СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ СИНДРОМА УМСТВЕННОЙ ОТСТАЛОСТИ, СЦЕПЛЕННОЙ С ЛОМКОЙ ХРОМОСОМОЙ X (FXS), У ДЕТЕЙ И ПОДРОСТКОВ В ВОЗРАСТЕ ОТ 3 ДО 19 ЛЕТ ПО ДАННЫМ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЭГ

Способ диагностики синдрома умственной отсталости, сцепленной с ломкой хромосомой X (FXS) у детей и подростков по данным спектрального анализа ЭЭГ, заключающийся в том, что у пациента (возраст 3-19 лет) регистрируют электроэнцефалограмму с использованием международной схемы расположения электродов 10-20% с объединенным ушным электродом и определяют значения нормализованной относительной спектральной мощности в альфа-стандартной полосе (8-13 Гц) в отведении Т5 и натурального логарифма спектральной мощности в альфа-стандартной полосе (8-13 Гц) в отведении Ο1, нормализованную когерентность в альфа-стандартной полосе (8-13 Гц) между отведениями Cz и С3, нормализованную когерентность в тета-стандартной полосе (4-8 Гц) между отведениями O2 и Ο1, натуральный логарифм отношения спектральной мощности в альфа-стандартной полосе (8-13 Гц) к спектральной мощности в стандартной бета-2 полосе (20-30 Гц) в отведении Pz, определяют значение показателя
Υ = -2,9 * (LRP (Т5) 8-13) - 1,0 * (LnP (O1) 8-13) - 2,0 * (LCoh (Cz-C3) 8-13) + 3,0 * (LCoh (O2-O1) 4-8) - 2,1 * (Ln (Ρ (8-13) / Ρ (20-30)) _ Pz) + 6,9,
и при значении показателя Υ≥0 испытуемого относят к группе пациентов с синдромом умственной отсталости, сцепленной с ломкой хромосомой X(FXS), при Υ<0 - к группе типичного развития.