Панель контроля параметров микросхем

Полезная модель относится к области испытательной техники и может быть использована для проведения испытаний на безотказность и электротермотренировки полупроводниковых приборов и интегральных схем, а также для контроля динамических параметров микросхем.
Известно устройство для электротермотренировки интегральных схем [RU №1582902 C, H01G 9/42, 27.08.1995], содержащее камеру с входными и выходными патрубками для подачи и отвода теплоносителя, электровводы, соединенные с разъемами для подключения интегральных схем, блок питания интегральных схем, блок подачи входных сигналов к интегральным схемам, выходы которого соединены с электровводами, управляемый блок аварийной защиты, отличающееся тем, что, с целью увеличения производительности и уменьшения габаритов, в него введен блок циклической коммутации, входы которого соединены с выходом источника питания интегральных схем, а выходы соединены с электровводами, каждый из которых соединен с входом соответствующего интегрирующего звена, выход которого соединен с анодом диода, а катод диода подключен к входу общего компаратора, выход которого соединен с управляющим входом блока аварийной защиты.
Недостатком данного устройства является его большие габариты.
Наиболее близким к заявляемому является Контактирующее устройство для контроля динамических параметров микросхем [АС СССР №686107 A1, H01L 21/66, 15.09.1979], содержащее основание с углублениями, в которых расположены зонды, зонды выполнены в виде диэлектрических пластин, одна из боковых поверхностей которых содержит экран, а другая - по меньшей мере, две печатные полоски, каждая из которых соединена с одной стороны с закрепленными в углублении на пластине высокочастотными разъемами, а с другой - через металлизированные отверстия с V-образным наконечником, закрепленным в углублении вне печатных полосок на одном из концов пластин.
Недостатком данного устройства является то, что оно позволяет проводить контроль параметров одновременно только одной микросхемы.
Техническим результатом является расширение функциональных возможностей панели за счет обеспечения контроля параметров одновременно нескольких микросхем.
Технический результат достигается тем, что «Панель контроля параметров микросхем», содержащая контактирующее устройство, дополнительно введены три контактирующих устройства, четыре соединителя, четыре контрольных точки и перемычка, которая соединена одним концом с входом тестовых данных второго соединителя, а другим - с его выходом тестовых данных, входы первой, второй, третьей и четвертой контрольных точек соединены с выходами соответственно первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств, выход сигнала тестового тактирования первого соединителя соединен с объединенными одноименными входами первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств и второго соединителя, вход сигнала выбора режима тестирования которого соединен с объединенными одноименными входами первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств и одноименным выходом первого соединителя, выход тестовых данных которого соединен с объединенными одноименными входами первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств и первого соединителя, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных второго контактирующего устройства, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных четвертого контактирующего устройства, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных третьего контактирующего устройства, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных первого контактирующего устройства, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных первого соединителя, выход шина питания третьего соединителя соединен с объединенными одноименными входами первого, второго, третьего и четвертого контактирующих устройств и четвертого соединителя.
На фиг. 1 представлена блок-схема панели.
На фиг. 2 представлен общий вид контактирующего устройства.
На фиг. 3 представлен механизм захвата выводов.
Панель контроля параметров микросхем (фиг. 1) содержит четыре контактирующих устройства 5, 6, 10 и 11, четыре контрольные точки 2, 3, 12 и 13, четыре соединителя 1, 4, 8 и 9, и перемычку.
Панель контроля параметров микросхем (фиг. 1) содержит четыре контактирующих устройства 5, 6, 10 и 11, четыре контрольные точки 2, 3, 12 и 13, четыре соединителя 1, 4, 8 и 9, и перемычку 7, которая соединена одним концом с входом тестовых данных второго соединителя 4, а другим - с его выходом тестовых данных, входы первой 2, второй 3, третьей 12 и четвертой 13 контрольных точек соединены с выходами соответственно первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств, выход сигнала тестового тактирования первого соединителя 1 соединен с объединенными одноименными входами первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств и второго соединителя 4, вход сигнала выбора режима тестирования которого соединен с объединенными одноименными входами первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств и одноименным выходом первого соединителя 1, выход тестовых данных которого соединен с объединенными одноименными входами первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств и первого соединителя 1, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных второго контактирующего устройства 6, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных четвертого контактирующего устройства 11, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных третьего контактирующего устройства 10, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных первого контактирующего устройства 5, выход тестовых данных которого соединен с входом тестовых данных первого соединителя, выход шина питания третьего соединителя 8 соединен с объединенными одноименными входами первого 5, второго 6, третьего 10 и четвертого 11 контактирующих устройств и четвертого соединителя 9.
