СПОСОБ И СИСТЕМА ДЛЯ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОКРЫТИЯ

1. Измерительная схема (1) для неразрушающего обнаружения дефектов покрытия (BF) в электроизолирующем слое (5), которым покрыта электропроводящая подложка (4), включающая:
a) устройство ввода сигнала (2) для ввода входного сигнала в проводящую подложку (4) через электроизолирующий слой (5);
b) подвижное устройство вывода сигнала (3) для вывода сигнала измерения из проводящей подложки (4) через электроизолирующий слой (5), причем подвижное устройство вывода сигнала (3) имеет гибкие и электропроводящие щетинки (7);
c) и включающая устройство оценки (6) для оценки выходного сигнала измерения, причем дефект покрытия (BF) электроизолирующего слоя (5) обнаруживается, когда изменение параметра выходного сигнала измерения превышает регулируемое предельное значение.
2. Измерительная схема по п.1, отличающаяся тем, что устройство вывода сигнала (3) имеет емкость для приема электролитической жидкости, которая предназначена для увлажнения щетинок (7).
3. Измерительная схема по п.2, отличающаяся тем, что электролитическая жидкость содержит воду или деионизированную воду.
4. Измерительная схема по п.1, отличающаяся тем, что устройство ввода сигнала (2) имеет электропроводящую присоску, проводящую губчатую резину, проводящий валик или проводящий ролик.
5. Измерительная схема по п.4, отличающаяся тем, что устройство ввода сигнала (2) прикреплено к слою (5), изолируемому для измерения.
6. Измерительная схема по п.1, отличающаяся тем, что устройство ввода сигнала (2) индуктивным или емкостным образом вводит входной сигнал в проводящую подложку (4).
7. Измерительная схема по п.6, отличающаяся тем, что устройство вывода сигнала (3) индуктивным или емкостным образом выводит сигнал измерения из подложки (4) через электроизолирующий слой (5).
8. Измерительная схема по п.1, отличающаяся тем, что устройство вывода сигнала (3) имеет двигатель (10), который перемещает устройство вывода сигнала (3) по поверхности электроизолирующего слоя (5), чтобы сканировать электроизолирующий слой (5) для обнаружения дефектов покрытия (BF).
9. Измерительная схема по п.8, отличающаяся тем, что пространственные координаты (x, y) подвижного устройства вывода сигнала (3) хранятся вместе с параметрами сигнала измерения в памяти для их оценки.
10. Способ неразрушающего обнаружения дефектов покрытия (BF) по меньшей мере в одном электроизолирующем слое (5), которым покрыта электропроводящая подложка (4), включающий следующие этапы:
a) ввод (S1) входного сигнала в подложку (4) через электроизолирующий слой (5);
b) вывод (S2) сигнала измерения из слоя подложки (4) через электроизолирующий слой (5) и через гибкие и электропроводящие щетинки (7);
c) обнаружение (S3) дефектов покрытия (BF) в электроизолирующем слое (5), когда изменение параметра выходного сигнала измерения превышает регулируемое предельное значение.
11. Способ по п.10, отличающийся тем, что входной сигнал вводится емкостным или индуктивным образом в электропроводящую подложку (4).
12. Способ по п.10, отличающийся тем, что входной сигнал имеет форму импульсного сигнала постоянного напряжения или сигнала переменного напряжения с регулируемой частотой.
13. Способ по п.10, отличающийся тем, что устанавливают координаты и тип обнаруженного дефекта покрытия (BF).
14. Способ по п.13, отличающийся тем, что соответствующий дефект покрытия затем автоматически ремонтируется в зависимости от типа обнаруженного дефекта покрытия (BF).
15. Способ по п.10, отличающийся тем, что обнаруживается временное изменение амплитуды выходного сигнала измерения, и дефект покрытия (BF) электроизолирующего слоя (5) распознается, когда изменение амплитуды (ΔА) превышает регулируемое предельное значение амплитуды.
16. Способ по п.10, отличающийся тем, что обнаруживается фазовый сдвиг между током и напряжением выходного сигнала измерения, и дефект покрытия (BF) электроизолирующего слоя (5) распознается, когда фазовое изменение (Δφ) превышает регулируемое предельное значение фазы.
17. Способ по п.10, отличающийся тем, что обнаруживается время заряда и/или разряда RC-элемента с конденсатором, на емкость которого влияет толщина электроизолирующего слоя (5), и дефект покрытия (BF) электроизолирующего слоя (5) распознается, когда изменение во времени заряда и/или разряда (Δt) превышает регулируемое предельное значение периода времени.
18. Способ по п.10, отличающийся тем, что толщина электроизолирующего слоя (5) и размер дефекта покрытия (BF) вычисляются как функция изменения параметра сигнала.