ИДЕНТИФИКАЦИЯ И КЛАССИФИКАЦИЯ ВИРУСНЫХ ЧАСТИЦ НА ТЕКСТУРИРОВАННЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ МИКРОФОТОГРАФИЯХ

1. Способ идентификации и определения характеристик структур на электронных микрофотографиях, включающий:
отбор структур на первом изображении (110), при этом структуры имеют первый тип формы, деформированный в первом направлении;
преобразование отобранных структур во второй тип формы, отличающийся от первого типа формы;
использование преобразованных структур второго типа формы для формирования эталонных изображений;
идентификация новой структуры на втором изображении (112); при этом новая структура имеет первый тип формы;
деформирование структуры со вторым типом формы на каждом эталонном изображении в первом направлении;
определение какое из эталонных изображений является предпочтительным эталонным изображением, которое наилучшим образом соответствует новой структуре; и
деформирование ряда эталонных изображений, чтобы они приобрели форму новой структуры, имеющей эллиптическую форму, и исследование каждого деформированного эталонного изображения с целью проверки того, что предпочтительное эталонное изображение наиболее точно соответствует новой структуре эллиптической формы на втором изображении.
2. Способ по п.1, в котором способ, кроме того, включает механическое деформирование вирусной частицы (110) эллиптической формы или, по существу, круглой формы.
3. Способ по п.2, в котором способ, кроме того, включает выражение вращения вирусной частицы (110), предшествующее деформированию вирусной частицы.
4. Способ по п.3, в котором способ, кроме того, включает выражение вращения вирусной частицы (110), следующее за деформированием вирусной частицы.
5. Способ по п.1, в котором способ, кроме того, включает исследование других эталонных изображений с целью проверки того, что предпочтительное эталонное изображение обеспечивает наилучшее соответствие.
6. Способ по п.5, в котором способ, кроме того, включает отбор структур на основе параметров, связанных с размером и степенью эллиптичности формы этих структур.
7. Способ по п.1, в котором способ, кроме того, включает исследование других направлений, отличных от первого направления, с целью проверки того, что первое направление деформирования оптимального эталонного изображения обеспечивает наилучшее соответствие новой структуре эллиптической формы.
8. Способ по п.7, в котором способ, кроме того, включает установление того факта, что соответствие является менее точным в направлениях, отличных от первого направления.
9. Способ по п.1, в котором способ, кроме того, включает определение стадии зрелости и типа структуры для новой структуры эллиптической формы на основе предпочтительного эталонного изображения.
10. Способ по п.1, в котором способ, кроме того, включает фильтрацию структур, расположенных в пределах радиального расстояния новой структуры эллиптической формы.