ДЕТЕКТОР ИЗЛУЧЕНИЯ И СПОСОБ УМЕНЬШЕНИЯ КОЛИЧЕСТВА ЗАХВАЧЕННЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ДЕТЕКТОРЕ ИЗЛУЧЕНИЯ

1. Полупроводниковый детектор для счета фотонов, содержащий:
подложку (11) из полупроводникового материала;
1
источник (12) напряжения смещения для приложения к подложке напряжения смещения в течение каждого периода (t) сбора данных;
2
считывающее устройство (13) для периодического считывания данных, характеризующих количество зарядов, образующихся в подложке (11) как отклик на фотоны, поглощаемые ею, и движущихся через нее, в течение каждого периода (t) считывания, следующего за периодом сбора данных, причем в состав указанных данных входит количество зарядных импульсов, соответствующих поглощаемым фотонам;
внешний источник (15) оптического излучения, способный воздействовать указанным излучением на подложку для обеспечения возможности перехода захваченных носителей заряда с дефектных уровней в подложку, и
управляющее устройство (14), функционально связанное с источником напряжения смещения, считывающим устройством и внешним источником оптического излучения,
отличающийся тем, что
управляющее устройство (14) сконфигурировано с возможностью управлять источником напряжения смещения с прерыванием подачи указанного напряжения на подложку и внешним источником (15) оптического излучения с включением указанного источника для облучения подложки (11), обеспечивающего возможность перехода захваченных носителей заряда с дефектных уровней в подложку, одновременно в течение по меньшей мере части указанных периодов считывания.
2
1
2. Детектор по п. 1, в котором управляющее устройство сконфигурировано с возможностью управлять источником напряжения смещения с прерыванием подачи указанного напряжения на подложку и внешним источником (15) оптического излучения с включением указанного источника для облучения подложки (11) в циклическом режиме, при этом подложка облучается только в течение определенных периодов (t) времени, каждый из которых следует за периодом (t), в течение которого детектор излучения сконфигурирован для приема детектируемого излучения.
3. Детектор по п. 1, в котором управляющее устройство сконфигурировано с возможностью управлять источником напряжения смещения с прерыванием подачи указанного напряжения на подложку и внешним источником (15) оптического излучения с включением указанного источника для облучения подложки (11) одновременно в течение каждого из указанных периодов считывания.
4. Детектор по п. 1, в котором управляющее устройство сконфигурировано с возможностью управлять подачей напряжения смещения с подачей указанного напряжения на подложку и отключением внешнего источника оптического излучения каждый раз в момент, предшествующий на короткий временной интервал (б) концу периода считывания или следующий через короткий временной интервал за завершением периода считывания.
5. Детектор по п. 1, в котором управляющее устройство сконфигурировано с возможностью управлять подачей напряжения смещения с подачей указанного напряжения на подложку без облучения подложки от внешнего источника оптического излучения в течение каждого из периодов сбора данных.
6. Детектор по любому из пп. 1-5, в котором каждый период сбора данных имеет длительность 0,1-500 мс, предпочтительно 0,5-200 мс, более предпочтительно 1-100 мс и/или каждый период считывания имеет длительность 0,01-10 мс, предпочтительно 0,1-5 мс, более предпочтительно 1-4 мс.
7. Полупроводниковый детектор, содержащий:
подложку (11) из полупроводникового материала;
1
источник (12) напряжения смещения для приложения к подложке напряжения смещения в течение каждого периода (t) сбора данных;
2
считывающее устройство (13) для периодического считывания данных, характеризующих количество зарядов, образующихся в подложке (11) как отклик на фотоны, поглощаемые ею, и движущихся через нее, в течение каждого периода (t) считывания, следующего за периодом сбора данных;
внешний источник (15) оптического излучения, способный воздействовать указанным излучением на подложку для обеспечения возможности перехода захваченных носителей заряда с дефектных уровней в подложку, и
управляющее устройство (14), функционально связанное с источником напряжения смещения, считывающим устройством и внешним источником оптического излучения,
отличающийся тем, что
4
3
управляющее устройство (14) сконфигурировано с возможностью управлять источником напряжения смещения с прерыванием подачи указанного напряжения на подложку и внешним источником (15) оптического излучения с включением указанного источника для облучения подложки (11), обеспечивающего возможность перехода захваченных носителей заряда с дефектных уровней в подложку, одновременно в течение периодов (t) воздействия на подложку, каждый из которых следует за периодом (t) измерений, причем каждый период измерений включает множество периодов сбора данных и множество периодов считывания.
8. Детектор по п. 7, в котором каждый период воздействия на подложку включает по меньшей мере часть периода сбора данных.
9. Детектор по п. 7, в котором каждый период воздействия на подложку включает один или множество периодов считывания и/или один или множество периодов сбора данных.
10. Детектор по п. 7, в котором управляющее устройство сконфигурировано с возможностью управлять источником напряжения смещения с прерыванием подачи указанного напряжения на подложку и внешним источником оптического излучения с включением указанного источника для облучения подложки в циклическом режиме.
11. Детектор по п. 7, в котором управляющее устройство сконфигурировано с возможностью управлять источником напряжения смещения с подачей указанного напряжения на подложку и внешним источником оптического излучения с прерыванием облучения подложки в течение каждого из периодов измерений.
