ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЕМКОСТИ ДЛЯ АНАЛИЗА ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО АЛМАЗА

1. Система измерения электрической емкости, содержащая:
устройство измерения емкости, содержащее положительный вывод и отрицательный вывод;
выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;
первый провод, электрически соединяющий положительный вывод с первой поверхностью выщелоченного компонента; и
второй провод, электрически соединяющий отрицательный вывод со второй поверхностью выщелоченного компонента, причем вторая поверхность расположена напротив первой поверхности,
при этом устройство измерения емкости выполнено с возможностью измерять емкость выщелоченного компонента.
2. Система измерения емкости по п.1, в которой устройство измерения емкости содержит мультиметр.
3. Система измерения емкости по п.1, дополнительно содержащая:
первый проводящий компонент, примыкающий к первой поверхности выщелоченного компонента и находящийся в контакте с ней; и
второй проводящий компонент, примыкающий ко второй поверхности выщелоченного компонента и находящийся в контакте с ней, при этом первый провод соединен с первым проводящим компонентом, а второй провод соединен со вторым проводящим компонентом.
4. Система измерения емкости по п.3, в которой первый проводящий компонент и второй проводящий компонент являются, по существу, аналогичными по размеру и форме.
5. Система измерения емкости по п.3, дополнительно содержащая:
первую нагрузку, прикладываемую к первому проводящему компоненту в направлении ко второй поверхности; и
вторую нагрузку, прикладываемую ко второму проводящему компоненту в направлении к первой поверхности,
при этом первый проводящий компонент является деформируемым и адаптируемым к первой поверхности, а второй проводящий компонент является деформируемым и адаптируемым ко второй поверхности.
6. Система измерения емкости по п.5, в которой первая и вторая нагрузки равны по величине и противоположны по направлению.
7. Система измерения емкости по п.3, дополнительно содержащая:
первый изолирующий компонент, примыкающий к первому проводящему компоненту и находящийся в контакте с ним;
второй изолирующий компонент, примыкающий ко второму проводящему компоненту и находящийся в контакте с ним;
первую нагрузку, прикладываемую к первому изолирующему компоненту в направлении ко второй поверхности; и
вторую нагрузку, прикладываемую ко второму изолирующему компоненту в направлении к первой поверхности,
при этом первый проводящий компонент является деформируемым и адаптируемым к первой поверхности, а второй проводящий компонент является деформируемым и адаптируемым ко второй поверхности.
8. Система измерения емкости по п.1, в которой выщелоченный слой содержит по меньшей мере часть побочного материала, удаляемого из него.
9. Способ получения характеристики качества поликристаллической структуры, содержащий этапы, на которых:
получают выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;
измеряют по меньшей мере одно значение емкости выщелоченного компонента; и
получают характеристику качества поликристаллической структуры.
10. Способ по п.9, в котором дополнительно получают калибровочную кривую, показывающую зависимость между множеством значений емкости и множеством значений фактической глубины выщелачивания в поликристаллической структуре,
при этом для получения характеристики качества поликристаллической структуры используют одно или более измеренных значений емкости выщелоченного компонента для оценки фактической глубины выщелачивания в выщелоченном компоненте.
11. Способ по п.9, в котором дополнительно получают калибровочную кривую, показывающую зависимость между множеством значений емкости и множеством значений фактической глубины выщелачивания в поликристаллической структуре,
при этом при получении характеристики качества поликристаллической структуры:
определяют усредненное значение по меньшей мере из одного измеренного значения емкости выщелоченного компонента; и
используют усредненное значение и калибровочную кривую для оценки фактической глубины выщелачивания в выщелоченном компоненте.
12. Способ по п.9, в котором дополнительно выполняют деполяризацию выщелоченного компонента.
13. Способ по п.12, в котором деполяризацию выщелоченного компонента выполняют перед измерением каждого измеряемого значения емкости и/или после измерения каждого измеряемого значения емкости.
14. Способ по п.12, в котором при деполяризации выщелоченного компонента заземляют выщелоченный компонент, и/или оборачивают выщелоченный компонент в деполяризирующий материал, и/или подвергают тепловой обработке выщелоченный компонент, и/или помещают выщелоченный компонент в солевой раствор, и/или ожидают в течение некоторого периода времени.
15. Способ по п.9, в котором дополнительно очищают поликристаллическую структуру от одного или более побочных материалов, при этом побочные материалы образованы в поликристаллической структуре во время процесса выщелачивания, при котором удаляется из нее по меньшей мере часть материала катализатора и образуется выщелоченный компонент.
16. Способ по п.9, в котором дополнительно:
измеряют множество значений емкости для каждого из множества выщелоченных компонентов, причем каждый выщелоченный компонент образован во время одного и того же процесса выщелачивания,
при этом при получении характеристики качества поликристаллической структуры используют множество измеренных значений емкости для каждого выщелоченного компонента, с тем, чтобы определить качество микроструктуры поликристаллической структуры для каждого выщелоченного компонента.
17. Способ по п.16, в котором дополнительно:
определяют диапазон разброса данных для каждого из множества выщелоченных компонентов, исходя из множества измеренных значений емкости,
при этом для получения характеристики качества поликристаллической структуры используют диапазон разброса данных, с тем, чтобы определить качество микроструктуры поликристаллической структуры для каждого выщелоченного компонента, причем микроструктура поликристаллической структуры является менее пористой, когда диапазон разброса данных меньше, по сравнению с диапазонами разброса данных других выщелоченных компонентов.
18. Способ по п.9, в котором выщелоченный слой содержит по меньшей мере часть побочного материала, удаляемого из него.
19. Способ по п.9, в котором дополнительно устанавливают по меньшей мере часть выщелоченных компонентов в инструмент на основании указанной полученной характеристики качества поликристаллической структуры.
20. Способ получения характеристики качества поликристаллической структуры, содержащий этапы, на которых:
получают выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;
измеряют по меньшей мере одно значение емкости выщелоченного компонента; и
получают характеристику качества поликристаллической структуры, причем характеристика качества содержит по меньшей мере один из следующих параметров: оценочную глубину выщелачивания выщелоченного компонента, относительное количество катализатора, оставшегося в выщелоченном слое, и относительную пористость поликристаллической структуры выщелоченного компонента.
21. Способ по п.20, в котором выщелоченный слой содержит по меньшей мере часть побочного материала, удаляемого из выщелоченного слоя.
22. Способ по п.20, в котором дополнительно очищают поликристаллическую структуру от одного или более побочных материалов, при этом побочные материалы образованы внутри поликристаллической структуры во время процесса выщелачивания, при котором удаляется из нее по меньшей мере часть материала катализатора и образуется выщелоченный компонент.
23. Способ по п.20, в котором выполняют деполяризацию выщелоченного компонента перед измерением каждого значения емкости и/или после измерения каждого значения емкости.
24. Способ по п.20, в котором дополнительно устанавливают по меньшей мере часть выщелоченных компонентов в инструмент на основании указанной полученной характеристики качества поликристаллической структуры.