СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КОЛЛОИДНОГО ЗОНДОВОГО ДАТЧИКА ДЛЯ АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА

1. Способ изготовления коллоидного зондового датчика для атомно-силового микроскопа, заключающийся в том, что коллоидную частицу закрепляют на кончике иглы зондового датчика, отличающийся тем, что по принципу минимального числа соседей выбирают среди коллоидных частиц кандидата для закрепления, затем модифицируют работоспособный зондовый датчик, закрепляя выбранную коллоидную частицу на кончике иглы, после этого, используя модифицированный работоспособный зондовый датчик, подтверждают, что выбранная частица закреплена, при этом все операции проводят с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ).
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что выбранную частицу закрепляют с помощью клеящего материала.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что используют отверждаемый ультрафиолетовым светом клей.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что клеевую обработку кончика иглы зондового датчика производят в АСМ.
5. Способ по п.1, отличающийся тем, что выбор частицы производят, используя работоспособный зондовый датчик с покрытым клеем кончиком иглы, путем визуализации частицы в полуконтактном режиме АСМ.
6. Способ по п.1, отличающийся тем, что процесс закрепления частицы производят в контактном режиме АСМ.
7. Способ по п.1, отличающийся тем, что момент приклеивания контролируют по вариациям АСМ сигнала вертикального отклонения зондового датчика.
8. Способ по п.1, отличающийся тем, что момент приклеивания контролируют по вариациям АСМ сигнала бокового отклонения зондового датчика.
9. Способ по п.1, отличающийся тем, что момент приклеивания контролируют по вариациям АСМ сигнала контактной жесткости.
10. Способ по п.1, отличающийся тем, что процесс закрепления частицы производят в полуконтаткном режиме АСМ.
11. Способ по п.1, отличающийся тем, что момент приклеивания контролируют по вариациям АСМ сигналов, зависящих от амплитуды и/или фазы резонансных колебаний зондового датчика.
12. Способ по п.1, отличающийся тем, что факт закрепления частицы на кончике иглы зондового датчика оперативно подтверждают при визуализации в полуконтактном АСМ режиме агломератов калиброванных по форме и размеру частиц, осажденных на подложку.
13. Способ по п.1, отличающийся тем, что на подложке формируют субмонослойные покрытия из агломератов калиброванных по форме и размеру частиц.