ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЕМКОСТИ И ВИХРЕВЫХ ТОКОВ ДЛЯ АНАЛИЗА ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО АЛМАЗА

1. Способ получения характеристик качества поликристаллической структуры, содержащий этапы, на которых:
получают выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;
измеряют по меньшей мере одно значение емкости выщелоченного компонента;
измеряют по меньшей мере одно значение вихревого тока выщелоченного компонента;
получают характеристику первого качества поликристаллической структуры, причем первое качество основано на указанном по меньшей мере одном значении емкости;
получают характеристику второго качества поликристаллической структуры, причем второе качество основано на указанном по меньшей мере одном значении вихревого тока; и
определяют общее качество поликристаллической структуры, причем общее качество основано на первом качестве и втором качестве.
2. Способ по п.1, в котором дополнительно:
получают первую калибровочную кривую, показывающую зависимость между множеством значений емкости и множеством значений фактической глубины выщелачивания в поликристаллической структуре; и
получают вторую калибровочную кривую, показывающую зависимость между множеством значений вихревого тока и множеством значений фактической глубины выщелачивания в поликристаллической структуре;
при этом получение характеристики первого качества поликристаллической структуры включает в себя использование одного или более измеренных значений емкости выщелоченного компонента и первой калибровочной кривой для оценки первой фактической глубины выщелачивания в выщелоченном компоненте, и
получение характеристики второго качества поликристаллической структуры включает в себя использование одного или более измеренных значений вихревого тока выщелоченного компонента и второй калибровочной кривой для оценки второй фактической глубины выщелачивания в выщелоченном компоненте.
3. Способ по п.2, в котором при определении общего качества усредняют первую фактическую глубину выщелачивания и вторую фактическую глубину выщелачивания.
4. Способ по п.2, в котором одно или более измеренных значений вихревого тока содержит амплитуду импеданса и/или фазовый сдвиг.
5. Способ по п.1, в котором дополнительно:
получают первую калибровочную кривую, показывающую зависимость между множеством значений емкости и множеством значений фактической глубины выщелачивания в поликристаллической структуре; и
получают вторую калибровочную кривую, показывающую зависимость между множеством значений вихревого тока и множеством значений фактической глубины выщелачивания в поликристаллической структуре,
при этом при получении характеристики первого качества поликристаллической структуры:
определяют первое среднее значение указанного по меньшей мере одного измеренного значения емкости выщелоченного компонента; и
используют первое среднее значение и первую калибровочную кривую для оценки первой фактической глубины выщелачивания в выщелоченном компоненте, а
при получении характеристики второго качества поликристаллической структуры;
определяют второе среднее значение указанного по меньшей мере одного измеренного значения вихревого тока выщелоченного компонента; и
используют второе среднее значение и вторую калибровочную кривую для оценки второй фактической глубины выщелачивания в выщелоченном компоненте.
6. Способ по п.5, в котором общее качество включает в себя усреднение первой фактической глубины выщелачивания и второй фактической глубины выщелачивания.
7. Способ по п.5, в котором указанное одно или более измеренных значений вихревого тока содержит амплитуду импеданса и/или фазовый сдвиг.
8. Способ по п.1, в котором указанное одно или более измеренных значений вихревого тока содержит амплитуду импеданса и/или фазовый сдвиг.
9. Способ по п.1, в котором дополнительно деполяризуют выщелоченный компонент.
10. Способ по п.9, в котором деполяризацию выщелоченного компонента выполняют: перед измерением каждого измеренного значения емкости и/или после измерения каждого измеренного значения емкости, а также перед измерением каждого измеренного значения вихревого тока и/или после измерения каждого измеренного значения вихревого тока.
11. Способ по п.9, в котором при деполяризации выщелоченного компонента заземляют выщелоченный компонент, и/или обертывают выщелоченный компонент деполяризирующим материалом, и/или подвергают тепловой обработке выщелоченный компонент, и/или размещают выщелоченный компонент в солевом растворе, и/или ожидают в течение некоторого периода времени.
