СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИКОВ С НАНОЧАСТИЦАМИ МЕТАЛЛА

Способ измерения электрофизических параметров диэлектриков с наночастицами металла, включающий определение параметров электронных ловушек, а именно их поверхностную концентрацию, время релаксации, энергию активации процесса захвата и сечение захвата электронов, путем измерения адмиттанса конденсаторов на основе диэлектрических пленок со встроенными наночастицами металла в интервале частот, напряжений и температур, в котором зависимость G/ω от напряжения имеет максимум, обусловленный захватом носителей заряда на ловушки, возникающие в результате формирования наночастиц металла, где G - проводимость в параллельной эквивалентной схеме замещения структуры и ω - круговая частота, анализ полученных экспериментальных данных.