СПОСОБ АНАЛИЗА КВАНТОВОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО СВЕТОИЗЛУЧАЮЩЕГО ПРИБОРА И СИСТЕМА АНАЛИЗА, ИСПОЛЬЗУЮЩАЯ ЕГО

1. Способ анализа квантовой эффективности полупроводникового светоизлучающего прибора, содержащий:
обеспечение изображения слоя полупроводника полупроводникового светоизлучающего прибора;
преобразование этого изображения в двоичное изображение
q
получение размерности Реньи D для степени q в качестве параметра мультифрактального анализа двоичного изображения и
q
определение размерности Реньи D в качестве критерия квантовой эффективности полупроводникового светоизлучающего прибора.
q
2. Способ по п.1, в котором размерность Реньи D определяют по нижеприведенному уравнению:
,
i
где в случае, когда двоичное изображение разделяется на число N квадратных участков со сторонами, каждая из которых имеет длину L, P определяют по нижеприведенному уравнению:
,
i
i
где m(L) устанавливают равным 1, если i-й участок включает в себя пиксель, имеющий значение пикселя 1, и m(L) устанавливают равным 0, если i-й участок не включает в себя пиксель, имеющий значение пикселя 1.
q
3. Способ по п.1, в котором определение размерности Реньи D в качестве критерия квантовой эффективности полупроводникового светоизлучающего прибора содержит:
получение значения Δq, заданного уравнением ; и
определение полученного значения Δq в качестве критерия квантовой эффективности полупроводникового светоизлучающего прибора.
4. Способ по п.1, в котором изображение представляет собой изображение с уровнями серого,
при этом преобразование этого изображения в двоичное изображение содержит:
установку значения пикселя равным 0, когда этот пиксель имеет величину уровня серого, которая больше или равна предварительно заданной пороговой величине; и
установку значения пикселя равным 1, когда этот пиксель имеет величину уровня серого, которая меньше предварительно заданной пороговой величины.
5. Способ по п.1, в котором изображение слоя полупроводника полупроводникового светоизлучающего прибора представляет собой изображение в атомно-силовом микроскопе (АСМ).
6. Система анализа квантовой эффективности полупроводникового светоизлучающего прибора, содержащая:
блок захвата изображения, детектирующий изображение слоя полупроводника полупроводникового светоизлучающего прибора;
блок двоичной обработки, преобразующий это изображение в двоичное изображение; и
q
блок обработки данных, получающий размерность Реньи D в качестве параметра мультифрактального анализа двоичного изображения.
q
7. Система по п.6, в которой размерность Реньи D определяется по нижеприведенному уравнению:
,
i
где в случае, когда двоичное изображение разделяется на число N квадратных участков со сторонами, каждая из которых имеет длину L, P определяется по нижеприведенному уравнению:
,
i
i
где m(L) устанавливается равным 1, если i-й участок включает в себя пиксель, имеющий значение пикселя 1, и m(L) устанавливается равным 0, если i-й участок не включает в себя пиксель, имеющий значение пикселя 1.