СПОСОБ КОМПЛЕКСНОГО НЕЙТРОННОГО КАРОТАЖА

Способ комплексного нейтронного каротажа (НК), основанный на регистрации двух или трех модификаций нейтронных методов в одном приборе и включающий подъем скважинного прибора с привязкой по глубине скважины, воздействие на прискважинную зону пласта быстрыми нейтронами, защиту счетчиков от скважины при приеме потока нейтронного и γ-излучения, разноглубинные измерения нескольких параметров НК, а именно интенсивности, спектра γ-излучения и плотности тепловых или/и надтепловых нейтронов зондами разной длины, прижимаемыми к стенке скважины и содержащими ампульный источник нейтронов и измерительный канал на основе временного и спектрометрического анализаторов принимаемых сцинтиимпульсов в составе электронного блока обработки сигналов, фотоэлектронного умножителя, световода и сцинтилляционного счетчика с определенной длительностью сцинтиимпульсов в неорганическом кристалле, окруженным борным конвертором тепловых нейтронов и водородным замедлителем нейтронов и определение пористости и характера насыщения пластов по показаниям указанных зондов, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности способа путем уменьшения влияния аппаратурных помех и условий измерения в скважине, защиту счетчиков выполняют сосредоточенной по глубине скважины и комбинированной по отношению к нейтронному и γ-излучению, а измерения проводят с возможностью дополнительной регистрации потока тепловых и надтепловых нейтронов сцинтилляционным счетчиком в составе совмещенного и коллимированного на уровне защиты зонда, причем с одновременным получением на каждой глубине скважины сразу нескольких параметров НК, включая разноглубинные замеры одним ФЭУ и составным счетчиком, выполненным из двух и более кристаллов, чувствительных к γ-излучению или γ-излучению и тепловым нейтронам и обладающих различной длительностью сцинтиимпульсов, при этом принимаемые сцинтиимпульсы распределяют с учетом их временного и спектрального признаков по характерным группам, соответствующих искомым параметрам НК, причем каждую группу сцинтиимпульсов формируют с введением индивидуальной температурной поправки, предварительно экспериментально полученной для каждого кристалла составного счетчика и введенной в память электронного блока обработки сигналов.