СИСТЕМА И СПОСОБ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ АНАЛИЗИРУЕМОГО ВЕЩЕСТВА В ПРОБЕ

1. Способ вычисления концентрации анализируемого вещества пробы, содержащий этапы, на которых:
вводят пробу в электрохимическую ячейку, которая содержит первый электрод и второй электрод;
1
1
прикладывают первое испытательное напряжение Vв течение первого временного интервала T между первым электродом и вторым электродом, достаточное, по меньшей мере, для частичного окисления восстановленного медиатора у второго электрода;
2
2
прикладывают второе испытательное напряжение Vв течение второго временного интервала T между первым электродом и вторым электродом, достаточное, по меньшей мере, для частичного окисления восстановленного медиатора у первого электрода;
1
2;
вычисляют исходную концентрацию анализируемого вещества пробы на основе, по меньшей мере, одной величины испытательного тока, определенной во время первого временного интервала T и второго временного интервала T
вычисляют источник ошибки пробы; и
вычисляют скорректированную концентрацию анализируемого вещества на основе исходной концентрации анализируемого вещества и источника ошибки.
1
1
2,
2
1
2. Способ по п.1, в котором анализируемое вещество является глюкозой, а источник ошибки является уровнем гематокрита, причем этапы вычисления заключаются в том, что вычисляют исходную концентрацию G глюкозы пробы на основе, по меньшей мере, одной величины испытательного тока определенной в течение первого временного интервала T и второго временного интервала T вычисляют уровень гематокрита Н пробы и вычисляют скорректированную концентрацию G глюкозы на основе исходной концентрации G глюкозы и уровня гематокрита Н.
3. Способ по п.2, в котором этап вычисления скорректированной концентрации глюкозы содержит этапы, на которых:
L
1
U
вычисляют величины Corr коррекции с помощью первой функции, причем первую функцию используют, если уровень Н гематокрита меньше, чем нижний заранее заданный уровень H гематокрита и если исходная концентрация G глюкозы меньше, чем наибольшая заранее заданная концентрация G глюкозы; и
2
1
вычисляют скорректированную концентрацию G глюкозы на основе исходной концентрации G глюкозы, уровня Н гематокрита и величины Corr коррекции.
1
L
1
4. Способ по п.3, в котором первая функция является уравнением, причем уравнение представляет собой Corr=K(H-H)G,
1
L
1
G
где Corr является величиной коррекции, Kявляется первой константой, Н является нижним заранее заданным уровнем гематокрита, Н является уровнем гематокрита и является исходной концентрацией глюкозы.
2
2
1
1
5. Способ по п.4, в котором скорректированную концентрацию G глюкозы определяют с помощью уравнения G=G+Corr, если исходная концентрация Gглюкозы меньше, чем пороговое значение глюкозы.
2
6. Способ по п.4, в котором скорректированную концентрацию G глюкозы определяют с помощью уравнения ,
1
если исходная концентрация Gглюкозы больше, чем пороговое значение глюкозы.
7. Способ по п.2, в котором этап вычисления скорректированной концентрации глюкозы содержит этапы, на которых:
L
1
U
вычисляют величину Corr коррекции с помощью второй функции, причем вторую функцию используют, если уровень Н гематокрита меньше, чем нижний заранее заданный уровень H гематокрита и если исходная концентрация Gглюкозы больше, чем наибольшая заранее заданная концентрация G глюкозы; и
2
1
вычисляют скорректированную концентрацию G глюкозы на основе исходной концентрации G глюкозы, уровня Н гематокрита и величины Corr коррекции.
2
L
макс
1
8. Способ по п.7, в котором вторая функция является уравнением, причем уравнение представляет собой Corr=K(H-H)(G-G),
2
L
макс
1
где Corr является величиной коррекции, K является второй константой, Н является нижним заранее заданным уровнем гематокрита, Н является уровнем гематокрита, G является заранее заданной максимальной концентрацией глюкозы и Gявляется исходной концентрацией глюкозы.
2
1
U
1
L
.
