СПОСОБ ОБСЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА ИНФРАКРАСНЫМ ПРИБОРОМ

Способ обследования поверхности объекта инфракрасным прибором, включающий измерение температуры отраженного излучения, выбор реперного участка на поверхности и измерение на нем коэффициента излучения, ввод в прибор измеренных величин температуры отраженного излучения и коэффициента излучения и последующее обследование объекта, отличающийся тем, что для измерения температуры отраженного излучения используют маркер с известным коэффициентом излучения, в прибор вводят значение коэффициента излучения маркера, проводят измерение температуры маркера и последующее наблюдение маркера прибором, при котором последовательно изменяют вводимую в прибор температуру отраженного излучения, при достижении наблюдаемой прибором величины температуры маркера, близкой к его измеренной температуре, температуру отраженного излучения прекращают изменять и фиксируют в приборе, причем в качестве маркера используют материал с относительной шероховатостью поверхности в рабочем спектральном диапазоне прибора, аналогичной относительной шероховатости поверхности обследуемого объекта.