ИЗБЫТОЧНЫЕ БИТЫ ФИЗИЧЕСКИ НЕКЛОНИРУЕМОЙ ФУНКЦИИ

1. Интегральная схема, содержащая:
массив ячеек физически неклонируемой функции (PUF) для обеспечения необработанного PUF значения, при этом массив PUF ячеек содержит множество избыточных ячеек; и
схему избыточности для выработки списка перенаправления, используемого для замены каждого из битов необработанного PUF значения значением избыточного бита из одной из избыточных ячеек.
2. Интегральная схема по п. 1, дополнительно содержащая энергонезависимую память, в которой сохраняют список перенаправления.
3. Интегральная схема по п. 1, в которой схема избыточности содержит:
первое место хранения для хранения первого необработанного PUF значения;
второе место хранения для хранения второго необработанного PUF значения; и
устройство сравнения для сравнения первого необработанного PUF значения и второго необработанного PUF значения.
4. Интегральная схема по п. 3, в которой устройство сравнения должно идентифицировать PUF ячейку как плохой бит, если устройство сравнения определяет, что первое необработанное PUF значение для PUF ячейки отличается от второго необработанного PUF значения для PUF ячейки.
5. Интегральная схема по п. 4, в которой схема избыточности также содержит место хранения маски плохих битов для хранения маски плохих битов, при этом устройство сравнения обладает выходом устройства сравнения, и место хранения маски плохих битов обладает входом маски плохих битов и выходом маски плохих битов, и вход маски плохих битов основан на операции побитового логического ИЛИ для выхода устройства сравнения и выхода маски плохих битов.
6. Интегральная схема по п. 4, в которой схема избыточности также содержит место хранения новых плохих битов для хранения вектора новых плохих битов, используемого для обновления списка перенаправления на основе результата из устройства сравнения.
7. Интегральная схема по п. 6, в которой схема избыточности также содержит место хранения маски плохих битов для хранения маски плохих битов, при этом устройство сравнения обладает выходом устройства сравнения, и при этом результат из устройства сравнения основан на операции побитового логического И для выхода устройства сравнения и обратного элемента для маски плохих битов.
8. Способ, включающий в себя следующее:
тестируют массив PUF ячеек в интегральной схеме с целью измерения первого необработанного PUF значения;
тестируют массив PUF ячеек с целью измерения второго необработанного PUF значения;
сравнивают первое необработанное PUF значение и второе необработанное PUF значение; и
вырабатывают список перенаправления на основе упомянутого сравнения, при этом список перенаправления используют для замены каждого из одного или более битов необработанного PUF значения значением избыточного бита из одной из множества избыточных ячеек в массиве PUF ячеек.
9. Способ по п. 8, в котором список перенаправления также основан на маске плохих битов.
10. Способ по п. 9, дополнительно включающий в себя следующее: вырабатывают вектор новых плохих битов на основе сравнения и маски плохих битов, при этом вектор новых плохих битов используют при выработке списка перенаправления.
11. Способ по п. 10, в котором выработка вектора новых плохих битов включает в себя операцию побитового логического И для результата сравнения и обратного элемента для маски плохих битов.
12. Способ по п. 10, дополнительно включающий в себя следующее: обновляют маску плохих битов на основе маски плохих битов и результата сравнения.
13. Способ по п. 12, в котором обновление маски плохих битов включает в себя операцию побитового логического ИЛИ для маски плохих битов и результата сравнения.
14. Способ по п. 8, дополнительно включающий в себя следующее: сохраняют список перенаправления в энергонезависимой памяти.
15. Способ по п. 14, дополнительно включающий в себя следующее:
считывают необработанное PUF значение периода оценки из массива PUF ячеек; и
считывают список перенаправления из энергонезависимой памяти.
16. Способ по п. 15, дополнительно включающий в себя следующее:
используют список перенаправления для замены каждого из одного или более плохих битов необработанного PUF значения периода оценки избыточным битом; и вырабатывают окончательное необработанное PUF значение периода оценки.
17. Способ по п. 16, дополнительно включающий в себя следующее: применяют исправление ошибок к необработанному PUF значению периода оценки.
18. Способ по п. 17, дополнительно включающий в себя следующее: применяют извлечение энтропии к необработанному PUF значению периода оценки.
19. Способ по п. 18, дополнительно включающий в себя следующее: вырабатывают криптографический ключ из необработанного PUF значения периода оценки.
20. Устройство, содержащее:
интегральную схему, включающую в себя:
массив ячеек физически неклонируемой функции (PUF) для обеспечения необработанного PUF значения, при этом массив PUF ячеек содержит множество избыточных ячеек; и
схему избыточности для выработки списка перенаправления, используемого для замены каждого из одного или более битов необработанного PUF значения значением избыточного бита из одной из избыточных ячеек; и
устройство тестирования интегральной схемы для тестирования массива PUF ячеек;
при этом схема избыточности должна вырабатывать список перенаправления без раскрытия необработанного PUF значения устройству тестирования интегральной схемы.