9. Способ по п.2, в котором определяют, что скорректированная концентрация Gглюкозы, по существу, равна исходной концентрации G глюкозы, если уровень Н гематокрита больше, чем верхний заранее заданный уровень H гематокрита и если первая концентрация G глюкозы меньше, чем наименьшая заранее заданная концентрация G глюкозы
10. Способ по п.2, в котором вычисление скорректированной концентрации глюкозы содержит этапы, на которых:
u
1
L
вычисляют величину Corr коррекции с помощью четвертой функции, причем четвертую функцию используют, если уровень Н гематокрита больше, чем верхний заранее заданный уровень H гематокрита и если исходная концентрация Gглюкозы больше, чем наименьшая заранее заданная концентрация G глюкозы; и
2
1
.
вычисляют скорректированную концентрацию G глюкозы на основе исходной концентрации G глюкозы, уровня Н гематокрита и величины Corr коррекции
4
U
1
L
11. Способ по п.10, в котором четвертая функция является уравнением, причем уравнение представляет собой Corr=K(H-H)(G-G),
4
U
1
L
где Corr является величиной коррекции, K является четвертой константой, H является уровнем гематокрита, Н является верхним заранее заданным уровнем гематокрита, G является исходной концентрацией глюкозы, Gявляется заранее заданной наименьшей концентрацией глюкозы.
1
2.
12. Способ по п.2, в котором уровень Н гематокрита основан на, по меньшей мере, одной величине испытательного тока, определяемой в течение первого временного интервала Т и второго временного интервала Т
5
2
6
1
7
13. Способ по п.2, в котором уровень Н гематокрита, вычисляют с использованием уравнения для гематокрита, причем уравнение для гематокрита представляет собой: Н=Кln(|i|)+Kln(G)+K,
5
2
6
1
7
G
где Н является уровнем гематокрита, К является пятой константой, iявляется, по меньшей мере, одной величиной тока в течение второго временного интервала, К является шестой константой,является исходной концентрацией глюкозы и К является седьмой константой.
2
1
14. Способ по п.1, в котором второе испытательное напряжение V прикладывают непосредственно после первого испытательного напряжения V.
1
2
15. Способ по п.1, в котором первое испытательное напряжение V имеет первую полярность, а второе испытательное напряжение V имеет вторую полярность, причем первая полярность является противоположной по знаку второй полярности.
1
16. Способ по п.1, в котором первое испытательное напряжение V находится в диапазоне от приблизительно -100 мВ до приблизительно -600 мВ по отношению ко второму электроду.
2
17. Способ по п.1, в котором второе испытательное напряжение V находится в диапазоне от приблизительно +100 мВ до приблизительно +600 мВ по отношению к первому электроду.
18. Способ по п.1, в котором первый электрод и второй электрод имеют расположение поверхностей друг против друга.
19. Способ по п.1, в котором слой реактива расположен на первом электроде.
20. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором:
3
3
2
3
1.
прикладывают третье испытательное напряжение V в течение третьего временного интервала Т между первым электродом и вторым электродом, причем абсолютное значение результирующего испытательного тока, по существу, меньше, чем абсолютное значение результирующего испытательного тока для второго испытательного напряжения V, причем третье испытательное напряжение V прикладывают перед первым испытательным напряжением V
21. Способ идентификации дефекта в тестовой полоске, содержащий этапы, на которых:
1
1
прикладывают первое испытательное напряжение V в течение первого испытательного временного интервала Т между первым электродом и вторым электродом, достаточное для окисления восстановленного медиатора у второго электрода;
2
2
прикладывают второе испытательное напряжение V в течение второго испытательного временного интервала Т между первым электродом и вторым электродом, достаточное для окисления восстановленного медиатора у первого электрода;
1
2,
2
2
1
измеряют первый испытательный ток i и второй испытательный ток i которые возникают в течение второго испытательного временного интервала T, причем второй испытательный ток iвозникает после первого испытательного тока i; и
1
2
определяют имеет ли тестовая полоска дефект, используя уравнение, основанное на первом испытательном токе iи втором испытательном токе i.
