СПОСОБ ЛОКАЛЬНОГО ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕАЛИЗАЦИИ ТАКОГО СПОСОБА (ВАРИАНТЫ)

1. Способ оценки разности потенциалов между двумя точками объекта диагностики, для целей выявления дефектов, включающий:
- декомпозицию сигнала при помощи математических интегральных преобразований;
- выделение приборного шума и шумов, обусловленных внешними источниками;
- сравнение АЧХ обработанного сигнала с АЧХ сигнала, полученного для аналогичного материала без дефектов;
- определение на основании такого сравнения наличия или отсутствия локальных дефектов, а также их характеристик.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что 5 для спектрального анализа сигналов используются временные окна.
3. Устройство для дефектоскопии, включающее:
- корпус, выполненный с возможностью фиксации на объекте диагностики заключающий в себя:
по меньшей мере два преобразователя, усилитель сигнала, АЦП,
передатчик,
источник питания;
- обрабатывающее устройство, содержащее приемник; при этом
обрабатывающее устройство выполнено с возможностью реализации способа по п. 1;
обрабатывающее устройство выполнено с возможностью сигнализировать о превышении контрольно-допустимого значения сигнала, указывающего на наличие локального дефекта.
4. Устройство по п. 3, отличающееся тем, что передатчик передает сигнал на приемник с использованием одного из следующих форматов GSM, LTE, Wi-Fi, Bluetooth, ZigBee.
5. Устройство по п. 3, отличающееся тем, что чувствительный элемент преобразователя имеет вид остроконечной иглы.
6. Устройство по п. 3, отличающееся тем, что корпус выполнен герметичным, ударопрочным и/или термостойким.
7. Устройство по п. 3, отличающееся тем, что обрабатывающее устройство содержит микропроцессор.
8. Устройство для дефектоскопии, включающее:
- корпус с приспособлением для транспортировки и элементами управления, заключающий в себя:
по меньшей мере два преобразователя роликового типа,
усилитель сигнала,
приемопередатчик,
- источник питания;
- обрабатывающее устройство;
при этом
обрабатывающее устройство выполнено с возможностью реализации способа по п. 1;
обрабатывающее устройство выполнено с возможностью сигнализировать о наличии локального дефекта в объекте диагностики при превышении контрольно-допустимого значения;
обрабатывающее устройство и источник питания связаны с приемопередатчиком.
9. Устройство по п. 8, отличающееся тем, что имеет три преобразователя сигнала.
10. Устройство по п. 8, отличающееся тем, что обрабатывающее устройство и источник питания связаны с приемопередатчиком при помощи проводов.
11. Устройство по п. 8, отличающееся тем, что обрабатывающее устройство содержит микропроцессор.
12. Система эксплуатации и обслуживания устройств для дефектоскопии, включающая:
- совокупность устройств по п. 3 или 8;
- сервис хранения данных;
- конечные устройства пользователей;
- центр контроля и обслуживания,
при этом,
совокупность устройств по п. 3 или 8 связаны с сервисом хранения данных так, что могут передавать на него данные обработки сигналов и данные об обнаружении локальных дефектов, а также получать от него обновления и/или иную информацию;
сервис хранения данных позволяет конечным устройствам пользователей получать данные о дефектах от соответствующих этим пользователям устройств по п. 3 или 8;
центр контроля и обслуживания имеет доступ к данным сервиса хранения данных и выполнен с возможностью анализа собранных сервисом хранения данных, а также с возможность передачи на сервис хранения данных обновления для устройств по п. 3 или 8, и/или полученной для образца-свидетеля, или для аналогичного материала без дефектов АЧХ сигнала.
13. Система по п. 12, отличающаяся тем, что сервис хранения данных представляет собой облачный сервис хранения данных.
14. Система по п. 12, отличающаяся тем, что для анализа данных центром контроля и обслуживания применяются системы с элементами машинного обучения.
15. Система по п. 12, отличающаяся тем, что конечные устройства пользователей могут представлять собой мобильные устройства или компьютеры.