СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ИЗГОТОВЛЕНИЯ, СБОРКИ И УСТАНОВКИ МАГНИТНЫХ СИСТЕМ

1. Способ определения дефектов магнитной системы, содержащий следующие шаги:
измеряют магнитное поле системы около магнитной системы с помощью, по меньшей мере, одного датчика магнитного поля;
формулируют, по меньшей мере, одно уравнение, связывающее измеренное магнитное поле с гипотетическим магнитным полем магнитной системы, имеющей один или более дефектов, выраженным в форме зависимости от одного или более параметров, описывающих указанные дефекты;
решают сформулированные уравнения с получением параметров, описывающих дефекты.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что перед шагом измерений магнитного поля задают, по меньшей мере, один дефект магнитной системы и, по меньшей мере, один параметр, описывающий указанный дефект, осуществляют предварительное моделирование магнитного поля магнитной системы с одним или более дефектами и определяют точки измерения магнитного поля и/или ориентацию, по меньшей мере, одного датчика магнитного поля, а также количество измерений.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что при измерении магнитного поля около магнитной системы определяют положение и ориентацию, по меньшей мере, одного датчика измерения.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что магнитная система содержит, по меньшей мере, один проводник с током.
5. Способ по п.4, отличающийся тем, что проводником с током является кабель.
6. Способ по п.5, отличающийся тем, что кабель является сверхпроводящим, причем дефектом считается разрыв жилы кабеля, а параметрами, описывающими дефекты, являются координаты точки центра жилы, шаг намотки и длина бракованного участка.
7. Способ по п.4, отличающийся тем, что магнитная система содержит, по меньшей мере, одну электромагнитную катушку.
8. Способ по п.7, отличающийся тем, что, по меньшей мере, одна электромагнитная катушка является круглой, причем дефектами являются эллиптичность катушки и ее вертикальное смещение, а параметрами, описывающими дефекты, являются большая и малая полуоси эллипса и величина вертикального сдвига.
9. Способ по п.7, отличающийся тем, что, по меньшей мере, одна электромагнитная катушка является катушкой тороидального поля токамака, причем дефектами являются смещения контрольных точек центральной линии катушки, а параметрами, описывающими дефекты, являются смещения контрольных точек, выбранных по контуру катушки.
10. Способ по п.1, отличающийся тем, что магнитная система содержит, по меньшей мере, один постоянный магнит, причем дефектами каждого постоянного магнита является изменение магнитного момента эквивалентного точечного диполя, а параметрами, описывающими дефекты, являются смещения компонент вектора магнитного момента.
11. Способ по п.1, отличающийся тем, что магнитная система содержит, по меньшей мере, два элемента, создающих магнитное поле, причем дефектами являются пространственный сдвиг и пространственный поворот, по меньшей мере, одного элемента, относительно другого, а параметрами, описывающими дефекты, являются три координаты сдвига и три угла Эйлера пространственного поворота.
12. Способ по п.1, отличающийся тем, что магнитная система содержит, по меньшей мере, один элемент, создающий магнитное поле, причем дефектами являются пространственный сдвиг и пространственный поворот, по меньшей мере, одного элемента, создающего магнитное поле и входящего в магнитную систему, относительно, по меньшей мере, одного элемента, не входящего в магнитную систему, или относительно, по меньшей мере, одного элемента, входящего в магнитную систему, но не создающего магнитное поле, а параметрами, описывающими дефекты, являются три координаты сдвига и три угла Эйлера пространственного поворота.
13. Способ по п.1, отличающийся тем, что дополнительно осуществляют моделирование магнитного поля системы, не имеющей дефектов, причем при составлении указанной системы уравнений из измеренных значений магнитного поля системы вычитают значения магнитного поля, соответствующие магнитной системе, не имеющей дефектов.
14. Способ по п.1, отличающийся тем, что при формулировании уравнений измеренное магнитное поле связывают с гипотетическим магнитным полем магнитной системы в точках измерения магнитного поля.
15. Способ по п.1, отличающийся тем, что при формулировании уравнений гипотетическое магнитное поле магнитной системы связывают со значениями магнитного поля, полученными на основе измеренных значений магнитного поля, в точках, находящихся внутри области, заключающей в себя магнитную систему и на границе которой расположены точки измерения магнитного поля, причем значения магнитного поля, полученные на основе измеренных значений магнитного поля, получают в указанных точках внутри указанной области путем решения краевой задачи уравнения Лапласа.
16. Способ по п.4, отличающийся тем, что дополнительно осуществляют измерение магнитного поля при выключенном токе в магнитной системе, причем измеренные таким образом значения магнитного поля вычитают из значений магнитного поля, измеренных при включенном токе в магнитной системе, и используют полученные значения при составлении указанной системы уравнений.
17. Способ по п.4, отличающийся тем, что дополнительно осуществляют измерение магнитного поля при обратном токе в магнитной системе, причем значения магнитного поля системы определяют путем вычисления полуразности значений магнитных полей, создаваемых в магнитной системе прямым и обратным токами, и используют полученные значения при составлении указанной системы уравнений.
18. Устройство для определения дефектов магнитной системы или ее элементов, являющейся источником магнитного поля, содержащее, по меньшей мере, один датчик для измерения значений компонент магнитного поля и средства обработки данных, использующие показания одного или более датчиков для определения дефектов магнитной системы, отличающееся тем, что определение дефектов осуществляется в соответствии со способом по п.1.
19. Устройство по п.18, отличающееся тем, что датчики установлены на подвижной рамке, охватывающей замкнутую область, причем устройство снабжено средствами приведения рамки в движение и средствами определения координат и ориентации датчиков.
20. Устройство по п.18, отличающееся тем, что датчики магнитного поля являются однокомпонентными.