12. Детектор по п. 7, в котором каждый период сбора данных имеет длительность менее 10 мс, предпочтительно менее 5 мс, более предпочтительно менее 1 мс, наиболее предпочтительно менее 0,5 мс и/или каждый период считывания имеет длительность менее 5 мс, предпочтительно менее 1 мс, более предпочтительно менее 0,5 мс, наиболее предпочтительно менее 0,1 мс.
13. Детектор по любому из пп. 7-12, в котором каждый период измерений имеет длительность, примерно в 3 раза большую, предпочтительно по меньшей мере в 3 раза большую, более предпочтительно по меньшей мере в 5 раз большую, наиболее предпочтительно по меньшей мере в 10 раз большую, чем каждый период воздействия на подложку.
1
2
14. Способ уменьшения количества захваченных носителей заряда в полупроводниковом детекторе для счета фотонов, содержащем: подложку (11) из полупроводникового материала; источник (12) напряжения смещения для приложения к подложке напряжения смещения в течение каждого периода (t) сбора данных; считывающее устройство (13) для периодического считывания данных, характеризующих количество зарядов, образующихся в подложке (11) как отклик на фотоны, поглощаемые ею, и движущихся через нее, в течение каждого периода (t) считывания, следующего за периодом сбора данных, причем в состав указанных данных входит количество зарядных импульсов, соответствующих поглощаемым фотонам, и внешний источник (15) оптического излучения, способный воздействовать указанным излучением на подложку для обеспечения возможности перехода захваченных носителей заряда с дефектных уровней в подложку,
отличающийся тем, что включает:
управление источником напряжения смещения с прерыванием подачи указанного напряжения на подложку и
управление внешним источником (15) оптического излучения с включением указанного источника для облучения подложки (11), обеспечивающего возможность перехода захваченных носителей заряда с дефектных уровней в подложку, одновременно в течение по меньшей мере части указанных периодов считывания.
4
2
3
1
15. Способ по п. 14, в котором управляют источником напряжения смещения с обеспечением прерывания подачи указанного напряжения на подложку и внешним источником оптического излучения с обеспечением подачи излучения для облучения подложки в циклическом режиме, при этом подложку облучают только в течение определенных периодов (t; t) времени, каждый из которых следует за периодом (t; t), в течение которого детектор излучения сконфигурирован для приема детектируемого излучения.
16. Способ по п. 14, в котором управляют источником напряжения смещения с прерыванием подачи указанного напряжения на подложку и внешним источником оптического излучения с обеспечением подачи излучения для облучения подложки одновременно в течение каждого из указанных периодов считывания.
17. Способ по любому из пп. 14-16, в котором управляют источником напряжения смещения с подачей указанного напряжения на подложку и внешним источником оптического излучения с прерыванием облучения подложки в течение каждого из указанных периодов сбора данных.
18. Способ по любому из пп. 14-16, в котором каждый период сбора данных имеет длительность 0,1-500 мс, предпочтительно 0,5-200 мс, более предпочтительно 1-100 мс и/или каждый период считывания имеет длительность 0,01-10 мс, предпочтительно 0,1-5 мс, более предпочтительно 1-4 мс.
1
2
19. Способ уменьшения количества захваченных носителей заряда в полупроводниковом детекторе, содержащем: подложку (11) из полупроводникового материала; источник (12) напряжения смещения для приложения к подложке напряжения смещения в течение каждого периода (t) сбора данных; считывающее устройство (13) для периодического считывания данных, характеризующих количество зарядов, образующихся в подложке (11) как отклик на фотоны, поглощаемые ею, и движущихся через нее, в течение каждого периода (t) считывания, следующего за периодом сбора данных, и внешний источник (15) оптического излучения, способный воздействовать указанным излучением на подложку для обеспечения возможности перехода захваченных носителей заряда с дефектных уровней в подложку,
отличающийся тем, что включает:
управление источником напряжения смещения с прерыванием подачи указанного напряжения на подложку и
4
3
управление внешним источником (15) оптического излучения с включением указанного источника для облучения подложки (11), обеспечивающего возможность перехода захваченных носителей заряда с дефектных уровней в подложку, одновременно в течение периодов (t) воздействия на подложку, каждый из которых следует за периодом (t) измерений, при этом каждый период измерений включает множество периодов сбора данных и множество периодов считывания.
20. Способ по п. 19, в котором каждый период воздействия на подложку включает по меньшей мере часть периода сбора данных.
21. Способ по п. 19, в котором каждый период воздействия на подложку включает один или множество периодов считывания и/или один или множество периодов сбора данных.
22. Способ по любому из пп. 19-21, в котором управляющее устройство конфигурируют для управления источником напряжения смещения с прерыванием подачи напряжения смещения на подложку и внешним источником оптического излучения с облучением подложки в циклическом режиме.
23. Способ по любому из пп. 19-21, в котором каждый период сбора данных имеет длительность менее 10 мс, предпочтительно менее 5 мс, более предпочтительно менее 1 мс, наиболее предпочтительно менее 0,5 мс и/или каждый период считывания имеет длительность менее 5 мс, предпочтительно менее 1 мс, более предпочтительно менее 0,5 мс, наиболее предпочтительно менее 0,1 мс.