СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНОЙ НЕИСПРАВНОСТИ ЗАПОМИНАЮЩЕГО УСТРОЙСТВА

1. Способ определения потенциальной неисправности запоминающего устройства, предназначенного для обработки множества транзакций, выполняемый компьютером надзорного элемента, связанным с запоминающим устройством, включающий в себя выполнение в течение заранее заданного периода времени следующих действий:
- определение подмножества операций ввода/вывода (I/O), направленных в запоминающее устройство для обработки;
- применение в течение заранее заданного периода времени по меньшей мере одного счетчика для определения фактического времени активности запоминающего устройства, приблизительно соответствующего времени обработки в запоминающем устройстве по меньшей мере части подмножества операций I/O;
- применение заранее определенной модели для формирования оценки контрольного времени обработки для каждой транзакции из подмножества транзакций;
- расчет контрольного времени обработки для подмножества операций I/O;
- формирование параметра производительности на основе фактического времени активности и контрольного времени обработки; и
- определение наличия потенциальной неисправности запоминающего устройства на основе анализа параметра производительности.
2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что запоминающее устройство представляет собой накопитель на жестких дисках (HDD).
3. Способ по п. 2, отличающийся тем, что применение заранее определенной модели для каждой следующей операции из подмножества операций I/O включает в себя:
- определение времени выполнения следующей операции из подмножества операций I/O на основе размера следующей операции из подмножества операций I/O и заранее определенной скорости выполнения следующей операции определенного вида из подмножества операций I/O;
- определение необходимости полного цикла перемещения записывающей головки запоминающего устройства из положения, в котором было зарегистрировано прекращение выполнения предыдущей операции из подмножества операций I/O, для выполнения следующей операции из подмножества операций I/O; и
- добавление заранее определенного времени полного цикла изменения положения ко времени выполнения для получения контрольного времени обработки, если требуется полный цикл изменения положения.
4. Способ по п. 3, отличающийся тем, что заранее определенная скорость выполнения и заранее определенное время полного цикла изменения положения заранее определены для запоминающего устройства или для вида устройств, включающего в себя это запоминающее устройство.
5. Способ по п. 2, отличающийся тем, что дополнительно включает в себя построение заранее определенной модели для запоминающего устройства или для вида устройств, включающего в себя это запоминающее устройство.
6. Способ по п. 5, отличающийся тем, что построение заранее определенной модели включают в себя:
- определение для контрольного запоминающего устройства скорости выполнения множества контрольных операций I/O, включая операции вида, связанного с подмножеством операций I/O, направленных в запоминающее устройство, причем скорость выполнения определяется по меньшей мере (а) на внешней дорожке и (б) на внутренней дорожке контрольного запоминающего устройства;
- определение скорости вращения диска контрольного запоминающего устройства;
- определение минимальной задержки между прекращением выполнения одной операции из множества контрольных операций I/O и началом выполнения следующей операции из множества контрольных операций I/O, необходимой для выполнения контрольным запоминающим устройством следующей операции из множества контрольных операций I/O без полного цикла изменения положения жесткого диска контрольного запоминающего устройства.
7. Способ по п. 6, отличающийся тем, что построение заранее определенной модели выполняется путем направления в контрольное запоминающее устройство заранее заданного количества контрольных операций I/O до начала эксплуатации контрольного запоминающего устройства.
8. Способ по п. 7, отличающийся тем, что построение заранее определенной модели дополнительно включает в себя учет указанных производителем характеристик производительности контрольного запоминающего устройства.
9. Способ по п. 2, отличающийся тем, что по меньшей мере один счетчик включает в себя:
- первый счетчик для подсчета количества операций I/O, направленных в запоминающее устройство;
- второй счетчик для подсчета количества полученных от запоминающего устройства подтверждений завершения операций I/O.
10. Способ по п. 9, отличающийся тем, что определение фактического времени активности включает в себя:
- определение общего времени простоя путем суммирования всех  интервалов, в течение которых значения первого и второго счетчиков равны;
- вычитание общего времени простоя из заранее заданного периода времени.
11. Способ по п. 2, отличающийся тем, что дополнительно включает в себя анализ параметра производительности.
