СИСТЕМА ФУНКЦИОНАЛЬНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ КОРПУСИРОВАННЫХ МИКРОСХЕМ ОПЕРАТИВНО ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ

Система функционального тестирования корпусированных микросхем оперативно запоминающих устройств большой емкости содержит: микроконтроллер с встроенной flash памятью и с двумя аналогово-цифровыми преобразователями (АЦП), преобразователь интерфейса USB в UART, генератор на 100 МГц, датчик температуры микроконтроллера, источники питания на 1,7 В, 2,5 В, 3,3 В, 5,0 В, блок выбора источника питания, блок измерения тока потребления, блок проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, преобразователь уровня напряжения управляющих входов тестируемых микросхем ОЗУ, преобразователь уровня напряжения шины адреса тестируемых микросхем ОЗУ, персональный компьютер (ПК), блок питания, n драйверов-компараторов-нагрузок для каждой линии шины данных тестируемых микросхем ОЗУ, где n - целое число, больше 1, m цифровых датчиков температуры микросхем ОЗУ, закрепленных на корпусе тестируемых микросхем ОЗУ, где m - целое число, больше 1, при этом ПК посредством USB интерфейса через преобразователь интерфейса USB в UART соединен с микроконтроллером, два вывода микроконтроллера соединены с двумя управляющими входами блока выбора источника питания, который на основании соответствующих управляющих сигналов подключает требуемый источник питания на 1,7 В или 2,5 В, или 3,3 В или 5,0 В соответственно, восемнадцать выводов микроконтроллера соединены с восемнадцатью входами блока проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, который отключает напряжение питание от тестируемых микросхем ОЗУ и подает напряжение питание на общий вывод тестируемых микросхем ОЗУ, другие восемнадцать выводов микроконтроллера соединены с восемнадцатью входами преобразователя уровня напряжения управляющих входов тестируемых микросхем ОЗУ, двадцать четыре вывода микроконтроллера соединены с двадцатью четырьмя входами преобразователя уровня напряжения шины адреса тестируемых микросхем ОЗУ, цифровые датчики температуры тестируемых микросхем ОЗУ, закрепленные на корпусе микросхем ОЗУ, посредством I2C интерфейса соединены с первым входом микроконтроллера, второй вход микроконтроллера соединен с выходом датчика температуры, третий вход микроконтроллера соединен с выходом генератора на 100 МГц, первый выход блока измерения тока потребления соединен с первым АЦП микроконтроллера, второй выход блока измерения тока потребления соединен со вторым входом блока проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ, выход блока выбора источника питания соединен с входом блока измерения тока потребления, выход блока проверки контактирования выводов тестируемых микросхем ОЗУ соединен с входом второго АЦП микроконтроллера, драйверы-компараторы-нагрузки для каждой линии шины данных тестируемых микросхем ОЗУ соединены посредством LVDS интерфейсов с четвертым, пятым и шестым входом микроконтроллера соответственно, блок питания соединен со всеми элементами системы.