СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТА В МАТЕРИАЛЕ И СИСТЕМА ДЛЯ ЭТОГО СПОСОБА

1. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
вызывание изменения температуры поверхности материала во времени,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала изменяется по температуре, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
2. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
нагревание поверхности материала,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала охлаждают после стадии нагревания, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
3. Способ обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащий стадии:
нагревание поверхности материала,
получение данных теплового изображения поверхности материала с использованием инфракрасной термографической камеры в то время, как поверхность материала нагревают на стадии нагревания, и
обнаружение дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
4. Способ по п.1, 2 или 3, при этом стадия обнаружения дополнительно включает в себя вычисление абсолютного значения вычисленного лапласиана, чтобы определить, имеется ли дефект.
5. Способ по п.1, 2 или 3, при этом стадия обнаружения дополнительно включает в себя вычисление значения вычисленного лапласиана для определения того, является ли это значение положительным или отрицательным, чтобы определить тип дефекта.
6. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
устройство изменения температуры для изменения температуры поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала изменяется по температуре, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
7. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
нагревательное устройство для нагревания поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала охлаждают, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
8. Система для обнаружения дефекта как на поверхности, так и в поверхностном слое материала, содержащая:
нагревательное устройство для нагревания поверхности материала;
инфракрасную термографическую камеру для получения данных теплового изображения поверхности материала в то время, как поверхность материала нагревают, и
устройство обнаружения для обнаружения дефекта путем вычисления лапласиана в отношении температуры поверхности, представленной данными теплового изображения.
9. Система по п.7, при этом нагревательное устройство и инфракрасная термографическая камера выполнены так, что предотвращается поступление тепловой энергии, излучаемой из нагревательного устройства, в инфракрасную термографическую камеру.
10. Система по п.7, при этом между нагревательным устройством и инфракрасной термографической камерой размещен теплозащитный элемент так, что предотвращается поступление тепловой энергии, излучаемой из нагревательного устройства, в инфракрасную термографическую камеру.
11. Система по п.8, при этом нагревательное устройство и инфракрасная термографическая камера выполнены так, что тепловая энергия, излучаемая из нагревательного устройства, отражается от поверхности материала, поступая в инфракрасную термографическую камеру.