12. Способ по п. 11, отличающийся тем, что анализ включает в себя сравнение параметра производительности с пороговым значением 1 и определение наличия потенциальной неисправности, если параметр производительности превышает 1.
13. Способ по п. 11, отличающийся тем, что запоминающее устройство представляет собой одно из множества запоминающих устройств, а анализ включает в себя определение подмножества запоминающих устройств, имеющих:
- усредненный в течение второго заранее заданного  интервала параметр производительности, превышающий другой усредненный параметр производительности других запоминающих устройств из множества запоминающих устройств; и
- максимальный параметр производительности в течение второго заранее заданного  интервала, превышающий другой максимальный параметр производительности других запоминающих устройств из множества запоминающих устройств.
14. Способ по п. 12, отличающийся тем, что параметр производительности представляет собой отношение.
15. Способ по п. 14, отличающийся тем, что анализ включает в себя сравнение параметра производительности с пороговым значением и определение наличия потенциальной неисправности, если параметр производительности превышает пороговое значение.
16. Способ по п. 15, отличающийся тем, что пороговое значение равно 1.
17. Способ по п. 1, отличающийся тем, что по меньшей мере один счетчик включает в себя единый счетчик, формирующий показатель фактического времени обработки для по меньшей мере части подмножества операций I/O.
18. Способ по п. 1, отличающийся тем, что анализ включает в себя сравнение параметра производительности с пороговым значением и определение наличия потенциальной аномалии в виде избыточной производительности запоминающего устройства, если параметр производительности меньше порогового значения.
19. Способ по п. 1, отличающийся тем, что пороговое значение равно 1.
20. Способ по п. 1, отличающийся тем, что запоминающее устройство представляет собой твердотельный накопитель (SSD).
21. Способ по п. 20, отличающийся тем, что дополнительно включает в себя определение параметра производительности для каждого запоминающего устройства из множества запоминающих устройств, включающего в себя накопитель SSD.
22. Способ по п. 20, отличающийся тем, что накопитель SSD имеет номер модели и/или номер изделия, а формирование параметра производительности дополнительно основано на минимальной задержке, заранее определенной для контрольного накопителя SSD, имеющего тот же номер модели и/или номер изделия, что и данный накопитель SSD.
23. Способ по п. 21, отличающийся тем, что по меньшей мере один счетчик включает в себя первый счетчик для контроля операций I/O, направленных в накопитель SSD для обработки, и второй счетчик для контроля принятых от накопителя SSD подтверждений завершения операций I/O; и применение по меньшей мере одного счетчика для определения фактического времени активности накопителя SSD в течение заранее заданного периода времени включает в себя:
- выполнение первого счетчика для контроля операций I/O, направленных в накопитель SSD для обработки, в течение заранее заданного периода времени;
- выполнение второго счетчика для контроля подтверждений завершения операций I/O, полученных от накопителя SSD, в течение заранее заданного периода времени; и
- определение суммарной продолжительности всех  интервалов в течение заранее заданного периода времени, когда значения первого и второго счетчиков были равны.
24. Способ по п. 23, отличающийся тем, что применение по меньшей мере одного счетчика для определения фактического времени активности накопителя SSD в течение заранее заданного периода времени дополнительно включает в себя вычитание из заранее заданного периода времени суммарной продолжительности всех  интервалов, в течение которых значения первого и второго счетчиков были равны.
25. Способ по п. 24, отличающийся тем, что заранее определенная модель дополнительно основана на минимальной задержке накопителя SSD, заранее определенной для контрольного накопителя SSD.
26. Способ по п. 25, отличающийся тем, что заранее определенная модель основана на эмпирической проверке контрольного накопителя SSD.
27. Способ по п. 26, отличающийся тем, что эмпирическая проверка включает в себя отправку в контрольный накопитель SSD заранее заданного количества контрольных операций I/O.
28. Способ по п. 27, отличающийся тем, что дополнительно включает в себя построение заранее определенной модели, включая полную очистку контрольного накопителя SSD перед эмпирической проверкой контрольного накопителя SSD.
29. Способ по п. 20, отличающийся тем, что дополнительно включает в себя построение заранее определенной модели до начала эксплуатации накопителя SSD.
