СПОСОБ НАНЕСЕНИЯ ИДЕНТИФИКАЦИОННОЙ ОТМЕТКИ, ПОДТВЕРЖДАЮЩЕЙ ПОДЛИННОСТЬ ИЗДЕЛИЯ

1. Способ нанесения на продукт идентификационной отметки для подтверждения подлинности, включающий:
выбор подложки и типа идентификационной отметки и
формирование на подложке методом атомно-слоевого осаждения (АСО) идентификационной отметки выбранного типа, причем
формирование идентификационной отметки включает нанесение методом АСО по меньшей мере одного слоя, имеющего заданное свойство, пригодное для его детектирования на подложке соответствующим аналитическим методом.
2. Способ по п. 1, в котором формирование идентификационной отметки включает нанесение на подложку методом АСО ламинатной структуры из нескольких слоев, каждый из которых обладает свойством, пригодным для его детектирования соответствующим аналитическим методом.
3. Способ по п. 2, в котором нанесение ламинатной структуры из нескольких слоев включает нанесение нескольких слоев, имеющих различные заданные свойства.
4. Способ по п. 2, в котором нанесение ламинатной структуры из нескольких слоев включает нанесение нескольких слоев, содержащих различные материалы.
5. Способ по п. 1, в котором выбор подложки включает выбор нанесения идентификационной отметки непосредственно на продукт или на отдельную подложку.
6. Способ по п. 5, дополнительно включающий, в случае выбора нанесения на отдельную подложку, прикрепление идентификационной отметки к продукту.
7. Способ по п. 6, дополнительно включающий покрывание подложки слоем, конфигурируемым с обеспечением возможности удаления подложки с продукта.
8. Способ по п. 5, в котором отдельная подложка содержит по меньшей мере зерно, сферу, частицу, нить или нанотрубку.
9. Способ по п. 1, в котором заданным свойством является толщина слоя, изотопное отношение материала слоя, относительное содержание компонентов материала слоя, оптическое свойство слоя, электрическое свойство слоя или магнитное свойство слоя.
10. Способ по п. 1, в котором аналитический метод включает по меньшей мере один из следующих методов: трансмиссионную спектроскопию, отражательную спектроскопию, флуоресцентную спектроскопию, оптическую спектроскопию, атомно-силовую микроскопию, сканирующую туннельную микроскопию, компьютерную микротомографию, сфокусированный ионный пучок, времяпролетную методику анализа методом детектирования атомов отдачи и спектроскопию диффузного отражения.
11. Способ по п. 1, дополнительно включающий удаление части нанесенного слоя или слоев для формирования трехмерной структуры.
12. Идентификационная отметка для подтверждения подлинности, нанесенная посредством способа согласно любому из предыдущих пунктов.
13. Реактор атомно-слоевого осаждения для нанесения идентификационной отметки для подтверждения подлинности по п. 12.
14. Компьютерная программа, содержащая код для осуществления, при ее запуске на процессоре, способа по любому из пп. 1-11.
15. Запоминающая среда, содержащая компьютерную программу по п. 14.