СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНОЙ ПОГЛОЩАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ

с
1
0
1
1
1. Способ измерения интегральной поглощательной способности покрытий и поверхностей твердых тел, при котором измеряют скорость изменения температуры и температуру образцов с покрытиями, изготавливаемых из одного материала, причем образцы, изготовленные в виде двух одинаковых пластин с одинаковыми покрытиями размещают параллельно один напротив другого покрытиями наружу, в полость между ними помещают электронагреватель, отличающийся тем, что образцы устанавливают в криогенную вакуумную камеру, которую вакуумируют, захолаживают до температуры хладоагента, образцы нагревают при постоянной мощности нагревателя, на начальном линейном участке нагрева от температуры Т до температуры Т, измеряют скорость нагрева образцов b, а степень черноты исследуемых образцов ε, перегрев в конце линейного участка нагрева ϑ и продолжительность участка τ определяют из выражений:
где k - заданное значение коэффициента (k≤0,1);
- объемная теплоемкость образцов;
L - линейный размер;
s
s
с
ϑ=T-Т - значение перегрева образцов, достигаемое в стационарном режиме в результате нагрева при заданной удельной мощности тепловыделений Q;
s
T - стационарное значение температуры образцов, достигаемое в результате нагрева при заданной удельной мощности тепловыделений Q;
с
Т - температура окружающей среды;
1
1
с
ϑ=Т-Т - значение перегрева образцов, достигаемое в режиме нагрева на начальном линейном участке при заданной удельной мощности тепловыделений Q;
σ - постоянная Стефана-Больцмана;
- среднее значение температуры поверхности образцов на линейном участке нагрева;
- максимальный коэффициент лучистого теплообмена абсолютно черного тела;
- скорость нагрева образцов на начальном линейном временном участке нагрева.
1
1
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что вычисления, по приведенным зависимостям для τ, ϑ, ε соответственно производят последовательно итерационным методом до получения сходимости по ε при заданном значении k для значений параметров, определяемых в пределах соответствующих линейных участков изменения температуры образцов.