Ловушка ошибок стандартного электрода, определяемая по заданному времени выборки и предварительно определенному времени выборки

1. Система для измерения аналита, содержащая:
тест-полоску, включающую в себя:
подложку;
множество электродов, соединенных с соответствующими разъемами электродов с реагентом, расположенным рядом с множеством электродов; и
прибор для измерения аналита, включающий в себя:
корпус;
разъем порта для тест-полоски, выполненный с возможностью соединения с соответствующими разъемами электродов тест-полоски; и
микропроцессор, электрически соединенный с разъемом для тест-полоски, чтобы подавать электрические сигналы или измерять электрические сигналы от упомянутого множества электродов, причем микропроцессор выполнен с возможностью:
(a) подавать первый сигнал на упомянутое множество электродов таким образом, чтобы определить физическую характеристику образца текучей среды;
(b) подавать второй сигнал на первый электрод и второй электрод из множества электродов;
(с) измерять выходной сигнал с электродов вблизи заданного момента получения выборки от каждого из первого и второго электродов;
(d) измерять другой выходной сигнал с электродов вблизи предварительного выбранного момента получения выборки от каждого из первого и второго электродов;
(e) рассчитать первый дифференциал между выходным сигналом первого электрода, измеренным в заданное время выборки, и выходным сигналом первого электрода, измеренным в предварительно заданное время выборки;
(f) рассчитать второй дифференциал между выходным сигналом второго электрода, измеренным в заданное время выборки, и выходным сигналом второго электрода, измеренным в предварительно заданное время выборки;
(g) оценить, не превышает ли какой-либо из первого дифференциала и второго дифференциала предварительно определенное пороговое значение; и
(h) в случае, если один из первого и второго дифференциалов меньше, чем смещенное пороговое значение, то сообщить об ошибке.
2. Система по п. 1, в которой множество электродов содержит четыре электрода с первым и вторым электродами для измерения концентрации аналита, а также третьим и четвертым электродами для измерения физической характеристики.
3. Система по п. 2, в которой первый, второй, третий и четвертый электроды размещены в одной камере, представленной на подложке.
4. Система по п. 3, в которой все электроды расположены на одной плоскости, образованной подложкой.
5. Система по п. 3, в которой реагент помещается непосредственно еще на, по меньшей мере, два электрода, а на, по меньшей мере, два электрода реагент не помещается.
6. Система по п. 1, в которой подают сигнал оповещения об ошибке, когда и первые, и вторые дифференциальные пороговые значения меньше заданного порогового значения.
7. Система по п. 1, в которой предварительно заданное пороговое значение составляет около 100 наноампер.