СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ ЯИЦ

1. Способ проверки яиц, в частности определения характеристик скорлупы яиц, согласно которому:
располагают яйца, которые должны быть проверены,
деформируют часть такого яйца с помощью деформирующего устройства по меньшей мере один раз,
по меньшей мере определяют время деформирующего контакта и
определяют жесткость оболочки и/или прочность скорлупы такого яйца, в частности используя указанное определенное время деформирующего контакта.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что жесткость оболочки и/или прочность яичной скорлупы определяют с использованием первоначальной скорости деформирующего устройства при контакте и указанного времени деформирующего контакта.
3. Способ по п.1 или 2, отличающийся тем, что также измеряют отклонение или деформацию относительно первоначального положения.
4. Способ по п.1 или 2, отличающийся тем, что деформацию осуществляют во время совершения ударных воздействий с последующими отскоками, в частности совершения ударных воздействий деформирующим устройством относительно яйца с последующими отскоками.
5. Устройство для проверки яиц, в частности для определения характеристик скорлупы яиц, содержащее:
деформирующее устройство для по меньшей мере одного деформирования части такого яйца,
обнаруживающее устройство для по меньшей мере определения времени деформирующего контакта и
центральный обрабатывающий блок для определения жесткости оболочки и/или прочности яичной скорлупы с помощью указанного времени деформирующего контакта.
6. Устройство по п.5, отличающееся тем, что деформирующее устройство содержит шарик, выполненный с возможностью совершения ударных воздействий на яйцо с последующими отскоками,
причем устройство при необходимости выполнено с возможностью измерения первоначальной скорости шарика при контакте, представляющей собой производную от времени совершения ударного воздействия с последующим отскоком, равного времени между двумя последовательными ударами.
7. Устройство по п.6, отличающееся тем, что управление ударными воздействиями шариком с последующими отскоками реализовано по существу посредством гравитационного поля.
8. Устройство по п.6, отличающееся тем, что управление ударными воздействиями шариком с последующими отскоками реализовано по существу посредством электромагнитного поля.
9. Устройство по п.6, отличающееся тем, что управление ударными воздействиями шариком с последующими отскоками реализовано посредством комбинации электромагнитного поля и гравитационного поля.
10. Устройство по п.5, отличающееся тем, что оно выполнено с возможностью определения первоначальной скорости деформирующего устройства при контакте.
11. Устройство по. 5, отличающееся тем, что оно выполнено с возможностью использования первоначальной скорости деформирующего устройства при контакте для определения указанной жесткости оболочки и/или прочности яичной скорлупы.
12. Устройство по п.6, отличающееся тем, что оно также содержит оптическое обнаруживающее устройство для определения отклонения или деформации яйца относительно первоначального положения.
13. Устройство по п.12, отличающееся тем, что оптическое обнаруживающее устройство содержит камеру или лазерный виброметр.
14. Способ сортировки яиц, в котором способ по любому из пп.1-4 применяют для определения жесткости яичной скорлупы и/или прочности яичной скорлупы во время указанной сортировки.
15. Устройство для сортировки яиц, в котором устройство по любому из пп.5-13 применяют для определения жесткости яичной скорлупы и/или прочности яичной скорлупы во время указанной сортировки.