УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ КОМПОНЕНТОВ, ИМЕЮЩИХ ПО МЕНЬШЕЙ МЕРЕ ОДИН ВСТРОЕННЫЙ МЕТАЛЛОСОДЕРЖАЩИЙ СЛОЙ, СПОСОБ И ПРИМЕНЕНИЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНО-АКУСТИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ

1. Устройство (10) для тестирования электронных компонентов (30), имеющих по меньшей мере один встроенный металлосодержащий слой (32), в частности для тестирования многослойных керамических конденсаторов, причем устройство (10) содержит электромагнитно-акустический преобразователь (12), содержащий блок (14) формирования импульсов, выполненный с возможностью формирования по меньшей мере одного электромагнитного импульса (IMP) внутри тестируемого компонента (30) таким образом, что внутри компонента (30) возникают колебания, создающие электромагнитный сигнал (RES) в ответ на электромагнитный импульс (IMP); содержащий приемный блок (16), выполненный с возможностью приема электромагнитного сигнала (RES); и содержащий модуль (18) обработки результатов, выполненный с возможностью оценки электромагнитного сигнала (RES) по меньшей мере в отношении амплитуды или изменения амплитуды сигнала (RES) по меньшей мере в один момент времени, причем устройство (10) дополнительно содержит блок (20) анализа, выполненный с возможностью сравнения по меньшей мере одной амплитуды или изменения амплитуды сигнала (RES), определенной модулем (18) обработки результатов, по меньшей мере с одним пороговым значением (ТН) и выдачи в зависимости от упомянутого сравнения первого выходного сигнала (SIG1), указывающего, что тестируемый компонент (30) следует рассматривать как исправный, или второго выходного сигнала (SIG2), указывающего, что тестируемый компонент (30) следует рассматривать как дефектный.
2. Устройство по п.1, в котором блок (20) анализа выполнен с возможностью приема по меньшей мере одного первого цифрового ввода и для определения порогового значения (ТН) на основании упомянутого ввода.
PILOT
3. Устройство по п.1, в котором блок (20) анализа выполнен с возможностью определения в первом режиме эксплуатации порогового значения (ТН) из контрольной амплитуды (AMP), определенной модулем (18) обработки результатов.
PILOT
4. Устройство по п.3, в котором блок (20) анализа выполнен с возможностью вычисления порогового значения (ТН) как ТН=AMP*F, где F является коэффициентом между 0,01 и 0,9, предпочтительно между 0,05 и 0,75, особенно предпочтительно между 0,1 и 0,6, и в частности - между 0,15 и 0,5.
5. Устройство по п.1, в котором блок (20) анализа выполнен с возможностью получения в первом режиме эксплуатации порогового значения (ТН) из первой контрольной амплитуды, определенной модулем (18) обработки результатов при тестировании заведомо исправного компонента (30), и из второй контрольной амплитуды, определенной модулем (18) обработки результатов при тестировании заведомо дефектного компонента (30).
6. Устройство по одному из предшествующих пунктов, в котором модуль (18) обработки результатов выполнен с возможностью оценки амплитуды по меньшей мере вблизи резонансной частоты компонента (30).
n
n
7. Устройство по п.1, в котором модуль (18) обработки результатов выполнен с возможностью приема второго цифрового ввода, определяющего по меньшей мере одно из значений из группы переменных n, с и h, и расчета резонансной частоты как f=nc/2h или f=nc/4h, где n является натуральным числом, c - скорость звука внутри компонента (30), a h - длина компонента (30), вдоль которой происходят колебания в компоненте (30).
8. Устройство по п.1, в котором модуль (18) обработки результатов выполнен с возможностью выполнения оценки амплитуды в третьем режиме эксплуатации в частотном интервале около начального значения частоты и определения частоты с максимальной амплитудой в качестве резонансной частоты компонента (30).
9. Устройство по п.1, в котором электромагнитно-акустический преобразователь (12) имеет активную поверхность (22) для излучения электромагнитного импульса (IMP) и/или для приема электромагнитного сигнала (RES), а устройство (10) дополнительно содержит подающее устройство (24), которое автоматически проводит тестируемый компонент вблизи активной поверхности (22), в частности вводит в контакт с активной поверхностью (22).
10. Устройство по п.9, в котором подающее устройство (24) выполнено с возможностью последовательного проведения множества тестируемых компонентов (30), которые размещены на несущем материале (26), по меньшей мере вблизи активной поверхности (22), и в частности с возможностью их приведения в контакт с активной поверхностью (22).
11. Устройство по п.1, в котором импульс (IMP) имеет длительность менее 10 мкс, предпочтительно менее 2 мкс, в особенности предпочтительно менее 1 мкс, и в частности - менее 500 нс.
12. Система (11) с устройством по одному из предшествующих пунктов и по меньшей мере с одним тестируемым компонентом (30), при этом компонент (30) является, в частности, многослойным конденсатором.
13. Способ тестирования электронных компонентов (30), имеющих по меньшей мере один встроенный металлосодержащий слой (32), в частности многослойных конденсаторов, причем способ содержит этапы, на которых:
- излучают (S5) по меньшей мере один электромагнитный импульс (IMP) в тестируемый компонент (30) таким образом, что внутри компонента (30) возникают колебания, создающие электромагнитный сигнал (RES) в ответ на электромагнитный импульс (IMP),
- принимают (S6) электромагнитный сигнал (RES),
- оценивают (S7) электромагнитный сигнал (RES) по меньшей мере в отношении амплитуды или изменения амплитуды сигнала (RES) по меньшей мере в один момент времени,
- сравнивают (S8) определенную амплитуду электромагнитного сигнала по меньшей мере с одним пороговым значением (ТН), и
- формируют (S9) первый выходной сигнал (SIG1), указывающий, что тестируемый компонент (30) следует рассматривать как исправный, или формируют (S10) второй выходной сигнал (SIG2), указывающий, что тестируемый компонент (30) следует рассматривать как дефектный.
14. Способ по п.13, дополнительно содержащий этапы, на которых:
PILOT
- определяют (S2) контрольную амплитуду (AMP) при тестировании заведомо исправного или заведомо дефектного компонента (30), и
PILOT
- определяют (S3) пороговое значение (ТН) на основании полученной контрольной амплитуды (AMP).
15. Применение электромагнитно-акустического преобразователя (12) для тестирования электронных компонентов (30), имеющих по меньшей мере один встроенный металлосодержащий слой (32), в частности многослойных керамических конденсаторов.