ПОВЕРХНОСТНЫЙ ИСТОЧНИК ИОНИЗАЦИИ

1. Поверхностный источник ионизации, содержащий:
трубку, имеющую первый конец, второй конец и внутренний канал, проходящий через трубку от первого конца ко второму концу, при этом первый конец выполнен с возможностью приема потока газа, а второй конец выполнен с возможностью направления потока газа на поверхность, выполненную с возможностью удержания анализируемого вещества, и
радиоактивный источник, по меньшей мере по существу расположенный во внутреннем канале трубки, причем радиоактивный источник выполнен с возможностью создания ионов в потоке газа при прохождении потока газа через внутренний канал, при этом для по меньшей мере частичной ионизации анализируемого вещества поток газа, содержащий ионы, направляется на анализируемое вещество.
2. Поверхностный источник ионизации по п. 1, в котором радиоактивный источник содержит пленку, излучающую высокоэнергетические частицы и расположенную на поверхности внутреннего канала трубки.
3. Поверхностный источник ионизации по п. 2, в котором пленка имеет в целом кольцевую форму.
4. Поверхностный источник ионизации по п. 1, в котором радиоактивный источник содержит по меньшей мере одно из следующего: никель-63 (Ni-63) или америций-241 (Am-241).
5. Поверхностный источник ионизации по п. 1, в котором поток газа содержит поток сухого воздуха.
6. Поверхностный источник ионизации по п. 1, дополнительно содержащий источник тепла, предназначенный для нагрева потока газа.
7. Поверхностный источник ионизации по п. 1, дополнительно содержащий узел для переноса ионов, выполненный с возможностью управления перемещением по меньшей мере некоторых из ионов в потоке газа.
8. Поверхностный источник ионизации по любому из пп. 1-7, дополнительно содержащий порт, выполненный с возможностью облегчения добавления легирующей примеси в поток газа.
9. Устройство обнаружения, содержащее:
поверхностный источник ионизации, содержащий трубку, имеющую первый конец, второй конец и внутренний канал, проходящий через трубку от первого конца ко второму концу, при этом первый конец выполнен с возможностью приема потока газа, а второй конец выполнен с возможностью направления потока газа на поверхность, выполненную с возможностью удержания анализируемого вещества; и радиоактивный источник, по меньшей мере по существу расположенный во внутреннем канале трубки, причем радиоактивный источник выполнен с возможностью создания ионов в потоке газа при прохождении потока газа через внутренний канал, при этом для по меньшей мере частичной ионизации анализируемого вещества поток газа, содержащий ионы, направляется на анализируемое вещество, и
инструмент для спектрометрического анализа, выполненный с возможностью приема по меньшей мере части ионизированного анализируемого вещества для его анализа.
10. Устройство обнаружения по п. 9, в котором радиоактивный источник содержит пленку, излучающую высокоэнергетические частицы и расположенную на поверхности внутреннего канала трубки.
11. Устройство обнаружения в п. 10, в котором пленка имеет в целом кольцевую форму.
12. Устройство обнаружения по п. 9, в котором радиоактивный источник содержит по меньшей мере одно из следующего: никель-63 (Ni-63) или америций-241 (Am-241).
13. Устройство обнаружения по п. 9, в котором поток газа содержит поток сухого воздуха.
14. Устройство обнаружения по п. 9, дополнительно содержащие источник тепла, предназначенный для нагрева потока газа.
15. Устройство обнаружения по п. 9, дополнительно содержащие узел для переноса ионов, выполненный с возможностью управления перемещением по меньшей мере некоторых из ионов в потоке газа.
16. Устройство обнаружения по п. 9, в котором инструмент для спектрометрического анализа содержит по меньшей мере одно из следующего: масс-спектрометр или спектрометр подвижности ионов (IMS).
17. Устройство обнаружения по любому из пп. 9-16, дополнительно содержащие порт, выполненный с возможностью облегчения добавления легирующей примеси в поток газа.
18. Способ, включающий:
обеспечение приема потока газа,
обеспечение пропускания потока газа над радиоактивным источником, причем радиоактивный источник выполнен с возможностью создания ионов в потоке газа при прохождении потока газа над радиоактивным источником, и
направление потока газа, содержащего ионы, на поверхность, выполненную с возможностью удержания анализируемого вещества, чтобы, по меньшей мере частично, ионизировать анализируемое вещество.
19. Способ по п. 18, в котором выполняют спектрометрический анализ по меньшей мере части ионизированного вещества.
20. Способ по п. 18, в котором радиоактивный источник содержит по меньшей мере одно из следующего: никель-63 (Ni-63) или америций-241 (Am-241).
21. Способ по п. 18, в котором поток газа дополнительно нагревают.
22. Способ по любому из пп. 18-21, в котором в поток газа вводят легирующую примесь.