СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ РЕАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛОВ

Способ диагностики реальной структуры кристаллов, включающий электронно-микроскопическое и микродифракционное исследования кристалла, отличающийся тем, что в случае присутствия на электронно-микроскопическом изображении исследуемого нанотонкого кристалла картин изгибных экстинкционных контуров проводят анализ симметрии картин контуров и при выявлении элементов симметрии, отличных от тождественного преобразования, по результатам микродифракционного исследования диагностируют реальную структуру одного из симметрично равных участков нанотонкого кристалла, а затем диагностируют реальную структуру другого, как симметрично равную реальной структуре исследованного участка, после чего диагностируют реальную структуру нанотонкого кристалла в целом.