ДАТЧИК ДЛЯ МИКРОСКОПИИ

1. Способ микроскопического формирования изображения образца сканером, содержащим датчик, включающий в себя двумерный массив пикселов в системе координат XY, при этом ось Y является по существу перпендикулярной к направлению сканирования, в котором сканер располагают так, чтобы датчик мог формировать изображение косого поперечного сечения образца, и в котором способ содержит этапы, на которых:
- активируют первый подмассив двумерного массива пикселов, при этом первый подмассив продолжается преимущественно вдоль оси Y при первой координате X(X1),
- создают первое изображение, формируя изображение первого участка образца посредством первого подмассива пикселов.
2. Способ по п.1, дополнительно содержащий этапы, на которых:
- сканируют образец;
- активируют второй подмассив двумерного массива пикселов, при этом второй подмассив продолжается преимущественно вдоль оси Y при второй координате Х (Х2), отличающейся от первой координаты Х (Х1),
- создают второе изображение, формируя изображение второго участка образца посредством второго подмассива пикселов.
3. Способ по п.2, содержащий этап построения составного изображения образца путем объединения первого и второго изображений.
4. Способ по п.1, содержащий этап обеспечения первой координаты.
5. Способ по п.1, содержащий этап определения первой координаты Х (Х1) так, чтобы первый подмассив был способен обеспечить первое изображение при заранее заданном фокусе.
6. Способ по п.2, содержащий этап определения первой и второй координат Х (Х1, Х2) так, чтобы первый и второй подмассивы были способны обеспечить изображения при, по существу, одинаковом фокусе.
7. Способ по п.1, содержащий этапы, на которых:
- формируют изображение второго участка образца с заранее заданным поднабором пикселов двумерного массива указанного датчика, при этом поднабор является отличающимся от подмассива пикселов,
- получают информацию о фокусе из этого изображения, и
- определяют первую координату Х (Х1) из информации о фокусе.
8. Способ по п.7, содержащий этап активации заранее заданного поднабора пикселов так, чтобы он продолжался преимущественно вдоль оси Х при прямоугольной форме.
9. Способ по п.7 или 8, в котором поднабор пикселов распределяют по меньшей мере по двум отдельным областям в двумерном массиве пикселов.
10. Способ по п.1, в котором образец имеет некоторую толщину и способ содержит этап обеспечения информации о глубине (Z) в пределах толщины, на которой первый подмассив пикселов может формировать изображение образца при заранее заданном фокусе, и этап определения первой координаты Х (Х1) в соответствии с этой нформацией о глубине.
11. Способ по любому из пп.5-8, 10 в котором заранее заданный фокус соответствует наилучшей фокусировке.
12. Способ по п.1, в котором поперечное сечение образца является косым относительно направления сканирования.
13. Способ по п.1, в котором сканер содержит держатель образца, включающий в себя удерживающую поверхность, и в котором двумерный массив пикселов лежит по существу в плоскости, которая образует угол наклона относительно указанной удерживающей поверхности.
14. Способ по п.1, в котором двумерным датчиком массива управляют для имитации одномерного линейного датчика, активируя первый подмассив так, чтобы он содержал вдоль оси Y меньше чем три ряда пикселов, а предпочтительно только один ряд пикселов, или для имитации одномерного N-каскадного датчика с временной задержкой и накоплением, активируя первый подмассив так, чтобы он содержал вдоль оси Y в каждом каскаде меньше трех рядов пикселов, а предпочтительно только один ряд пикселов.
15. Сканирующий микроскоп для формирования изображения образца, выполненный с возможностью осуществления способа по любому из предшествующих пунктов.
16. Применение двумерного датчика массива, включающего в себя двумерный массив пикселов в системе координат XY, в качестве имитируемого X-линейного датчика для формирования изображения косого поперечного сечения образца.
17. Применение двумерного датчика массива по п.16, такое, что первый подмассив двумерного массива пикселов активируется при этом первый подмассив продолжается преимущественно вдоль оси Y при первой координате X(X1), и
такое, что первое изображение создается путем формирования изображения первого участка образца посредством первого подмассива пикселов.
18. Применение двумерного датчика массива по п.16 или 17,
в котором двумерный датчик массива используется в качестве одномерного линейного датчика для формирования изображения.
19. Применение двумерного датчика массива по п.18,
в котором положение X регулярно корректируют до обновленных положений, при которых одномерная линия будет находиться в фокусе.
20. Применение двумерного датчика массива по одному из пп.16 или 17, такое, что первый подмассив перемещается вдоль оси Х, при этом происходит пересечение I между косым поперечным сечением и образцом, посредством чего образец удерживается в заданном фокусе.
21. Приспособление для формирования изображения косого поперечного сечения образца, содержащее:
датчик, включающий в себя двумерный массив пикселов в системе координат XY;
управляющий модуль;
в котором управляющий модуль выполнен с возможностью активации первого подмассива двумерного массива пикселов, при этом первый подмассив продолжается преимущественно вдоль оси Y при первой координате X(X1), и
в котором управляющий модуль выполнен с возможностью создания первого изображения путем формирования изображения первого участка образца посредством первого подмассива пикселов.
22. Приспособление по п.21,
в котором управляющий модуль выполнен с возможностью активации второго подмассива двумерного массива пикселов, при этом второй подмассив продолжается преимущественно вдоль оси Y при второй координате X(X2), отличающейся от первой координаты X(X1), и
в котором управляющий модуль выполнен с возможностью создания второго изображения путем формирования изображения второго участка образца посредством второго подмассива пикселов.
23. Приспособление по п.21,
в котором управляющий модуль выполнен с возможностью определения первой координаты X(X1) так, чтобы первый подмассив был способен обеспечивать первое изображение при заранее заданном фокусе, и
в котором заранее заданный фокус соответствует наилучшей фокусировке.
24. Приспособление по п.21,
в котором управляющий модуль выполнен с возможностью формирования изображений второго участка образца заранее заданным поднабором пикселов двумерного массива указанного датчика, при этом поднабор является отличающимся от подмассива пикселов,
в котором управляющий модуль выполнен с возможностью получения информации о фокусе на основании этого изображения, и
в котором управляющий модуль выполнен с возможностью определения первой координаты X(X1) на основании информации о фокусе.