ОСВЕТИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО УСТАНОВКИ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ПЛОТНОСТИ ОБРАЗЦА В ОТРАЖЁННОМ СВЕТЕ

Полезная модель относится к области измерения оптических характеристик материалов в отраженном свете, при котором используется освещение образца сходящимся световым потоком, и может быть использована для измерения оптической плотности образца в отраженном свете.
Из уровня техники известно осветительное устройство, содержащее корпус, в котором закреплены лампа с фокусирующим кольцевым отражателем и размещенный между лампой и образцом отклоняющий элемент в виде небольшого зеркала, отводящего от образца прямой свет лампы, и пучка оптических волокон, направляющего отраженный от образца свет к измерительному устройству (см. патент GB 1164799, кл. G01N 21/47, опубл. 24.09.1969). Известное устройство встроено в сканирующую оптическую головку и в процессе работы осуществляет паразитный нагрев поверхности образца сфокусированным излучением лампы накаливания, интенсивность излучения которой имеет максимальное значение в инфракрасной (ИК) области спектра.
Таким образом, технической проблемой является создание независимого осветительного устройства, которое может быть использовано в ходе поверки или калибровки в составе метрологической установки для измерения диффузной оптической плотности образца в отраженном свете. Технический результат заключается в повышении точности измерений диффузной оптической плотности, проводимых с использованием предлагаемого устройства.
Указанная проблема решается, а технический результат достигается тем, что в осветительном устройстве установки для измерения оптической плотности образца в отраженном свете, содержащем корпус, в котором закреплены лампа с фокусирующим кольцевым отражателем и размещенный между лампой и образцом отклоняющий элемент, отводящий от образца прямой свет лампы и направляющий отраженный от образца свет к измерительному устройству, отклоняющий элемент выполнен в виде призмы, а внутри корпуса на пути света, идущего от кольцевого отражателя к образцу, распложен ИК-фильтр. ИК-фильтр предпочтительно обрезает свет с длиной волны более 770 нм и выполнен в форме диска, кольцевой пластины или полого цилиндра. Осветительное устройство предпочтительно снабжено выходной диафрагмой.
На чертеже представлена схема предлагаемого устройства с фильтром в форме диска.
Предлагаемое осветительное устройство заключено в корпус 1, внутри которого закреплены лампа 2, фокусирующий кольцевой отражатель 3 и отклоняющий элемент 4 между ними. Отражатель 3 выполнен в виде участка сферического или параболического зеркала и формирует сходящийся кольцевой конус излучения, освещающий участок образца 5 диффузного отражения со стороны периферии. Элемент 4 выполнен в виде прямоугольной оптической призмы (с острым углом ~45°), отводящий от образца 5 прямой свет лампы 2 и направляющий отраженный от образца 5 свет к измерительному устройству 6.
На пути света, идущего от кольцевого отражателя 3 к образцу 5, внутри корпуса 1 установлен ИК-фильтр 7. Фильтр 7 обрезает свет с длиной волны более 770 нм, тем самым, исключая паразитный нагрев образца 5. Фильтр 7 может быть выполнен в форме диска, кольцевой пластины или полого цилиндра. Осветительное устройство предпочтительно снабжено выходной диафрагмой 8, располагаемой непосредственно перед образцом 5.
Снабжение предлагаемого осветительного устройства ИК-фильтром позволяет значительно повысить точность проводимых измерений, поскольку в процессе освещения образец не нагревается излучением в инфракрасной (ИК) области спектра, благодаря чему исключается соответствующее искажение истинного спектра диффузного отражения. При этом выполнение отклоняющего элемента в виде призмы позволяет избежать краевых эффектов и увеличивает общую освещенность образца 5, что также повышает точность измерений и уменьшает бюджет погрешностей.