СПОСОБ СОЗДАНИЯ СИГНАТУРЫ ДЛЯ ДРАГОЦЕННОГО КАМНЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РЕНТГЕНОВСКОЙ ВИЗУАЛИЗАЦИИ

1. Способ создания сигнатуры для драгоценного камня с использованием рентгеновской визуализации, причем сигнатура содержит трехмерную карту по меньшей мере одного кристалла, присутствующего в драгоценном камне, включая внутренние недостатки упомянутого по меньшей мере одного кристалла; причем способ включает в себя этапы:
установки драгоценного камня в держателе образца аппарата визуализации, причем аппарат визуализации содержит держатель образца, установленный на столике образца, по меньшей мере один рентгеновский источник, причем держатель образца и упомянутый по меньшей мере один рентгеновский источник выставлены по оптической оси, причем держатель образца является перемещаемым в по меньшей мере одной степени свободы относительно упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника и упомянутого по меньшей мере одного детектора;
экспонирования установленного драгоценного камня под рентгеновским излучением от упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника во время перемещения держателя образца относительно упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника и упомянутого по меньшей мере одного детектора в соответствии со стратегией поиска, которую предварительно определяют для драгоценного камня на основании известных физических характеристик этого драгоценного камня;
использования упомянутого по меньшей мере одного детектора для локализации пятен дифракции и/или экстинции, создаваемых решеткой упомянутого по меньшей мере одного кристалла;
использования локализованных пятен дифракции и/или экстинции для вычисления информации о положении, ориентации и фазе упомянутого по меньшей мере одного кристалла;
создания подходящей стратегии рентгеновского дифракционного сканирования по вычисляемой информации, причем стратегия включает в себя перемещение держателя образца относительно упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника и упомянутого по меньшей мере одного детектора и экспонирование драгоценного камня под подходящим рентгеновским излучением от упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника по мере перемещения держателя образца, причем стратегию создают для наблюдения достаточного числа и качества изображений дифракции и/или экстинции для конкретных плоскостей решетки упомянутого по меньшей мере одного кристалла для локализации и классифицирования внутренних недостатков кристаллической решетки;
сканирования драгоценного камня в соответствии со стратегией сканирования и регистрации изображений дифракции и/или экстинции с использованием упомянутого по меньшей мере одного детектора; и
создания сигнатуры по регистрируемым изображениям дифракции и/или экстинции.
2. Способ по п. 1, причем держатель образца является перемещаемым в по меньшей мере двух степенях свободы относительно упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника и упомянутого по меньшей мере одного детектора.
3. Способ по п. 2, причем держатель образца является перемещаемым в по меньшей мере трех степенях свободы относительно упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника и упомянутого по меньшей мере одного детектора.
4. Способ по любому предшествующему пункту, причем сигнатура дополнительно содержит карту поверхностных дефектов драгоценного камня.
5. Способ по любому предшествующему пункту, причем сигнатура дополнительно содержит классификационную информацию о внутренних недостатках.
6. Способ по любому предшествующему пункту, причем упомянутый по меньшей мере один рентгеновский источник выдает полихроматический спектр.
7. Способ по любому из пп 1-5, причем упомянутый по меньшей мере один рентгеновский источник выдает монохроматический спектр.
8. Способ по любому предшествующему пункту, причем аппарат визуализации дополнительно содержит блок обработки, управляющий этапами:
экспонирования установленного драгоценного камня под рентгеновским излучением от упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника во время перемещения держателя образца в соответствии со стратегией поиска, которую предварительно определяют для драгоценного камня на основании известных физических характеристик этого драгоценного камня;
использования упомянутого по меньшей мере одного детектора для локализации пятен дифракции и/или экстинции, создаваемых решеткой упомянутого по меньшей мере одного кристалла;
использования локализованных пятен дифракции и/или экстинции для вычисления информации о положении, ориентации и фазе упомянутого по меньшей мере одного кристалла;
создания подходящей стратегии рентгеновского дифракционного сканирования по вычисляемой информации, причем стратегия включает в себя перемещение держателя образца относительно упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника и упомянутого по меньшей мере одного детектора и экспонирование драгоценного камня под подходящим рентгеновским излучением от упомянутого по меньшей мере одного рентгеновского источника по мере перемещения держателя образца, причем стратегию создают для наблюдения достаточного числа и качества изображений дифракции и/или экстинции для конкретных плоскостей решетки упомянутого по меньшей мере одного кристалла для локализации внутренних недостатков кристаллической решетки;
сканирования драгоценного камня в соответствии со стратегией сканирования и регистрации изображений дифракции и/или экстинции с использованием упомянутого по меньшей мере одного детектора; и
создания сигнатуры по регистрируемым изображениям дифракции и/или экстинции.
9. Способ по любому предшествующему пункту, причем аппарат визуализации обладает способностью осуществлять топотомографическое сканирование.
10. Способ по любому предшествующему пункту, причем аппарат визуализации представляет собой сканер с дифракцией в прямом направлении.
11. Способ по п. 10, причем столик образца имеет по меньшей мере три степени поступательной свободы и три степени вращательной свободы.
12. Способ по любому из пп. 1-11, причем аппарат визуализации представляет собой одно из:
компактного прибора, содержащего столик образца, неподвижно установленный детектор высокого разрешения и неподвижно установленный полихроматический рентгеновский источник, который обеспечивает эффективный размер источника меньше чем 100 микрометров и расходящийся пучок; причем столик образца является вращаемым вокруг по меньшей мере двух осей;
секционного топографического аппарата, содержащего один детектор, который расположен вне оптической оси и ориентирован в направлении столика образца так, что он может обнаруживать дифрагированные пучки от драгоценного камня так, что можно получать достаточное пространственное представление дефекта решетки внутри облучаемой секции драгоценного камня; или
аппарата рентгеновской томографии, который регистрирует пятна экстинции в прямом рентгеновском пучке, но не пятна дифракции.
