СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ СТРУКТУРНЫХ ДЕФЕКТОВ В КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛАХ

1. Способ обнаружения структурных дефектов в кристаллических материалах, заключающийся в том, что из кристаллического материала изготавливают образец, освещают образец светом и формируют изображение структурных дефектов оптическими методами в прошедшем, и/или отраженном, и/или рассеянном свете, отличающийся тем, что образец освещают светом, состоящим из фотонов с энергиями, лежащими в пределах от 0,9 до 1,0 значения энергии равной величине запрещенной зоны однородного кристаллического материала образца при температуре образца и внешних физических воздействиях на образец, имеющих место во время формирования изображения структурных дефектов.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что образец кристаллического материала освещают монохроматическим светом.