Статья

Статья

Краткие сообщения

1998. Т. 36. № 1. С. 161–164

Юндев Д.Н., Рогаткин Д.А., Моисеева Л.Г.

Оптический интерференционный метод исследования кинетики термолиза и испарения тонкого слоя вещества при воздействии ультразвука

Предложена методика измерения времени жизни вещества, наносимого на подложку способом отпечатка, основанная на использовании интерференции лазерного излучения в системе подложка–пленка вещества в сочетании с быстродействующей системой фотоэлектрической регистрации. Использование ее представляет интерес в исследованиях тонких эффектов кинетики превращения веществ в условиях перегрева и действия различных внешних факторов.

Ссылка на статью:

Юндев Д.Н., Рогаткин Д.А., Моисеева Л.Г.

Оптический интерференционный метод исследования кинетики термолиза и испарения тонкого слоя вещества при воздействии ультразвука, ТВТ, 1998. Т. 36. № 1. С. 161

High Temp. 1998, v.36, №1, pp. 160-162