2
1
22. Способ по п.21, в котором второе испытательное напряжение V прикладывают непосредственно после первого испытательного напряжения V.
1
2
23. Способ по п.21, в котором уравнение содержит соотношение между первым испытательным током i и вторым испытательным током i.
1
1
2
24. Способ по п.23, в котором уравнение содержит соотношение между первым испытательным током iи разностью между первым испытательным током i и вторым испытательным током i.
1
2
25. Способ по п.21, в котором первый испытательный ток i определяют приблизительно в начале второго временного интервала Т.
1
2.
26. Способ по п.21, в котором первый испытательный ток i является максимальным значением тока, возникающего в течение второго временного интервала Т
2
2
27. Способ по п.21, в котором второй испытательный ток i определяют приблизительно в конце второго временного интервала Т.
2
2
28. Способ по п.21, в котором второй испытательный ток i является минимальным значением тока, возникающего в течение второго временного интервала Т.
29. Способ по п.28, дополнительно содержащий этап, на котором предоставляют сообщение об ошибке, указывающее испорченную тестовую полоску, если относительная величина больше, чем первая заранее заданная пороговая величина.
30. Способ по п.29, в котором первая заранее заданная пороговая величина составляет приблизительно 1,2.
31. Способ по п.21, в котором уравнение представляет собой соотношение ,
1
2
где i является первым испытательным током и i является вторым испытательным током.
32. Способ по п.21, в котором первое испытательное напряжение находится в диапазоне от приблизительно 0 до приблизительно -600 мВ по отношению ко второму электроду.
33. Способ по п.21, в котором второе испытательное напряжение находится в диапазоне от приблизительно 10 мВ до приблизительно 600 мВ по отношению ко второму электроду.
34. Способ по п.21, в котором дефект представляет собой высокое сопротивление R пути.
35. Способ по п.34, в котором высокое сопротивление R пути имеется между точкой соединения на измерительном приборе и/или первым электродом, или вторым электродом тестовой полоски.
36. Способ идентификации дефекта в тестовой полоске, содержащий этапы, на которых:
1
1
прикладывают первое испытательное напряжение V в течение первого испытательного временного интервала Т между первым электродом и вторым электродом, достаточное для окисления восстановленного медиатора у второго электрода;
2
2
прикладывают второе испытательное напряжение V в течение второго испытательного временного интервала Т между первым электродом и вторым электродом, достаточное для окисления восстановленного медиатора у первого электрода;
1
2
3
4
2
измеряют первый испытательный ток i, второй испытательный ток i, третий испытательный ток i и четвертый испытательный ток i, которые возникают в течение второго испытательного временного интервала T;
1
2
вычисляют первый логарифм первой относительной величины на основе первого испытательного тока i и второго испытательного тока i;
3
4
вычисляют второй логарифм второй относительной величины на основе третьего испытательного тока i и четвертого испытательного тока i;
определяют имеет ли тестовая полоска дефект, используя уравнение на основе первого логарифма и второго логарифма.
37. Способ по п.36, в котором дефект представляет собой протекание жидкости между прокладкой и первым электродом.
38. Способ по п.36, в котором слой реактива расположен на первом электроде, так что часть слоя реактива находится между прокладкой и первым электродом.
39. Способ по п.36, в котором уравнение представляет собой третью относительную величину, представленную соотношением ,
1
2
3
4
где i является первым испытательным током, i является вторым испытательным током, i является третьим испытательным током и i является четвертым испытательным током.
40. Способ по п.36, дополнительно содержащий этап, на котором предоставляют сообщение об ошибке, указывающее испорченную тестовую полоску, если третья относительная величина меньше, чем заранее заданная пороговая величина.
41. Способ по п.40, в котором заранее заданная пороговая величина составляет приблизительно 1.
42. Способ по п.40, в котором заранее заданная пороговая величина составляет приблизительно 0,95.
1
2
2.
