СПОСОБ ПОЛЕВОЙ МИКРОСКОПИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА

1. Способ полевой микроскопии, состоящий в том, что объект помещают в диэлектрическую среду или в вакуум и регистрируют параметры электромагнитного поля на поверхности, расположенной в пространстве, окружающем объект, а затем производят вычислительное восстановление поля в объеме, в котором расположен изучаемый объект, отличающийся тем, что в качестве указанной поверхности используют электропроводящую пластину и измеряют плотность распределения электрических зарядов по ней, с последующим вычислительным восстановлением электростатического поля в объеме, в котором расположен объект.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в качестве изображающих электрических полей используют естественные электрические поля, создаваемые самим объектом.
3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что между указанной электропроводящей пластиной и объектодержателем, прикладывают постоянное напряжение от отдельного источника.
4. Устройство для осуществления предлагаемого способа, содержащее измерительный зонд, выполненный из электропроводящего материала, соединенный с измерителем тока и с датчиками положения зонда, и закрепленный с возможностью совершать перемещения по двум координатам, отличающееся тем, что указанный измерительный зонд содержит электропроводящую пластину и точечный чувствительный элемент, изолированный от указанной пластины и расположенный на ее поверхности, обращенной к объекту, а плоскость ориентации указанной пластины совпадает с плоскостью движений измерительного зонда.
5. Устройство по п. 4, отличающееся тем, указанная электропроводящая пластина выполнена в виде металлического монокристалла, а чувствительный элемент выполнен в виде электропроводного, покрытого изоляционным слоем острия, расположенного в объеме указанной пластины, причем вершина острия совмещена с поверхностью указанного монокристалла.