೆ ಕೇಂದ್ರಗಳು ಕಂಡುಬರುವ ಮತ್ತು ವೀಕ್ಷಿತ ಚಿತ್ರವು ಸಮ್ಮಿತಿಗೊಳ್ಳುವ ಸ್ಥಾನವನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸಿಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆ.
ವಿಶ್ವ ಸಮರ ರ ನಂತರ ರುಸ್ಕ ಸೈಮನ್ಸ್‌ನಲ್ಲಿ ಕೆಲಸವನ್ನು ಮತ್ತೆ ಆರಂಭಿಸಿದನು. ಅಲ್ಲಿ ಅವನು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯನ್ನು ಮುಂದುವರಿಸಿ, 100 ವರ್ಧನ-ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ಮೊದಲ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕವನ್ನು ತಯಾರಿಸಿದನು. ಬಹು-ಹಂತದ ಕಿರಣ ತಯಾರಿಯ ದೃಗ್ವಿಜ್ಞಾನ ವನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಈ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕ ವಿನ್ಯಾಸದ ಮ‌ೂಲಭೂತ ರಚನೆಯನ್ನು ಈಗಲೂ ಆಧುನಿಕ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಲ್ಲಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳು ಮ್ಯಾಂಚೆಸ್ಟರ್ , , ಜರ್ಮನಿ ಮತ್ತು ಜಪಾನ್‌ ಮೊದಲಾದೆಡೆಗಳಲ್ಲಿ ತಯಾರಾಗುವುದರೊಂದಿಗೆ ಪ್ರಪಂಚದಾದ್ಯಂತದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನ ಸಮುದಾಯವು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಹೊಂದಿತು. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನದ ಬಗೆಗಿನ ಮೊದಲ ಅಂತಾರಾಷ್ಟ್ರೀಯ ಸಮ್ಮೇಳನವು ಡೆಲ್ಫ್ಟ್‌ನಲ್ಲಿ 1942ರಲ್ಲಿ ನೂರಕ್ಕಿಂತಲೂ ಹೆಚ್ಚು ಮಂದಿಯ ಭಾಗವಹಿಸುವಿಕೆಯೊಂದಿಗೆ ನಡೆಯಿತು. ಆನಂತರ, 1950ರಲ್ಲಿ ಪ್ಯಾರಿಸ್‌ನಲ್ಲಿ "ಮೊದಲ" ಅಂತಾರಾಷ್ಟ್ರೀಯ ಸಮ್ಮೇಳನ ಮತ್ತು 1954ರಲ್ಲಿ ಲಂಡನ್‌ನಲ್ಲೊಂದು ಸಮ್ಮೇಳನವು ನೆರವೇರಿತು.
ಬೆಳಕು ಕಿಂಡಿಗಳು ಉಂಗುರದಂಥ ಲೋಹದ ಫಲಕಗಳಾಗಿದ್ದು, ಅವುಗಳ ಮೂಲಕ ಬೆಳಕಿನ ಆಕ್ಸಿಸ್‌ನಿಂದ ಸ್ಥಿರ ದೂರಕ್ಕಿಂತ ಹೆಚ್ಚು ದೂರದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳು ಹೊರಹೊಮ್ಮುತ್ತವೆ. ಇವು ಸಣ್ಣ ಲೋಹದ ಬಿಲ್ಲೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ. ಬಿಲ್ಲೆಯ ಮ‌ೂಲಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳು ಸಾಗಿ ಹೋಗದಷ್ಟು ದಪ್ಪಕ್ಕಿದ್ದು ಅದು ಆಕ್ಸಿಯಲ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳಿಗೆ ಮಾತ್ರ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ನಲ್ಲಿ ಈ ಕೇಂದ್ರೀಯ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ಪ್ರವೇಶವು ಎರಡು ಪರಿಣಾಮಗಳನ್ನು ಏಕಕಾಲದಲ್ಲಿ ಉಂಟುಮಾಡುತ್ತದೆ: ಮೊದಲನೆಯದಾಗಿ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳು ಕಿರಣದಿಂದ ಶೋಧಕವಾದಂತೆ ಬೆಳಕಿನ ಕಿಂಡಿಗಳು ಕಿರಣದ ತೀವ್ರತೆಯನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಮಾಡುತ್ತಾ ಹೋಗುತ್ತವೆ. ಇದು ಕಿರಣ-ಸೂಕ್ಷ್ಮಗ್ರಾಹಿ ಮಾದರಿಗಳ ಉದಾಹರಣೆಗಳಲ್ಲಿ ಅವಶ್ಯಕವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಎರಡನೆಯದಾಗಿ, ಈ ಫಿಲ್ಟರ್‌ಮಾಡುವುದರಿಂದಾಗಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ಕೋನಗಳಲ್ಲಿ ಹರಡಿದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳು ತೆಗೆದುಹಾಕಲ್ಪಡುತ್ತವೆ. ಇದು ಗೋಳ ಅಥವಾ ವರ್ಣ ವಿಪಥನದಂತಹ ಅನಪೇಕ್ಷಿತ ಕ್ರಿಯೆಗಳಿಂದ ಅಥವಾ ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿನ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯ ವಿವರ್ತನೆಯಿಂದ ಆಗಬಹುದು.
ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮಸೂರಗಳನ್ನು, ಕೆಲವು ಸ್ಥಿರ ನಾಭಿದೂರ ದಲ್ಲಿ ಸಮಾನಾಂತರ ಕಿರಣಗಳನ್ನು ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸುವ ಮ‌ೂಲಕ ಬೆಳಕಿನ ಮಸೂರಗಳನ್ನು ಹೋಲುವ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ವಿನ್ಯಾಸಗೊಳಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಮಸೂರಗಳು ಸ್ಥಾಯೀವಿದ್ಯುತ್ತಿನ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಅಥವಾ ಕಾಂತೀಯವಾಗಿ ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಿಸುತ್ತವೆ. ನ ಹೆಚ್ಚಿನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮಸೂರಗಳು ಪೀನ ಮಸೂರವನ್ನು ಸೃಷ್ಟಿಸಲು ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ಸುರುಳಿಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತವೆ. ಈ ಮಸೂರಗಳಿಗೆ ರಚನೆಯಾದ ಕ್ಷೇತ್ರವು ತ್ರಿಜ್ಯಾಕಾರವಾಗಿ ಸಮ್ಮಿತೀಯವಾಗಿರಬೇಕು. ಏಕೆಂದರೆ ಕಾಂತೀಯ ಮಸೂರದ ತ್ರಿಜ್ಯೀಯ ಸಮ್ಮಿತಿಯ ವಿಚಲನೆಯು ಅಸ್ಪಷ್ಟ ಬಿಂಬತೆಯಂತಹ ವಿಪಥನವನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡುತ್ತದೆ ಹಾಗೂ ಗೋಳ ಮತ್ತು ವರ್ಣ ವಿಪಥನವನ್ನು ಕೆಡಿಸುತ್ತದೆ. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮಸೂರಗಳನ್ನು ಕಬ್ಬಿಣ, ಕಬ್ಬಿಣ-ಕೋಬಾಲ್ಟ್ ಅಥವಾ ಪರ್ಮಲಾಯ್‌ನಂತಹ ನಿಕ್ಕೆಲ್ ಕೋಬಾಲ್ಟ್‌ನ ಮಿಶ್ರಲೋಹದಿಂದ ತಯಾರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಇವನ್ನು ಅವುಗಳ ಕಾಂತೀಯ ತಟಸ್ಥತೆ, ಹಿಸ್ಟರಿಸೀಸ್ ಮತ್ತು ವ್ಯಾಪ್ಯತೆಯಂತಹ ಕಾಂತೀಯ ಲಕ್ಷಣಗಳಿಗಾಗಿ ಆಯ್ಕೆ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಸಾಕಷ್ಟು ವಿದ್ಯುತ್ ಪ್ರಮಾಣವನ್ನು ಪಡೆಯಲು ಉತ್ಸರ್ಜಕವನ್ನು ಬಿಸಿ ಮಾಡಬೇಕಾಗುತ್ತದೆಂದು ಈ ಸಮೀಕರಣವು ತೋರಿಸಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ವಿಪರೀತ ಬಿಸಿ ಮಾಡುವುದರಿಂದ ಹಾನಿಯಾಗದ ಹಾಗೆ ಎಚ್ಚರಿಕೆ ವಹಿಸಿಕೊಳ್ಳಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ಕಾರಣಕ್ಕಾಗಿ, ಟಂಗ್‌ಸ್ಟನ್‌‌ನಂತಹ ಅತಿ ಹೆಚ್ಚು ಕರಗುವ ಬಿಂದುವನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಅಥವಾ ಕಡಿಮೆ ಕ್ರಿಯಾಶಕ್ತಿಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಗನ್ ತಂತಿಗೆ ಬಳಸಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಲ್ಯಾಂತನಮ್ ಹೆಕ್ಸಾಬೊರೈಡ್ ಮತ್ತು ಟಂಗ್‌ಸ್ಟನ್‌ ಥರ್ಮಿಯಾನಿಕ್ ಮ‌ೂಲಗಳೆರಡನ್ನೂ ಥರ್ಮಿಯಾನಿಕ್ ಉತ್ಸರ್ಜನೆಯನ್ನು ಪಡೆಯಲು ಬಿಸಿ ಮಾಡಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಇದನ್ನು ಸಣ್ಣ ಪ್ರತಿರೋಧಿಸುವ ಪಟ್ಟಿಯನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಸಾಧಿಸಬಹುದು. ಉಷ್ಣದ ಆಘಾತವನ್ನು ತಡೆಯಲು, ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ತುದಿಗೆ ವಿದ್ಯುತ್ ಪೂರೈಸುವುದರಲ್ಲಿ ಸ್ವಲ್ಪ ವಿಳಂಬವನ್ನು ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಉಷ್ಣದ ವ್ಯತ್ಯಾಸವು ತಂತಿಗೆ ಹಾನಿಮಾಡುವುದನ್ನು ತಡೆಗಟ್ಟಲು, ಆ ವಿಳಂಬವು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ 6ಗೆ ಕೆಲವು ಸೆಕೆಂಡುಗಳ ಕಾಲ ಮತ್ತು ಟಂಗ್‌ಸ್ಟನ್‌‌ಗೆ ತುಂಬಾ ಕಡಿಮೆಯಾಗಿರುತ್ತದೆ.
