УСТРОЙСТВО И СПОСОБ ДЛЯ СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА

1. Держатель образца для устройства спектрофотометрического анализа, содержащий:
поверхность для приема образца, имеющую первую светопропускающую область, и поверхность, контактирующую с образцом, имеющую вторую светопропускающую область, при этом поверхности соединены для относительного перемещения между первым положением, в котором соединенные поверхности разнесены друг от друга для обеспечения размещения образца на первой светопропускающей области, и вторым положением, в котором первая и вторая светопропускающие области удерживаются в близком контакте и сжимают размещенный образец, имея в то же время возможность перемещения для изменения толщины образца между светопропускающими областями для получения различных длин оптического пути через указанный образец, и
регулятор толщины образца, который предназначен для регулирования расстояния между поверхностью для приема образца и поверхностью, контактирующей с образцом, во втором положении, так что толщину образца между поверхностями можно изменять с целью получения, по меньшей мере, двух измерений образца при различных оптических длинах оптического пути через образец,
при этом поверхность, контактирующая с образцом, шарнирно соединена с поверхностью для приема образца.
2. Держатель образца по п.1, в котором регулятор толщины образца имеет регулируемый выступ, который отходит или от поверхности для приема образца, или из поверхности, контактирующей с образцом, вследствие чего во втором положении расстояние между поверхностью для приема образца и поверхностью, контактирующей с образцом, определяется регулировкой расстояния, на которое выступ отходит от соответствующей поверхности.
3. Держатель образца по п.2, в котором регулятор толщины образца дополнительно содержит блок управления для автоматического управления расстоянием, на которое выступ отходит от соответствующей поверхности.
4. Держатель образца по п.3, в котором регулятор толщины образца скомпонован с целью управления движением поверхности, контактирующей с образцом, во второе положение, таким образом, что поверхность, контактирующая с образцом, медленно подводится ко второму положению.
5. Способ спектрофотометрического анализа образца, включающий: размещение образца на поверхности для приема образца в держателе образца в соответствии с любым из предшествующих пунктов,
опускание поверхности, контактирующей с образцом, относительно поверхности для приема образца таким образом, что она приводится в положение, где поверхность, контактирующая с образцом, вступает в соприкосновение с образцом, помещенным на поверхность для приема образца, и сжимает образец между поверхностью для приема образца и поверхностью, контактирующей с образцом, задавая первую длину оптического пути через сжатый образец,
выполнение первого измерения на образце с первой длиной оптического пути для определения первой зависящей от длины волны интенсивности света, прошедшего первую длину оптического пути,
изменение длины оптического пути через сжатый образец на вторую длину оптического пути,
выполнение второго измерения на образце со второй длиной оптического пути для определения второй зависящей от длины волны интенсивности света, прошедшего вторую длину оптического пути, и
генерирование в арифметическом блоке количественной и/или качественной характеристик для искомого в данном образце вещества, исходя из отношения первой и второй интенсивностей, зависящих от длины волны.
6. Устройство для спектрофотометрического анализа, содержащее: детекторную систему, оптически связанную с внутренними компонентами держателя образца для выполнения спектрофотометрического анализа находящегося в нем образца, в котором держатель образца является держателем образца, заявленным по любому из пп.1-4, и в котором устройство дополнительно содержит арифметический блок, который рассчитан на получение выходных сигналов от, как минимум, двух измерений, выполненных при различных длинах оптического пути, при этом указанный арифметический блок дополнительно приспособлен для вычисления значения, зависящего отношения выходных сигналов, полученных для двух длин оптического пути при одной и той же длине волны, и для генерирования по этому значению количественной и/или качественной характеристик для искомого в данном образце вещества.