13. Способ по любому предшествующему пункту, причем стратегия поиска, которую предварительно определяют, представляет собой:
вращение драгоценного камня вокруг оси, перпендикулярной оптической оси; регистрацию изображений с фиксированными интервалами с использованием по меньшей мере одного детектора; и анализ регистрируемых изображений на предмет изменений в измеряемой рентгеновской интенсивности.
14. Способ по любому предшествующему пункту, причем сигнатура содержит информацию о кристаллографической фазе упомянутого по меньшей мере одного кристалла, причем кристаллографическую фазу определяют по списку возможных кандидатов на материал драгоценного камня.
15. Способ по любому предшествующему пункту, причем сигнатура содержит информацию о кристаллографической фазе упомянутого по меньшей мере одного кристалла, причем кристаллографическую фазу определяют во время процесса индексирования посредством исполнения кристаллографических критериев, описывающих возможный список фаз.
16. Способ по любому предшествующему пункту, причем созданная стратегия сканирования включает в себя топотомографическое сканирование.
17. Способ по любому предшествующему пункту, причем во время этапа сканирования драгоценного камня в соответствии со стратегией сканирования больше чем одно пятно дифракции и/или экстинции регистрируют одновременно на упомянутом по меньшей мере одном детекторе.
18. Способ по любому предшествующему пункту, причем созданная стратегия сканирования включает в себя визуализацию драгоценного камня для получения томографических изображений и/или реконструкций поверхностей драгоценного камня.
19. Способ по любому предшествующему пункту, причем сигнатура содержит информацию об ориентации и местоположении сигнатуры относительно одного или более из:
модели поверхности драгоценного камня;
модели объема драгоценного камня;
плоских граней драгоценного камня;
видимых опорных точек драгоценного камня.
20. Способ по любому предшествующему пункту, причем сигнатура содержит одно или более из:
прямой реконструкции в оттенках для внутренней структуры упомянутого по меньшей мере одного кристалла;
неклассифицированных локальных дефектов внутренней структуры упомянутого по меньшей мере одного кристалла;
классифицированных локальных дефектов внутренней структуры упомянутого по меньшей мере одного кристалла;
статистики локальных дефектов; и
информации о напряжении, деформации или схожих полях деформаций внутри упомянутого по меньшей мере одного кристалла.
21. Способ идентификации драгоценного камня среди записей для группы драгоценных камней, для которых сигнатура предварительно создана, включающий в себя этапы: создания сигнатуры для драгоценного камня с использованием способа по любому предшествующему пункту; и сравнения созданной сигнатуры с одной или более из предварительно созданных сигнатур, чтобы установить соответствие между записями.
22. Способ по п. 21, причем этап сравнения включает в себя этап корреляции, причем созданную сигнатуру сравнивают с предварительно созданными сигнатурами с использованием информации о некоторых или всех внутренних недостатках в созданной сигнатуре и получают доверительную метрику для корреляции между созданной сигнатурой и предварительно созданными сигнатурами.
23. Способ определения того, является ли драгоценный камень природным или синтетическим, включающий этапы:
создания сигнатуры для драгоценного камня по любому из пп. 1-20; и
оценки признаков сигнатуры, чтобы определить, являются ли они характеристикой природного или синтетического драгоценного камня.
24. Способ определения того, подвергался ли драгоценный камень физической обработке, включающий в себя этапы:
создания сигнатуры для драгоценного камня по любому из пп. 1-20;
и оценки признаков сигнатуры, чтобы определить, имеет ли драгоценный камень какие-либо признаки, характерные для одной или более конкретных физических обработок в текущем наблюдаемом состоянии камня, или при сравнении с предварительно созданной сигнатурой одного и того же камня.
25. Способ, причем сигнатуру, созданную по любому из пп. 1-20, используют для получения компьютерной модели и рендеринга драгоценного камня, имитирующей визуальный внешний вид драгоценного камня при визуальном осмотре.
26. Способ для схемы огранки драгоценного камня включающий в себя этапы: создания сигнатуры для драгоценного камня с использованием способа по любому из пп. 1-20; и разработки плана огранки на основании сигнатуры драгоценного камня.
27. Способ оценки ценности драгоценного камня с использованием сигнатуры, созданной по любому из пп. 1-20, причем информацию о внутренних недостатках драгоценного камня из сигнатуры объединяют с моделью поверхности или объема драгоценного камня, чтобы давать информацию для оценки ценности драгоценного камня.
28. Способ предсказания 4C оценки драгоценного камня, причем сигнатуру создают для драгоценного камня с использованием способа по любому из пп. 1-20, а 4C оценку предсказывают по информации в сигнатуре.
29. Способ рендеринга или визуализации изображения или кинофрагмента по сигнатуре, созданной для драгоценного камня с использованием способа по любому из пп. 1-20, чтобы продемонстрировать внутренние признаки драгоценного камня.
30. Способ создания сигнатуры для драгоценного камня с использованием способа по любому из пп. 1-20, причем сигнатуру создают в проверенной процедуре и используют для того, чтобы подтверждать естественное происхождение драгоценного камня в качестве доказательства местоположения и обстоятельств извлечения драгоценного камня в процессе добычи.
31. Способ создания сигнатуры для драгоценного камня с использованием способа по любому из пп. 1-20, причем сигнатуру создают в проверенной процедуре и используют для того, чтобы подтверждать искусственное/рукотворное/синтетическое происхождение драгоценного камня в качестве доказательства местоположения и обстоятельств получения драгоценного камня в контролируемом промышленном процессе.