Способ спектрального лазерного сканирования композитных (полиморфных) материалов в соответствии с оптической плотностью его матрикса и составных компонентов

Способ спектрального лазерного сканирования композитных (полиморфных) материалов в соответствии с оптической плотностью его матрикса и составных компонентов осуществляется в полной темноте и заключается в последовательном облучении среза(ов) композитного материала под определенным углом батареей лазеров с разной частотой излучения и отдельной фиксацией (на отдельных фото носителях) характера дифракции и спектрального резонанса для каждого лазера в соответствии с пространственной структурой рассматриваемого образца, при этом исходные частоты излучения лазеров оптически соответствуют, ковалентным связям с соответствующей оптической плотностью чистых компонентов, входящих в композитный материал, дифракция фиксируется в сравнении проходящего и отраженного излучения лазера, а спектрометрия резонансного излучения проводится в плоскости расположения среза материала перпендикулярной лучу, далее накладывая фиксированные результаты дифракции и локальный спектральный резонанс получаем первичную картину структуры композитного материала для каждой частоты лазерного излучения, полученные таким образом картины для каждого лазерного облучения обобщаются методом матричного анализа с опорой на всю линейку частотного излучения от 100 нм до 3000 нм, с выделением прерогатив частотного резонансного излучения для каждого материала (компьютерное моделирование объемных форм), далее проводится корреляция характера прерогативного частотного резонанса в объеме каждого материала с необходимыми физико-химическими свойствами данного класса композитных материалов.