ಮೇಲಿನಿಂದ ಕೆಳಗೆ, ಒಂದು ಉತ್ಸರ್ಜನೆ ಮ‌ೂಲವನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ, ಅದು ಟಂಗ್‌ಸ್ಟನ್‌ ತಂತಿ ಅಥವಾ ಲ್ಯಾಂತನಮ್ ಹೆಕ್ಸಾಬೊರಾಡ್ ಮ‌ೂಲವಾಗಿರಬಹುದು. ಟಂಗ್‌ಸ್ಟನ್‌‌ಗೆ, ಇದು ಹೇರ್‌‌‌‌ಪಿನ್ನಿನ-ಶೈಲಿಯ ತಂತಿಯ ಅಥವಾ ಸಣ್ಣ ಚೂಪು-ಮೊನೆಯ ತಂತಿಯ ರೂಪದಲ್ಲಿರಬಹುದು. 6 ಮ‌ೂಲಗಳು ಸಣ್ಣ ಪ್ರತ್ಯೇಕ-ಸ್ಫಟಿಕಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತವೆ. ಈ ಗನ್ಅನ್ನು ಹೆಚ್ಚು ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಮ‌ೂಲಕ್ಕೆ ಜೋಡಿಸಿದಾಗ, ಸಾಕಷ್ಟು ವಿದ್ಯುತ್ತನ್ನು ಪಡೆದುಕೊಂಡ ಗನ್ ಥರ್ಮಿಯಾನಿಕ್ ಅಥವಾ ಕ್ಷೇತ್ರ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಉತ್ಸರ್ಜನೆಯ ಮ‌ೂಲಕ ನಿರ್ವಾತ ಪ್ರದೇಶಕ್ಕೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಹೊರಹಾಕಲು ಆರಂಭಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ನಿಸ್ಸಾರಣವನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ವೆಹ್ನೆಲ್ಟ್ ಸಿಲಿಂಡರ್‌‌ನ ಬಳಕೆಯಿಂದ ಬೆಂಬಲಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಒಮ್ಮೆ ನಿಸ್ಸಾರಣದ ನಂತರ ನ ಮೇಲಿನ ಮಸೂರಗಳು, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಶೋಧಕವು ಅಪೇಕ್ಷಿತ ಗಾತ್ರದಲ್ಲಿ ರಚನೆಯಾಗಲು ಮತ್ತು ಮಾದರಿಯೊಂದಿಗಿನ ನಂತರದ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಗೆ ಸ್ಥಾನವನ್ನು ಕಲ್ಪಿಸಿ ಕೊಡುತ್ತದೆ.
ನ ಮುಂದುವರಿದ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಗಳಿಗೆ ಸರಿಯಾಗಿ ಸಜ್ಜುಗೊಳಿಸಿದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಅವುಗಳ ವೋಲ್ಟೇಜ್‌ನ ಆಧಾರದಲ್ಲಿ ನಿರಾಕರಿಸಬಹುದು ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೊಮೀಟರ್‌ಗಳೆನ್ನುವ ಕಾಂತೀಯ ವಲಯ-ಆಧಾರಿತ ಸಾಧನಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಹೀಗೆ ಮಾಡಬಹುದು. ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಶಕ್ತಿಯ ಮೌಲ್ಯಗಳನ್ನು ಆರಿಸಲು ಈ ಸಾಧನಗಳು ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮಾದರಿಯೊಂದಿಗೆ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆ ನಡೆಸುವ ವಿಧಾನದೊಂದಿಗೆ ಇದು ಸಂಬಂಧಿಸಿದೆ. ಉದಾಹರಣೆಗಾಗಿ, ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿನ ವಿವಿಧ ಅಂಶಗಳು ಕಿರಣದಲ್ಲಿ ವಿವಿಧ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಶಕ್ತಿಗಳನ್ನು ನೀಡುತ್ತವೆ. ಇದು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ವರ್ಣ ವಿಪಥನವನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡುತ್ತದೆ. ಆದರೆ ಈ ಪರಿಣಾಮವು, ಉದಾಹರಣೆಗೆ,ಮೂಲಾಂಶಗಳ ಸಂಯೋಜನೆಯ ಬಗ್ಗೆ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒದಗಿಸುವ ಚಿತ್ರವನ್ನು ರಚಿಸಲು ಬಳಸಬಹುದು. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ -ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯ ಸಂದರ್ಭದ ಪರಮಾಣುವಿನ ಬದಲಾವಣೆಯನ್ನು ಇದು ಆಧರಿಸಿದೆ.
ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಬಗೆಗಿನ ಸಂಶೋಧನೆಯು ಸೈಮನ್ಸ್‌ನಲ್ಲಿ 1936ರಲ್ಲಿ ಮುಂದುವರಿಯಿತು. ವಿಶೇಷವಾಗಿ ಜೈವಿಕ ಮಾದರಿಗಳಿಗೆ ಸಂಬಂಧಿಸಿದಂತೆ ಚಿತ್ರಿಸುವಿಕೆಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸುವುದು ಈ ಸಂಶೋಧನೆಯ ಗುರಿಯಾಗಿತ್ತು. ಆ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳನ್ನು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಗುಂಪುಗಳಿಗಾಗಿ ರಚಿಸಲಾಗುತ್ತಿತ್ತು. ಅವುಗಳಲ್ಲಿ ಒಂದು ನ್ಯಾಷನಲ್ ಫಿಸಿಕಲ್ ಲ್ಯಾಬೊರೇಟರಿಯಲ್ಲಿ ಬಳಸಿದ "1" ಸಾಧನ. 1939ರಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರತೆಗೆದ ಮೊದಲ ವಾಣಿಜ್ಯ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕವನ್ನು . ಫ್ಯಾರ್ಬನ್-ವರ್ಕೆಯ ಭೌತಶಾಸ್ತ್ರ ವಿಭಾಗದಲ್ಲಿ ಅಳವಡಿಸಲಾಯಿತು. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದ ಬಗೆಗಿನ ಹೆಚ್ಚಿನ ಕೆಲಸವು, ಸೈಮನ್ಸ್‌ನಲ್ಲಿ ನಿರ್ಮಿಸಿದ ಹೊಸ ಪ್ರಯೋಗಾಲಯವೊಂದು ವೈಮಾನಿಕ ದಾಳಿಯಿಂದ ನಾಶಹೊಂದಿದ್ದರಿಂದ ಹಾಗೂ ವಿಶ್ವ ಸಮರ ರ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ ಹೈಂಜ್ ಮುಲ್ಲರ್ ಮತ್ತು ಫ್ರೆಡ್ರಿಕ್ ಕ್ರಾಸ್‌ ಎಂಬ ಇಬ್ಬರು ಸಂಶೋಧಕರು ಸಾವನ್ನಪ್ಪಿದರಿಂದ ಅಡಚಣೆಗೊಳಗಾಯಿತು.