Панель контроля параметров микросхем (фиг. 1) работает следующим образом.
Панель контроля параметров микросхем (фиг. 1) представляет собой печатную плату, предназначенную для контроля электрических параметров и функционального контроля при проведении испытаний на безотказность и электротермотренировки микросхем серий 1891 и 1991. Для каждого типа микросхем серий 1891 и 1991 изготавливается отдельный вид панели с учетом конструкторско-технологических требований на конкретный тип микросхем.
В качестве контактирующего устройства (фиг. 2) используется устройство для микросхем с шариковыми выводами с прижимным захватом выводов контактами в двух точках каждого вывода. Размеры А и В и количество контактов зависят от размеров корпуса микросхемы и количества шариковых выводов.
Прижимной механизм (фиг. 3) с захватом вывода с двух сторон обеспечивает надежный контакт микросхемы с печатной платой, минимальные повреждения выводов во время установки-снятия микросхем и обеспечивает компактный размер самого контактирующего устройства.
Каждая микросхема устанавливается в соответствующее контактирующее устройство 5, 6, 10. и 11. Контрольно-измерительное оборудование при проведении контроля электрических параметров микросхем подключается набор контрольных точек 2, 3, 12 и 13.
Функциональный контроль микросхем на панели контроля параметров микросхем (фиг. 1) проводится средствами скан-тестирования по стандарту IEEE 1149.1 (JTAG).
На панели контроля параметров микросхем (фиг. 1) расположен входной соединитель 1 для подключения внешнего контроллера IEEE 1149.1 (JTAG). Сигналы тестового тактирования и выбора режима тестирования (сигналы TCK и TMS стандарта IEEE 1149.1) с соединителя 1 поступают на контактирующие устройства 5, 6, 10, 11. Перемычка 7 в замкнутом состоянии служит для замыкания входа тестовых данных (сигнал TDI стандарта IEEE 1149.1) с соединителя 1 на вход контактирующего устройства 6. Выход тестовых данных (сигнал TDO стандарта IEEE 1149.1) с контактирующего устройства 6 поступает на вход контактирующего устройства 11. Выход тестовых данных с контактирующего устройства 11 поступает на вход контактирующего устройства 10. Выход тестовых данных с контактирующего устройства 10 поступает на вход контактирующего устройства 5. Выход тестовых данных с контактирующего устройства 5 поступает на соединитель 1.
Для выполнения требования по выборке микросхем для испытаний большей, чем четыре, что позволяет установить одна панель контроля параметров микросхем (фиг. 1), реализована возможность расширения за счет объединения нескольких панелей в одну скан-цепь. Для этого предназначен выходной соединитель 4, расположенный этого на панели. Сигналы тестового тактирования, выбора режима тестирования и вход тестовых данных с соединителя 1 поступают на соединитель 4. Перемычка 7 в разомкнутом состоянии служит для замыкания выхода тестовых данных с соединителя 4 на вход контактирующего устройства 6. В случае объединения нескольких панелей контроля параметров микросхем в одну скан-цепь, перемычка 7 должна быть замкнута у последней панели в цепи, а у остальных разомкнута. Таким образом, для проведения функционального контроля всех микросхем объединенной цепи достаточно одного контроллера IEEE 1149.1 (JTAG), подключаемого к соединителю 1 первой панели в цепи.
Входной соединитель 8 предназначен для подачи питающих напряжений на микросхемы с внешних источников питания, а выходной соединитель 9 предназначен для подачи транзитного питания на другую панель контроля параметров микросхем в случае объединения плат в одну скан-цепь.
Таким образом, обеспечивает возможность контроля параметров одновременно нескольких микросхем.