СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ ОБРАЗНОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ НАНООБЪЕКТА В СКАНИРУЮЩЕМ ТУННЕЛЬНОМ МИКРОСКОПЕ

1. Способ формирования образного изображения поверхности нанообъекта в сканирующем туннельном микроскопе, включающий нанообъект на поверхности подложки, которые сканируют металлической иглой в режиме постоянного тока, для чего в каждой точке сканирования производят вертикальное перемещение иглы относительно исследуемой поверхности так, чтобы туннельный ток в каждой точке сканирования равнялся величине туннельного тока в первой точке сканирования, при этом данные о микроструктуре исследуемой поверхности нанообъекта получают, регистрируя перемещение иглы, отличающийся тем, что из экспериментальной топографии поверхности с нанообъектом на подложке вычитают плоскость, параллельную поверхности подложки, которая выше исходных шероховатостей подложки, но ниже характерного поперечного радиуса нанообъекта, полученное изображение нанообъекта масштабируют путем умножения на коэффициент больше единицы.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в каждой точке сканирования измеряется отклонение тока относительно заданного среднего значения, при этом воспроизводится токовое изображение локальной проводимости нанообъекта в каждой точке сканирования.
3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что нанообъект приклеивается проводящим клеем на плоскую подложку с поверхностью, близкой к атомно-гладкой.