ಯ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯೊಂದಿಗೆ, ಸಂಬಂಧಿತ ಸ್ಕ್ಯಾನಿಂಗ್ ಟ್ರಾನ್ಸ್‌ಮಿಶನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಪ್ರಯೋಗ ವಿಧಾನವನ್ನು ಪುನಃ-ಪರೀಕ್ಷಿಸಲಾಯಿತು, ಆದರೆ ಇದು 1970ರವರೆಗೆ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಗೊಳ್ಳಲಿಲ್ಲ. ಆಧುನಿಕ ಅನ್ನು ರಚಿಸಲು ಆಲ್ಬರ್ಟ್ ಕ್ರಿವ್‌ ಚಿಕಾಗೊ ವಿಶ್ವವಿದ್ಯಾನಿಲಯದಲ್ಲಿ ಫೀಲ್ಡ್ ಎಮಿಶನ್ ಗನ್ಅನ್ನು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಪಡಿಸಿದನು ಮತ್ತು ಉತ್ತಮ ಗುಣಮಟ್ಟದ ವಸ್ತುವಿನ ಸಮೀಪವಿರುವ ಆಬ್ಜೆಕ್ಟಿವ್ ಮಸೂರವನ್ನು ಸೇರಿಸಿದನು. ಈ ವಿನ್ಯಾಸವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು, ಕ್ರಿವ್‌ ಆನುಲಾರ್ ಡಾರ್ಕ್-ಫೀಲ್ಡ್ ಇಮೇಜಿಂಗ್‌ಮೂಲಕ ಪರಮಾಣುಗಳನ್ನು ಚಿತ್ರಿಸುವ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ಸಾಧಿಸಿದನು. ಕ್ರಿವ್‌ ಮತ್ತು ಚಿಕಾಗೊ ವಿಶ್ವವಿದ್ಯಾನಿಲಯದ ಸಹೋದ್ಯೋಗಿಗಳು ತಂಪಾದ ಕ್ಷೇತ್ರೀಯ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಉತ್ಸರ್ಜನೆ ಮ‌ೂಲವನ್ನು ಅಭಿವೃದ್ಧಿಪಡಿಸಿದರು ಮತ್ತು ಒಂದು ಹೆವಿ-ಆಟಮ್ಅನ್ನು ತೆಳ್ಳಗಿನ ಇಂಗಾಲದ ಮೇಲ್ಮೈಯಲ್ಲಿ ವೀಕ್ಷಿಸಬಹುದಾದ ಅನ್ನು ರಚಿಸಿದರು.
ಇಪ್ಪತ್ತನೇ ಶತಮಾನದ ಆರಂಭದ ವಿಜ್ಞಾನಿಗಳು, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಹೆಚ್ಚು ತರಂಗಾಂತರದ ಗೋಚರ ಬೆಳಕಿನ ಮಿತಿಗಳನ್ನು ಪಡೆಯುವ ವಿಧಾನಗಳ ಬಗ್ಗೆ ಸಿದ್ಧಾಂತ ರಚಿಸಿದರು. ಎಲ್ಲಾ ಭೌತವಸ್ತುಗಳಂತೆ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳು ಅಲೆ ಮತ್ತು ಕಣ ಎರಡರ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನೂ ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ . ಅವುಗಳ ಅಲೆಯ-ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳೆಂದರೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ಕಿರಣವನ್ನು ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ವಿಕಿರಣವಾಗಿ ವರ್ತಿಸುವಂತೆ ಮಾಡುಬಹುದೆಂದರ್ಥವಾಗಿದೆ. ಡಿ ಬ್ರಾಗ್ಲಿ ಸೂತ್ರವನ್ನು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಚಲನ ಶಕ್ತಿಗೆ ಸಮೀಕರಿಸುವ ಮೂಲಕ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ತರಂಗಾಂತರವನ್ನು ಕಂಡುಹಿಡಿಯಲಾಗಿದೆ. ನಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ವೇಗವು ಬೆಳಕಿನ ವೇಗ ಅನ್ನು ತಲುಪುವುದರಿಂದ,ಸಾಪೇಕ್ಷತಾ ಸಿದ್ಧಾಂತದಿಂದ ಕರಾರುವಕ್ಕಾಗಿ ವಿವರಿಸಲ್ಪಟ್ಟ ಪರಿಣಾಮಕ್ಕಾಗಿ ಇದಕ್ಕೆ ಹೆಚ್ಚುವರಿ ತಿದ್ದುಪಡಿಯನ್ನು ಮಾಡಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ.
ಇದರಲ್ಲಿ ಪ್ಲ್ಯಾಂಕ್‌ನ ನಿಯತಾಂಕ , 0 ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಒಟ್ಟು ದ್ರವ್ಯರಾಶಿ ಮತ್ತು ವೇಗೋತ್ಕರ್ಷಗೊಂಡ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಶಕ್ತಿ. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದಲ್ಲಿ ಟಂಗ್‌ಸ್ಟನ್‌ ತಂತಿಯಿಂದ ದೀಪದ ಬಲ್ಬಿನ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಥರ್ಮಿಯಾನಿಕ್ ಉತ್ಸರ್ಜನೆ ಎಂಬ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯಿಂದ ಉತ್ಪಾದಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಅಥವಾ ಪರ್ಯಾಯವಾಗಿ ವಿದ್ಯುತ್ ಕಾಂತೀಯ ಕ್ಷೇತ್ರ ಪ್ರೇರಿತ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಹೊರಹೊಮ್ಮುವಿಕೆಯಿಂದ ಉತ್ಪಾದಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ನಂತರ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ವಿದ್ಯುತ್ ವಿಭವದಿಂದ ವೇಗೋತ್ಕರ್ಷಗೊಳಿಸಿ, ಸ್ಥಾಯೀವಿದ್ಯುತ್ತಿನ ಮತ್ತು ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ಮಸೂರಗಳಿಂದ ಮಾದರಿಯ ಮೇಲೆ ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಸಾಗಿಸಲ್ಪಟ್ಟ ಕಿರಣವು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಸಾಂದ್ರತೆ, ಹಂತ ಮತ್ತು ಆವರ್ತನದ ಬಗೆಗಿನ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ; ಈ ಕಿರಣವನ್ನು ಚಿತ್ರವನ್ನು ರೂಪಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಸ್ಫಟಿಕ ರಚನೆಯನ್ನು ಸ್ಥಿತಿಯ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸವೆಂದೂ ಕರೆಯುವ ಹೆಚ್ಚು ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ಟ್ರಾನ್ಸ್‌ಮಿಶನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಯಿಂದ ಪರೀಕ್ಷಿಸಬಹುದು. ಸಮಾನ ದಪ್ಪದ ಕ್ಷೇತ್ರ ಉತ್ಸರ್ಜನೆಯ ಮ‌ೂಲವನ್ನು ಬಳಸುವಾಗ, ಮಾದರಿಯ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯಿಂದ ಉಂಟಾಗುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ತರಂಗಗಳ ಸ್ಥಿತಿಯ ವ್ಯತ್ಯಾಸದಿಂದಾಗಿ ಚಿತ್ರಗಳು ರೂಪುಗೊಳ್ಳುತ್ತವೆ. ಚಿತ್ರದ ರಚನೆಯನ್ನು ಒಳಬರುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಕಿರಣಗಳ ಸಂಕೀರ್ಣ ಮಾಡ್ಯುಲಸ್‌ನಿಂದ ನೀಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಚಿತ್ರವು ಪರದೆಯನ್ನು ತಲುಪುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಯನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿರುವುದು ಮಾತ್ರವಲ್ಲದೆ, ಸ್ಥಿತಿ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸ ಚಿತ್ರಗಳ ನೇರವಾದ ಅರ್ಥವಿವರಣೆಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚು ಸಂಕೀರ್ಣವಾಗಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಅನುಕೂಲಕ್ಕೆ ಬಳಸಿಕೊಳ್ಳಬಹುದು. ಉದಾಹರಣೆಗೆ, ಸಂಕೀರ್ಣ ಸ್ಥಿತಿಯ ಪುನಃಪ್ರಾಪ್ತಿಯ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನಗಳಲ್ಲಿ ಮಾದರಿಯ ಬಗ್ಗೆ ಹೆಚ್ಚಿನ ಮಾಹಿತಿ ಪಡೆಯಲು ಇದನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸಬಹುದು.
ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಗನ್‌ಅನ್ನು ಅನೇಕ ಅಂಶಗಳಿಂದ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ: ತಂತಿ, ಬಯಾಸಿಂಗ್ ಸರ್ಕಿಟ್, ವೆಹ್ನೆಲ್ಟ್ ಕ್ಯಾಪ್ ಮತ್ತು ಎಕ್‌ಸ್ಟ್ರಾಕ್ಷನ್ ಆನೋಡ್. ತಂತಿಯನ್ನು ವಿದ್ಯುತ್ ಪೂರೈಕೆಯ ಋಣಾತ್ಮಕ ಭಾಗಕ್ಕೆ ಸಂಪರ್ಕಿಸುವ ಮ‌ೂಲಕ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಗನ್‌ನಿಂದ ಆನೋಡ್ ಫಲಕಕ್ಕೆ ಮತ್ತು ಕಾಲಂಗೆ "ಪಂಪ್" ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಆ ಮ‌ೂಲಕ ಸರ್ಕಿಟ್ಅನ್ನು ಪೂರ್ಣಗೊಳಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಗನ್-ಡೈವರ್ಜೆನ್ಸ್-ಸೆಮಿಆಂಗಲ್ ಎನ್ನುವ ಕೋನದಲ್ಲಿ ಅಸೆಂಬ್ಲಿಯಿಂದ ನಿರ್ಗಮಿಸುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ಕಿರಣವನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸುವಂತೆ ಗನ್ ವಿನ್ಯಾಸಗೊಳಿಸಲಾಗಿರುತ್ತದೆ. ತಂತಿಗಿಂತ ಹೆಚ್ಚು ಋಣಾತ್ಮಕ ವಿದ್ಯುತ್ ಹೊಂದಿರುವಂತೆ ವೆಹ್ನೆಲ್ಟ್ ಸಿಲಿಂಡರ್‌ಅನ್ನು ರಚಿಸುವ ಮ‌ೂಲಕ, ಚದುರುವ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ತಂತಿಯಿಂದ ಹೊರಹೊಮ್ಮುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಸೂಕ್ತ ನಿರ್ವಹಣೆಯ ಮೂಲಕ ಗನ್ ಹಾದುಹೋಗುವ ವ್ಯಾಸದ ಕನಿಷ್ಠ ಗಾತ್ರಕ್ಕೆ ಕೇಂದ್ರೀಕೃತ ನಮೂನೆಗೆ ಒಯ್ಯಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಅನಿಲದ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯ ಸರಾಸರಿ ಮುಕ್ತ ಪಥವನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸಲು, ಪ್ರಮಾಣಿತ ಅನ್ನು ಕಡಿಮೆ ಒತ್ತಡಕ್ಕೆ ವಿಶಿಷ್ಟವಾಗಿ 104 ಪ್ಯಾಸ್ಕಲ್‌ಗೆ ನಿರ್ವಾತಗೊಳಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಎರಡು ಕಾರಣಕ್ಕಾಗಿ ಇದರ ಅವಶ್ಯಕತೆಯಿರುತ್ತದೆ: ಮೊದಲನೆಯದು, ವಿದ್ಯುಚ್ಚಾಪವನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸದೆ ಕ್ಯಾತೋಡ್ ಮತ್ತು ನೆಲದ ಮಧ್ಯೆ ವೋಲ್ಟೇಜ್ ವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡಲು ಅವಕಾಶ ನೀಡುವುದು. ಎರಡನೆಯದು, ಅನಿಲದ ಪರಮಾಣುಗಳೊಂದಿಗಿನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ಘರ್ಷಣೆಯ ಆವರ್ತನವನ್ನು ನಿರ್ಲಕ್ಷಿಸಬಹುದಾದ ಮಟ್ಟಕ್ಕೆ ಕಡಿಮೆ ಮಾಡುವುದು-ಈ ಪರಿಣಾಮವು ಸರಾಸರಿ ಮುಕ್ತ ಪಥದಿಂದ ನಿರೂಪಿಸಲ್ಪಡುತ್ತದೆ. ಮಾದರಿ ಸಾಧನಗಳು ಮತ್ತು ಫಿಲಂ ನಳಿಗೆಯಂತಹ ಘಟಕಗಳನ್ನು ನಿಯತ ಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ಸೇರಿಸಬೇಕು ಅಥವಾ ಬದಲಿಸಬೇಕು. ನಿಯತಕ್ರಮದಲ್ಲಿ ಪುನಃನಿರ್ವಾತಗೊಳಿಸುವ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವಿರುವ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯ ಅಗತ್ಯವಿರುತ್ತದೆ.
ನಿರ್ದಿಷ್ಟವಾಗಿ ಕ್ಯಾತೋಡ್‌ನಲ್ಲಿ ವಿದ್ಯುಚ್ಚಾಪ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವುದನ್ನು ತಡೆಗಟ್ಟಲು ಹೆಚ್ಚಿನ-ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಗಳಿಗೆ 107ರಿಂದ 109 ಪ್ಯಾಸ್ಕಲ್‌ನಷ್ಟು ಅತಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ನಿರ್ವಾಯುಗಳ ಅವಶ್ಯಕತೆ ಇರುತ್ತದೆ. ಹೆಚ್ಚಿನ ವೋಲ್ಟೇಜ್ ಗಳಲ್ಲಿ ಮ‌ೂರನೇ ನಿರ್ವಾಯು ವ್ಯವಸ್ಥೆಯು ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಿಸಬಹುದು. ತಡೆಹಲಗೆಗಳನ್ನು ಅಥವಾ ವ್ಯತ್ಯಾಸಾತ್ಮಕ ಪಂಪಿಂಗ್ ಬೆಳಕು ಕಿಂಡಿಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಮುಖ್ಯ ಚೇಂಬರ್‌ನಿಂದ ಗನ್ ಪ್ರತ್ಯೇಕಗೊಳ್ಳುವುದರೊಂದಿಗೆ ಅದು ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಹಿಸುತ್ತದೆ. ವ್ಯತ್ಯಾಸಾತ್ಮಕ ಪಂಪ್-ಮಾಡುವ ಬೆಳಕುಕಿಂಡಿ ಒಂದು ಸಣ್ಣ ರಂಧ್ರವಾಗಿದ್ದು, ಅದು ಅನಿಲದ ಅಣುಗಳು ಹೆಚ್ಚಿನ ನಿರ್ವಾಯು ಗನ್ ಪ್ರದೇಶಕ್ಕೆ ಪ್ರಸರಣವಾಗುವುದನ್ನು, ಅವುಗಳನ್ನು ಹೊರಗೆ ಪಂಪ್ ಮಾಡುವುದಕ್ಕಿಂತ ವೇಗವಾಗಿ ತಡೆಗಟ್ಟುತ್ತದೆ. ಇದಕ್ಕೆ ಅತಿ ಕಡಿಮೆ ಒತ್ತಡಗಳಿಗಾಗಿ ಅಯಾನ್ ಪಂಪ್ ಅಥವಾ ಗೆಟರ್ಅನ್ನು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಇದರ ಭಾಗಗಳು ಯೋಕ್, ಕಾಂತೀಯ ಸುರುಳಿ, ಪೋಲ್, ಪೋಲ್ ಪೀಸ್‌ಗಳು ಮತ್ತು ಹೊರಗಿನ ನಿಯಂತ್ರಣ ಸರ್ಕಿಟ್ ಮೊದಲಾದವುಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಳ್ಳುತ್ತವೆ. ಪೋಲ್‌ಪೀಸ್ ಮಸೂರವನ್ನು ರೂಪಿಸುವ ಕಾಂತ-ಕ್ಷೇತ್ರಕ್ಕೆ ಗಡಿರೇಖೆಯ ಸ್ಥಿತಿಗಳನ್ನು ಒದಗಿಸುವುದರಿಂದ ಅದನ್ನು ಹೆಚ್ಚು ಸಮ್ಮಿತೀಯ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ತಯಾರಿಸಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ. ಪೋಲ್‌ಪೀಸ್‌ನ ರಚನೆಯಲ್ಲಿನ ದೋಷವು ಕಾಂತಕ್ಷೇತ್ರ ಸಮ್ಮಿತಿಯಲ್ಲಿ ತೀವ್ರ ವಿರೂಪವನ್ನುಂಟುಮಾಡುತ್ತದೆ. ಅದು ಅಂತಿಮವಾಗಿ ವಸ್ತುವಿನ ಸಮತಲವನ್ನು ಸೃಷ್ಟಿಸುವ ಮಸೂರಗಳ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ಮಿತಿಗೊಳಿಸುವ ವಿರೂಪಕ್ಕೆ ಕಾರಣವಾಗುತ್ತದೆ. ಸಂದು, ಪೋಲ್‌ಪೀಸ್‌ನ ಒಳಗಿನ ವ್ಯಾಸ ಮತ್ತು ಟ್ಯಾಪರ್‌ನ ಸರಿಯಾದ ಪರಿಮಾಣ ಮತ್ತು ಮಸೂರದ ಒಟ್ಟು ವಿನ್ಯಾಸವನ್ನು ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ವಿನ್ಯಾಸದ ಉಷ್ಣ ಮತ್ತು ವಿದ್ಯುತ್ ಇತಿಮಿತಿಗಳನ್ನು ಪರಿಗಣಿಸಿ ಕಾಂತಕ್ಷೇತ್ರದ ಪರಿಮಿತ ಅಂಶದ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯ ಮ‌ೂಲಕ ನಿರ್ವಹಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ನ ಬಳಕೆಯ ಸಾಮಾನ್ಯ ವಿಧಾನವೆಂದರೆ ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾದ ಕ್ಷೇತ್ರದಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರಿಸುವ ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ. ಈ ವಿಧಾನದಲ್ಲಿ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸದ ರಚನೆಯು ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ನೇರವಾದ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವಿಕೆ ಮತ್ತು ಅವಶೋಷಣದಿಂದ ರಚನೆಯಾಗುತ್ತದೆ. ಮಾದರಿಯ ಗಾಢ ಭಾಗವು ಅಥವಾ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪರಮಾಣು ಸಂಖ್ಯೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಭಾಗವು ಮಸುಕಾಗಿ ಕಾಣಿಸುತ್ತದೆ. ಕಿರಣದ ಪಥದಲ್ಲಿಲ್ಲದ ಮಾದರಿಯ ಭಾಗವು ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾಗಿ ಗೋಚರಿಸುತ್ತದೆ, ಆದ್ದರಿಂದ "ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾದ ಕ್ಷೇತ್ರ" ಪದವನ್ನು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ಪ್ರಭಾವದಲ್ಲಿನ ಚಿತ್ರವನ್ನು ದ್ಯುತಿ ಅಕ್ಷದ ಕೆಳಗಿನ ಮಾದರಿಯ ಸರಳ ಎರಡು ಆಯಾಮದ ಪ್ರಕ್ಷೇಪವೆಂದು ಮತ್ತು ಬೀರ್‌'ಸ್ ನಿಯಮದ ಮ‌ೂಲಕ ನಿರೂಪಿಸಲಾದ ಮೊದಲ ಅಂದಾಜೆಂದು ಭಾವಿಸಲಾಗಿದೆ. ಹೆಚ್ಚು ಸಂಕೀರ್ಣ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗೆ ಮಾದರಿಯ ರೂಪಿಸುವಿಕೆಯು ಸ್ಥಿತಿಯ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒಳಗೊಳ್ಳುವ ಅವಶ್ಯಕತೆ ಇರುತ್ತದೆ.
