СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОТНОСТИ ЭЛЕКТРОНОВ В ПЛАЗМЕ МЕТОДОМ ОПТИЧЕСКОЙ СПЕКТРОСКОПИИ

1. Способ измерения пространственного распределения электронной плотности плазмы, включающий измерение интенсивностей спектральных атомарных линий или молекулярных полос с различной длиной волны, излучаемых из различных по координате областей плазмы, проведение численного моделирования плазмы с учетом измеренных указанных интенсивностей выбранных линий или полос, и вычисление распределения плотности электронов в плазме, отличающийся тем, что при численном моделировании плазмы сначала по измеренным профилям интенсивности выбранных для диагностики плазмы линий или полос вычисляют профиль электрического поля в межэлектродном промежутке, а распределение плотности электронов в плазме вычисляют на основе такого профиля электрического поля в межэлектродном промежутке.
2. Способ измерения пространственного распределения электронной плотности плазмы по п.1, отличающий тем, что линии или полосы эмиссионного спектра плазмы для проведения диагностики выбирают таким образом, чтобы их интенсивности преимущественно определялись возбуждением соответствующих состояний прямым электронным ударом или быстрыми по сравнению с периодом ВЧ поля каскадными процессами.
3. Способ измерения пространственного распределения электронной плотности плазмы по п.1, отличающий тем, что численное моделирование проводят с использованием профилей линий или полос с близкими значениями энергии излучающих уровней и профилей линий или полос с существенно разными значениями энергии излучающих уровней.