СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Способ контроля полупроводниковых интегральных схем, включающий в себя многократное измерение критических питающих напряжений (КПН), полученных при различных условиях тестирования, режимах измерений и/или внешних воздействиях, отличающийся тем, что, с целью расширения круга объектов контроля на программируемые интегральные устройства, требующих занесения настроечной информации после включения питания, перед каждым измерением КПН осуществляют программирование внутренних регистров объекта контроля при номинальном напряжении питания.