ಸೈಡ್ ಎಂಟ್ರಿ ಹೋಲ್ಡರ್ ಹೆಚ್ಚು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಅದರಲ್ಲಿ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಲೋಹದ ಉದ್ದ ಸರಳಿನ ತುದಿಯ ಹತ್ತಿರ ಸಣ್ಣ ರಂಧ್ರದಲ್ಲಿರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಆ ಸರಳಿನ ಉದ್ದಕ್ಕೂ, ಆಧಾರ ಫಲಕಕ್ಕೆ ಸೇರಿಸಿದಾಗ ಸಾಕಷ್ಟು ಗುಣಮಟ್ಟದ ನಿರ್ವಾತ ಪ್ರದೇಶವನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡಲು ಅನೇಕ ಪಾಲಿಮರ್ ನಿರ್ವಾಯು ಉಂಗುರಗಳಿರುತ್ತವೆ. ಸರಳು ಸರಿಹೊಂದುವಂತೆ ಆಧಾರ-ಫಲಕವನ್ನು ವಿನ್ಯಾಸಗೊಳಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಆಬ್ಜೆಕ್ಟಿವ್ ಮಸೂರದ ವಿನ್ಯಾಸವನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿ ಮಾದರಿಯನ್ನು ಆಬ್ಜೆಕ್ಟಿವ್ ಮಸೂರದ ಮಧ್ಯೆ ಅಥವಾ ಹತ್ತಿರ ಇರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಆಧಾರ-ಫಲಕದೊಳಗೆ ಸೇರಿಸುವಾಗ ಸೈಡ್ ಎಂಟ್ರಿ ಧಾರಕದ ತುದಿಯು ನಿರ್ವಾತ ಪ್ರದೇಶದಲ್ಲಿರುವಂತೆ ಮತ್ತು ತಳವು ವಾತಾವರಣಕ್ಕೆ ತೆರೆದುಕೊಳ್ಳುವಂತಿರಬೇಕು.ನಿರ್ವಾತ ಉಂಗುರಗಳಿಂದ ಗಾಳಿತಡೆ ಉಂಟಾಗುತ್ತದೆ.
ಎರಡನೆಯ ವಿನ್ಯಾಸ ಟಾಪ್ ಎಂಟ್ರಿ ಹೋಲ್ಡರ್ ನಳಿಗೆಯೊಂದನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ. ಈ ನಳಿಗೆಯು ಕೆಲವು ಸೆಂ.ಮೀ. ಉದ್ದವಾಗಿದ್ದು, ಅದರ ಆಕ್ಸಿಸ್ ಕೆಳಗೆ ರಂಧ್ರ ಕೊರೆಯಲಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಸಣ್ಣ ತಿರುಪು ಉಂಗುರವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಮಾದರಿಯನ್ನು ಆ ರಂಧ್ರದಲ್ಲಿರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ನಳಿಗೆಯನ್ನು ಅದರ ರಂಧ್ರವು ಮಸೂರದ ಆಕ್ಸಿಸ್‌ಗೆ ಲಂಬಕೋನದಲ್ಲಿರುವಂತೆ ಗಾಳಿತಡೆಯೊಳಗೆ ಸೇರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಭದ್ರಗೊಳಿಸಿದ ನಂತರ ಗಾಳಿತಡೆಯನ್ನು ನಳಿಗೆಯನ್ನು ತಳ್ಳುವಂತೆ ನಿರ್ವಹಿಸಬೇಕು. ರಂಧ್ರವು ಕಿರಣದ ಅಕ್ಷದೊಂದಿಗೆ ಜತೆಗೂಡುವ ಜಾಗದಲ್ಲಿ ನಳಿಗೆ ಬೀಳುತ್ತದೆ. ಆ ಮ‌ೂಲಕ ಕಿರಣವು ನಳಿಗೆಯ ರಂಧ್ರದ ಮೂಲಕ ಸಾಗಿ ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿಗೆ ತಲುಪುವಂತೆ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಕಿರಣದ ಪಥವನ್ನು ನಿರ್ಬಂಧಿಸದೆ ಅಥವಾ ವಸ್ತುವಿನ-ಸಮೀಪದ ಮಸೂರದೊಂದಿಗೆ ಮಧ್ಯಪ್ರವೇಶಿಸದೆ ಅಂತಹ ವಿನ್ಯಾಸಗಳನ್ನು ಓರೆಯಾಗಿಸಲು ಸಾಧ್ಯವಾಗುವುದಿಲ್ಲ.
ವಸ್ತುವಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮವಿವರಣೆಯನ್ನು ಸ್ಪಷ್ಟವಾಗಿ ವೀಕ್ಷಿಸುವ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವು ಚಿತ್ರದಲ್ಲಿ ಬಳಸುವ ಬೆಳಕಿನ ತರಂಗಾಂತರದಿಂದ ಸೀಮಿತಗೊಳ್ಳುತ್ತದೆ, ಆ ಮ‌ೂಲಕ ಬೆಳಕಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದಿಂದ ಉಪಯುಕ್ತ ಲಭ್ಯ-ವರ್ಧಿತರೂಪವನ್ನು ಕೆಲವು ಮೈಕ್ರೊಮೀಟರ್‌ಗಳಿಗೆ ಮಿತಿಗೊಳಿಸುತ್ತದೆ ಎಂದು ಅರ್ನ್ಸ್ಟ್ ಅಬ್ಬೆಯು ಆರಂಭದಲ್ಲಿ ಸೂಚಿಸಿದ್ದಾನೆ. ಕೊಹ್ಲರ್‌ ಮಾಡಿದ ನೇರಳಾತೀತ ಕಿರಣಗಳ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳ ಅಭಿವೃದ್ಧಿಯು ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ಸುಮಾರು ಎರಡು ಅಂಶ ಹೆಚ್ಚಿಸಿತು. ಆದರೆ ಗಾಜು ಕಿರಣಗಳನ್ನು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವುದರಿಂದಾಗಿ ಇದಕ್ಕೆ ಹೆಚ್ಚು ದುಬಾರಿ ಕ್ವಾರ್ಟ್ಸ್ ಹೊಳಪಿನ ವಸ್ತುಗಳು ಬೇಕಾಯಿತು. ಈ ಹಂತದಲ್ಲಿ ತರಂಗಾಂತರದ ಇತಿಮಿತಿಯಿಂದಾಗಿ ಉಪ-ಮೈಕ್ರೊಮೀಟರ್ ಮಾಹಿತಿಯೊಂದಿಗೆ ಚಿತ್ರವನ್ನು ಪಡೆಯುವುದು ಅಸಾಧ್ಯವಾದುದೆಂದು ಆ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ ನಂಬಲಾಗಿತ್ತು.
"ಕ್ಯಾತೋಡ್ ಕಿರಣಗಳ" ವಿಚಲನೆಯು ಕಾಂತಕ್ಷೇತ್ರಗಳ ಬಳಕೆಯಿಂದ ಸಾಧ್ಯವಾಗುತ್ತದೆಂದು ಪ್ಲಕರ್ 1858ರಲ್ಲಿ ಗುರುತಿಸಿದ್ದನು. ಈ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಫರ್ಡಿನಂಡ್ ಬ್ರಾನ್‌ 1897ರಲ್ಲಿ ಮಾಪನ ಸಾಧನವಾಗಿ ಪ್ರಾಚೀನ ಕ್ಯಾತೋಡ್ ಕಿರಣ ದೋಲದರ್ಶಕ ಗಳನ್ನು ರಚಿಸಲು ಬಳಸಿದ್ದನು. ವಾಸ್ತವವಾಗಿ 1891ರಲ್ಲಿ ರಿಕೆ, ಕ್ಯಾತೋಡ್ ಕಿರಣಗಳನ್ನು ಈ ಕಾಂತಕ್ಷೇತ್ರದಿಂದ ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸಬಹುದು ಮತ್ತು ಇದು ಸರಳ ಮಸೂರಗಳ ವಿನ್ಯಾಸಕ್ಕೆ ಅನುವು ಮಾಡುತ್ತದೆ ಎಂದು ಕಂಡುಹಿಡಿದಿದ್ದನು. ನಂತರ ಈ ಸಿದ್ಧಾಂತವು ಹ್ಯಾನ್ಸ್ ಬುಸ್ಕ್‌ನಿಂದ 1926ರಲ್ಲಿ ಪ್ರಕಟವಾದ ಅವನ ಕೆಲಸದಲ್ಲಿ ವಿಸ್ತರಿಸಲ್ಪಟ್ಟಿತು. ಸೂಕ್ತ ಊಹೆಗಳಡಿಯಲ್ಲಿ ಲೆನ್ಸ್ ಮೇಕರ್ಸ್ ಸಮೀಕರಣ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳಿಗೆ ಅನ್ವಯವಾಗುತ್ತದೆ ಎಂದು ಅವನು ತೋರಿಸಿಕೊಟ್ಟನು.