43. Способ по п.36, в котором первый испытательный ток i и второй испытательный ток iвключают в себя две наибольшие величины тока в течение второго временного интервала Т
4
2
44. Способ по п.36, в котором четвертый испытательный ток iявляется наименьшей величиной тока, возникающего в течение второго временного интервала Т.
45. Способ по п.36, в котором разница между четвертым временем испытательного тока и третьим временем испытательного тока больше, чем разница между вторым временем испытательного тока и первым временем испытательного тока.
46. Способ идентификации ошибки при выполнении испытания с помощью тестовой полоски, содержащий этапы, на которых:
1
1
прикладывают первое испытательное напряжение V в течение первого испытательного временного интервала Т между первым электродом и вторым электродом;
1
2
3
измеряют последовательно первый испытательный ток i, второй испытательный ток iи третий испытательный ток i; и
2
1
3
определяют совершена ли ошибка, используя уравнение на основе второго испытательного тока i и суммы абсолютного значения первого испытательного тока i и абсолютного значения третьего испытательного тока i.
1
2
47. Способ по п.46, в котором временная разница между измерениями первого испытательного тока i и второго испытательного тока i находится в пределах от приблизительно одной наносекунды до приблизительно 100 миллисекунд.
1
3
48. Способ по п.46, в котором временная разница между измерениями первого испытательного тока i и третьего испытательного тока i находится в пределах от приблизительно одной наносекунды до приблизительно 100 миллисекунд.
i(t)
49. Способ по п.46, в котором уравнение представляет собой Y=2·abs(i(t))-abs(i(t-x))-abs(i(t+x)), где является вторым испытательным током, i(t-x) является первым испытательным током, i(t+x) является третьим испытательным током, t является временем и х является приращением времени и abs является абсолютной функцией.
50. Способ по п.46, в котором уравнение представляет собой Z=abs(i(t+x))-abs(i(t)), где i(t) является вторым испытательным током, i(t+x) является третьим испытательным током, t является временем и х является приращением времени и abs является абсолютной функцией.
51. Система для определения концентрации анализируемого вещества, содержащая:
электрохимическую ячейку, имеющую, по меньшей мере, два электрода и которая подобрана по размеру и сконфигурирована для приема образца, причем электрохимическая ячейка дополнительно сконфигурирована для определения исходной концентрации анализируемого вещества и также сконфигурирована для генерирования заранее заданного напряжения между первым и вторым электродами в течение заранее заданного времени и дополнительно сконфигурирована для измерения, по меньшей мере, одного результирующего тока пробы в течение заранее заданного времени; и
процессор для приема набора данных из электрохимической ячейки, причем данные включают в себя исходную концентрацию анализируемого вещества, по меньшей мере, одно приложенное напряжение и, по меньшей мере, один результирующий ток, причем процессор дополнительно сконфигурирован для использования этих данных для определения скорректированной концентрации анализируемого вещества.
52. Система по п.51, в которой анализируемое вещество является глюкозой.
53. Система по п.51, в которой электрохимическая ячейка дополнительно сконфигурирована для изменения источника ошибки и процессор использует источник ошибки при определении скорректированной концентрации анализируемого вещества.
54. Система по п.53, в которой анализируемое вещество является глюкозой, а источник ошибки является уровнем гематокрита.
55. Система по п.54, в которой процессор использует набор уравнений для определения поправочного члена, в зависимости от уровня гематокрита и исходной концентрации глюкозы.
56. Устройство для использования при определении скорректированной концентрации анализируемого вещества, содержащее:
тестовую полоску, содержащую камеру для вступления в реакцию пробы, сконфигурированную для приема пробы, так чтобы проба находилась во взаимодействии с, по меньшей мере, первым и вторым электродами; и
слой реактива, расположенный на, по меньшей мере, первом электроде, причем слой реактива образован, по меньшей мере, одним компонентом, сформированным для вступления в реакцию с пробой, так что, по меньшей мере, два напряжения, приложенные к пробе, в течение, по меньшей мере, двух интервалов времени вызывают соответствующие токи в пробе, которые указывают исходную концентрацию анализируемого вещества и скорректированную концентрацию анализируемого вещества.