ТЕКСТУРИРОВАННАЯ ЭЛЕКТРОТЕХНИЧЕСКАЯ СТАЛЬ С УЛУЧШЕННЫМИ ХАРАКТЕРИСТИКАМИ ФОРСТЕРИТОВОГО ПОКРЫТИЯ

1. Лист электротехнической стали с по меньшей мере одной поверхностью, при этом в состав листа электротехнической стали входит хром в концентрации примерно 0,7 мас.% или более в по меньшей мере одной точке в области, определяемой глубиной примерно 0,5-2,5 мкм от упомянутой по меньшей мере одной поверхности, как измерено после обезуглероживающего отжига и до высокотемпературного отжига.
2. Лист электротехнической стали по п.1, дополнительно включающий в себя форстеритовое покрытие на упомянутой по меньшей мере одной поверхности, при этом в состав форстеритового покрытия входит кислород в концентрации, большей или равной 7,0 мас.%, в по меньшей мере одной точке в области, определяемой глубиной примерно 2-3 мкм от упомянутой по меньшей мере одной поверхности.
3. Лист электротехнической стали, включающий в себя форстеритовое покрытие и вторичное покрытие на по меньшей мере одной своей поверхности, причем полоса электротехнической стали содержит хром в концентрации примерно 0,45 мас.% или более, при этом форстеритовое покрытие и вторичное покрытие, по существу, не проявляют дефектов расслоения после испытания на адгезию покрытия.
4. Лист электротехнической стали по п.3, в котором содержание хрома составляет от примерно 0,45 мас.% до примерно 2,0 мас.%.
5. Лист электротехнической стали по п.3, в котором содержание хрома больше или равно примерно 0,7 мас.%.
6. Лист электротехнической стали по п.5, в котором содержание хрома составляет от примерно 0,7 мас.% до примерно 2,0 мас.%.
7. Лист электротехнической стали по п.3, в котором содержание хрома больше или равно примерно 1,2 мас.%.
8. Лист электротехнической стали по п.7, в котором содержание хрома составляет от примерно 1,2 мас.% до примерно 2,0 мас.%.
9. Лист электротехнической стали, включающий в себя по меньшей мере одну поверхность, причем лист электротехнической стали включает поверхностную область, определяемую глубиной, меньшей или равной 2,5 мкм от упомянутой по меньшей мере одной поверхности, и объемную область, определяемую глубиной более чем 2,5 мкм от упомянутой по меньшей мере одной поверхности, при этом концентрация хрома упомянутой поверхностной области является большей, чем концентрация хрома в упомянутой объемной области, при измерении после обезуглероживающего отжига и до высокотемпературного отжига.