Способ обнаружения поверхностных дефектов цилиндрических объектов

1. Способ обнаружения поверхностных дефектов цилиндрических объектов, заключающийся в том, что контролируемый объект перемещают через позицию контроля поверхности, на позиции контроля освещают N пучками света, которые формируют на контролируемой поверхности N световых полос, принимают изображение полос матричными фотоприемниками, полученные с фотоприемников изображения подвергают обработке в аналитическом устройстве с учетом данных, полученных при калибровке, отличающийся тем, что формируемые на поверхности контролируемого объекта N световых полос образуют замкнутую по периметру объекта световую полосу, расположенную в плоскости, перпендикулярной продольной оси объекта и лежащей под углом α к направлениям освещения, оптические оси N матричных фотоприемников лежат в плоскости световых полос, по отклонениям положения изображений полос от номинального положения в аналитическом устройстве определяют дефекты поверхности и принимают решение о годности контролируемого объекта.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что световые полосы на поверхности контролируемого объекта формируют с помощью дифракции когерентного света на амплитудных транспарантах.
3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что световые полосы на поверхности контролируемого объекта формируют с помощью дифракции когерентного света на фазовых транспарантах.
4. Способ по п. 1, отличающийся тем, что световые полосы на поверхности контролируемого объекта формируют с помощью дифракции когерентного света на амплитудно-фазовых транспарантах.