СИСТЕМА АНАЛИЗА ФЛЮИДОВ С ИНТЕГРИРОВАННЫМ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫМ ЭЛЕМЕНТОМ, ОБРАЗОВАННЫМ ПУТЕМ АТОМНО-СЛОЕВОГО ОСАЖДЕНИЯ

1. Система анализа флюидов, содержащая:
источник светового потока;
интегрированный вычислительный элемент (ИВЭ); и
датчик, который преобразовывает оптические сигналы в электрические,
при этом ИВЭ содержит множество оптических слоев, и при этом по меньшей мере один из множества оптических слоев образован путем атомно-слоевого осаждения (АСО) с целью определения химических или физических свойств вещества.
2. Система анализа флюидов по п. 1, отличающаяся тем, что ИВЭ содержит множество оптических слоев различных типов на основании АСО, и отличающаяся тем, что множество оптических слоев различных типов имеют различные коэффициенты преломления.
3. Система анализа флюидов по п. 1, отличающаяся тем, что ИВЭ содержит по меньшей мере один оптический слой, образованный с применением технологии реактивного магнетронного напыления (РМН).
4. Система анализа флюидов по п. 1, отличающаяся тем, что ИВЭ содержит по меньшей мере один неплоский оптический слой, образованный или модифицированный путем АСО.
5. Система анализа флюидов по п. 1, дополнительно содержащая интерфейс образцов флюидов, притом, что интерфейс образцов флюидов содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
6. Система анализа флюидов по п. 5, отличающаяся тем, что интерфейс образцов флюидов содержит алмазный слой, образованный путем АСО.
7. Система анализа флюидов по любому из пп. 1-6, отличающаяся тем, что датчик или источник светового потока содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
8. Система анализа флюидов по любому из пп. 1-6, дополнительно содержащая элемент полосового фильтра, притом, что элемент полосового фильтра содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
9. Система анализа флюидов по любому из пп. 1-6, дополнительно содержащая линзу с входной стороны относительно ИВЭ, притом, что линза с входной стороны содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
10. Система анализа флюидов по любому из пп. 1-6, дополнительно содержащая линзу с выходной стороны относительно ИВЭ, при том, что линза с выходной стороны содержит по меньшей мере один слой, образованный или модифицированный путем АСО.
11. Способ изготовления системы анализа флюидов, включающий:
выбор конструкции интегрированного вычислительного элемента (ИВЭ), содержащей множество оптических слоев; и
образование по меньшей мере одного из множества оптических слоев ИВЭ путем атомно-слоевого осаждения (АСО) с целью определения химических или физических свойств вещества.
12. Способ по п. 11, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере части источника светового потока или датчика путем АСО.
13. Способ по п. 11, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере части интерфейса образцов флюидов посредством АСО, с установкой интерфейса образцов флюидов на входной стороне ИВЭ.
14. Способ по п. 11, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере части элемента полосового фильтра путем АСО, с установкой элемента полосового фильтра на входной стороне ИВЭ.
15. Способ по любому из пп. 11-14, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере части линзы путем АСО, с установкой линзы на входной или выходной стороне ИВЭ.
16. Способ по любому из пп. 11-14, дополнительно включающий образование или модификацию по меньшей мере одного неплоского оптического слоя ИВЭ путем АСО.
17. Способ по любому из пп. 11-14, дополнительно включающий образование множества различных типов оптических слоев ИВЭ путем АСО.
18. Технологическая линия каротажа, содержащая:
участок каротажной аппаратуры; и
инструмент для анализа флюидов, связанный с участком каротажной аппаратуры, при том, что инструмент для анализа флюидов содержит интегрированный вычислительный элемент (ИВЭ) с по меньшей мере одним оптическим слоем, образованным путем атомно-слоевого осаждения (АСО) с целью определения химических или физических свойств вещества.
19. Технологическая линия каротажа по п. 18, отличающаяся тем, что конструкция устройства анализа флюидов содержит по меньшей мере что-то одно из датчика и полосового фильтра, образованных или модифицированных путем АСО.
20. Способ анализа флюидов, включающий:
направление светового потока с определенным спектром через образец флюида;
фильтрацию светового потока, прошедшего через образец флюида, при помощи множества оптических слоев, при том, что по меньшей мере один из множества оптических слоев образован путем атомно-слоевого осаждения (АСО) с целью фильтрации светового потока в зависимости от химических или физических свойств образца флюида;
определение светового потока на выходе после фильтрации множеством оптических слоев; и
увязку параметров спектра отфильтрованного светового потока с указанными химическими или физическими свойствами образца флюида.
21. Способ по п. 20, дополнительно включающий направление светового потока через по меньшей мере один компонент оптического пути, образованный или модифицированный путем АСО, перед выполнением указанной фильтрации.
22. Способ по п. 20, дополнительно включающий направление светового потока через по меньшей мере один компонент оптического пути, образованный или модифицированный путем АСО, после выполнения указанной фильтрации и перед выполнением указанного обнаружения.