ಈ ವಿಧಾನದ ಅನ್ವಯಗಳು ಸ್ಫಟಿಕಗಳಲ್ಲಿ ಜಾಲರಿ ದೋಷ ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವುದನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿವೆ. ಮಾದರಿಯ ಅಭಿವಿನ್ಯಾಸಗಳನ್ನು ಜಾಗರೂಕತೆಯಿಂದ ಆರಿಸುವುದರಿಂದ, ದೋಷಗಳ ಸ್ಥಾನವನ್ನು ಮಾತ್ರವಲ್ಲದೆ ದೋಷದ ಪ್ರಕಾರವನ್ನೂ ಕಂಡುಹಿಡಿಯಬಹುದು. ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಸಮತಲವು ಮಾತ್ರ ಪ್ರಬಲ ವಿವರ್ತನೆಯ ಕೋನದಿಂದ ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಕೋನ) ಸ್ವಲ್ಪ ಓರೆಯಾಗುವಂತೆ ಮಾದರಿಯನ್ನು ತಿರುಗಿಸಿದರೆ, ಸಮತಲವನ್ನು ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಕೋನಕ್ಕೆ ಓರೆಯಾಗಿಸುವ ಸ್ಫಟಿಕದ ಸಮತಲದ ಯಾವುದೇ ವಿರೂಪವು ನಿರ್ದಿಷ್ಟವಾಗಿ ಪ್ರಬಲ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸ ಭಿನ್ನತೆಗಳನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡುತ್ತದೆ. ಸ್ಫಟಿಕವನ್ನು ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಕೋನಕ್ಕೆ ಓರೆಯಾಗಿಸದ, ಪರಮಾಣುಗಳ ಸ್ಥಾನಪಲ್ಲಟನವನ್ನು ಮಾತ್ರ ಉಂಟುಮಾಡುವ ದೋಷಗಳು ಪ್ರಬಲ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ಸೃಷ್ಟಿಸುವುದಿಲ್ಲ.
ಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ಸಣ್ಣ ಡಿ ಬ್ರಾಗ್ಲಿ ತರಂಗಾಂತರದಿಂದಾಗಿ ಬೆಳಕಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕಗಳಿಗಿಂತ ಗಮನಾರ್ಹವಾಗಿ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರಿಸುತ್ತವೆ. ಇದರಿಂದಾಗಿ ಈ ಸಾಧನದ ಬಳಕೆದಾರ, ಬೆಳಕಿನ ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶಕದಲ್ಲಿ ವೀಕ್ಷಿಸಬಹುದಾದ ವಸ್ತುವಿಗಿಂತ ಸಾವಿರಾರು ಪಟ್ಟು ಸಣ್ಣದಿರುವ, ಪರಮಾಣುಗಳ ಒಂದು ಸಾಲಿನಷ್ಟು ಚಿಕ್ಕದಾದ ಅತಿಸೂಕ್ಷ್ಮ ವಸ್ತುಗಳನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಿಸಲು ಸಾಧ್ಯವಾಗುತ್ತದೆ. ಭೌತಿಕ ಮತ್ತು ಜೈವಿಕ ವಿಜ್ಞಾನಗಳೆರಡನ್ನೂ ಒಳಗೊಂಡ ವ್ಯಾಪಕ ವೈಜ್ಞಾನಿಕ ಕ್ಷೇತ್ರಗಳಲ್ಲಿ ಒಂದು ಪ್ರಮುಖ ವಿಶ್ಲೇಷಣಾ ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ. ಗಳು ಕ್ಯಾನ್ಸರ್ ಸಂಶೋಧನೆ, ವೈರಾಲಜಿ, ಮ‌ೂಲವಸ್ತುಗಳ ವಿಜ್ಞಾನ ಹಾಗೂ ಮಾಲಿನ್ಯ ಮತ್ತು ಅರೆವಾಹಕ ಸಂಶೋಧನೆ ಮೊದಲಾದವುಗಳಲ್ಲಿ ಉಪಯೋಗಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ.
ಒಂದು ಅನೇಕ ಘಟಕಾಂಶಗಳಿಂದ ರಚನೆಯಾಗಿದೆ. ಅವುಗಳೆಂದರೆ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳು ಸಾಗುವ ನಿರ್ವಾಯು ವ್ಯವಸ್ಥೆ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಪ್ರವಾಹವನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸಲು ಒಂದು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಉತ್ಸರ್ಜನಾ ಮ‌ೂಲ, ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ಮಸೂರಗಳ ಸರಣಿ ಮತ್ತು ಸ್ಥಾಯೀವಿದ್ಯುತ್ತಿನ ಫಲಕಗಳು. ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ಮಸೂರಗಳು ಮತ್ತು ಸ್ಥಾಯೀವಿದ್ಯುತ್ತಿನ ಫಲಕಗಳು, ನಿರ್ವಾಹಕರಿಗೆ ಬೇಕಾದಂತೆ ಕಿರಣವನ್ನು ಬದಲಾಯಿಸಲು ಮತ್ತು ನಿಯಂತ್ರಿಸಲು ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ. ಕಿರಣದ ಪಥದಿಂದ ಮಾದರಿಗಳ ತೆಗೆದುಹಾಕುವಿಕೆ, ಒಳಗಿನ ಚಲನೆಗೆ ಮತ್ತು ಒಳಸೇರಿಸುವಿಕೆಗೂ ಇದು ಅಗತ್ಯವಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಚಿತ್ರಿಸುವ ಸಾಧನಗಳನ್ನು ವ್ಯವಸ್ಥೆಯಿಂದ ನಿರ್ಗಮಿಸುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳಿಂದ ಚಿತ್ರವನ್ನು ರಚಿಸುವುದಕ್ಕಾಗಿ ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಬೆಳಕು ಕಿಂಡಿಗಳು ಸಾಂದ್ರಕ ಮಸೂರದಂತಹ ರಚನೆಯೊಳಗೆ-ಜೋಡಿಸಲಾದ ಕಿಂಡಿಯಾಗಿರಬಹುದು, ಅಥವಾ ಚಲಿಸಬಹುದಾದ ಕಿಂಡಿಯಾಗಿರಬಹುದು. ಇವನ್ನು ಕಿರಣದ ಪಥದಿಂದ ತೆಗೆದುಹಾಕಬಹುದು ಅಥವಾ ಸೇರಿಸಬಹುದು, ಅಥವಾ ಇವನ್ನು ಕಿರಣದ ಪಥಕ್ಕೆ ಲಂಬವಾಗಿರುವ ಸಮತಲದಲ್ಲಿ ಚಲಿಸಬಹುದು. ಬೆಳಕು ಕಿಂಡಿಯ ಸಂಯೋಜನೆಯು ವಿವಿಧ ಬೆಳಕುಕಿಂಡಿಯ ಗಾತ್ರಗಳ ಆಯ್ಕೆಗೆ ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುವ ಯಾಂತ್ರಿಕ ಸಾಧನಗಳಾಗಿವೆ. ಇದನ್ನು ಸಾಧನವು ಬೆಳಕಿನ ಕಿಂಡಿಯ ತೀವ್ರತೆ ಮತ್ತು ಫಿಲ್ಟರ್ ಮಾಡುವ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ವಿನಿಮಯ ಮಾಡಿಕೊಳ್ಳಲು ಬಳಸುತ್ತದೆ. ಬೆಳಕು ಕಿಂಡಿಯ ಜೋಡಣೆಯು ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ಕಿಂಡಿಯನ್ನು ಚಲಿಸಲು ಮೈಕ್ರೊಮೀಟರ್‌ಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ. ಇವು ಮಸೂರದ ಒಳವ್ಯಾಸ ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವ ಸಂದರ್ಭದಲ್ಲಿ ಅವಶ್ಯಕವಾಗಿರುತ್ತವೆ.
ಸಣ್ಣ ವರ್ಧನೆಗಳಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರದ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸಕ್ಕೆ ಕಾರಣವೆಂದರೆ ವಸ್ತುವಿನ ದಪ್ಪ ಮತ್ತು ಸಂಯೋಜನೆಯಿಂದಾಗಿ ಅದು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವುದಾಗಿದೆ. ಹೆಚ್ಚಿನ ವರ್ಧನೆಯಲ್ಲಿ ಸಂಕೀರ್ಣ ತರಂಗಗಳ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯು ಚಿತ್ರದ ತೀವ್ರತೆಯನ್ನು ಬದಲಾಯಿಸುತ್ತದೆ. ಇದು ವೀಕ್ಷಿಸಿದ ಚಿತ್ರಗಳ ನುರಿತ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯು ಅವಶ್ಯಕವಾಗುವಂತೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ. ಬಳಕೆಯ ಪರ್ಯಾಯ ಕ್ರಮಗಳು ನಿಂದ, ರಾಸಾಯನಿಕ ಸ್ವಸ್ವರೂಪದ ರೂಪಗಳನ್ನು ಗಮನಿಸುವುದು, ಸ್ಫಟಿಕದ ಅಭಿವಿನ್ಯಾಸ, ಇಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿನ ರಚನೆ, ಮಾದರಿ-ಪ್ರೇರಿತ ಇಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್ ಹಂತದ ಸ್ಥಾನಪಲ್ಲಟ ಹಾಗೂ ನಿಯತವಾದ ಅವಶೋಷಣ ಆಧಾರಿತ ಚಿತ್ರ ಮೊದಲಾದವನ್ನು ವೀಕ್ಷಿಸಲು ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ.
