СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ОБРАЗЦОВ РАЗЛИЧНОЙ ГЕОМЕТРИЧЕСКОЙ ФОРМЫ НА ЧАСТОТАХ ДО 1 ГГц

1. Способ измерения диэлектрической проницаемости образцов в лабораторных условиях, отличающийся тем, что измерения образцов ортогональной геометрической формы производятся с помощью изготовления их геометрических копий из материала с известной диэлектрической проницаемостью.
2. Способ измерения диэлектрической проницаемости образцов в лабораторных условиях, отличающийся тем, что для повышения верхней рабочей частоты измерительной ячейки применяется дополнительная калибровка измерительного прибора, в которой применяется сама измерительная ячейка с новой калибровочной мерой «50 Ом», имитирующий исследуемый образец.