12. Способ по п.1, в котором дополнительно очищают поликристаллическую структуру от одного или более побочных материалов, причем побочные материалы образованы внутри поликристаллической структуры во время процесса выщелачивания, при котором удаляется из нее, по меньшей мере, часть материала катализатора и образуется выщелоченный компонент.
13. Способ по п.1, в котором дополнительно:
измеряют множество значений емкости для каждого из множества выщелоченных компонентов, причем каждый выщелоченный компонент образуется в том же процессе выщелачивания; и
измеряют множество значений вихревого тока для каждого из множества выщелоченных компонентов;
при этом получение характеристики первого качества поликристаллической структуры включает в себя использование множества измеренных значений емкости для каждого выщелоченного компонента, для того чтобы определить первое качество микроструктуры поликристаллической структуры для каждого выщелоченного компонента;
причем получение характеристики второго качества поликристаллической структуры включает в себя использование множества измеренных значений вихревого тока для каждого выщелоченного компонента, для того чтобы определить второе качество микроструктуры поликристаллической структуры для каждого выщелоченного компонента.
14. Способ по п.13, в котором дополнительно:
определяют исходя из множества измеренных значений емкости первый диапазон разброса данных для каждого из множества выщелоченных компонентов; и
определяют исходя из множества измеренных значений вихревых токов второй диапазон разброса данных для каждого из множества выщелоченных компонентов,
причем при получении характеристики первого качества поликристаллической структуры используют первый диапазон разброса данных для определения качества микроструктуры поликристаллической структуры для каждого выщелоченного компонента, при этом первым качеством микроструктуры поликристаллической структуры является меньшая пористость, когда первый диапазон разброса данных меньше по сравнению с первыми диапазонами разброса данных других выщелоченных компонентов,
при получении характеристики второго качества поликристаллической структуры используют второй диапазон разброса данных для определения второго качества микроструктуры поликристаллической структуры для каждого выщелоченного компонента, при этом вторым качеством микроструктуры поликристаллической структуры является меньшая пористость, когда второй диапазон разброса данных меньше по сравнению со вторыми диапазонами разброса данных других выщелоченных компонентов.
15. Способ по п.1, в котором из выщелоченного слоя удалена по меньшей мере часть побочного материала.
16. Способ по п.1, в котором дополнительно устанавливают по меньшей мере часть выщелоченных компонентов в инструмент на основании общего качества поликристаллической структуры.
17. Способ получения характеристик качества поликристаллической структуры, содержащий этапы, на которых:
получают выщелоченный компонент, содержащий поликристаллическую структуру, причем поликристаллическая структура содержит выщелоченный слой и невыщелоченный слой, примыкающий к выщелоченному слою, при этом в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть материала катализатора;
измеряют по меньшей мере одно значение емкости выщелоченного компонента;
измеряют по меньшей мере одно значение вихревого тока выщелоченного компонента;
получают характеристику качества поликристаллической структуры на основании по меньшей мере одного измеренного значения емкости выщелоченного компонента и на основании по меньшей мере одного измеренного значения вихревого тока выщелоченного компонента, причем качество включает в себя: оценочную глубину выщелачивания выщелоченного компонента и/или относительную величину катализатора, оставшегося в выщелоченном слое, и/или относительную пористость поликристаллической структуры выщелоченного компонента.
18. Способ по п.17, в котором в выщелоченном слое удалена по меньшей мере часть побочного материала.
19. Способ по п.17, в котором дополнительно очищают поликристаллическую структуру от одного или более побочных материалов, причем побочные материалы образованы внутри поликристаллической структуры во время процесса выщелачивания, при котором удаляется по меньшей мере часть материала катализатора и образуется выщелоченный компонент.
20. Способ по п.17, в котором дополнительно деполяризуют выщелоченный компонент, причем деполяризацию выполняют перед измерением каждого значения емкости и/или после измерения каждого значения емкости, а также перед измерением каждого значения вихревого тока и/или после измерения каждого значения вихревого тока.
21. Способ по п.17, в котором дополнительно устанавливают по меньшей мере часть выщелоченных компонентов в инструмент на основании общего качества поликристаллической структуры.
22. Способ по п.17, в котором одно или более измеренных значений вихревого тока содержит амплитуду импеданса и/или фазовый сдвиг.