ಮಾದರಿಗಳು ವಿವರ್ತನೆ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ತೋರಿಸಬಹುದು. ಅದರಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಕಿರಣವು ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ವಿಚಲನೆಗೆ ಒಳಗಾಗುತ್ತದೆ. ಇದು ಸ್ಫಟಿಕದಂತಹ ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಹಿಂಬದಿಯ-ನಾಭಿತಲ ದಲ್ಲಿ ಭಿನ್ನವಾದ ಪ್ರದೇಶಕ್ಕೆ ಹರಡುತ್ತದೆ. ಬೆಳಕುಕಿಂಡಿಗಳನ್ನು ಹಿಂಬದಿಯ-ನಾಭಿತಲದಲ್ಲಿ, ಅಂದರೆ ವಸ್ತುವಿನ-ಸಮೀಪದ ಬೆಳಕುಕಿಂಡಿಯಲ್ಲಿ, ಇಡುವುದರಿಂದ ಅಪೇಕ್ಷಿತ ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಪ್ರತಿಬಿಂಬಗಳನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು ಆದ್ದರಿಂದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಆಯ್ದ ಪ್ರತಿಬಿಂಬಗಳಿಗೆ ಹರಡುವಂತೆ ಮಾಡುವ ಮಾದರಿಯ ಭಾಗಗಳು ಮಾತ್ರ ಚಿತ್ರಿಸುವ ಸಾಧನ ಮೇಲೆ ಪ್ರಕ್ಷೇಪಿಸಲ್ಪಡುತ್ತವೆ.
ಕಾಂತಕ್ಷೇತ್ರವನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸುವ ಸುರುಳಿಗಳನ್ನು ಮಸೂರದ ಯೋಕ್‌ನೊಳಗೆ ಇಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಸುರುಳಿಗಳು ವ್ಯತ್ಯಾಸಗೊಳ್ಳುವ ವಿದ್ಯುತ್ತನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತವೆ. ಆದರೆ ವಿಶಿಷ್ಟವಾಗಿ ಹೆಚ್ಚು ವೋಲ್ಟೇಜ್‌ಗಳನ್ನು ಬಳಸುತ್ತದೆ. ಆದ್ದರಿಂದ ಮಸೂರದ ಅಂಶಗಳಿಗೆ ಷಾರ್ಟ್-ಸರ್ಕಿಟ್ ಆಗುವುದನ್ನು ತಡೆಗಟ್ಟುವುದಕ್ಕಾಗಿ ಪರಿಣಾಮಕಾರಿ ನಿರೋಧಕದ ಅವಶ್ಯಕತೆ ಇರುತ್ತದೆ. ಸುರುಳಿಗಳ ಪ್ರತಿರೋಧದಿಂದ ನಷ್ಟವಾಗುವ ಶಕ್ತಿಯಿಂದ ಉತ್ಪತ್ತಿಯಾಗುವ ಬಿಸಿಯನ್ನು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವುದಕ್ಕಾಗಿ ಉಷ್ಣ ಡಿಸ್ಟ್ರಿಬ್ಯೂಟರ್‌ಗಳನ್ನು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಹೆಚ್ಚಿನ ಉಷ್ಣವನ್ನು ತೆಗೆದುಹಾಕಲು ತಂಪು ನೀರಿನ ಪೂರೈಕೆಯಿಂದ ಸುರುಳಿಗಳನ್ನು ನೀರಿನಿಂದ ತಂಪಾಗಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ನಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರಿಸುವ ವಿಧಾನಗಳು, ಚಿತ್ರವನ್ನು ರೂಪಿಸಲು ಮಾದರಿಯಿಂದ ಹೊರಹೊಮ್ಮುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ತರಂಗಗಳಲ್ಲಿರುವ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಳ್ಳುತ್ತವೆ. ಪ್ರಕ್ಷೇಪಕ ಮಸೂರಗಳು ಈ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ತರಂಗ ವಿತರಣೆಯನ್ನು ವೀಕ್ಷಿಸುವ ವ್ಯವಸ್ಥೆಗೆ ಸರಿಯಾದ ಸ್ಥಾನದಲ್ಲಿ ಇರಿಸಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ. ಸಾಕಷ್ಟು ಉತ್ತಮ ಗುಣಮಟ್ಟದ ಚಿತ್ರಿಸುವ ಸಾಧನವೆಂದು ಊಹಿಸಿಕೊಂಡು ವೀಕ್ಷಿಸಲಾದ ಚಿತ್ರದ ತೀವ್ರತೆ ಅನ್ನು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ತರಂಗಫಲನದ ಸಮಯ-ಸರಾಸರಿ ವೈಶಾಲ್ಯಕ್ಕೆ ಪ್ರಮಾಣಾನುಗುಣವೆಂದು ಅಂದಾಜು ಮಾಡಬಹುದು. ಅದರಲ್ಲಿ ಹೊರಹೊಮ್ಮುವ ಕಿರಣವಾಗುವ ತರಂಗವನ್ನು ಎಂದು ಸೂಚಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೊಮೀಟರ್‌ಗಳನ್ನು ರೋಹಿತ ದರ್ಶಕದ ಮತ್ತು ಚಿತ್ರಿಸುವ ವಿಧಾನಗಳರೆಡರಲ್ಲೂ ನಿರ್ವಹಿಸಬಹುದು. ಇವು ಸ್ಥಿತಿ ಸ್ಥಾಪಕ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಹರಡಿದ ಕಿರಣಗಳ ಪ್ರತ್ಯೇಕತೆ ಅಥವಾ ವಿಸರ್ಜನೆಗೆ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ. ಹೆಚ್ಚಿನ ಚಿತ್ರಗಳಲ್ಲಿ ಸ್ಥಿತಿ ಸ್ಥಾಪಕವಲ್ಲದ ಹರಡುವಿಕೆಯು ಪರೀಕ್ಷಕನ ಆಸಕ್ತಿಯಿಲ್ಲದ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುತ್ತದೆ.ಇದರಿಂದಾಗಿ ವೀಕ್ಷಿಸಬಹುದಾದ ಆಸಕ್ತಿಯ ಸಂಕೇತಗಳನ್ನು ಕಡಿಮೆಮಾಡುತ್ತದೆ. ವೀಕ್ಷಿಸುವ ಚಿತ್ರಗಳಲ್ಲಿ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸಲು ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಬಳಸಬಹುದು.ಅನಗತ್ಯ ಭಾಗಗಳನ್ನು ನಿರಾಕರಿಸುವ ಮೂಲಕ ಪ್ರಕಾಶಮಾನ ಕ್ಷೇತ್ರ ಮತ್ತು ವಿವರ್ತನೆ ಇದರಲ್ಲಿ ಸೇರಿವೆ.
ಟ್ರಾನ್ಸ್‌ಮಿಶನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿ ಯು ಒಂದು ಸೂಕ್ಷ್ಮದರ್ಶನ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವಾಗಿದ್ದು, ಇದರಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌‌ಗಳ ಕಿರಣವನ್ನು ಅತಿ ತೆಳ್ಳಗಿನ ಮಾದರಿಯ ಮ‌ೂಲಕ ರವಾನಿಸಿ, ಅದು ಸಾಗುವಾಗ ಮಾದರಿಯೊಂದಿಗೆ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಗೆ ಒಳಗಾಗುತ್ತದೆ. ಮಾದರಿಯ ಮ‌ೂಲಕ ಸಾಗಿಸಿದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯಿಂದಾಗಿ ಒಂದು ಚಿತ್ರವು ರೂಪಿತವಾಗುತ್ತದೆ; ಆ ಚಿತ್ರವನ್ನು ದೊಡ್ಡದು ಮಾಡಿ, ಪ್ರತಿದೀಪ್ತಿ ಪರದೆಯಂತಹ ಚಿತ್ರಿಸುವ ಸಾಧನಕ್ಕೆ, ಛಾಯಾಚಿತ್ರೀಯ ಫಿಲಂನ ಪದರವೊಂದರ ಮೇಲೆ ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಅಥವಾ ಕ್ಯಾಮೆರಾದಂತಹ ಸಂವೇದಕದಿಂದ ಗುರುತಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ಯ ಮಸೂರಗಳು ಕಿರಣದ ಅಭಿಸರಣಕ್ಕೆ ಅವಕಾಶ ನೀಡುತ್ತದೆ. ಅಭಿಸರಣದ ಕೋನವು ಬದಲಾಗುವ ಪ್ರಮಿತಿಯಲ್ಲಿರುತ್ತದೆ. ಇದು ಗೆ ಸುರುಳಿ, ಕ್ವಾಡ್ರುಪೋಲ್ ಅಥವಾ ಹೆಕ್ಸಾಪೋಲ್ ಮಸೂರಗಳ ಮ‌ೂಲಕ ಹರಿಯುವ ವಿದ್ಯುತ್ತಿನ ಪ್ರಮಾಣವನ್ನು ಮಾರ್ಪಡಿಸುವ ಮ‌ೂಲಕ ವರ್ಧನೆಯನ್ನು ಬದಲಿಸುವ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ನೀಡುತ್ತದೆ. ಕ್ವಾಡ್ರುಪೋಲ್ ಮಸೂರವು ಚೌಕದ ಶೃಂಗಗಳಲ್ಲಿನ ವಿದ್ಯುತ್ಕಾಂತೀಯ ಸುರುಳಿಗಳ ಜೋಡಣೆಯಾಗಿದೆ, ಇದು ಮಸೂರದ ಕಾಂತಕ್ಷೇತ್ರಗಳ ರಚನೆಯನ್ನು ಸಾಧ್ಯವಾಗಿಸುತ್ತದೆ. ಹೆಕ್ಸಾಪೋಲ್ ರಚನೆಯು ನಾಲ್ಕರ ಬದಲಿಗೆ ಆರು ಸುರುಳಿಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಮಸೂರದ ಸಮ್ಮಿತಿಯನ್ನು ವರ್ಧಿಸುತ್ತದೆ.
