ДИНАМИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДЕФЕКТОВ ДЛЯ ДЕТЕКТОРОВ СО СЧЕТОМ ФОТОНОВ

1. Устройство для обработки данных детектора, которое содержит:
интерфейс (IU) ввода для приема данных измерения, обнаруживаемых посредством многоинтервального детектора (104) энергии излучения, который содержит определенное число интервалов детектора, причем данные обнаруживают во время измерения излучения, предварительно взаимодействовавшего с объектом (110), представляющим интерес, и причем данные обнаруживают детектором (104) во время операции измерения для M-кратной декомпозиции материала с M ≥ 2 и меньше числа интервалов детектора;
преобразователь (T) данных, выполненный с возможностью преобразования обнаруживаемых данных измерения в данные ослабления излучения, при этом корректируя ошибку измерения, обусловленную детектором (104), меняющим свою чувствительность во время операции измерения, причем преобразователь (T) использует модель взаимодействия излучения и материи, которая включает в себя:
i) параметр данных, который представляет собой параметр для данных, обнаруживаемых посредством интервалов детектора;
ii) M-кратные переменные декомпозиции материала и
iii) переменную для состояния детектора, которая вызывает изменение чувствительности детектора (104);
преобразователь (T), выполненный с возможностью решения модели относительно переменных декомпозиции материала наряду с переменной состояния детектора, тем самым осуществляя коррекцию;
блок (OU) вывода, выполненный с возможностью вывода решенных переменных материалов в виде скорректированных данных ослабления излучения.
2. Устройство по п. 1, в котором работа преобразователя (T) включает в себя вывод переменной состояния детектора.
3. Устройство по п. 1 или 2, в котором модель определяют с помощью системы интегральных уравнений, каждое из которых включает в себя интеграл по энергетическому спектру излучения, причем каждый элемент энергетического спектра взвешен с помощью коэффициента ослабления, и каждое уравнение включает в себя по меньшей мере одно из параметра данных, и/или переменной состояния детектора, и/или переменных декомпозиции материала.
4. Устройство по п. 1 или 2, в котором модель определяют с помощью суммарной вероятностной функции масс, представляющей вероятность для интервалов детектора, регистрирующих конкретное событие измерения, причем суммарная вероятностная функция масс включает по меньшей мере одно из параметра данных, и/или переменной состояния, и/или переменных декомпозиции материала.
5. Устройство по п. 4, в котором работа преобразователя (T) включает в себя решение суммарной вероятностной функции масс в отношении переменных декомпозиции материала и/или переменной состояния с использованием подхода максимального правдоподобия.
6. Устройство по п. 4, в котором решение в отношении состояния и переменных декомпозиции материала включает в себя ограничение пространства решений для переменной состояния функциями, отвечающими условию регуляризации, причем условие усиливают штрафной функцией.
7. Устройство по п. 4, в котором штрафная функция является квадратичной.
8. Устройство по п. 4, в котором суммарная вероятностная функция масс относится к пуассонову типу.
9. Устройство по п. 1, в котором состояние детектора (104) представляет меняющийся незатухающий ток в первичном конвертере детектора.
10. Устройство по п. 1, в котором состояние детектора представляет меняющуюся поляризацию детектора во время операции измерения, которая обуславливает меняющуюся эффективность накопления зарядов первичного конвертера.
11. Способ обработки данных детектора, который содержит:
прием (S302) данных измерения, обнаруживаемых многоинтервальным детектором (104) энергии излучения, который содержит определенное число интервалов детектора, причем данные обнаруживают во время измерения излучения, предварительно взаимодействовавшего с объектом, представляющим интерес, и причем данные обнаруживают посредством детектора во время операции измерения для M-кратной декомпозиции материала с M ≥ 2 и меньше, чем число интервалов детектора;
преобразование (S304) обнаруживаемых данных измерения в данные ослабления излучения, при этом корректируя ошибку измерения, обусловленную детектором, меняющим свою чувствительность во время операции измерения, причем преобразование включает использование модели взаимодействия излучения и материи, которая включает в себя:
i) параметр данных, который представляет собой параметр для данных, обнаруживаемых с помощью интервалов детектора;
ii) M-кратные переменные декомпозиции материала и
iii) переменная для состояния детектора, которая вызывает изменение чувствительности детектора;
преобразование включает решение модели в отношении переменной материала наряду с переменной состояния детектора, тем самым осуществляя коррекцию;
вывод (S306) решенных переменных декомпозиции материала в виде скорректированных данных ослабления излучения.
12. Система (100) рентгеновской визуализации, которая содержит:
устройство для обработки данных детектора согласно какому-либо одному из п.п. 1-10; и
многоинтервальный детектор (104).
13. Система (100) рентгеновской визуализации по п. 12, которая дополнительно содержит реконструктор (R) и дисплей (114) для отображения изображений, реконструируемых реконструктором (R) с использованием скорректированных данных ослабления излучения, выводимых устройством.
14. Машиночитаемый носитель, имеющий компьютерную программу, сохраненную на нем, для управления устройством по одному из п.п. 1-10, которая выполнена с возможностью, при исполнении блоком обработки, осуществлять способ по п. 11.