30. Способ по п. 29, отличающийся тем, что построение заранее определенной модели включает в себя учет указанных производителем характеристик производительности контрольного накопителя SSD.
31. Способ по п. 20, отличающийся тем, что способ дополнительно включает в себя анализ параметра производительности.
32. Способ по п. 31, отличающийся тем, что анализ включает в себя сравнение параметра производительности с пороговым значением и определение наличия потенциальной аномалии в виде потенциальной неисправности накопителя SSD, если параметр производительности превышает пороговое значение.
33. Способ по п. 20, отличающийся тем, что накопитель SSD представляет собой одно из множества запоминающих устройств, а анализ включает в себя определение подмножества запоминающих устройств, имеющих:
- усредненный в течение второго заранее заданного  интервала параметр производительности, превышающий другой усредненный параметр производительности других запоминающих устройств из множества запоминающих устройств; и
- максимальный параметр производительности в течение второго заранее заданного  интервала, превышающий другой максимальный параметр производительности других запоминающих устройств из множества запоминающих устройств.
34. Способ по п. 20, отличающийся тем, что анализ включает в себя сравнение параметра производительности с пороговым значением и определение наличия потенциальной аномалии в виде избыточной производительности накопителя SSD, если параметр производительности меньше порогового значения.
35. Способ по п. 20, отличающийся тем, что применение заранее определенной модели в отношении одной операции из подмножества операций I/O включает в себя:
- определение времени выполнения одной операции из подмножества операций I/O на основе размера данной операции из подмножества операций I/O и заранее определенной скорости выполнения данной операции из подмножества операций I/O; и
- определение суммарного времени выполнения подмножества операций I/O на основе времени выполнения каждой операции из подмножества операций I/O.
36. Способ по п. 35, отличающийся тем, что суммарное время выполнения подмножества операций I/O включает в себя минимальную задержку накопителя SSD, связанную с каждой операцией из подмножества операций I/O.
37. Способ по п. 20, отличающийся тем, что по меньшей мере один счетчик представляет собой единый счетчик, формирующий показатель фактического времени активности накопителя SSD в течение заранее заданного периода времени.
38. Способ по п. 35, отличающийся тем, что минимальная задержка накопителя SSD заранее определена для контрольного накопителя SSD.
39. Способ обнаружения потенциальной аномалии фактической производительности запоминающего устройства, выполняемый компьютером надзорного элемента, связанным с запоминающим устройством, включающий в себя выполнение в течение заранее заданного периода времени следующих действий:
- определение подмножества операций ввода/вывода (I/O), направленных в запоминающее устройство для обработки;
- применение по меньшей мере одного счетчика для определения фактического времени активности запоминающего устройства в течение заранее заданного периода времени, причем фактическое время активности соответствует времени обработки в запоминающем устройстве по меньшей мере некоторых операций из подмножества операций I/O;
- применение заранее определенной модели для формирования контрольного времени обработки для по меньшей мере некоторых операций из подмножества операций I/O;
- расчет контрольного времени обработки для по меньшей мере некоторых операций из подмножества операций I/O;
- формирование параметра производительности на основе фактического времени активности и контрольного времени обработки;
- определение наличия потенциальной аномалии фактической производительности запоминающего устройства на основе анализа параметра производительности.
40. Компьютерная система для обнаружения потенциальной аномалии в запоминающем устройстве, содержащая компьютер надзорного элемента, связанный с запоминающим устройством и содержащий процессор и физическую память, связанную с процессором и хранящую команды, при выполнении которых процессором компьютер надзорного элемента выполняет в течение заранее заданного периода времени следующие действия:
- определение подмножества операций ввода/вывода (I/O), направленных в запоминающее устройство для обработки;
- применение в течение заранее заданного периода времени по меньшей мере одного счетчика для определения фактического времени активности запоминающего устройства, приблизительно соответствующего времени обработки в запоминающем устройстве по меньшей мере части подмножества операций I/O;
- применение заранее определенной модели для формирования оценки контрольного времени обработки для каждой транзакции из подмножества транзакций;
- расчет контрольного времени обработки для подмножества операций I/O;
- формирование параметра производительности на основе фактического времени активности и контрольного времени обработки; и
- определение наличия потенциальной аномалии запоминающего устройства на основе анализа параметра производительности.