ಮಾದರಿ-ಧಾರಕಗಳು ಮಾದರಿಯನ್ನು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಅಪೇಕ್ಷಿತ ಕೋನಗಳಲ್ಲಿ ತಿರುಗಿಸಲು ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುವುದರಿಂದ, ಮಾದರಿಯ ಕೋನವನ್ನು ಕಿರಣಕ್ಕೆ ಲಂಬವಾಗಿರುವ ಅಕ್ಷದಲ್ಲಿ ತಿರುಗಿಸುವ ಮ‌ೂಲಕ ಒಂದೇ ಮಾದರಿಯ ಅನೇಕ ವೀಕ್ಷಣೆಗಳನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು. ಒಂದು ಮಾದರಿಯ ವಿವಿಧ ಕೋನಗಳಲ್ಲಿ ವೈಶಿಷ್ಟವಾಗಿ 1 ಏರಿಕೆಗಳಲ್ಲಿ ಅನೇಕ ಚಿತ್ರಗಳನ್ನು ತೆಗೆಯುವುದರಿಂದ, "ಟಿಲ್ಟ್ ಸರಣಿ" ಎನ್ನುವ ಚಿತ್ರಗಳ ಒಂದು ಸಂಗ್ರಹವನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು. ಪೂರ್ತಿಯಾಗಿ ಅವಶೋಷಣದ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸ ಸ್ಥಿತಿಯಡಿಯಲ್ಲಿ, ಈ ಚಿತ್ರಗಳ ಸಂಗ್ರಹವನ್ನು ಮಾದರಿಯ ಮೂರು ಆಯಾಮದ ರಚನೆಯನ್ನು ರೂಪಿಸಲು ಬಳಸಬಹುದು.
ವಿವರ್ತನೆ ಸಮತಲದಲ್ಲಿ ಹೆಚ್ಚು ಸಂಕೀರ್ಣ ವರ್ತನೆಯ‌ೂ ಸಾಧ್ಯವಾಗಬಹುದು. ಸ್ಫಟಿಕದ ಜಾಲರಿಯೊಳಗೆ ಬಹು ವಿವರ್ತನೆಯಿಂದ ಕಿಕುಚಿ ಗೆರೆಗಳು ಮುಂತಾದ ವಿದ್ಯಮಾನ ಕಾಣಿಸಿಕೊಳ್ಳಬಹುದು. ಕೇಂದ್ರೀಕೃತ ಕಿರಣ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ವಿವರ್ತನೆಯಲ್ಲಿ, ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಕಿರಣವನ್ನು ಮಾದರಿಯ ಮೇಲ್ಮೈಯಲ್ಲಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ಶೋಧಕಕ್ಕೆ ಕೇಂದ್ರೀಕರಿಸುವ ಮ‌ೂಲಕ ಸಮಾಂತರವಾಗಿಲ್ಲದ, ಕೇಂದ್ರೀಕೃತ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ತರಂಗವನ್ನು ಉತ್ಪತ್ತಿ ಮಾಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಇದರಲ್ಲಿ ಕೇಂದ್ರೀಕೃತ ಕಿರಣದ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯು ಮಾದರಿಯ ದಪ್ಪ ಮುಂತಾದ ರಚನಾತ್ಮಕ ದತ್ತಾಂಶವನ್ನು ಮೀರಿ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒದಗಿಸುತ್ತದೆ.
ಬಿಂದುವಿನ-ಸ್ಥಾನವನ್ನು ಮೀರಿ ವಿವರ್ತನೆ ನಮೂನೆಗಳ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯು ಜಟಿಲವಾಗಿರಬಹುದು. ಚಿತ್ರವು ಮಾದರಿಯ ದಪ್ಪ ಮತ್ತು ಅಭಿವಿನ್ಯಾಸ, ವಸ್ತುವಿನ ಸಮೀಪದ ಮಸೂರದ ಅಪನಾಭೀಕರಣ, ಗೋಳ ಮತ್ತು ವರ್ಣ ವಿಪಥನದಂತಹ ಅನೇಕ ಅಂಶಗಳಿಗೆ ಸೂಕ್ಷ್ಮಗ್ರಾಹಿಯಾಗಿರುತ್ತದೆ. ಜಾಲರಿಯ ಚಿತ್ರಗಳಲ್ಲಿ ತೋರಿಸಲಾದ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸದ ಗುಣಾತ್ಮಕ ಅರ್ಥವಿವರಣೆಯು ಸಾಧ್ಯವಾದರೂ, ಇದು ಅಂತರ್ಗತವಾಗಿ ಸಂಕೀರ್ಣವಾಗಿರುತ್ತದೆ ಮತ್ತು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮಲ್ಟಿಸ್ಲೈಸ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯಂತಹ ವ್ಯಾಪಕ ಕಂಪ್ಯೂಟರ್ ಪ್ರತ್ಯನುಕರಣ ಮತ್ತು ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯು ಬೇಕಾಗುತ್ತದೆ.
ನಲ್ಲಿ ಕಳಪೆ ಮಟ್ಟದ ನಿರ್ವಾಯುವಿನಿಂದ ಅನೇಕ ಸಮಸ್ಯೆಗಳನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡಬಹುದು.ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಕಿರಣ ಪ್ರೇರೇಪಿತ ಸಂಗ್ರಹ ಎನ್ನುವ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಯ ಮ‌ೂಲಕ ವೀಕ್ಷಿಸುವಾಗ ನೊಳಗೆ ಅನಿಲ ಶೇಖರಣೆಯಾಗಿ ಮಾದರಿಯ ಮೇಲೆ ಸಂಗ್ರಹವಾಗಬಹುದು. ಅಥವಾ ಹೆಚ್ಚು ಗಂಭೀರ ಪ್ರಕರಣಗಳಲ್ಲಿ ವಿದ್ಯುತ್ ವಿಸರ್ಜನೆಯಿಂದ ಕ್ಯಾಥೋಡ್‌ಗೆ ಹಾನಿಯಾಗಬಹುದು. ಮಾದರಿಯ ಉತ್ಪತನದಿಂದ ಉಂಟಾಗುವ ನಿರ್ವಾಯು ಸಮಸ್ಯೆಗಳನ್ನು, ಮಾದರಿಯ ಹತ್ತಿರದಲ್ಲಿ ಉತ್ಪತನವಾದ ಅನಿಲಗಳನ್ನು ಹೀರಿಕೊಳ್ಳಲು ಕೋಲ್ಡ್ ಟ್ರಾಪ್ ಬಳಸಿಕೊಂಡು ನಿಯಂತ್ರಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ.
ನಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರಿಸುವ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯು ಫಾಸ್ಫರ್ ಪರದೆಯೊಂದನ್ನು ಹೊಂದಿರುತ್ತದೆ.ಇದನ್ನು ನಿರ್ವಾಹಕರು ನೇರವಾಗಿ ವೀಕ್ಷಿಸುವುದಕ್ಕಾಗಿ ಸೂಕ್ಷ್ಮ ಪೃಥಕ್ಕರಣ ದ್ರವ್ಯ ಸತುವಿನ ಸಲ್ಫೈಡ್‌ನಿಂದ ಮಾಡಲ್ಪಟ್ಟಿದೆ. ಫಿಲಂನಂತಹ ಚಿತ್ರ ಮುದ್ರಣ ಮಾಡುವ ವ್ಯವಸ್ಥೆಯು ಪರದೆಯನ್ನು ಜೋಡಿಸಿದ ಗಳನ್ನು ಆಧರಿಸಿರುತ್ತದೆ. ಈ ಸಾಧನಗಳನ್ನು ನಿರ್ವಾಹಕರಿಗೆ ಬೇಕಾದಂತೆ ಕಿರಣದ ಪಥದಿಂದ ತೆಗೆದುಹಾಕಬಹುದು ಅಥವಾ ಸೇರಿಸಬಹುದು.