СИСТЕМА И СПОСОБ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТОПОЛОЖЕНИЯ ГРАДИЕНТНОЙ КАТУШКИ

1. Способ, содержащий этапы, на которых:
определяют первое местоположение в пределах магнита магнитно-резонансной визуализации (MRI) относительно первой заранее заданной контрольной поверхности магнита MRI, причем первое местоположение представляет собой центр магнитного поля магнита MRI;
определяют второе местоположение в пределах градиентной катушки относительно второй заранее заданной контрольной поверхности градиентной катушки, причем второе местоположение представляет собой изоцентр градиентной катушки, при этом когда градиентная катушка установлена в пределах туннеля магнита MRI, вторая заранее заданная контрольная поверхность примыкает к первой заранее заданной контрольной поверхности; и
определяют отрегулированное положение для первой заранее заданной контрольной поверхности как функцию первого местоположения и второго местоположения, причем отрегулированное положение соответствует положению первой заранее заданной контрольной поверхности, в котором первое местоположение совпадает со вторым местоположением, когда градиентная катушка установлена в пределах туннеля магнита MRI.
2. Способ по п. 1, дополнительно содержащий этапы, на которых:
устанавливают градиентную катушку в пределах туннеля магнита MRI; и
соединяют градиентную катушку с магнитом MRI с помощью
первой заранее заданной контрольной поверхности и второй заранее заданной контрольной поверхности.
3. Способ по п. 1, в котором этап, на котором определяют первое местоположение, включает в себя этапы, на которых:
устанавливают картирующий гентри на одном конце магнита MRI, при этом камера картирующего гентри проходит в туннель магнита MRI,
располагают камеру в геометрическом центре магнита MRI и
определяют расстояние смещения от положения камеры до центра магнитного поля.
4. Способ по п. 3, дополнительно содержащий этапы, на которых:
повторно устанавливают камеру в первое местоположение; и
снимают конечную карту магнитного поля магнита MRI.
5. Способ по п. 1, в котором этап, на котором определяют отрегулированное положение, дополнительно включает в себя этап, на котором записывают отрегулированное положение.
6. Способ по п. 5, в котором отрегулированное положение отмечается на первой заранее заданной контрольной поверхности.
7. Способ по п. 1, в котором этап, на котором определяют отрегулированное положение дополнительно включает в себя этап, на котором определяют скорректированный перекос.
8. Способ по п. 7, в котором отрегулированное положение и скорректированный перекос отмечают на первой заранее заданной контрольной поверхности.
9. Система магнитно-резонансной визуализации (MRI), содержащая:
магнит MRI, включающий в себя туннель и имеющий магнитное поле; и
градиентную катушку, расположенную в пределах туннеля и имеющую изоцентр,
при этом первое местоположение в пределах магнита MRI определяется относительно первой заранее заданной контрольной поверхности магнита MRI, причем первое местоположение представляет собой центр магнитного поля,
при этом второе местоположение в пределах градиентной катушки определяется относительно второй заранее заданной контрольной поверхности градиентной катушки, причем второе местоположение представляет собой изоцентр,
при этом когда градиентная катушка установлена в пределах туннеля, вторая заранее заданная контрольная поверхность примыкает к первой заранее заданной контрольной поверхности, и
при этом первая заранее заданная контрольная поверхность выставляется в отрегулированное положение, причем отрегулированное положение определяется как функция первого местоположения и второго местоположения и соответствует положению первой заранее заданной контрольной поверхности, в котором первое местоположение совпадает со вторым местоположением, когда градиентная катушка установлена в пределах туннеля.
10. Система MRI по п. 9, в которой градиентная катушка соединена с магнитом MRI с помощью первой заранее заданной контрольной поверхности и второй заранее заданной контрольной поверхности.
11. Система MRI по п. 9, в которой первое местоположение определяется посредством:
установки картирующего гентри на одном конце магнита MRI, при этом камера картирующего гентри проходит в туннель магнита MRI,
расположения камеры в геометрическом центре магнита MRI, и
определения расстояния смещения от положения камеры до центра магнитного поля.
12. Система MRI по п. 11, в которой первое местоположение дополнительно определяется посредством:
повторной установки камеры в первом местоположении; и
снятия конечной карты магнитного поля магнита MRI.
13. Система MRI по п. 9, в которой первая заранее заданная контрольная поверхность содержит первую отметку, указывающую отрегулированное положение.
14. Система MRI по п. 13, в которой первая заранее заданная контрольная поверхность содержит вторую отметку, указывающую скорректированный перекос.