СПОСОБ СРАВНИТЕЛЬНОЙ ОЦЕНКИ ПАРТИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ

Способ сравнительной оценки партий полупроводниковых изделий, включающий воздействие электростатическими разрядами, предельно допустимыми значениями для данного типа изделий, определение наиболее опасного пути электростатического разряда для данного типа полупроводникового изделия, отличающийся тем, что выбирают диагностические параметры или характеристики, снимают их графические зависимости, и по графическим зависимостям определяют численно площади под кривыми, затем находят эталонные разности площадей и доверительные интервалы для разностей площадей, после чего из партии изделий случайным образом формируют выборку изделий, снимают зависимости, и по их значениям делают прогноз о потенциальной надежности всей партии изделий.