СПОСОБ ИЗУЧЕНИЯ ПЕРВИЧНОЙ РЕКРИСТАЛЛИЗАЦИИ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКОЙ МЕДИ

Способ изучения первичной рекристаллизации электротехнической меди, включающий нагартовку образца и повышение его температуры до температуры прохождения рекристаллизации, при этом к образцу прикладывают нагрузку, приводящую к упругой деформации, а при повышении температуры фиксируют изменение модуля упругости в зависимости от повышения температуры методом динамическо-механического анализа, находят на зависимости изменения модуля упругости в функции температуры зону повышения градиента модуля упругости, продолжают линию, предшествующую началу зоны смены градиентов модуля упругости, продолжают линию после завершения зоны смены градиентов модуля упругости до пересечения с линией, предшествующей зоне смены градиентов модуля упругости, и идентифицируют абсциссу этой точки с температурой начала рекристаллизации, отличающийся тем, что при приложении к заготовке нагрузки, приводящей к упругой деформации, повышение температуры осуществляют со скоростью 1,0-2,5°/мин.